CN105793732A - 成像探测器自我诊断电路 - Google Patents

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Abstract

一种成像系统的成像探测器模块(112)包括至少一个探测器像素(114)和自我诊断电路(116)。所述自我诊断电路包括微处理器(202)和至少测量设备(210)。所述微处理器控制所述至少一个测量设备来测量所述至少一个探测器像素的至少一个参数，其中，所述至少一个参数的值指示所述成像系统的健康状态。一种方法包括采用被嵌入成像探测器模块中的自我诊断电路来测量所述成像探测器模块的至少一个探测器像素的至少一个参数。所述至少一个参数的值指示所述成像探测器的健康状态。所述方法还包括利用所述自我诊断电路基于测量出的至少一个参数来生成指示所述成像探测器模块的健康状态的信号。

Description

成像探测器自我诊断电路
技术领域
下文总体涉及一种成像探测器，更具体而言，涉及一种被嵌入成像探测器中的自我诊断电路，其监测并报告成像探测器的当前健康状态，并结合在计算机断层摄影(CT)中的具体应用而加以描述。然而，下文还能够通过调整而适用于其他成像模态，例如数字X射线和/或其他成像模态。
背景技术
CT扫描器包括发射穿过检查区域的辐射的x射线管。探测器阵列位于检查区域与x射线管相对的一侧。探测器阵列包括探测器模块，并且每个探测器模块包括探测器像素。每个探测器像素探测穿过检查区域的辐射并生成指示所述辐射的信号。重建器处理所述信号并生成指示被扫描检查区域的体积图像数据。
探测器模块的寿命取决于诸如辐射损伤、封装稳定性等因素。这些因素中的一些表现出随着时间的性能的稳定退化。例如，在辐射损伤的情况下，电荷捕获能够导致探测器模块的偏置电路的工作点偏移超过预定义极限，这最终能够产生故障或破坏的性能。这在CT中特别重要，因为边缘探测器模块比中心探测器模块看到更多辐射。
探测器模块周期性进行例行校准(例如，在第一流程之前那天的一开始，等等)，以补偿可以导致图像伪影的任何漂移。校准流程尝试确保良好的图像质量。可以使用基于软件的校正来通过例如内插相邻探测器像素的测量值并利用内插值替代针对有缺陷探测器像素的值，来校正一个或多个不能工作的或有缺陷的探测器像素。
令人遗憾的是，对于可以校正什么以及校正到什么程度有所限制。例如，辐射损伤可能导致噪声，在一些流程中，噪声可能不会限制图像质量，但在易受噪声影响的低剂量协议(例如，其中本底噪声升高，等等)中可能变成问题。因此，存在用于监测探测器模块的健康状态的其他方法的未解决的需要。
发明内容
本文描述的各方面解决了上述问题和其他问题。
下文描述了一种方法，其中，探测器阵列的探测器模块包括至少一个自我诊断电路。所述至少一个自我诊断电路监测具有已知正常工作值的预定一组参数。所述至少一个自我诊断电路基于所述监测来提供便于对维护进行排程的信息，例如，探测器修理、更换、校准、软件校正等。提供的信息可以指示需要注意和/或估计何时将可能需要维护的当前问题。在一种情况下，这样允许规划维护并使正常运行时间最大化。
在一个方面中，一种成像系统的成像探测器模块包括至少一个探测器像素和自我诊断电路。所述自我诊断电路包括微处理器和至少一个测量设备。所述微处理器控制所述至少测量设备来测量所述至少一个探测器像素的至少一个参数，其中，所述至少一个参数的值指示所述成像系统的健康状态。
在另一方面中，一种方法包括采用被嵌入成像系统的成像探测器模块中的自我诊断电路来测量所述成像探测器模块的至少一个探测器像素的至少一个参数。所述至少一个参数的值指示所述成像探测器的健康状态。所述方法还包括利用所述自我诊断电路基于测量出的至少一个参数来生成指示所述成像探测器模块的健康状态的信号。
在另一方面中，一种计算机断层摄影成像系统包括控制台，所述控制台控制所述成像系统的扫描操作。所述计算机断层摄影成像系统还包括辐射源，所述辐射源发射穿过检查区域的辐射。所述计算机断层摄影成像系统还包括探测器阵列，所述探测器阵列探测穿过检查区域的辐射。探测器阵列包括探测器模块。所述探测器模块包括至少一个探测器像素和自我诊断电路。所述自我诊断电路测量所述至少一个探测器像素的至少一个参数，基于测量出的至少一个参数生成针对所述成像探测器的与成像探测器维护相关的信息，生成包括所述信息的信号，并向所述控制台传送所述信号，所述控制台在视觉上显示包括所述信息的通知。
附图说明
本发明可以采用各种部件和部件布置，以及各种步骤和步骤布置。附图仅用于图示优选实施例的目的，不应被解读为限制本发明。
图1示意性地图示了一种范例成像系统，其探测器模块具有自我诊断电路。
图2示意性地图示了自我诊断电路的范例。
图3示意性地图示了图2的自我诊断电路的变型。
图4图示了一种范例方法，其用于利用探测器模块的自我诊断电路来诊断探测器模块的健康并生成和传送指示针对所述模块的估计的维护日期的信号。
图5图示了一种范例方法，其用于利用探测器模块的自我诊断电路来诊断探测器模块的健康并设置指示所述健康的寄存器位元(bit)。
具体实施方式
初始参考图1，图示了成像系统100。在本范例中，成像系统100是计算机断层摄影(CT)扫描器。
图示的成像系统100包括静止扫描架102和旋转扫描架104，旋转扫描架104由静止扫描架102可旋转地支撑。旋转扫描架104关于纵向或z轴(“Z”)围绕检查区域106旋转。
诸如x射线管的辐射源108由旋转扫描架104支撑并随着旋转扫描架104关于检查区域106旋转，并发射穿过检查区域106的辐射。
辐射敏感成像探测器阵列110被定位为跨检查区域106与辐射源108相对。辐射敏感成像探测器阵列110包括多个探测器模块112，每个探测器模块包括探测器像素114的二维(2D)阵列。探测器像素114探测穿过检查区域106的辐射并生成指示所述辐射的信号。
多个探测器模块112可以包括至少一个积分探测器像素，闪烁体被光学耦合到光学传感器和积分电路。备选地，多个探测器模块112包括直接转换或光子计数探测器像素，具有直接转换材料(例如，CdTe、CdZnTe等)以及脉冲成形和计数电路。在又一种情况下，多个探测器像素112包括积分和直接转换探测器像素的组合。
探测器模块112中的至少一个(图示范例中的探测器模块112I)包括被嵌入其中的自我诊断电路116。在一种情况下，利用硬件实现自我诊断电路116，硬件中的一些存储和/或执行计算机可读指令。如下文更详细所述，在一种非限制性情况中，自我诊断电路116至少监测探测器模块112I的预定一组参数，其提供指示探测器模块114的健康状态的信息。
所述预定一组参数通常包括具有已知正常工作值的参数，其响应于探测器模块112I导致成像性能退化的健康退化而以已知方式改变。被监测的适当参数的范例包括，但不限于：探测器偏置电流、探测器暗电流、探测器增益、探测器噪声、探测器灵敏度、探测器均质性、探测器串扰和探测器温度。
如下文更详细所述，自我诊断电路116基于监测及其分析，提供便于对维护进行排程的信息，维护例如是探测器修理、探测器更换、探测器校准、探测器输出信号校正等。这可以包括设置寄存器中的一个或多个位元、生成估计的维护日期等。可以针对个体探测器像素基础、个体模块基础中的一组探测器像素、个体模块基础、一组模块基础、探测器阵列基础和/或其他方式进行监测和报告。
在一种变型中，将探测器模块112I的所述预定一组参数的至少一个参数从探测器模块112I传送到位于探测器模块112I远程的信号处理器。在这种变型中，信号处理器处理参数中的至少一个，并且基于处理的结果来提供便于对维护进行排程的信息，维护例如是探测器修理、探测器更换、探测器校准、探测器输出信号校正等。
重建器118重建由辐射敏感探测器阵列生成的信号。重建器118能够采用各种重建算法，例如滤波反投影(FBP)、迭代重建和/或其他重建算法。
支撑物120支撑检查区域106中的物体或对象。对象支撑物120可以与执行成像流程协调地移动，以便相对于检查区域106引导对象或物体，用于加载、扫描和/或卸载对象或物体。
计算机充当操作员控制台122，并且包括诸如显示器的输出设备和诸如键盘、鼠标等输入设备。控制台122上驻留的软件允许操作员控制系统100的操作。在一种情况下，驻留的软件还包括自我诊断软件应用。在一种情况下，自我诊断软件应用在视觉上显示由自我诊断电路116提供的信息和/或从其获得的信息和/或从其导出的信息。
控制台122可以显示指示探测器模块112I的维护和/或健康状态的通知(以人可读格式)(例如，重新校准和/或更换、性能退化、寿命问题、缺陷等)。所述通知还可以包括特定测量出的参数，以及测量出的值和/或测量出的值的趋势以及对于所述参数的可接受值域。所述应用还可以响应于此通过例如网络向远程维护计算机发送维护请求。
图2示意性地图示了自我诊断电路116的范例。
自我诊断电路116包括微处理器202。微处理器202控制自我诊断电路116。在图示的实施例中，控制台122(图1)向微处理器202传送信号，所述信号调用微处理器202以执行自我诊断或使微处理器202处于空闲或睡眠状态。在一种情况下，响应于加载配置或偏好文件而传送该信号。在一种变型中，响应于对激活自我诊断的控制台122的用户输入而传送该信号。在又一种情况下，响应于激活自我诊断的远程维护请求而传送该信号。
自我诊断电路116还包括存储诊断日程206的日程存储器204。微处理器202基于诊断日程206来调用自我诊断。在图示的范例中，在日程存储器204中预加载诊断日程206。能够通过运行于控制台122上的应用软件预加载诊断日程206，通过探测器模块112的物理电机接口等对日程存储器204直接编程。存储的诊断日程206能够(例如，根据需要由本地和/或远程请求)被修改、盖写、超驰等。
在一种情况下，诊断日程206包括针对至少两个不同参数的自我诊断的独立日程。因此，可以在给定时间点测量一个参数，而在相同时间点可以不测量另一个参数。此外，诊断日程206可以基于时间和/或使用。例如，诊断日程206可以指示在一天的开始、结束和/或其他时间、在扫描之前、期间和/或之后、每月一次、响应于预定事件等测量特定参数。在一种情况下，仅在测量不会干扰诊断成像操作的时间期间(例如在探测器/扫描器的一个或多个空闲时间期间)进行测量。在另一种情况下，暂停或延迟诊断成像操作以进行测量。
自我诊断电路116还包括存储自我诊断指令208的指令存储器207。微处理器202遵循自我诊断指令208控制自我诊断电路116。同样，可以通过运行于控制台122上的应用软件预加载自我诊断指令208，通过探测器模块112的物理电机接口等对指令存储器207直接编程。存储的自我诊断指令208也能够被修改、盖写等。
自我诊断电路116还包括一个或多个测量设备210。一个或多个测量设备210测量预定一组参数。一个或多个测量设备210被配置为测量探测器像素偏置电流、探测器像素暗电流、探测器像素温度和探测器像素增益中的至少一个。一个或多个测量设备210还能够测量一个或多个其他参数。此外，一个或多个测量设备210中的单个测量一个或多个参数。
对于探测器像素偏置电流而言，例如，辐射损伤能够导致电荷捕获，这能够导致偏置电流偏移其工作点，最终会导致故障或影响性能。在2001年11月7日提交的Vrettos等人的题为“DataAcquisitionforComputedTomography”的美国专利6,671,345B2(在此通过引用将其全文并入本文)和“aNew2D-TiledDetectorforMultisliceCT”(Luhta等人在MedicalImaging2006：PhysicsofMedicalImaging，Vol.6142，pp.275-286(2006))中描述了探测器偏置电路的范例。
在专利'345和Luhta等人的文章中，A/D转换器包括积分器，积分器在每个积分周期中对探测器像素响应于入射到探测器像素上的辐射而产生的电流进行积分。积分器还在每个积分周期上对由偏置电流源向积分器供应的偏置电流进行积分。一个或多个测量设备210能够通过将偏置电流源与积分器电解耦并利用一个或多个测量设备210的偏置电流传感器测量偏置电流来测量该(或其他)偏置电流。
通常，暗电流是即使没有辐射入射到探测器时也流经光电二极管的较小电流。暗电流可以部分地释放被供应到A/D转换器积分器的偏置电流，这会向积分器的输出中引入偏移。一个或多个测量设备210能够在辐射源关闭(或不发射辐射)时或不入射到探测器模块上时，利用一个或多个测量设备210的暗电流传感器来测量暗电流。
对于温度而言，探测器像素的响应对温度敏感，并可以随着温度变化，令人遗憾的是，探测器模块中的温度变化可能导致向图像数据中引入伪影。在2010年8月10日提交的Luhta等人的题为“Imagingdetectorthermalcontrol”的美国专利8,405,040中描述了用于测量探测器温度的范例方式，在此通过引用将其全文并入。在专利'040中，探测器包括多个温度传感器，所述温度传感器感测探测器的不同位置处的温度。一个或多个测量设备210能够使用一个或多个测量设备210的这些和/或温度传感器中的一个来测量探测器模块温度。
探测器增益一般是指探测器的输出与输入之比。探测器增益能够随时间漂移，这会影响图像质量。能够通过校准对漂移进行补偿。在校准时进行初始空气扫描(检查区域106中没有物体或对象的扫描)，并用于校准探测器增益。如果探测器增益不漂移，后续空气扫描的探测器输出将与经校准的探测器的输出大致相同。然而，如果探测器增益漂移，探测器输出将不同。一个或多个测量设备210能够测量来自不同空气扫描的输出。
自我诊断电路116还包括存储测量出的参数的测量存储器212。测量出的参数包括在成像系统校准期间采集的测量出的参数(例如，最小值和/或最大值)以及在自我诊断期间采集的测量出的参数。自我诊断电路116还包括趋势器214，其针对特定参数，例如，基于测量存储器212中存储的信息和/或其他信息来生成测量值随时间变化的趋势。测量存储器212还存储趋势。
自我诊断电路116还包括逻辑电路216。逻辑电路216基于测量存储器212中存储的信息和/或其他信息来分析针对一个或多个参数的测量结果和/或趋势。自我诊断电路116还包括规则218和标准220。逻辑电路216基于分析以及规则218和标准220来生成指示分析的结果的信号，并且，在图示的实施例中，向控制台122传送信号。也能够将信号传送到另一个部件和/或存储在测量存储器212和/或其他存储器中。
规则218通常基于分析结果来指示逻辑电路216。在一种情况下，这包括指示逻辑电路216基于规则218中提供的信息估计何时应当执行维护。例如，规则可以指出，对于特定参数的特定值和/或趋势，应当在X时间段之内维护成像探测器。另一条规则可以指出，应当基于针对特定参数的特定值和/或趋势以特定方式设置维护标记。
自我诊断电路116还包括标准220，其提供对逻辑电路216的分析标准。标准220包括关于将如何分析测量结果和/或趋势的信息。例如，标准220可以包括预定阈值和/或值的预定范围。在另一个范例中，标准220可以指出使用来自测量存储器212的历史数据。该历史数据包括校准和/或先前测量结果和/或基准测试和/或其他信息。
响应于接收到信号，控制台122可以显示指示探测器模块112I的维护和/或健康状态的通知(人可读格式)(例如，重新校准和/或更换、性能退化、寿命问题、缺陷等)。所述通知还可以包括特定测量出的参数，以及测量出的值和/或测量出的值的趋势以及针对所述参数的可接受范围。
控制台自我诊断软件应用还可以响应于其而例如通过网络向远程维护计算机发送维护请求。维护请求可以包括应当执行维护的趋势和/或建议的时间框架。可以使用该信息来调节已经规划的维护和/或安排新的维护。当然，也可以忽略、丢弃和/或通过其他方式不使用维护请求。
图3示意性地图示了图2的变型。
在这种变型中，自我诊断电路116还包括寄存器302。逻辑电路216基于分析设置寄存器302中的位元。该位元指示特定参数是否满足标准220，是否应当执行维护等等，其中，规则218利用设置位元来指示逻辑电路216。
例如，将位元设置为一(1)可以指示该参数满足标准220，将位元设置为零(0)可以指示该参数不满足标准220，或者反之亦然。备选地，将位元设置为一(1)可以指示不需要维护，将位元设置为零(0)可以指示需要维护或不久将需要维护，或者反之亦然。可以使用大量位元来指示更多信息，例如测量出的参数值、维护日期估计等。
在变型中，逻辑电路216基于分析针对特定参数设置寄存器302中的多个位元。例如，在一种情况下，寄存器可以是计数器，每次发生对应于特定参数的事件时，都将计数器加一以对该事件进行计数。在这种配置中，寄存器302识别事件发生的次数。可以使用其他位元来指示更多信息，例如测量出的参数值、维护日期估计等。
在一种情况下，微处理器202向控制台122推送或传送寄存器302的一个或多个位元值。在另一种情况下，控制台122周期性轮询或读取寄存器302的一个或多个位元值。在另一种情况下，远程维护应用或客户端接收寄存器302的一个或多个位元值和/或读取寄存器302的一个或多个位元值。
在变型中，自我诊断电路116还可以诊断探测器模块112I外部的成像系统100的部件。例如，自我诊断电路116还能够用于诊断探测器模块112I外部的辐射源108、源准直器124、高压发电机126和/或其他部件。这可以包括评估辐射分布以识别不正确的准直，从而识别有缺陷的源准直器124，评价入射射束的能量，以识别潜在的辐射源108、高压发电机126或辐射源控制问题等。类似于关于探测器模块112I的信息的这种信息能够由探测器模块112I和/或探测器模块112I外部的处理部件处理。
图4图示了用于利用探测器的自我诊断电路来诊断探测器的健康的范例方法。
为了简洁清晰的缘故，关于测量偏置电路的电流来描述图4的范例方法。然而，要理解的是，可以监测其他参数，例如本文描述的那些和其他参数。
要认识到，这些方法的动作次序不是限制性的。由此，本文考虑到了其他次序。此外，可以省略一个或多个动作和/或可以包括一个或多个额外动作。
在402，激活自我诊断电路116。
在404，对探测器模块的偏置电路进行电解耦。
在406，测量偏置电路的偏置电流。
在408，生成偏置电流随时间变化的趋势。例如，退化斜率能够被计算为偏置电流变化与时间变化的比率。
在410，基于该趋势估计维护的估计日期。
在412，基于估计的维护日期确定现在是否应当进行维护。
如果现在还不应进行维护，则在414，存储测量结果和/或趋势，并且在416，将估计的维护日期传送到控制台122或远程维护计算机。
如果现在应当进行维护，则在418，向控制台122或远程维护计算机传送指示要求维护的信号。
同样，以上方法是非限制性的。这一特定方法不需要任何额外的部件和/或信号。然而，其他方法可以利用额外的部件。例如，在一种变型中，诸如发光二极管(LED)的光学部件能够被集成到探测器中并利用预定义序列发光，以指示针对串扰、灵敏度、线性等的自我测试的性能和/或结果。
在另一个方法中，向探测器中注入外部电流脉冲，例如，以访问与阈值扫描幅度相关的漂移。这样允许评估测量出的漂移是否是由ASIC导致的。这可以包括测量内部电流源，以在增益变化由测试电路上的辐射剂量效应导致时进行隔离，以及测量ASIC的内部节点(偏置电流)。
在另一个方法中，评估超过阈值的计数数量及其随时间的演进。这可以是对材料老化和/或读出电子线路辐射剂量效应的指示。这能够通过测量阈值扫描并评估基线峰的位置，以及使用ASIC上的电流ADC直接测量泄漏电流来完成。
图5图示了用于利用探测器模块的自我诊断电路来诊断探测器模块的健康的范例方法。
为了简洁清晰的缘故，关于测量偏置电路的电流来描述图5的范例方法。然而，要理解的是，可以监测其他参数，例如本文描述的那些和其他参数。
要认识到，这些方法的动作次序不是限制性的。由此，本文考虑到了其他次序。此外，可以省略一个或多个动作和/或可以包括一个或多个额外动作。
在502，激活自我诊断电路116。
在504，对探测器模块的偏置电路进行电解耦。
在506，测量解耦偏置电路的偏置电流。
在508，确定测量出的偏置电流是否满足预定偏置电流阈值或范围。
在510，基于确定的结果来设置偏置电流寄存器位元。
已经参考优选实施例描述了本发明。他人在阅读和理解以上详细描述之后可能想到修改和变更。应当将本发明解释为包括所有这样的修改和变更，只要它们在所附权利要求或其等价要件的范围之内。

Claims (20)

1.一种成像系统的成像探测器模块(112)，包括：
至少一个探测器像素(114)；以及
自我诊断电路(116)，其包括：
微处理器(202)；以及
至少一个测量设备(210)，
其中，所述微处理器控制所述至少一个测量设备来测量所述至少一个探测器像素的至少一个参数，其中，所述至少一个参数的值指示所述成像系统的健康状态。
2.根据权利要求1所述的成像探测器模块，所述自我诊断电路还包括：
趋势器(214)，其生成针对所述参数的趋势，其中，所述趋势指示针对所述至少一个参数随时间的测量值；
逻辑电路(216)，其鉴于预定的标准(220)来分析所述趋势并基于所述分析的结果来生成信号。
3.根据权利要求2所述的成像探测器模块，其中，所述信号包括基于所述分析的结果针对至少所述成像探测器模块的估计的维护日期。
4.根据权利要求3所述的成像探测器模块，其中，针对所述成像探测器模块的维护日程是基于所述信号而被创建的。
5.根据权利要求2到4中的任一项所述的成像探测器模块，其中，所述信号指示基于所述分析的结果的针对所述成像探测器模块的维护的特定类型。
6.根据权利要求2到5中的任一项所述的成像探测器模块，其中，所述信号包括所述参数和所述标准。
7.根据权利要求1到6中的任一项所述的成像探测器模块，其中，所述维护指示修理、更换、校准或软件校正中的至少一个。
8.根据权利要求1所述的成像探测器模块，所述自我诊断电路还包括：
寄存器(302)；以及
逻辑电路，其将测量出的至少一个参数与预定标准进行比较，并基于所述比较的结果来设置所述寄存器中的位元。
9.根据权利要求8所述的成像探测器模块，其中，所述逻辑电路响应于所述测量出的至少一个参数满足所述预定标准而将所述位元设置为多个可能值中的第一值。
10.根据权利要求4所述的成像探测器模块，其中，所述逻辑电路响应于所述测量出的至少一个参数不满足所述预定标准而将所述位元设置为所述多个可能值的第二不同值。
11.根据权利要求1到10所述的成像探测器模块，还包括：
日程存储器(204)，其存储诊断日程(206)，其中，所述微处理器基于所述诊断日程来控制所述至少测量设备以测量所述至少一个参数。
12.根据权利要求11所述的成像探测器模块，其中，所述至少测量设备包括至少两个测量设备，每个测量设备被配置为测量不同的参数，其中，所述诊断日程包括针对所述至少两个测量设备中的每个的不同自我诊断日程。
13.根据权利要求1到12所述的成像探测器模块，其中，所述至少一个测量设备包括一个或多个传感器，所述一个或多个传感器感测以下中的一个或多个：探测器偏置电流、探测器暗电流、探测器增益、探测器噪声、探测器灵敏度、探测器均质性、探测器串扰或探测器温度。
14.一种方法，包括：
采用被嵌入在成像系统的成像探测器模块中的自我诊断电路来测量所述成像探测器模块的至少一个探测器像素的至少一个参数，
其中，所述至少一个参数的值指示所述成像探测器的健康状态；并且
利用所述自我诊断电路基于测量出的至少一个参数来生成指示所述成像探测器模块的健康状态的信号。
15.根据权利要求14所述的方法，还包括：
生成针对所述至少一个参数的趋势，其中，所述趋势指示针对所述至少一个参数的随时间的测量值；
将所述趋势与预定标准进行比较；并且
基于所述比较的结果和预定规则来预测针对所述成像探测器模块的下一次维护日期。
16.根据权利要求14到15中的任一项所述的方法，其中，所述信号包括基于所述测量出的至少一个参数针对所述成像探测器的估计的维护日期。
17.根据权利要求16所述的方法，其中，通知还包括以下中的至少一个：将要执行的维护的类型和所述测量出的至少一个参数。
18.根据权利要求14到17中的任一项所述的方法，还包括：
向远程维护计算系统传送所述信号。
19.根据权利要求14到19中的任一项所述的方法，其中，所述至少一个参数的第二值指示所述成像探测器模块外部的部件的第二健康状态，并且所述信号还指示所述部件的所述第二健康状态。
20.一种计算机断层摄影成像系统(100)，包括：
控制台(122)，其控制所述成像系统的扫描操作；
辐射源(108)，其发射穿过检查区域的辐射；以及
探测器阵列(110)，其探测穿过所述检查区域的辐射，所述探测器阵列包括：
探测器模块(112)，其包括：
至少一个探测器像素(114)；以及
自我诊断电路(116)，
其中，所述自我诊断电路测量所述至少一个探测器像素的至少一个参数，基于测量出的至少一个参数来生成针对所述成像探测器的与成像探测器维护相关的信息，生成包括所述信息的信号，并向所述控制台传送所述信号，所述控制台在视觉上显示包括所述信息的通知。
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