CN103596502B - 针对断层摄影成像系统的自适应校准 - Google Patents
针对断层摄影成像系统的自适应校准 Download PDFInfo
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Abstract
一种方法,包括:使用断层摄影放射成像装置(10)采集成像数据;基于关于所述成像装置的当前信息更新校准(42、52);使用最新校准对所述成像数据进行校准;以及重建经校准的成像数据以生成图像。所述更新可以基于在采集所述成像数据中未使用的闲置或休眠成像模态的当前状态,或者基于与所述成像数据一起采集的测量结果,或者基于所述成像数据自身。针对锥形射束计算机断层摄影(CBCT)成像数据,所述更新可以包括基于在所述采集所述CBCT成像数据期间测量的至少一个空气像素的强度,确定强度缩放比例,以及通过所述强度缩放比例来更新空气扫描模板(60)。
Description
技术领域
以下涉及断层摄影放射成像领域、透射计算机断层摄影领域以及相关领域。
背景技术
在采用一个或多个移动探测器的断层摄影成像中,所述一个或多个探测器在围绕成像对象移动的同时采集成像数据,以便采集来自不同观察点的视图(有时称作“帧”)。备选地,能够使用一圈固定探测器来执行所述断层摄影成像,这在正电子发射断层摄影(PET)成像中是常规的。在通过磁共振(MR)进行断层摄影放射成像的情况中,探测器为射频接收线圈,它们通常(尽管不必须)是固定的。使用合适的图像重建技术来重建所述断层摄影成像数据,以生成所述对象的三维图像。
在发射断层摄影成像技术中,向所述对象给予放射性物质,并且一个或多个探测器探测从所述对象发出的辐射发射。PET为辐射发射断层摄影成像的范例。这种技术的另一个范例为单光子发射计算机断层摄影(SPECT),其通常采用一个或多个移动伽马探测头。这些技术生成所述放射性物质在所述对象中的分布的图像,所述分布可能通过所述对象中的吸收或散射进行修改。一些针对发射成像的重建技术基于所述对象的吸收图,针对所述对象中的吸收进行校正。
在透射断层摄影成像技术中,外部辐射源发射穿过对象的辐射。辐射探测器位于跨越所述对象与所述辐射源相对,以在穿过所述对象进行透射之后探测所述辐射。所述辐射源和辐射探测器一起围绕所述对象移动,同时保持它们彼此相对的取向。这样的技术的范例为具有平板探测器或其他二维探测器阵列的透射计算机断层摄影,也被称作锥形射束CT(CBCT)。这些技术生成“吸收”图像,其所述“吸收”图像中,体素值指示针对透射辐射(其通常为X-射线辐射)的吸收的局部强度。
准确的断层摄影放射成像依赖于对成像系统的诸多方面的准确校准,例如几何参数(例如,作为观察帧的功能的探测器位置)、探测器增益、辅助部件(诸如,防散射栅格或准直器)的遮蔽效应等。在透射成像模态的情况中,额外的参数涉及辐射源诸如,X-射线管焦斑位置和X-射线输出强度。
通常,针对这样的参数的校准由终端用户(例如,医院放射科工作人员)或由所述成像系统制造商雇用的现场工程师来现场执行。在安装所述成像系统时通常执行所述校准,并且在成像系统修改或维修事件期间重复所述校准。校准值存储在合适的存储器中,并且在图像重建之前或在图像重建期间,所述校准值被调用并应用于采集到的断层摄影放射数据。
以下提供如本文所公开的新型且改进的装置和方法。
发明内容
根据一个公开的方面,一种方法,包括:使用断层摄影放射成像装置采集成像数据;基于关于所述断层摄影放射成像装置的当前信息来更新校准,以生成最新校准;使用所述最新校准对所述成像数据进行校准,以生成经校准的成像数据;以及重建所述经校准的成像数据,以生成图像。所述更新可以基于在采集所述成像数据中未使用的闲置或休眠成像模态的当前状态,或者基于与所述成像数据一起采集的测量结果,或者基于所述成像数据自身。在CBCT成像数据的情况中,所述校准可以包括空气扫描模板,并且所述更新可以包括基于在所述CBCT成像数据的所述采集期间测量的至少一个空气像素的强度来确定强度缩放比例,以及通过所述强度缩放比例来更新所述空气扫描模板。
根据另一公开的方面,一种系统,包括断层摄影放射成像装置和处理设备,所述处理设备被配置为与所述断层摄影放射成像装置配合,以执行前一段落中阐述的方法。根据另一公开的方面,一种存储介质,其存储能够由数字处理设备运行以执行前一段落中阐述的方法的指令。
根据另一公开的方面,一种系统,包括:断层摄影放射成像装置,其被配置为采集成像数据;校准模块,其被配置为基于以下中的至少一个来更新校准:(i)在所述成像数据的采集时闲置或休眠的所述断层摄影放射成像装置的闲置或休眠成像模态的配置,(ii)与所述成像数据一起采集的测量结果,以及(iii)所述成像数据,并使用所述经更新的校准对所述成像数据进行校准;以及图像重建模块,其被配置为重建所述经校准的成像数据,以生成图像。在一些这样的实施例中,所述断层摄影放射成像装置被配置为采集锥形射束计算机断层摄影(CBCT)成像数据,所述校准包括至少空气扫描模板,并且所述校准模块被配置为通过应用强度缩放比例来更新所述空气扫描模板,所述强度缩放比例可以基于从所述CBCT成像数据的帧提取的一个或多个空气像素,得以计算。
一个优点在于断层摄影放射成像数据更准确,以及因此图像更准确。
另一个优点在于断层摄影放射成像在成像会话或成像会话序列的过程中具有更好的稳定性。
在阅读和理解以下详细描述后,其他优点对于本领域技术人员将是显而易见的。
附图说明
图1概略地示出了如本文中公开的包括SPECT和CBCT校准模块的SPECT/CBCT成像系统。
图2示出了若干空气扫描,针对选择的探测器像素,每个空气扫描绘制作为扫描时间(或等同地为帧)的函数测量出的空载强度Io,所述若干空气扫描是利用不同的探测器暴露历史采集的。
图3概略地示出了图1的SPECT/CBCT系统的CBCT校准模块的跨模态校准方面的操作。
图4概略地示出了图1的SPECT/CBCT系统的CBCT校准模块的线积分子模块(lineintegralsub-module)的操作。
具体实施方式
所公开的校准途径通常能够应用于实质上任意的单模态或多模态断层摄影放射成像装置。通过举例的方式,图1图示了多模态SPECT/CBCT成像装置10,其包括(1)SPECT成像模态,所述SPECT成像模态包括至少一个SPECT探测头(也就是图示的装置10中的两个伽马探测头12、14),以及(2)CBCT成像模态,所述CBCT成像模态包括二维探测器阵列16和在CBCT探测器阵列16对面跨越成像空间20安装的对应的辐射源18(例如,X-射线管)。SPECT探测头12、14和CBCTX-射线/探测器16、18均被布置为对放置在共用工作台或对象支撑体22上的对象进行成像。SPECT成像模态12、14和CBCT成像模态16、18均被安装在机械支撑结构24上,所述机械支撑结构24包括适当的机械接头、旋转机架等,以使得伽马探测头12、14能够共形地环绕放置在工作台22上的成像对象,并且使得相对的辐射源18和探测器阵列16能够一致地围绕工作台22上的所述对象旋转。图示的SPECT/CBCT成像装置10为BrightviewTMXCTSPECT/CT成像系统(可从荷兰艾恩德霍芬的皇家飞利浦电子股份有限公司获得)。
图示的BrightviewTMXCTSPECT/CT成像系统的机械支撑结构24提供具有多个运动自由度的SPECT探测头12、14,例如,能够实现SPECT探测头12、14以90°角或180°角相对取向的扫描,使得SPECT探测头12、14能够独立地向所述对象移动或远离所述对象以提供共形环绕,能够实现在各种位置对工作台22上的所述对象进行成像,等等。在另一SPECT操作模式中,仅单个SPECT探测头用于执行平面扫描,例如,在全身骨成像扫描中。在SPECT成像期间,所述CBCT成像模态的探测器阵列16能够在机械支撑结构24的凹槽26中旋转及休眠,从而其不干扰SPECT探测头12、14的运动。所述SPECT模态也被设计为具有安装在探测头12、14的辐射接收面上针对各种成像扫描类型优化的各种准直器(未示出)。图示的BrightviewTMSPECT/CT成像系统的机械支撑结构24也提供具有实质灵活性的CBCT成像模态16、18。例如,各种防散射栅格(未示出)能够被安装在探测器阵列16的辐射接收面上,以抑制在被扫描对象中散射的X-射线辐射。BrightviewTMXCT成像模态的图示的探测器阵列16为平板探测器,并且被布置为偏离中心的几何结构。辐射源18(在图示的BrightviewTMXCTSPECT/CT成像系统中的X-射线管)能够以各种亮度水平运行,以优化信号,同时限制所述对象的辐射吸收。
除具有广泛的用户可选择配置以外,图示的多模态断层摄影放射成像装置10可以呈现作为使用历史的函数的操作漂移。例如,由辐射源18生成的射束的亮度和/或焦斑位置能够根据管负荷、温度、使用历史而改变。CBCT探测器阵列16能够根据其近期暴露历史,经历各种类型的漂移,诸如,通过填充闪烁体(图示的BrightviewTMXCTSPECT/CT成像系统采用Csl针状闪烁体)中的陷阱而导致的明亮燃烧。常规地,断层摄影放射成像装置10是由终端用户(例如,医院放射科工作人员),或由成像系统制造商雇用的现场工程师现场校准的。在安装成像装置10时通常执行这种校准,并且在各种修改或维修事件期间重复所述校准。
然而,本文中认识到,这样的校准途径具有实质性的缺陷。所述校准未能考虑到当前成像系统状态或过往成像系统历史对当前成像数据采集的影响。例如,CBCT探测器阵列16会因近期的高X-射线暴露历史而示出“记忆”效应。在不同的近期暴露历史之后使用探测器阵列16采集的校准不能适应这样的记忆效应。
额外地,本文中还认识到,由一种模态(例如,CBCT)采集的成像数据会受到其他模态(例如,SPECT)的当前状态的影响。例如,被安装在SPECT探测头12、14上的准直器的类型会在CBCT成像期间影响CBCT探测器阵列16和/或辐射源18的位置。类似地,在CBCT成像期间SPECT探测头12、14的“休眠”位置会影响CBCT成像数据。如果利用与采集校准中使用的状态不同的状态的当前未运行的成像系统来采集成像数据,则这样的“跨模态”影响不会被校正。通过图示的范例的方式,利用在一种配置中休眠的SPECT模态采集的CBCT校准不会准确地校正利用在不同配置中休眠的所述SPECT模态采集的CBCT成像数据。
因此,本文中公开的校准途径基于有关在由活动成像模态采集成像数据时非活动成像或“休眠”模态的当前信息,更新针对活动成像模态的校准。使用最新校准,对由所述活动成像模态采集的所述成像数据进行校准,并且重建所述经校准的成像数据,以生成图像。在一些实施例中,所述校准的所述更新包括选择对应于在所述采集时非活动或休眠的成像模态的配置的配置特异性差分校准,以及通过所述差分校准的差分校准值,更新所述活动模态校准的校准参数,以生成最新校准。一些实施例中,基于以下中的至少一个更新所述校准参数:(i)在采集所述成像数据时非活动或休眠的断层摄影放射成像装置的配置,(ii)与所述成像数据一起采集的测量结果,以及(iii)所述成像数据。例如,在CBCT成像的情况中,在一些实施例中,所述校准更新包括:通过基于由与所述CBCT成像数据一起采集的温度传感器测量结果提供的X-射线管温度的差分校准值,更新所述CBCT校准的校准参数。在一些实施例中,所述校准更新包括:通过基于非活动或休眠的SPECT模态12、14的配置方面(诸如,安装的准直器的类型或SPECT探测头12、14的定位)的差分校准值,更新所述CBCT校准的校准参数。在一些实施例中,通过CBCT采集所述成像数据,并且所述校准更新包括:基于在采集所述CBCT成像数据期间测量的至少一个空气像素的强度,或基于辐射探测器16的暴露历史计算的至少一个空气像素的强度,更新空气扫描模板。所述最新空气扫描模板确定用于计算吸收线积分的零衰减强度(Io)。
继续参考图1,系统控制器30控制断层摄影放射成像装置10,以采集成像数据。由SPECT成像模态12、14采集的SPECT成像数据适当地存储在SPECT数据存储器32中,同时,由CBCT成像模态16、18采集的CBCT成像数据适当地存储在CBCT数据存储器34中。注意,尽管数据存储器32、34在图1中被示为单独的元件,在一些实施例中,公用物理存储器可以被组织为文件、目录、文件夹、存储空间,或以其他方式在逻辑上进行分区以定义数据存储器32、34。系统控制器30也存储当前系统配置36,所述当前系统配置36包括配置参数,诸如被安装在辐射探测器上的配件(例如,被安装在SPECT探测头12、14上的准直器的类型,或没有准直器,或者被安装在CBCT探测器阵列16上的防散射栅格的类型,或没有防散射栅格)、SPECT探测头12、14的相对定位(例如,偏移90°,偏移180°等)、CBCT探测器阵列16是否在存储凹槽26中休眠的指示、当前成像扫描选择等。
在SPECT数据的情况中,SPECT校准模块40基于差分SPECT校准值44的集合来更新SPECT校准42。这些差分SPECT校准值44中的一些可以是模态内差分SPECT校准值,所述模态内差分SPECT校准值针对当前SPECT配置与生成SPECT校准42时的SPECT配置之间的差异来更新SPECT校准42。额外地,这些差分SPECT校准值44中的一些是跨模态差分SPECT校准值,所述跨模态差分SPECT校准值考虑到当前CBCT配置与生成SPECT校准42时的CBCT配置之间的差异对SPECT成像数据的影响。之后,通过SPECT校准模块40将得到的最新SPECT校准应用于SPECT数据,以生成经校准的SPECT成像数据。SPECT重建模块46对所述经校准的SPECT成像数据进行重建,以生成SPECT图像。
在CBCT数据的情况中,CBCT校准模块50基于差分CBCT校准值54的集合来更新CBCT校准52。这些差分CBCT校准值54中的一些可以是模态内差分CBCT校准值,所述模态内差分CBCT校准值针对当前CBCT配置与生成CBCT校准52时的CBCT配置之间的差异来更新CBCT校准52。额外地,这些差分CBCT校准值54中的一些是跨模态差分CBCT校准值,所述跨模态差分CBCT校准值考虑到当前SPECT配置与生成CBCT校准52时的SPECT配置之间的差异对CBCT成像数据的影响。之后,通过CBCT校准模块50将得到的最新CBCT校准应用于CBCT数据,以生成经校准的CBCT成像数据,由CBCT重建模块56对所述CBCT成像数据进行重建,以生成XCT图像。
所公开的提供针对跨模态差分校准值是基于以下认识,由活动模态采集的成像数据会受到非活动(或休眠)模态的当前配置的影响。如果所述非活动模态能够在各种配置中休眠或闲置(同样地,例如在CBCT成像期间休眠BrightviewTMXCTSPECT/CT成像系统的SPECT探测头12、14),则有可能所述非活动模态的当前配置可以不同于生成所述活动模态校准时所述非活动模态的配置。所述跨模态差分校准值能够使所述活动模态的该差分影响得以校正。
在CBCT的情况中,校准模块50也执行如下的额外校准。采集到的CBCT成像数据为强度测量结果I,在重建操作之前将其转换为吸收测量结果。基于比尔郎伯定律:I=Ioexp(-∫μdx)执行所述转换,其中,μ为线性衰减系统,dx为沿X-射线路径的符号化积分,I为在所述CBCT成像数据采集中测量的强度,以及Io为如果在透射X-射线的路径中不存在吸收材料将测量得到的强度。假设Io为已知的,则能够容易地解出比尔郎伯定律,以得到∫μdx=log(Io)-log(I)。该量化也被称作对X-射线衰减的“线积分”。
为了计算所述线积分,Io的值必须是已知的。为了实现这一目的,CBCT校准52包括空气扫描模板60,在不加载样品的情况下(以及如果工作台吸收X-射线,撤去工作台22)通过执行CBCT成像数据采集来生成空气扫描模板60。在该情况中,所有测量的I=Io。由于Io能够针对不同的探测器像素并且针对不同的帧而变化,因此,针对所有帧(亦即,所有观察点)并且针对CBCT探测器阵列16的每个探测器像素,测量空气扫描模板60。
继续参考图1,在本文中认识到,由于Io的各种漂移源,空气扫描模板60的值会存在误差。例如,Io的值会受到由辐射源18生成的射束的亮度变化的影响(其可能继而受到管热负荷或管温度和/或对射束电流的故意调节影响)。Io的值也会受到通过填充闪烁体中的陷阱而导致的明亮燃烧的影响。明亮燃烧的量受到探测器阵列16的近期暴露历史的影响。
简要参考图2,在本文中认识到,通常能够通过(至少为一阶的)缩放比例因子表示Io的漂移,所述缩放比例因子在探测器(即,针对所有探测器像素)之间以及帧之间为恒定的。例如,图2示出了若干空气扫描,每个空气扫描绘制针对选择的探测器像素作为扫描时间(或等同地为帧)的函数测量处的空载强度Io,所述若干空气扫描是利用不同的探测器暴露历史采集的。能够看出,Io随着探测器暴露而变化,但针对所有的帧以相同的方式进行变化。结果,能够通过Io中独立于探测器像素和帧的大致恒定的强度缩放比例,补偿Io的漂移。
返回参考图1,鉴于仅参考图2阐述的前面的观察,CBCT校准模块50还包括线积分计算模块62,其计算针对CBCT成像数据的线积分。在计算所述线积分中,线积分计算模块62通过对图像值应用恒定强度缩放比例,或对线积分应用恒定偏移,更新空气扫描模板60。由于线积分中恒定的加法偏移转化为经重建的图像中大致恒定的加法偏移,能够在重建XCT体积图像后,备选地应用经适当缩放比例的偏移。在一个适当的实施例中,空气像素识别器64搜索采集到的CBCT成像数据,以识别一个或多个“空气像素”,亦即,针对确定无吸收并因此具有I=Io的探测器像素测量结果。一旦由空气像素识别器64识别空气像素,将其值与空气扫描模板60的对应帧的对应像素进行比较——这些值之间的比率为恒定强度缩放比例。之后,因此更新的空气扫描模板通过线积分模块62用于在从所述CBCT强度测量I计算所述线积分值中提供所述Io值。备选地,可能将缩放比例因子作为恒定偏移,应用于从在观察的空气像素与来自校准的Io之间的识别比率计算的经重建的体积。
继续参考图1,图像处理与显示模块66适当地处理和/或显示SPECT图像、CBCT图像或SPECT与CBCT图像的融合或其他组合。各种处理部件30、40、46、50、56、66适当地通过数字处理设备70得以具体化(任选地以通过专用集成电路或ASIC得以具体化的模拟或混合数字/模拟电路,或其他模拟或混合部件得到增强)。图示的数字处理设备为图示的计算机70,其包括或可访问硬盘驱动、随机存取存储器(RAM)、闪存、光学存储器或其他数据存储设备或部件(或其组合),适当地使存储器部件32、34具体化,并且适当地存储当前系统配置36和校准42、44、52、54、60。所述计算机或其他数字处理设备70也可以包括或可以访问显示设备72,图像处理与显示模块66经由所述显示设备72显示经重建的图像。所述计算机或其他数字处理设备70也可以包括或可以访问键盘或一个或多个其他用户输入设备74,放射科医师或其他人类用户可以经由所述键盘或一个或多个其他用户输入设备74与所述系统进行交互,以操作断层摄影放射成像装置10采集成像数据,以及校准和重建成像数据,以及显示经重建的图像。也将认识到,所公开的校准技术可以通过存储指令的存储介质(例如,诸如硬盘驱动的磁性介质,或诸如RAM或闪存的电子存储介质,或光学介质等)得以具体化,所述指令能够由数字处理设备70执行,以执行本文公开的各种方法。
参考图3,描绘了CBCT校准模块50的跨模态校准更新方面的图示的范例。校准模块50执行操作80,其中,根据当前系统配置36基于SPECT模态的当前配置,从配置特异性差分CBCT校准54的集合中选择配置特异性跨模态差分CBCT校准参数。换言之,操作80选择补充所述闲置或休眠SPECT系统的当前状态的各方面对活动CBCT成像的效应的跨模态差分CBCT参数。这些方面可以包括被安装在SPECT探测头12、14上的准直器的类型、SPECT探测头12、14的位置校准等。
在操作82中,针对每个CBCT校准参数,通过执行差分更新(诸如,将从(基础)CBCT校准52获得的校准参数值乘以由选择的配置特异性差分CBCT校准提供的一个或多个配置特异性差分因子,或者加上由所述差分校准提供的一个或多个偏移等)生成最新CBCT校准。当要将两个或多个不同的差分校正应用于单一配置参数(例如,因操作温度而导致的一个差分校正以及因当前安装的SPECT准直器的类型而导致的另一差分校正)时,可以以各种方式应用所述两个或多个不同的差分校正,诸如,通过首先加上所述差分校正,并且之后乘以总和。备选地,能够将所述校准参数连续乘以每个差分校正。实践中,一个或多个所述差分校正通常是小的,并且因此两种途径均将产生类似的结果。作为加和偏移应用的差分因子能够被一起应用。
之后,操作84将通过操作82生成的所述最新CBCT校准应用于所述CBCT成像数据,以生成经校准的CBCT成像数据,之后,通过CBCT图像重建模块56对所述经校准的CBCT成像数据进行重建。每个校准参数的应用取决于正在执行的校准的类型。例如,探测器位置校准参数可以是以加和方式应用的位置偏移,而可以以乘法方式应用强度校准。
尽管图3图示了CBCT校准模块50,SPECT校准模块40的操作是类似的。再一次,配置特异性差分校准的选择可以考虑到跨模态配置方面,在该情况中所述跨模态配置方面反映CBCT成像模态16、18的配置对SPECT成像数据的影响。例如,探测器16是在凹槽26中休眠或持续在其延伸位置处,会影响SPECT探测头12、14的精确位置。
在构造配置特异性差分校准44、45的集合中,识别引起校准42、52改变的系统状态改变。通过图示的范例的方式,一些可能相关的系统状态改变包括:在改变SPECT/CBCT系统上的SPECT准直器时整体系统几何结构的改变;在改变SPECT/CBCT系统上的SPECT探测器的相对位置(例如,Rel-90对Rel-180)时整体系统几何结构的改变;取决于管负荷和温度X-射线管的焦斑位置的改变;在改变C型臂X-射线成像器上的防散射栅格时整体系统几何结构的改变;因患者较重而导致的整体系统几何结构的改变;等等。系统几何结构或X-射线焦斑位置的改变预计在很大程度上影响几何校准和旋转增益校正,其表示变化的防散射栅格和射束成形器遮蔽。
一旦识别与校准相关的系统状态改变,则生成配置特异性差分校准44、54的集合。在一种适当的途径中,在安装成像装置10之前或安装成像装置10期间,在各种改变的成像装置状态下,测量一次校准42、52的受影响的校准参数。从该数据,确定因成像装置状态改变而导致的校准信息的相对或绝对改变,并将其用于构造配置特异性差分校准44、54的集合。针对跨模态差分校准,例如,校准不同的SPECT模态配置对CBCT数据的影响,利用不同位置处的SPECT探测头12、14以及利用不同安装的准直器等测量CBCT校准参数,以便定量地测量这些各种SEPCT模态配置对所述CBCT校准参数的效应。
如果要对基础校准42、52进行重新校准,则在一个固定的预定的系统配置(例如,具有低管温、CBCT系统上的限定SPECT准直器,并且在患者工作台上无重量的情况下)中执行这些重新校准。针对成像会话,考虑到成像装置10的当前状态,并且在校准成像数据之前,根据选择的配置特异性差分校准来更新最近的校准42、52。
参考图4,描述了线积分计算子模块62的图示的范例。使用由空气扫描模板60提供的Io值得出线积分。更一般地,针对每个显著不同的CBCT采集类型,采集显著不同的空气扫描模板60。在使用不同类型的准直器时,或在使用(一种或多种)不同能量设定(例如,不同kVp、不同滤波或楔形)时等,针对像素分箱的不同布置,可以需要不同的空气扫描模板。通过空气扫描生成每个空气扫描模板,所述空气扫描包括在视场中不存在衰减材料的情况下以固定暴露进行采集。针对每项技术,这提供作为机架角度(或帧)和mA(或mAs)的函数的探测器所见到的有效强度。
然而,空气扫描模板60(或者甚至是针对不同CBCT采集类型的不同空气扫描模板)没有考虑到由明亮燃烧或探测器阵列16的近期暴露历史而导致的Io的漂移。通过图示的范例的方式,图2示出了采取相同暴露但不同的探测器暴露历史的多空气扫描模板。为了校正这种效应,线积分计算子模块62调用空气像素识别器64,以识别采集到的CBCT成像数据中的一个或多个空气像素。空气像素识别器64能够通过各种方法探测空气像素,诸如:(1)基于最小期望强度值的限阈;(2)识别形成平坦局部梯度的像素(可能与所述限阈组合);(3)基于诸如成像对象的形状或最大尺寸的先验信息,识别不期望经历任何吸收的投影;(4)值在多个帧上保持不变;等等。在决策90,确定是否识别任何空气像素。若是,则在操作92中,将一个或多个所述空气像素用于设定恒定强度缩放比例因子,以更新所述空气扫描模板。针对给定空气像素,识别在空气扫描模板60的对应帧中的对应像素,并且空气值与模板值之间的比率为所述恒定强度缩放比例。如果所述空气像素识别器识别了多于一个空气像素,能够针对每个空气像素重复该过程,并且能够对得到的多个恒定强度缩放比例值取平均,或以其他方式进行合计。一旦通过操作92设定所述强度缩放比例,则在操作94中通过将所述强度缩放比例应用于所述空气扫描模板的所有值来更新所述空气扫描模板。得到的最新空气扫描模板应用于计算针对操作96中的CBCT数据的线积分值。
如果决策90指示,在采集到的CBCT成像数据中未发现合适的空气像素,则可以遵循图4中由虚线指示的备选路径。在替代操作92的操作98中,基于除经识别的空气像素以外的标准,设定所述强度缩放比例。例如,能够基于最近采集到的扫描来设定所述强度缩放比例,或者从暴露历史记录来估计所述强度缩放比例,等等。备选地,操作98能够设定所述强度缩放比例为一(该情况中,没有执行针对明亮燃烧或其他Io漂移的有效校正)。在任一种情况中,处理适当地流至操作94,以应用所述识别或其他备选的恒定强度缩放比例。
已参考图1的图示SPECT/CT成像装置10,描述了所公开的校准技术。更一般地,要认识到,所公开的校准技术能够应用于任何单模态或多多模态断层摄影放射成像装置,诸如,单模态SPECT装置、单模态PET装置、单模态计算机断层摄影(CT)装置(例如,CBCT、扇形射束CT等)、单模态MR成像装置或者实现诸如SPECT、PET、CT或MR的两种或多种不同成像模态的双模态或多模态装置。此外,在对CBCT数据进行校准的情况中,预期应用配置特异性差分CBCT校准,而无需还应用(由子模块62执行的)空气扫描模板校正。相反,在CBCT数据的情况中也预期应用空气扫描模板校正,而无需还应用配置特异性差分CBCT校准。在SPECT/CBCT装置的情况中,预期应用配置特异性差分CBCT校准和/或空气扫描模板校正,而无需还应用配置特异性差分SPECT校准,反之亦然。
本申请已描述了一个或多个优选实施例。他人在阅读和理解前面的详细描述时可以想到多种修改和变更。本申请意图被解读为包括所有这样的修改和变更,只要它们落入所附权利要求或其等价方案的范围内。
Claims (16)
1.一种用于断层摄影成像的方法,包括:
使用断层摄影放射成像装置(10)采集成像数据;
基于关于所述断层摄影放射成像装置的当前信息来更新校准(42、52),以生成最新校准;
使用所述最新校准对于所述成像数据进行校准,以生成经校准的成像数据;以及
重建所述经校准的成像数据,以生成图像,其中,通过所述断层摄影放射成像装置(10)的活动成像模态来执行所述采集,并且所述更新包括:
选择对应于在所述采集时闲置或休眠的所述断层摄影放射成像装置(10)的成像模态的配置(36)的配置特异性校准更新;以及
根据所述配置特异性校准更新来调节所述校准(42、52)的校准参数,以生成所述最新校准。
2.如权利要求1所述的方法,其中:
闲置或休眠的成像模态包括一个或多个闲置或休眠的辐射探测器;
所述选择包括至少部分地基于在所述采集时所述一个或多个闲置或休眠的辐射探测器的配置来选择配置特异性差分校准参数;以及
所述更新包括基于选择的配置特异性差分校准参数来调节所述校准(42、52)的至少一个校准参数。
3.如权利要求1所述的方法,其中,所述选择包括至少基于安装在所述断层摄影放射成像装置(10)的辐射探测器(12、14、16)上的配件部件,选择配置特异性校准更新。
4.如权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中,所述更新包括:
通过基于所述断层摄影放射成像装置(10)的辐射源(18)的当前操作条件确定的调节值,调节所述校准的校准参数。
5.如权利要求4所述的方法,其中,所述辐射源(18)为X-射线管,并且从由X-射线焦斑、X-射线管负荷和X-射线管温度组成的组中选择所述当前操作条件。
6.如权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中,所述更新包括:
通过基于采集到的成像数据确定的调节值,调节所述校准的校准参数。
7.如权利要求6所述的方法,其中,所述采集包括使用所述断层摄影放射成像装置(10)的CBCT模态(16、18)来采集锥形射束计算机断层摄影(CBCT)成像数据,所述校准包括空气扫描模板(60),并且所述调节包括:
通过强度缩放比例调节所述空气扫描模板,以生成最新空气扫描模板。
8.如权利要求7所述的方法,其中,所述更新还包括:
基于所述采集所述CBCT成像数据期间测量的至少一个空气像素的强度,确定所述强度缩放比例。
9.一种用于断层摄影成像的系统,包括:
断层摄影放射成像装置(10),其被配置为采集成像数据;
校准模块(40、50),其被配置为:
基于以下中的至少一个来更新校准(42、52):(i)在采集所述成像数据时闲置或休眠的所述断层摄影放射成像装置的闲置或休眠的成像模态的配置(36),(ii)与所述成像数据一起采集的测量结果,以及
使用经更新的校准对所述成像数据进行校准;以及
图像重建模块(46、56),其被配置为重建经校准的成像数据,以生成图像。
10.如权利要求9所述的系统,其中,所述校准模块(40、50)还被配置为基于所述成像数据来更新校准(42、52)。
11.如权利要求9所述的系统,其中:
所述断层摄影放射成像装置(10)为多模态装置,其包括采集所述成像数据的活动成像模态和所述闲置或休眠的成像模态;以及
所述校准模块(40、50)被配置为至少部分地基于所述闲置或休眠的成像模态的配置,更新活动的成像模态校准,用于校准由所述活动成像模态采集的成像数据。
12.如权利要求9至11中的任一项所述的系统,其中:
所述断层摄影放射成像装置(10)被配置为采集锥形射束计算机断层摄影(CBCT)成像数据;
所述校准(52)包括至少空气扫描模板(60);以及
所述校准模块(50)被配置为通过应用强度缩放比例因数来更新所述空气扫描模板。
13.一种用于断层摄影成像的方法:
使断层摄影放射成像装置(10)采集成像数据;
校准采集到的成像数据,以生成经校准的成像数据,其中,所述校准基于以下中的至少一个(i)在采集所述成像数据时闲置或休眠的所述断层摄影放射成像装置的成像模态的配置(36),(ii)与所述成像数据一起采集的测量结果;以及
重建所述经校准的成像数据,以生成图像。
14.如权利要求13所述的方法,其中,所述校准包括:
对利用第一配置中的所述断层摄影放射成像装置(10)的闲置或休眠的成像模态采集的校准进行更新,以补偿利用不同于所述第一配置的第二配置中的所述闲置或休眠的成像模态采集所述成像数据;以及
将经更新的校准应用于所述成像数据。
15.如权利要求13至14中的任一项所述的方法,其中,所述成像数据包括计算机断层摄影(CT)成像数据,并且所述校准包括:
使用基于在所述CT成像数据中识别的一个或多个空气像素校准的Io值,计算吸收线积分。
16.如权利要求13所述的方法,其中,所述校准还基于所述成像数据。
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