CN105785115A - 测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本公开揭示了一种测试系统及方法，属于电子技术领域。该测试系统包括：目标电路、测试电路以及测试终端；该目标电路至少包括待测试的目标组件单元，该目标组件单元的输入端与检流电阻连接；该检流电阻的第一端和第二端均与该测试电路连接，该测试电路与该测试终端连接。通过测试电路采集检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压，测试终端根据该第一电压和该检流电阻的电阻值计算出该检流电阻的电流，根据该电流和目标组件单元的额定电压计算出该目标组件单元的功率，保证了测试结果的准确性，便于开发人员根据目标组件单元的功率对目标组件单元进行优化，提高了灵活性。

Description

测试系统及方法

技术领域

本公开涉及电子技术领域，特别涉及一种测试系统及方法。

背景技术

随着电子设备向小型化、轻薄化的方向发展，散热性能也随之下降，用户对电子设备温度的关注程度也不断提高，而电子设备的功率是影响温度的一个主要因素，开发人员通常需要对电子设备的功率进行测试。

当要测试电子设备上某个目标组件单元的功率时，开发人员可以启动目标组件单元，而关闭其他无需测试的单元，并将测试仪与电子设备的输入端和输出端连接，由测试仪为电子设备提供电源电压，并检测电子设备的电压和电流，从而根据检测到的电压和电流计算对应的功率，作为该目标组件单元的功率。

由于在上述测试过程中除目标组件单元以外，电子设备可能还在运行其他单元，导致计算出的功率实际上是电子设备的总功率，而不是该目标组件单元的实际功率，因此亟需一种测试方法，以准确检测电子设备上某个目标组件单元的功率。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种测试系统及方法。所述技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试系统，所述测试系统包括：目标电路、测试电路以及测试终端；

所述目标电路至少包括待测试的目标组件单元，所述目标组件单元的输入端与检流电阻连接；所述检流电阻的第一端和第二端均与所述测试电路连接，所述测试电路与所述测试终端连接；

所述测试电路用于在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压，并将所述第一电压发送至所述测试终端；

所述测试终端用于根据所述第一电压以及所述检流电阻的电阻值，计算所述检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述目标组件单元的额定电压计算功率，作为所述目标组件单元的功率。

在另一实施例中，所述测试电路还用于采集所述检流电阻的第一端与地电位之间的第二电压，并将所述第二电压发送至所述测试终端；

所述测试终端还用于根据所述额定电压和所述第二电压，判断所述目标组件单元是否正常工作。

在另一实施例中，所述目标电路与所述测试电路通过高密度连接器连接，所述检流电阻的第一端和第二端均与所述高密度连接器连接，以连接至所述测试电路。

在另一实施例中，所述测试电路包括串行总线USB接口芯片，并通过所述USB接口芯片与所述测试终端连接。

在另一实施例中，所述测试电路包括采集模块和处理模块，所述采集模块与所述处理模块通过串行外设接口SPI连接，所述检流电阻的第一端和第二端均与所述采集模块连接。

在另一实施例中，所述目标电路还包括至少一个电源单元，所述至少一个电源单元中目标电源单元的输入端与第一检流电阻连接，输出端与第二检流电阻连接。

在另一实施例中，所述测试电路用于在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述第一检流电阻的第一端与第二端之间的第三电压，采集所述第一检流电阻的第一端与地电位之间的第四电压，并采集所述第二检流电阻的第一端与第二端之间的第五电压，采集所述第二检流电阻的第一端与地电位之间的第六电压，并将所述第三电压、所述第四电压、所述第五电压和所述第六电压发送至所述测试终端；

所述测试终端用于根据所述第三电压以及所述第一检流电阻的电阻值，计算所述第一检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第四电压计算功率，作为所述目标电源单元的输入功率；

所述测试终端用于根据所述第五电压以及所述第二检流电阻的电阻值，计算所述第二检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第六电压计算功率，作为所述目标电源单元的输出功率；

所述测试终端还用于根据所述目标电源单元的输入功率和输出功率，计算所述目标电源单元的效率。

在另一实施例中，所述目标组件单元为所述目标电路中的摄像头或者传感器。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试方法，所述测试方法应用于上述第一方面任一项所述的测试系统；所述方法包括：

在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压；

根据所述第一电压以及所述检流电阻的电阻值，计算所述检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述目标组件单元的额定电压计算功率，作为所述目标组件单元的功率。

在另一实施例中，所述方法还包括：

采集所述检流电阻的第一端与地电位之间的第二电压；

根据所述额定电压和所述第二电压，判断所述目标组件单元是否正常工作。

在另一实施例中，所述至少一个电源单元中目标电源单元的输入端与第一检流电阻连接，输出端与第二检流电阻连接；所述方法还包括：

在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述第一检流电阻的第一端与第二端之间的第三电压，采集所述第一检流电阻的第一端与地电位之间的第四电压；

采集所述第二检流电阻的第一端与第二端之间的第五电压，采集所述第二检流电阻的第一端与地电位之间的第六电压；

根据所述第三电压以及所述第一检流电阻的电阻值，计算所述第一检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第四电压计算功率，作为所述目标电源单元的输入功率；

根据所述第五电压以及所述第二检流电阻的电阻值，计算所述第二检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第六电压计算功率，作为所述目标电源单元的输出功率；

根据所述目标电源单元的输入功率和输出功率，计算所述目标电源单元的效率。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本实施例提供的测试系统及方法，通过目标组件单元的输入端与检流电阻连接，测试电路采集检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压，测试终端根据该第一电压和该检流电阻的电阻值计算出该检流电阻的电流，根据该电流和目标组件单元的额定电压可以准确地计算出该目标组件单元的功率，保证了测试结果的准确性，便于开发人员根据目标组件单元的功率对目标组件单元进行优化，提高了灵活性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并于说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试系统示意图；

图2是根据另一示例性实施例示出的一种测试系统示意图；

图3是根据又一示例性实施例示出的一种测试系统示意图；

图4是根据又一示例性实施例示出的一种目标电路示意图；

图5是根据又一示例性实施例示出的一种目标电路示意图；

图6是根据又一示例性实施例示出的一种目标电路示意图；

图7是根据一示例性实施例示出的一种测试方法的流程图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试系统示意图，如图1所示，该测试系统包括：目标电路110、测试电路120以及测试终端130。

本实施例中，为了在测试目标电路110中任一单元的功率时提高测试准确度，可以通过测试电路120采集该单元的电压，并将采集到的电压发送至测试终端130，测试终端130根据获取到的电压计算得出该单元的功率。

以对目标电路110中的目标组件单元进行测试为例，该目标电路110可以至少包括待测试的目标组件单元1101，该目标组件单元1101的输入端与检流电阻1102连接，该检流电阻1102的第一端和第二端均与该测试电路120连接，该测试电路120与该测试终端130连接。

其中，该目标组件单元1101可以为CPU(CentralProcessingUnit，中央处理器)、摄像头或者传感器等，本实施例对此不做限定。

另外，该检流电阻1102的电阻值可以根据该目标组件单元1101的额定电流确定。例如，为该目标组件单元1101提供的电压为3.7V，目标组件单元1101的额定电流为0.5A，当测试电路120能够检测的差分电压范围为-100mV至100mV时，则可以确定检流电阻1102的电阻值的最大值为：100mV÷0.5A＝0.2Ω。

参见图2，该目标电路110与该测试电路120可以通过高密度连接器140连接，该检流电阻1102的第一端和第二端可以均与该高密度连接器140连接，以连接至该测试电路120。其中，该高密度连接器140可以是针脚数量较多的连接器，可以与该测试电路120中每个检流电阻1102的第一端和第二端连接。

另外，该检流电阻1102的第一端可以为该检流电阻1102的高电位端，第二端可以为该检流电阻1102的低电位端。该测试终端130可以是电脑、手机或者平板电脑等，本实施例对测试终端130不做限定。

在该目标组件单元1101的运行过程中，该测试电路120采集该检流电阻1102的第一端与第二端之间的第一电压，并将该第一电压发送至该测试终端130。该测试终端130根据该第一电压以及该检流电阻1102的电阻值，计算该检流电阻1102的电流，根据计算出的电流和该目标组件单元1101的额定电压计算功率，作为该目标组件单元1101的功率。

其中，该额定电压是指目标组件单元1101正常工作时的电压。如果目标组件单元1101的工作电压低于额定电压，即目标组件单元1101的输入端与地电位之间的电压低于额定电压，则目标组件单元1101工作时不能正常工作，如果目标组件单元1101的工作电压高于额定电压，则目标组件单元1101工作时容易损坏。

本发明实施例中，由于目标组件单元1101正常工作，因此认为该目标组件单元1101的工作电压即为额定电压。且由于该检流电阻1102与目标组件单元1101串联，因此，该检流电阻1102的电流即为目标组件单元1101的电流。所以，根据计算出的检流电阻1102的电流和该目标组件单元1101的额定电压，就可以计算出目标组件单元1101的功率。

本实施例提供的测试系统，通过目标组件单元的输入端与检流电阻连接，测试电路采集检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压，测试终端根据该第一电压和该检流电阻的电阻值计算出该检流电阻的电流，根据该电流和目标组件单元的额定电压可以准确地计算出该目标组件单元的功率，保证了测试结果的准确性，便于开发人员根据目标组件单元的功率对目标组件单元进行优化，提高了灵活性。

在另一实施例中，该测试电路120还用于采集检流电阻1102的第一端与地电位之间的第二电压，并将该第二电压发送至该测试终端130，该测试终端130还用于根据该目标组件单元1101的额定电压和该第二电压，判断该目标组件单元1101是否正常工作。

由于检流电阻1102与目标组件单元1101串联，而检流电阻1102的电阻值一般较小，因此检流电阻1102第一端的电压与第二端的电压相近，也即是第二电压与目标组件单元1101的工作电压相近。

因此，可以根据额定电压和该第二电压，判断该目标组件单元1101是否正常工作。具体地，计算第二电压与额定电压的差值，判断该差值是否小于预设阈值。如果该第二电压与额定电压的差值小于预设阈值，则可以确定目标组件单元1101正常工作，如果该第二电压与额定电压的差值不小于预设阈值，则可以确定目标组件单元1101未能正常工作。

其中，该预设阈值可以根据检流电阻1102的电阻值和目标组件单元1101的额定电流确定，也可以由设计人员在研发时确定，本实施例对此不做限定。

需要说明的是，测试电路120的工作模式可以包括差分模式和单端模式，测试电路120工作在差分模式时，可以采集到第一电压，工作在单端模式时，可以采集到第二电压。

其中，测试电路120可以包括前端电路和ADC(AnalogtoDigitalConverter，模数转换器)模块，且前端电路与ADC模块连接。

检流电阻1102的第二端与测试电路120的前端电路连接，当该前端电路接收到低电平信号时，测试电路120进入差分模式，该前端电路将该检流电阻1102的第一端和第二端均接入测试电路120的ADC模块，以便采集检流电阻1102的第一端与第二端之间的电压差值，并将该电压差值作为第一电压。

当该前端电路接收到高电平信号时，测试电路120进入单端模式，该前端电路将该检流电阻1102的第一端和地电位接入ADC模块，不再将该检流电阻1102的第二端接入ADC模块，以便采集检流电阻1102的第一端与地电位之间的电压差值，并将该电压差值作为第二电压，其中地电位通常为0V。

实际应用中，测试电路120可以根据计算目标组件单元1101的功率、判断目标组件单元1101是否正常工作等需求，来确定是否要采集第一电压，并判断是否要采集第二电压。

当确定需要采集第一电压和第二电压时，测试电路120可以通过切换模式，对第一电压和第二电压进行交叉采集，即测试电路120可以进入差分模式采集第一电压，在采集到第一电压后切换至单端模式采集第二电压，采集到第二电压后再次切换到差分模式采集第一电压，如此循环采集第一电压和第二电压。

另外，测试电路120可以存储采集到的目标组件单元1101的电压。例如，测试电路120可以为目标组件单元1101分配存储空间，以便存储采集到的电压。或者，测试电路120可以为目标组件单元1101分配第一存储空间和第二存储空间，该第一存储空间用于存储采集到的第一电压，该第二存储空间用于存储采集到的第二电压。

而且，由于测试电路120可能会多次采集目标组件单元1101的第一电压和第二电压，则为了节省存储空间，当再次采集到第一电压时，将新采集到的第一电压写入该目标组件单元1101对应的第一存储空间中，覆盖原有的第一电压。当再次采集到第二电压时，将新采集到的第二电压写入该目标组件单元1101对应的第二存储空间中，覆盖原有的第二电压。

其中，采集到的第一电压和第二电压均可以二进制补码的形式存储，也可以其他形式存储，本实施例对此不做限定。

参见图3，在另一实施例中，该测试电路120包括采集模块1201和处理模块1202，该采集模块1201与处理模块1202连接，检流电阻1102的第一端和第二端均与该采集模块1201连接。

其中，该采集模块1201与该处理模块1202可以通过SPI(SerialPeripheralInterface，串行外设接口)连接。

该采集模块1201用于采集检流电阻1102的第一电压和第二电压，可以在测试电路120中配置多个采集模块1201，当该目标电路110中包括多个检流电阻1102时，为每个检流电阻1102分配一个采集模块1201，对于每个采集模块1201，该采集模块1201采集为该采集模块1201分配的检流电阻1102的第一电压和第二电压。

其中，在该测试电路中通常可以配置128个采集模块1201，也可以扩展配置更多的采集模块1201，本实施例对此不做限定。

该处理模块1202用于控制该采集模块1201采集第一电压和第二电压，并将采集到的第一电压和第二电压发送至测试终端130。其中该处理模块1202可以为FPGA(Field－ProgrammableGateArray，现场可编程门阵列)芯片、ARM(AdvancedRISCMachine，进阶精简指令集机器)处理器等，本实施例对此不做限定。

该测试电路120还包括USB(UniversalSerialBus，串行总线)接口芯片，该测试电路120通过该USB接口芯片与该测试终端130连接，该USB接口芯片还用于将该测试电路120采集到的第一电压和第二电压发送至该测试终端130。

在另一实施例中，参见图4，该目标电路110还可以包括至少一个电源单元1103，该至少一个电源单元1103用于为该目标组件单元1101供电，可以包括电池，也可以包括电源电路。

该至少一个电源单元1103可以向目标组件单元1101输出电压，以保证目标组件单元1101正常工作。

例如，参见图4，至少一个电源单元1103相互连接，且其中的某一电源单元1103的输出端与检流电阻1102连接，从而连接至目标组件单元1101的输入端，为目标组件单元1101供电。

或者，参见图5，多个电源单元1103为目标组件单元1101供电。在多个电源单元1103中的每个电源单元1103的输出端与目标组件单元1101的输入端之间均串联接入一个检流电阻1102，则目标组件单元1101的输入端与多个检流电阻1102连接。因此，在计算该目标组件单元1101的功率时，可以分别计算与该目标组件单元1101连接的每个检流电阻1102的电流，再计算多个检流电阻1102的电流和值，计算该电流和值与目标组件单元1101的额定电压的乘积，得出目标组件单元1101的功率。

在目标组件单元的运行过程中，还可以对电源单元1103进行测试。

例如，参见图6，该至少一个电源单元1103中目标电源单元1103的输入端与第一检流电阻1104连接，输出端与第二检流电阻1105连接。为了测试电源单元1103中目标电源单元1103的效率，可以在该目标电源单元1103的输入端串联接入第一检流电阻1104，在该目标电源单元1103的输出端串联接入第二检流电阻1105。

该测试电路120用于在该目标组件单元1101的运行过程中，采集该第一检流电阻1104的第一端与第二端之间的第三电压，采集该第一检流电阻1104的第一端与地电位之间的第四电压，并采集该第二检流电阻1105的第一端与第二端之间的第五电压，采集该第二检流电阻1105的第一端与地电位之间的第六电压，并将该第三电压、该第四电压、该第五电压和该第六电压发送至该测试终端130。

上述采集第三电压和第五电压的过程与采集第一电压的过程类似，采集第四电压和第六电压的过程与采集第二电压的过程类似，在此不做赘述。

该测试终端130用于根据该第三电压以及该第一检流电阻1104的电阻值，计算该第一检流电阻1104的电流，根据计算出的电流和该第四电压计算功率，作为该目标电源单元1103的输入功率。

该测试终端130用于根据该第五电压以及该第二检流电阻1105的电阻值，计算该第二检流电阻1105的电流，根据计算出的电流和该第六电压计算功率，作为该目标电源单元1103的输出功率。

该测试终端130还用于根据该目标电源单元1103的输入功率和输出功率，计算该目标电源单元1103的效率。

上述计算目标电源单元1103的输入功率和输出功率的过程与计算目标组件单元1101的功率的过程类似，在此不做赘述。

测试终端130将输出功率与输入功率的商值作为该目标电源单元1103的效率，以便开发人员能够根据该效率判断是否需要从硬件结构上对该目标电源单元1103改进。

图7是根据一示例性实施例示出的一种测试方法的流程图，如图7所示，该测试方法应用于图1所示的测试系统中，包括以下步骤：

在步骤701中，在目标组件单元的运行过程中，采集检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压。

其中，至少一个电源单元为该目标组件单元供电，可以包括电池，也可以包括电源电路，电源单元可以向目标组件单元输出预设电压，以保证目标组件单元正常工作。该目标组件单元可以为CPU、摄像头或者传感器等，本实施例对此不做限定。

在步骤702中，根据该第一电压以及该检流电阻的电阻值，计算该检流电阻的电流，根据计算出的电流和该目标组件单元的额定电压计算功率，作为该目标组件单元的功率。

其中，该额定电压是指目标组件单元正常工作时的电压。如果目标组件单元的工作电压低于额定电压，即目标组件单元的输入端与地电位之间的电压低于额定电压，则目标组件单元工作时不能正常工作，如果目标组件单元的工作电压高于额定电压，则目标组件单元工作时容易损坏，因此目标组件单元的工作电压为额定电压时目标组件单元才能正常工作。

由于该检流电阻串联接在电源单元的输出端和目标组件单元的输入端之间，因此，该检流电阻的电流即为目标组件单元的电流，可以根据采集到的第二电压以及确定的检流电阻的电阻值，计算出检流电阻的电流，再根据计算出的电流和目标组件单元的额定电压，计算出目标组件单元的功率，以便开发人员能够根据该功率判断是否需要从软件代码上对该目标组件单元改进。

上述步骤701可以由测试系统中的测试电路执行，步骤702可以由测试系统中的测试终端执行。

本实施例中，在目标组件单元的运行过程中，还可以采集检流电阻的第一端与地电位之间的第二电压，并根据采集到的第二电压和目标组件单元的额定电压，判断该目标组件单元是否正常工作。该采集第二电压和判断目标组件单元是否正常工作的过程可以包括以下步骤703至704：

703、采集该检流电阻的第一端与地电位之间的第二电压。

其中，该地电位的电压通常为0V，因此在采集第二电压时，可以采集该检流电阻第一端与地电位之间的电压，作为第二电压，则可以认为该第二电压与检流电阻第一端的电压相等。

需要说明的是，采集电压的工作模式可以包括差分模式和单端模式，在差分模式时，可以采集到第一电压，在单端模式时，可以采集到第二电压。

实际应用中，可以根据计算目标组件单元的功率、判断目标组件单元是否正常工作等需求，来确定是否要采集第一电压，并判断是否要采集第二电压。当确定需要采集第一电压和第二电压时，可以通过切换模式，对第一电压和第二电压进行交叉采集，即可以进入差分模式采集第一电压，在采集到第一电压后切换至单端模式采集第二电压，采集到第二电压后再次切换到差分模式采集第一电压，如此循环采集第一电压和第二电压。

另外，可以存储采集到的目标组件单元的电压。例如，可以为目标组件单元分配存储空间，以便存储采集到的电压。或者，可以为目标组件单元分配第一存储空间和第二存储空间，该第一存储空间用于存储采集到的第一电压，该第二存储空间用于存储采集到的第二电压。

而且，由于可能会多次采集目标组件单元的第一电压和第二电压，则为了节省存储空间，当再次采集到第一电压时，将新采集到的第一电压写入该目标组件单元对应的第一存储空间中，覆盖原有的第一电压。当再次采集到第二电压时，将新采集到的第二电压写入该目标组件单元对应的第二存储空间中，覆盖原有的第二电压。

其中，采集到的第一电压和第二电压均可以二进制补码的形式存储，也可以其他形式存储，本实施例对此不做限定。

704、根据额定电压和该第二电压，判断该目标组件单元是否正常工作。

由于检流电阻串联在电源单元的输出端与目标组件单元的输入端之间，而检流电阻的电阻值一般较小，因此检流电阻第一端的电压与第二端的电压相近，也即是第二电压与目标组件单元的工作电压相近。

因此，可以根据额定电压和该第二电压，判断该目标组件单元是否正常工作。具体地，计算第二电压与额定电压的差值，判断该差值是否小于预设阈值。如果该第二电压与额定电压的差值小于预设阈值，则可以确定目标组件单元正常工作，如果该第二电压与额定电压的差值不小于预设阈值，则可以确定目标组件单元未能正常工作。

其中，该预设阈值可以根据检流电阻的电阻值和目标组件单元的额定电流确定，也可以由设计人员在研发时确定，本实施例对此不做限定。

需要说明的是上述步骤703可以由测试系统中的测试电路执行，上述步骤704可以由测试系统中的测试终端执行。

本实施例中，在目标组件单元的运行过程中，至少一个电源单元可以为该目标组件单元供电，此时，还可以从至少一个电源单元中确定待测试的目标电源单元，通过将该目标电源单元的输入端与第一检流电阻连接，输出端与第二检流电阻连接，对该目标电源单元进行测试。该测试过程可以包括以下步骤705至709：

705、在该目标组件单元的运行过程中，采集该第一检流电阻的第一端与第二端之间的第三电压，采集该第一检流电阻的第一端与地电位之间的第四电压。

706、采集该第二检流电阻的第一端与第二端之间的第五电压，采集该第二检流电阻的第一端与地电位之间的第六电压。

上述步骤705和706中采集第三电压和第五电压的过程与步骤701中采集第一电压的过程类似、采集第四电压和第六电压的过程与步骤703中采集第二电压的过程类似，在此不做赘述。

707、根据该第三电压以及该第一检流电阻的电阻值，计算该第一检流电阻的电流，根据计算出的电流和该第四电压计算功率，作为该目标电源单元的输入功率。

708、根据该第五电压以及该第二检流电阻的电阻值，计算该第二检流电阻的电流，根据计算出的电流和该第六电压计算功率，作为该目标电源单元的输出功率。

上述步骤707和708中计算得到输入功率和输出功率与步骤702中计算得到目标组件单元的功率类似，在此不做赘述。

709、根据该目标电源单元的输入功率和输出功率，计算该目标电源单元的效率。

其中，可以将输出功率与输入功率的商值作为目标电源单元的效率，以便开发人员能够根据该效率判断是否需要从硬件结构上对该目标电源单元改进。

需要说明的是上述步骤705和706可以由测试系统中的测试电路执行，上述步骤707至709可以由测试系统中的测试终端执行。

本实施例提供的测试方法，通过目标组件单元的输入端与检流电阻连接，测试电路采集检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压，测试终端根据该第一电压和该检流电阻的电阻值计算出该检流电阻的电流，根据该电流和该目标组件单元的额定电压可以准确地计算出该目标组件单元的功率，保证了测试结果的准确性，便于开发人员根据目标组件单元的功率对目标组件单元进行优化，提高了灵活性。

进一步地，测试电路采集目标电路中第一检流电阻的第三电压和第四电压，以及第二检流电阻的第五电压和第六电压，并将该第三电压、第四电压、第五电压和第六电压发送至测试终端，测试终端根据该第三电压、第四电压、第五电压和第六电压计算得到目标电源单元的输入功率和输出功率，并根据该输入功率和输出功率计算得到该目标电源单元的效率，提高了灵活性，方便开发人员对目标电源单元进行优化。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (11)

1.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：目标电路、测试电路以及测试终端；

所述目标电路至少包括待测试的目标组件单元，所述目标组件单元的输入端与检流电阻连接；所述检流电阻的第一端和第二端均与所述测试电路连接，所述测试电路与所述测试终端连接；

所述测试电路用于在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压，并将所述第一电压发送至所述测试终端；

所述测试终端用于根据所述第一电压以及所述检流电阻的电阻值，计算所述检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述目标组件单元的额定电压计算功率，作为所述目标组件单元的功率。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试电路还用于采集所述检流电阻的第一端与地电位之间的第二电压，并将所述第二电压发送至所述测试终端；

所述测试终端还用于根据所述额定电压和所述第二电压，判断所述目标组件单元是否正常工作。

3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标电路与所述测试电路通过高密度连接器连接，所述检流电阻的第一端和第二端均与所述高密度连接器连接，以连接至所述测试电路。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试电路包括串行总线USB接口芯片，并通过所述USB接口芯片与所述测试终端连接。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试电路包括采集模块和处理模块，所述采集模块与所述处理模块通过串行外设接口SPI连接，所述检流电阻的第一端和第二端均与所述采集模块连接。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标电路还包括至少一个电源单元，所述至少一个电源单元中目标电源单元的输入端与第一检流电阻连接，输出端与第二检流电阻连接。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，

所述测试电路用于在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述第一检流电阻的第一端与第二端之间的第三电压，采集所述第一检流电阻的第一端与地电位之间的第四电压，并采集所述第二检流电阻的第一端与第二端之间的第五电压，采集所述第二检流电阻的第一端与地电位之间的第六电压，并将所述第三电压、所述第四电压、所述第五电压和所述第六电压发送至所述测试终端；

所述测试终端用于根据所述第三电压以及所述第一检流电阻的电阻值，计算所述第一检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第四电压计算功率，作为所述目标电源单元的输入功率；

所述测试终端用于根据所述第五电压以及所述第二检流电阻的电阻值，计算所述第二检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第六电压计算功率，作为所述目标电源单元的输出功率；

所述测试终端还用于根据所述目标电源单元的输入功率和输出功率，计算所述目标电源单元的效率。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标组件单元为所述目标电路中的摄像头或者传感器。

9.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于上述权利要求1-8任一项所述的测试系统；所述方法包括：

在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述检流电阻的第一端与第二端之间的第一电压；

根据所述第一电压以及所述检流电阻的电阻值，计算所述检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述目标组件单元的额定电压计算功率，作为所述目标组件单元的功率。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采集所述检流电阻的第一端与地电位之间的第二电压；

根据所述额定电压和所述第二电压，判断所述目标组件单元是否正常工作。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述至少一个电源单元中目标电源单元的输入端与第一检流电阻连接，输出端与第二检流电阻连接；所述方法还包括：

在所述目标组件单元的运行过程中，采集所述第一检流电阻的第一端与第二端之间的第三电压，采集所述第一检流电阻的第一端与地电位之间的第四电压；

采集所述第二检流电阻的第一端与第二端之间的第五电压，采集所述第二检流电阻的第一端与地电位之间的第六电压；

根据所述第三电压以及所述第一检流电阻的电阻值，计算所述第一检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第四电压计算功率，作为所述目标电源单元的输入功率；

根据所述第五电压以及所述第二检流电阻的电阻值，计算所述第二检流电阻的电流，根据计算出的电流和所述第六电压计算功率，作为所述目标电源单元的输出功率；

根据所述目标电源单元的输入功率和输出功率，计算所述目标电源单元的效率。