CN105842526A - 一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路 - Google Patents

一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种零电流检测电路，包括补偿电路和检测电路，所述补偿电路根据直流‑直流(DC‑DC)变换电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；所述检测电路根据所述补偿电压动态调整故作失调电压(Voffset)，按照调整后的Voffset进行零电流检测；本发明同时还公开了一种零电流检测方法及电压变换电路，通过本发明的方案，能够使触发零电流检测电路的开关节点(SW)的电压随着DC‑DC变换电路的输出电压变化而变化，在零电流检测电路的触发延迟不变的条件下，有效提高零电流检测的精准度。

Description

一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路
本申请是2012年05月19日递交的申请号为201210163278.1，发明名称为“一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路”的分案申请。
技术领域
本发明涉及电路保护技术，尤其涉及一种零电流检测(ZCD，Zero CurrentDetection)电路和方法、及电压变换电路。
背景技术
在电子设备中经常会用到直流-直流(DC-DC)变换电路，典型的DC-DC变换电路有降压(BUCK)电路、升压(BOOST)电路等，所述BUCK电路如图1所示，当驱动(Drive)信号为高电平时，PMOS P1截止，作为续流管的NMOS N1导通，电感L1上的电流为0，开关节点(SW)为NMOS N1的漏极，SW的电压变化能够反应出电感L1上的电流变化，此时，SW的电压为0，触发零电流检测电路；所述BOOST电路如图2所示，当Drive信号为高电平时，PMOS P2截止，作为调整管的NMOS N2导通，电感L2上的电流为0，SW为NMOS N2的漏极，SW的电压变化能够反应出电感L2上的电流变化，此时，SW的电压与BOOST电路输出电压相等，触发零电流检测电路。
所述零电流检测电路一般由比较器实现，如图3所示，比较器C1的正输入端连接基准电压(Vref)和故作失调电压(Voffset)，并在Voffset上并联开关S21，比较器C1的负输入端连接电容CS21、开关S22和SW，并通过开关S24连接输出端，所述电容CS21的负极对地连接有开关S23。当零电流检测电路进入采样状态时，如图4所示，所述开关S21、开关S22打开，所述开关S23、开关S24闭合，电容CS21的电压为Vref和Voffset之和；当零电流检测电路进入比较状态时，如图5所示，所述开关S21、开关S22闭合，所述开关S23、开关S24打开，在理论上，SW的电压与电容CS21的电压之和等于Vref时比较器C1翻转，输出零电流检测的使能信号，此时，SW的电压等于负的Voffset。
在实际应用中，零电流检测电路具有工作延时(t-delay)，并将Voffset设置为一个常数，这样，当DC-DC变换电路的输出电压(Vout)变大时，在相同t-delay的时间内，SW的电压变化更大。虽然触发零电流检测电路开始反应的SW的电压相同，但是经过t-delay，即零电流检测电路反应结束时，SW电压变的更大，反映出电感中的电流更大，从而降低了零电流检测的精度。
例如：图6、7分别为针对BUCK电路和BOOST电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图。对于BUCK结构，输出电压Vout1大于输出电压Vout2，输出电压Vout1对应的SW的电压与时间关系曲线的斜率大于输出电压Vout2对应的SW的电压与时间关系曲线的斜率，Voffset设置为常数，在相同的t-delay的情况下，输出电压Vout1对应的零电流检测电路反应结束(即检测电路输出电压完成逻辑翻转)时的SW的电压为V1，时间为T1，输出电压Vout2对应的零电流检测电路反应结束时的SW的电压为V2，时间为T2，可以看出，BUCK电路中，|V1-V2|较大，也就是说零电流检测电路反应结束时的SW的电压随输出电压的变大而变的更大；BOOST电路中，|V1-Vout1|比|V2-Vout2|大的多，也就是说零电流检测电路反应结束时的SW的电压与输出电压的差值，随输出电压的变大而变的更大。
发明内容
为解决现有技术中的问题，本发明的主要目的在于提供一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
本发明提供的一种零电流检测电路，该电路包括：补偿电路、检测电路，其中，
补偿电路，配置为根据DC-DC变换电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；
检测电路，配置为根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述DC-DC变换电路进行零电流检测。
本发明提供的一种电压变换电路，该电路包括：BUCK电路、零电流检测电路；其中，
BUCK电路，配置为通过开关器件对直流电压降压，产生输出电压；
零电流检测电路，配置为根据所述输出电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述BUCK电路进行零电流检测。
本发明提供的一种电压变换电路，该电路包括：BOOST电路、零电流检测电路；其中，
BOOST电路，配置为通过开关器件对直流电压升压，产生输出电压；
零电流检测电路，配置为根据所述输出电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述BOOST电路进行零电流检测。
本发明提供的一种零电流检测方法，该方法包括：
根据DC-DC变换电路的输出电压反馈补偿电压；
根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述DC-DC变换电路进行零电流检测。
本发明提供的一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路，所述零电流检测电路包括补偿电路和检测电路，所述补偿电路根据DC-DC变换电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；所述检测电路根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset进行零电流检测；如此，能够使触发零电流检测电路的SW的电压会随着DC-DC变换电路的输出电压变化而变化，在零电流检测电路的触发延迟不变的条件下，有效提高零电流检测的精准度。
附图说明
图1为现有技术中BUCK电路的示意图；
图2为现有技术中BOOST电路的示意图；
图3为现有技术中零电流检测电路的示意图；
图4为图3中零电流检测电路采样状态的示意图；
图5为图3中零电流检测电路比较状态的示意图；
图6为现有技术中针对BUCK电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图；
图7为现有技术中针对BOOST电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图；
图8为本发明实施例提供的一种零电流检测电路的示意图；
图9为本发明实施例中BUCK电路的零电流检测电路示意图；
图10为图9中BUCK电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图；
图11为本发明实施例中BOOST电路的零电流检测电路示意图；
图12为图11中BOOST电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图；
图13为本发明实施例提供的针对BUCK电路、工作在采样状态的零电流检测电路示意图；
图14为图13中电流I1、电流I2、电流Ic的关系示意图；
图15为本发明实施例提供的针对BUCK电路、工作在比较状态的零电流检测电路示意图；
图16为本发明实施例提供的针对BUCK电路的零电流检测电路的具体连接示意图；
图17为本发明实施例提供的针对BOOST电路、工作在采样状态的零电流检测电路示意图；
图18为本发明实施例提供的针对BOOST电路、工作在比较状态的零电流检测电路示意图；
图19为本发明实施例提供的一种电压变换电路示意图；
图20为本发明实施例提供的另一种电压变换电路示意图。
具体实施方式
在实际应用中，故作失调电压Voffset是随着DC-DC变换电路的输出电压Vout变大而变大的，这样，本发明的基本思想是：补偿电路根据DC-DC变换电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；检测电路根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset进行零电流检测。
下面通过附图及具体实施例对本发明做进一步的详细说明。
本发明实现一种零电流检测电路，如图8所示，该电路包括：补偿电路、检测电路，其中，
补偿电路，配置为根据DC-DC变换电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；
检测电路，配置为根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述DC-DC变换电路进行零电流检测。
所述补偿电路，具体配置为所述DC-DC变换电路为BUCK电路时，将BUCK电路的输出电压作为补偿电压反馈至检测电路；
如图9所示，将BUCK电路的输出电压Vout反馈到检测电路的Voffset，这样，当Vout变大时，Voffset变大，在相同的t-delay的情况下，零电流检测电路反应结束时的SW的电压变化很小。图10为BUCK电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图，输出电压Vout1大于输出电压Vout2，输出电压Vout1对应的SW的电压与时间关系曲线的斜率大于输出电压Vout2对应的SW的电压与时间关系曲线的斜率，将输出电压Vout1和输出电压Vout2反馈到检测电路的Voffset后，Voffset1大于Voffset2，在相同的t-delay的情况下，输出电压Vout1对应的触发零电流检测电路的SW的电压为V1’，时间为T1’，输出电压Vout2对应的触发零电流检测电路的SW的电压为V2’，时间为T2’，可以看出，触发零电流检测电路的SW的电压随输出电压变化而产生变化，并在零电流检测电路反应结束时，SW的电压变化|V1’-V2’|较小，消除了输出电压变化对SW电压变化斜率的影响。
所述补偿电路，具体配置为所述DC-DC变换电路为BOOST电路时，将BOOST电路的输出电压与输入电压的差值作为补偿电压反馈至检测电路；
如图11所示，将BOOST电路的输出电压Vout与输入电压Vin的差值反馈到检测电路的Voffset，这样，当Vout变大时，Voffset变大，触发零电流检测电路的SW的电压变大，在相同的t-delay的情况下，零电流检测电路反应结束时的SW的电压与输出电压Vout的差值变化很小。图12为BOOST电路的零电流检测电路中SW的电压与时间关系图，输出电压Vout1大于输出电压Vout2，输出电压Vout1对应的SW的电压与时间关系曲线的斜率大于输出电压Vout2对应的SW的电压与时间关系曲线的斜率，将输出电压Vout1与输入电压Vin的差值和输出电压Vout2与输入电压Vin的差值反馈到检测电路的Voffset后，Voffset1大于Voffset2，在相同的t-delay的情况下，输出电压Vout1对应的零电流检测电路反应结束时的SW的电压为V1’，时间为T1’，输出电压Vout2对应的零电流检测电路反应结束时的SW的电压为V2’，时间为T2’，可以看出，触发零电流检测电路的SW的电压与输出电压之差随输出电压变化而变化，零电流检测电路反应结束时|V1’-Vout1|与|V2’-Vout2|之间的差值较小，消除了输出电压变化对SW电压变化斜率的影响。
图13所示为针对BUCK电路、工作在采样状态的零电流检测电路，该零电流检测电路的补偿电路包括：PMOS P31、PMOS P32、PMOS P33、开关S31、开关S32、开关S33、电流源Q31、NMOS N31、NMOS N32、电阻R31、电阻R32，其中，PMOS P31、PMOS P32为共源共栅连接，源极均连接BUCK电路的输入电压Vin，PMOS P31的漏极与源极相连，并连接NMOS N31和NMOSN32的漏极；PMOS P32的漏极通过开关S31连接Voffset；PMOS P33的栅极连接NMOS N31的源极和NMOS N32的栅极，并连接BUCK电路的输出电压Vout，漏极接地，源极连接电流源Q31的负极和NMOS N31的栅极；NMOS N31的源极连接电阻R31；NMOS N32的源极连接电阻R32；电流源Q31的正极连接输入电压Vin；电阻R31对地连接有开关S32；电阻R32对地连接有开关S33；
该零电流检测电路的检测电路包括：开关S34、开关S35、开关S36、开关S37、PMOSP34、PMOS P35、PMOS P36、NMOS N33、NMOS N34、NMOS N35、NMOS N36、电流源Q32、电容CS31，其中，开关S34一端连接SW，另一端连接电容CS31负极和开关S35；开关S35另一端接地；电容CS31正极连接PMOS P34和NMOS N33的栅极；PMOS P34的源极连接电流源Q32的负极，漏极与NMOS N33的漏极连接，并连接PMOS P35和NMOS N35的栅极；电流源Q32的正极连接输入电压Vin；NMOS N33的源极连接补偿电路和NMOS N34的漏极，并对地连接开关S37，栅极和漏极之间连接开关S36；NMOS N34的漏极电压为Voffset，NMOS N34的源极接地，栅极接输入电压Vin；PMOS P35和NMOS N35、PMOS P36和NMOS N36分别连接成两个反相器，PMOS P36和NMOSN36的漏极为零电流检测电路的输出端。
图13所示的零电流检测电路在工作时，开关S31、开关S32、开关S33、开关S35、开关S36闭合，开关S34、开关S37打开，输出电压Vout转变为电阻R31和电阻R32上的电流，电阻R31上的电流为I1，电阻R32上的电流为I2，PMOS P32漏极镜像得到的电流Ic＝I1+I2，Ic与NMOS N34的导通电阻Ron的乘积为补偿电压，所述补偿电压反馈到PMOS P32的漏极，调整Voffset，电容CS31充电后的电压为调整后的Voffset加上PMOS P34、NMOS N33和电流源Q32构成的反相器的翻转电压，调整后的Voffset为：
V o f f s e t = R o n ( I 0 + I c ) = R o n ( I 0 + KI 1 + KI 2 ) = R o n ( I 0 + K · V o u t + V g s p - V g s n 1 R 31 + K · V o u t - V g s n 2 R 32 )
其中，I0为电流源Q32提供的电流；K为PMOS P31和PMOS P32构成的电流镜的电流镜像比例；Vgsp为PMOS P33的源极-栅极电压；Vgsn1为NMOS N31的栅极-源极电压；Vgsn2为NMOS N32的栅极-源极电压。
在Voffset上还有Vref时，上述CS31充电后的电压为调整后的Voffset加上Vref。
在输入电压Vin＝5.5V，输出电压Vout由04V变化到5V的过程中，所述电流I1、电流I2、电流Ic的关系如图14所示，可以看出，当输出电压Vout小于Vgsn2时，I2＝0，Ic＝I1；当输出电压Vout大于输入电压Vin与Vgsp的差值时，电流I1不再随输出电压Vout的增大而增大，但电流I2随输出电压Vout的增大而增大，对电流Ic进行额外的电流补偿。
图15所示为针对BUCK电路、工作在比较状态的零电流检测电路，该零电流检测电路的结构与图13相同，区别在于：工作时，开关S31、开关S32、开关S33、开关S35、开关S36打开，开关S34、开关S37闭合，当SW的电压等于负的调整后的Voffset时，PMOS P36和NMOS N36的漏极输出高电平。
图16所示为针对BUCK电路的零电流检测电路的具体连接，图16所示零电流检测电路的补偿电路和检测电路与图13或图15所示相同，其中，NMOS N37实现开关S31，NMOS N38实现开关S32，NMOS N39实现开关S33，NMOS N40实现开关S34，NMOS N41实现开关S35，NMOSN42、NMOS N43、PMOS P37、PMOS P38实现开关S36，NMOS N44实现开关S37；并通过两级反相器增强输入电压Vin，通过电流镜结构实现电流源Q31和电流源Q32。
图17所示为针对BOOST电路、工作在采样状态的零电流检测电路，该零电流检测电路的补偿电路包括：NMOS N51、NMOS N52、NMOS N53、开关S51、开关S52、开关S53、电流源Q51、PMOS P51、PMOS P52、电阻R51、电阻R52，其中，NMOS N51、NMOS N52为共源共栅连接，源极均接地，NMOS N51的漏极与栅极相连，并连接PMOS P51和PMOS P52的漏极；NMOS N52的漏极通过开关S51连接Voffset；NMOS N53的栅极连接PMOS P51的栅极和PMOS P52的源极，并连接BOOST电路的输入电压Vin，漏极连接BOOST电路的输出电压Vout，源极连接电流源Q51的正极和PMOS P52的栅极；PMOS P51的源极连接电阻R52；PMOS P52的源极连接电阻R51；电流源Q51的负极接地；电阻R51通过开关S52连接输出电压Vout；电阻R52通过开关S53连接输出电压Vout；
该零电流检测电路的检测电路包括：开关S54、开关S55、开关S56、开关S57、PMOSP53、PMOS P54、PMOS P55、PMOS P56、NMOS N54、NMOS N55、NMOS N56、电流源Q52、电容CS51，其中，开关S54一端连接电源电压VDD，另一端连接PMOS P53的漏极；PMOS P53的栅极接地，源极连接电源电压VDD，漏极连接补偿电路和PMOS P54的源极；开关S55一端连接SW，另一端连接电容CS51的负极，并通过开关S57连接输出电压Vout；电容CS51的正极连接PMOS P54和NMOS N54的栅极；PMOS P54的栅极和漏极之间连接开关S56，源极连接补偿电路，源极电压为Voffset；NMOS N54的漏极与PMOS P54的漏极连接，并连接PMOS P55和NMOS N55的栅极，源极连接电流源Q52的正极；电流源Q52的负极接地；PMOS P55和NMOS N55、PMOS P56和NMOSN56分别连接成两个反相器，PMOS P56和NMOS N56的漏极为零电流检测电路的输出端；
图17所示的零电流检测电路在工作时，开关S51、开关S52、开关S53、开关S56、开关S57闭合，开关S54、开关S55打开，输出电压Vout与输入电压Vin的差值转变为电阻R51和电阻R52上的电流，电阻R51上的电流为I2，电阻R52上的电流为I1，NMOS N52漏极镜像得到的电流Ic＝I1+I2，Ic与PMOS P53的导通电阻的乘积为补偿电压，所述补偿电压反馈到PMOSP54的源极，调整Voffset，电容CS51充电后的电压为BOOST电路的输出电压Vout减去调整后的Voffset再减去PMOS P54、NMOS N54和电流源Q52构成的反相器的翻转电压。
在Voffset上还有Vref时，上述CS51充电后的电压为调整后的Voffset加上Vref。
图18所示为针对BOOST电路、工作在比较状态的零电流检测电路，该零电流检测电路的结构与图17所示相同，区别在于：工作时，开关S51、开关S52、开关S53、开关S56、开关S57打开，开关S54、开关S55闭合，当SW的电压等于BOOST电路的输出电压Vout加上调整后的Voffset时，PMOS P56和NMOS N56的漏极输出高电平。
本发明实施例还提供一种电压变换电路，如图19所示，该电路包括：BUCK电路、零电流检测电路；其中，
BUCK电路，配置为通过开关器件对直流电压降压，产生输出电压；
零电流检测电路，配置为根据所述输出电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述BUCK电路进行零电流检测。
所述零电流检测电路，如图8所示，包括：补偿电路、检测电路，其中，
补偿电路，配置为根据BUCK电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；
检测电路，配置为根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述BUCK电路进行零电流检测。
图13所示为针对BUCK电路、工作在采样状态的零电流检测电路，所述补偿电路包括：PMOS P31、PMOS P32、PMOS P33、开关S31、开关S32、开关S33、电流源Q31、NMOS N31、NMOSN32、电阻R31、电阻R32，其中，PMOS P31、PMOS P32为共源共栅连接，源极均连接BUCK电路的输入电压Vin，PMOS P31的漏极与源极相连，并连接NMOS N31和NMOS N32的漏极；PMOS P32的漏极通过开关S31连接Voffset；PMOS P33的栅极连接NMOS N31的源极和NMOS N32的栅极，并连接BUCK电路的输出电压Vout，漏极接地，源极连接电流源Q31的负极和NMOS N31的栅极；NMOS N31的源极连接电阻R31；NMOS N32的源极连接电阻R32；电流源Q31的正极连接输入电压Vin；电阻R31对地连接有开关S32；电阻R32对地连接有开关S33；
所述检测电路包括：开关S34、开关S35、开关S36、开关S37、PMOS P34、PMOS P35、PMOS P36、NMOS N33、NMOS N34、NMOS N35、NMOS N36、电流源Q32、电容CS31，其中，开关S34一端连接SW，另一端连接电容CS31负极和开关S35；开关S35另一端接地；电容CS31正极连接PMOS P34和NMOS N33的栅极；PMOS P34的源极连接电流源Q32的负极，漏极与NMOS N33的漏极连接，并连接PMOS P35和NMOS N35的栅极；电流源Q32的正极连接输入电压Vin；NMOS N33的源极连接补偿电路和NMOS N34的漏极，并对地连接开关S37，栅极和漏极之间连接开关S36；NMOS N34的漏极电压为Voffset，NMOS N34的源极接地，栅极接输入电压Vin；PMOS P35和NMOS N35、PMOS P36和NMOS N36分别连接成两个反相器，PMOS P36和NMOS N36的漏极为零电流检测电路的输出端。
图13所示的零电流检测电路在工作时，开关S31、开关S32、开关S33、开关S35、开关S36闭合，开关S34、开关S37打开，输出电压Vout转变为电阻R31和电阻R32上的电流，电阻R31上的电流为I1，电阻R32上的电流为I2，PMOS P32漏极镜像得到的电流Ic＝I1+I2，Ic与NMOS N34的导通电阻Ron的乘积为补偿电压，所述补偿电压反馈到PMOS P32的漏极，调整Voffset，电容CS31充电后的电压为调整后的Voffset加上PMOS P34、NMOS N33和电流源Q32构成的反相器的翻转电压，调整后的Voffset为：
V o f f s e t = R o n ( I 0 + I c ) = R o n ( I 0 + KI 1 + KI 2 ) = R o n ( I 0 + K · V o u t + V g s p - V g s n 1 R 31 + K · V o u t - V g s n 2 R 32 )
其中，I0为电流源Q32提供的电流；K为PMOS P31和PMOS P32构成的电流镜的电流镜像比例；Vgsp为PMOS P33的源极-栅极电压；Vgsn1为NMOS N31的栅极-源极电压；Vgsn2为NMOS N32的栅极-源极电压。
在Voffset上还有Vref时，上述CS31充电后的电压为调整后的Voffset加上Vref。
在输入电压Vin＝5.5V，输出电压Vout由04V变化到5V的过程中，所述电流I1、电流I2、电流Ic的关系如图14所示，可以看出，当输出电压Vout小于Vgsn2时，I2＝0，Ic＝I1；当输出电压Vout大于输入电压Vin与Vgsp的差值时，电流I1不再随输出电压Vout的增大而增大，但电流I2随输出电压Vout的增大而增大，对电流Ic进行额外的电流补偿。
图15所示为工作在比较状态的零电流检测电路，该零电流检测电路的结构与图13相同，区别在于：工作时，开关S31、开关S32、开关S33、开关S35、开关S36打开，开关S34、开关S37闭合，当SW的电压等于负的调整后的Voffset时，PMOS P36和NMOS N36的漏极输出高电平。
本发明实施例还提供一种电压变换电路，如图20所示，该电路包括：BOOST电路、零电流检测电路；其中，
BOOST电路，配置为通过开关器件对直流电压升压，产生输出电压；
零电流检测电路，配置为根据所述输出电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述BOOST电路进行零电流检测。
所述零电流检测电路，如图8所示，包括：补偿电路、检测电路，其中，
补偿电路，配置为根据BOOST电路的输出电压反馈补偿电压至检测电路；
检测电路，配置为根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述BOOST电路进行零电流检测。
图17所示为针对BOOST电路、工作在采样状态的零电流检测电路，所述补偿电路包括：NMOS N51、NMOS N52、NMOS N53、开关S51、开关S52、开关S53、电流源Q51、PMOS P51、PMOSP52、电阻R51、电阻R52，其中，NMOS N51、NMOS N52为共源共栅连接，源极均接地，NMOS N51的漏极与栅极相连，并连接PMOS P51和PMOS P52的漏极；NMOS N52的漏极通过开关S51连接Voffset；NMOS N53的栅极连接PMOS P51的栅极和PMOS P52的源极，并连接BOOST电路的输入电压Vin，漏极连接BOOST电路的输出电压Vout，源极连接电流源Q51的正极和PMOS P52的栅极；PMOS P51的源极连接电阻R52；PMOS P52的源极连接电阻R51；电流源Q51的负极接地；电阻R51通过开关S52连接输出电压Vout；电阻R52通过开关S53连接输出电压Vout；
所述检测电路包括：开关S54、开关S55、开关S56、开关S57、PMOS P53、PMOS P54、PMOS P55、PMOS P56、NMOS N54、NMOS N55、NMOS N56、电流源Q52、电容CS51，其中，开关S54一端连接电源电压VDD，另一端连接PMOS P53的漏极；PMOS P53的栅极接地，源极连接电源电压VDD，漏极连接补偿电路和PMOS P54的源极；开关S55一端连接SW，另一端连接电容CS51的负极，并通过开关S57连接输出电压Vout；电容CS51的正极连接PMOS P54和NMOS N54的栅极；PMOS P54的栅极和漏极之间连接开关S56，源极连接补偿电路，源极电压为Voffset；NMOS N54的漏极与PMOS P54的漏极连接，并连接PMOS P55和NMOS N55的栅极，源极连接电流源Q52的正极；电流源Q52的负极接地；PMOS P55和NMOS N55、PMOS P56和NMOS N56分别连接成两个反相器，PMOS P56和NMOS N56的漏极为零电流检测电路的输出端；
图17所示的零电流检测电路在工作时，开关S51、开关S52、开关S53、开关S56、开关S57闭合，开关S54、开关S55打开，输出电压Vout与输入电压Vin的差值转变为电阻R51和电阻R52上的电流，电阻R51上的电流为I2，电阻R52上的电流为I1，NMOS N52漏极镜像得到的电流Ic＝I1+I2，Ic与PMOS P53的导通电阻的乘积为补偿电压，所述补偿电压反馈到PMOSP54的源极，调整Voffset，电容CS51充电后的电压为BOOST电路的输出电压Vout减去调整后的Voffset再减去PMOS P54、NMOS N54和电流源Q52构成的反相器的翻转电压。
在Voffset上还有Vref时，上述CS51充电后的电压为调整后的Voffset加上Vref。
图18所示为针对BOOST电路、工作在比较状态的零电流检测电路，该零电流检测电路的结构与图17所示相同，区别在于：工作时，开关S51、开关S52、开关S53、开关S56、开关S57打开，开关S54、开关S55闭合，当SW的电压等于BOOST电路的输出电压Vout加上Voffset时，PMOS P56和NMOS N56的漏极输出高电平。
本发明实施例还提供一种零电流检测方法，该方法包括：根据DC-DC变换电路的输出电压反馈补偿电压；根据所述补偿电压动态调整Voffset，按照调整后的Voffset对所述DC-DC变换电路进行零电流检测；
所述DC-DC变换电路为BUCK电路；
所述补偿电压为所述BUCK电路的输出电压；
所述DC-DC变换电路为BOOST电路；
所述补偿电压为所述BOOST电路的输出电压与输入电压的差值。
上述零电流检测方法一般应用于电压变换电路。
综上所述，本发明触发零电流检测电路的SW的电压随DC-DC变换电路的输出电压变化而变化，在零电流检测电路的触发延迟不变的条件下，能够有效提高零电流检测的精准度。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。

Claims (16)

1.一种用于电压变换器的零电流检测电路，该零电流检测电路包括：
第一输入端，配置为接收零检测参考电压，所述零检测参考电压表示所述零电流检测电路的操作延迟；
第二输入端，配置为接收反馈电压；
第三输入端，配置为从所述电压变换器的开关接收开关电压；
失调电压源，连接所述第一输入端并配置为提供响应于所述反馈电压的故作失调电压；
比较器，配置为在所述零电流检测电路的采样阶段，接收所述故作失调电压和所述开关电压，并在所述零电流检测电路的比较阶段，当所述开关电压等于负的所述故作失调电压时，提供零电流流经所述开关的指示。
2.根据权利要求1所述的电流检测电路，包括采样电容，所述采样电容连接所述比较器的反相输入端；以及，
其中，所述失调电压源的输出端连接所述比较器的非反相输入端。
3.根据权利要求2所述的电流检测电路，包括第一开关，所述第一开关配置为在所述比较阶段使所述失调电压源短路，并在所述零电流检测电路的采样阶段不使所述失调电压源短路。
4.根据权利要求3所述的电流检测电路，包括第二开关，所述第二开关配置为在所述比较阶段将所述第三输入端连接到所述采样电容，并在所述采样阶段将所述第三输入端与所述采样电容隔离。
5.根据权利要求4所述的电流检测电路，包括第三开关，所述第三开关配置为在所述采样阶段将所述比较器的输出端连接到所述采样电容的第一节点。
6.根据权利要求4所述的电流检测电路，包括第四开关，所述第四开关配置为在所述采样阶段将所述采样电容的第二节点连接到地。
7.根据权利要求1所述的电流检测电路，其中，所述电压变换器为升压变换器，所述反馈电压表示所述升压变换器的输入电压与所述升压变换器的输出电压的差值。
8.根据权利要求1所述的电流检测电路，其中，所述电压变换器为降压变换器，所述反馈电压表示所述降压变换器的输出电压。
9.一种用于对电压变换器的零电流检测电路的延迟进行补偿的方法，该方法包括：
在零电流检测电路的第一输入端处接收零检测参考电压，所述零检测参考电压表示所述零电流检测电路的操作延迟；
在采样阶段经由所述零电流检测电路的第二输入端在所述零电流检测电路的失调电压源处接收反馈电压，所述失调电压源与所述第一输入端串联连接；
在所述零电流检测电路的第三输入端处从升压变换器的开关接收开关电压；
在所述零电流检测电路的比较阶段将所述失调电压源的输出与所述开关电压进行比较；以及，
当所述开关电压等于负的故作失调电压时，提供零电流流经所述开关的指示，其中所述故作失调电压由所述失调电压源提供。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述比较包括：在所述比较器的非反相输入端接收所述失调电压源的输出；以及，
在所述比较器的反相输入端接收连接到所述第三输入端的采样电容的输出。
11.根据权利要求10所述的方法，包括：在所述比较阶段使用第一开关使所述失调电压源短路。
12.根据权利要求11所述的方法，包括：
在所述比较阶段使用所述零电流检测电路的第二开关将所述第三输入端连接到所述采样电容；以及，
在所述采样阶段使用所述第二开关将所述第三输入端与所述采样电容隔离。
13.根据权利要求12所述的方法，包括：在所述采样阶段使用所述零电流检测电路的第三开关将所述比较器的输出端连接到所述采样电容的第一节点。
14.根据权利要求11所述的方法，包括：在所述采样阶段使用所述零电流检测电路的第四开关将所述采样电容的第二节点连接到地。
15.根据权利要求9所述的方法，其中，所述电压变换器为升压变换器；以及，
其中，所述接收反馈电压包括接收表示所述升压变换器的输入电压与所述升压变换器的输出电压的差值的反馈电压。
16.根据权利要求9所述的方法，其中，所述电压变换器为降压变换器；以及，
其中，所述接收反馈电压包括接收表示所述降压变换器的输出电压的反馈电压。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111208343A (zh) * 2020-01-14 2020-05-29 上海南芯半导体科技有限公司 一种自校准过零检测比较器

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105842526B (zh) 2012-05-19 2019-05-24 快捷半导体(苏州)有限公司 一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路
CN103675426B (zh) * 2013-12-24 2017-04-26 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 电感电流过零检测方法及电路以及带该电路的开关电源
KR20160130222A (ko) * 2014-01-17 2016-11-10 유니버시티 오브 버지니아 페이턴트 파운데이션, 디/비/에이 유니버시티 오브 버지니아 라이센싱 & 벤처스 그룹 오프셋 보상된 제로 검출 및 피크 인덕터 전류 제어를 구비한 낮은 입력 전압 부스트 컨버터
KR102137847B1 (ko) * 2014-05-14 2020-07-24 솔루엠 (허페이) 세미컨덕터 씨오., 엘티디. 옵셋 제거 기능을 갖는 검출기, 이를 갖는 역률 보정 장치 및 전원 공급 장치
US9774258B2 (en) 2015-08-10 2017-09-26 Nxp Usa, Inc. Zero-current crossing detection circuits
US10224876B2 (en) * 2015-12-08 2019-03-05 Skyworks Solutions, Inc. Low dropout voltage regulator for highly linear radio frequency power amplifiers
CN105866519B (zh) * 2016-04-08 2019-09-20 北京集创北方科技股份有限公司 一种兼容多种直流转直流转换电路的过零检测电路
CN106712513B (zh) * 2017-01-11 2023-10-13 北京集创北方科技股份有限公司 峰值电流检测电路及功率变换装置
KR101898164B1 (ko) * 2017-02-14 2018-09-12 연세대학교 산학협력단 오프셋 제어에 의한 제로 전류 감지 센서 및 그 방법
JP2019149614A (ja) * 2018-02-26 2019-09-05 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電流検出回路、半導体装置、及び、半導体システム
CN108387771B (zh) * 2018-03-13 2024-08-23 广东赛微微电子股份有限公司 一种逆电流检测系统
US10855164B2 (en) * 2018-09-06 2020-12-01 Texas Instruments Incorporated Zero current detector
CN109347309A (zh) * 2018-11-28 2019-02-15 珠海智融科技有限公司 一种零电流检测和调节的方法以及系统
CN110108928B (zh) * 2019-05-23 2021-04-09 九阳股份有限公司 一种基于交流电压检测电路的交流电压过零检测方法
US11119126B2 (en) * 2019-07-23 2021-09-14 International Business Machines Corporation Slope detector for voltage droop monitoring
US10742202B1 (en) 2019-07-23 2020-08-11 International Business Machines Corporation Autozero to an offset value for a slope detector for voltage droop monitoring
CN111208337A (zh) * 2020-01-10 2020-05-29 南京能瑞自动化设备股份有限公司 一种电流采样电路和电流检测系统
CN116735948B (zh) * 2023-08-14 2023-12-15 深圳市思远半导体有限公司 一种过零检测电路和开关电源

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5359652A (en) * 1991-07-01 1994-10-25 U.S. Philips Corporation Tone receiver comprising a switch capacitor zero crossing detector
US5557239A (en) * 1994-08-12 1996-09-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Direct current offset compensating circuit of an audio system
JP3860103B2 (ja) * 2002-10-09 2006-12-20 本田技研工業株式会社 電動パワーステアリング装置の電流センサゼロ点補正方法
CN101213460A (zh) * 2005-05-04 2008-07-02 Nxp股份有限公司 峰值电流或零电流比较器
US20080224674A1 (en) * 2007-03-16 2008-09-18 Fujitsu Limited Dc-dc converter and power supply system
CN101833031A (zh) * 2010-05-24 2010-09-15 中国北车股份有限公司大连电力牵引研发中心 交流信号过零检测电路
US20100308784A1 (en) * 2009-06-08 2010-12-09 Texas Instruments Incorporated Electronic device and method for dc-dc conversion with variable bias current
US20110057704A1 (en) * 2009-09-10 2011-03-10 Karel Ptacek Method for detecting a current and compensating for an offset voltage and circuit
CN102193025A (zh) * 2010-02-09 2011-09-21 电力集成公司 用于确定电源的交流输入电压的过零的方法和装置
CN102244463A (zh) * 2010-05-14 2011-11-16 立锜科技股份有限公司 用于切换式调节器的实时可调零电流侦测器及侦测方法
US20110291632A1 (en) * 2010-05-26 2011-12-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Power Converters Including Zero-Current Detectors And Methods Of Power Conversion

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6507175B2 (en) * 2000-10-13 2003-01-14 Primarion, Inc. System and method for detection of zero current condition
US7391195B2 (en) * 2005-05-18 2008-06-24 Texas Instruments Incorporated Self-oscillating boost DC-DC converters with current feedback and digital control algorithm
US7405545B2 (en) * 2005-06-08 2008-07-29 System General Corp. Voltage-regulator and power supply having current sharing circuit
DE102005033434A1 (de) * 2005-07-18 2007-01-25 Infineon Technologies Ag Referenzspannungserzeugungsschaltung zur Erzeugung kleiner Referenzspannungen
US7274251B2 (en) * 2005-08-01 2007-09-25 System General Corp. Apparatus and method of current sharing
JP2008206239A (ja) * 2007-02-17 2008-09-04 Seiko Instruments Inc 半導体装置
JP4985003B2 (ja) * 2007-03-19 2012-07-25 富士電機株式会社 Ｄｃ−ｄｃコンバータ
US7982445B1 (en) * 2007-11-08 2011-07-19 National Semiconductor Corporation System and method for controlling overshoot and undershoot in a switching regulator
US8067929B2 (en) * 2008-03-03 2011-11-29 Intersil Americas, Inc. High-side sensing of zero inductor current for step down DC-DC converter
US7994766B2 (en) * 2008-05-30 2011-08-09 Freescale Semiconductor, Inc. Differential current sensor device and method
US8098102B2 (en) * 2009-02-03 2012-01-17 Renesas Electronics Corporation RF power amplifier and RF power module using the same
US20100329293A1 (en) * 2009-06-26 2010-12-30 Battelle Memorial Institute Methods and Apparatus for Efficient, Low-noise, Precision Current Control
US8154332B2 (en) * 2009-10-30 2012-04-10 Stmicroelectronics Design And Application Gmbh Current-controlled resistor
CN102128973B (zh) * 2010-01-19 2015-05-20 深圳艾科创新微电子有限公司 一种电压过零检测电路及具有该检测电路的dc-dc转换器
US8786266B2 (en) * 2010-02-01 2014-07-22 Microchip Technology Incorporated Effective current sensing for high voltage switching regulators
US8350543B2 (en) * 2010-11-16 2013-01-08 National Semiconductor Corporation Control circuitry in a DC/DC converter for zero inductor current detection
CN102023286B (zh) * 2010-11-30 2013-01-09 中国工程物理研究院流体物理研究所 串联谐振充电电源的零电流检测电路及设计方法
CN105842526B (zh) 2012-05-19 2019-05-24 快捷半导体(苏州)有限公司 一种零电流检测电路和方法、及电压变换电路
CN202649298U (zh) * 2012-05-19 2013-01-02 快捷半导体(苏州)有限公司 一种零电流检测电路及电压变换电路

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5359652A (en) * 1991-07-01 1994-10-25 U.S. Philips Corporation Tone receiver comprising a switch capacitor zero crossing detector
US5557239A (en) * 1994-08-12 1996-09-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Direct current offset compensating circuit of an audio system
JP3860103B2 (ja) * 2002-10-09 2006-12-20 本田技研工業株式会社 電動パワーステアリング装置の電流センサゼロ点補正方法
CN101213460A (zh) * 2005-05-04 2008-07-02 Nxp股份有限公司 峰值电流或零电流比较器
US20080224674A1 (en) * 2007-03-16 2008-09-18 Fujitsu Limited Dc-dc converter and power supply system
US20100308784A1 (en) * 2009-06-08 2010-12-09 Texas Instruments Incorporated Electronic device and method for dc-dc conversion with variable bias current
US20110057704A1 (en) * 2009-09-10 2011-03-10 Karel Ptacek Method for detecting a current and compensating for an offset voltage and circuit
CN102193025A (zh) * 2010-02-09 2011-09-21 电力集成公司 用于确定电源的交流输入电压的过零的方法和装置
CN102244463A (zh) * 2010-05-14 2011-11-16 立锜科技股份有限公司 用于切换式调节器的实时可调零电流侦测器及侦测方法
CN101833031A (zh) * 2010-05-24 2010-09-15 中国北车股份有限公司大连电力牵引研发中心 交流信号过零检测电路
US20110291632A1 (en) * 2010-05-26 2011-12-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Power Converters Including Zero-Current Detectors And Methods Of Power Conversion

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
王辉 等: "同步整流降压型DC_DC过零检测电路的设计", 《固体电子学研究与进展》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111208343A (zh) * 2020-01-14 2020-05-29 上海南芯半导体科技有限公司 一种自校准过零检测比较器
CN111208343B (zh) * 2020-01-14 2022-05-10 上海南芯半导体科技股份有限公司 一种自校准过零检测比较器

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