CN102879732B - 板卡的测试方法及其系统 - Google Patents

Abstract

本发明适用于计算机技术领域，提供了一种板卡的测试方法及其系统，所述方法包括如下步骤：A、设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；B、根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；C、根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。以实现在线和/或远程对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。

Description

板卡的测试方法及其系统

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种板卡的测试方法及其系统。

背景技术

随着FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)的容量和复杂度越来越大，导致对现场可编程门阵列板卡的逻辑的代码仿真速度越来越慢。仿真做到完全覆盖所有的代码及功能几乎不可能。这样导致FPGA内部难免出现一些不容易发现的bug。特别是当板卡实验室测试没有任何问题，但当板卡工作在实际环境中，或者工作环境特别恶劣情况下，功能出现异常时，工程师没有办法到达现场环境进行错误定位。

参见图1，在现有技术中，传统定位方法使用示波器对FPGA的某些输出管脚进行监测或者使用FPGA开发工具中自带的逻辑分析仪进行对内部寄存器进行采集，而示波器只能对输出的信号进行监测，逻辑分析仪需要JTAG(Joint TestAction Group，联合测试行动小组)接口进行加载测试，在实验室环境中可以使用，但是在实际环境中存在板卡空间或者JTAG线长度以及信号质量的影响，所以逻辑分析仪不能适用所有情况。

另一方面当用户逻辑出现异常时，需要进行调试时，上面情况只能通过编译工具自带的在线逻辑分析仪进行测试，但要求测试的数据量很大时，FPGA内部资源有限不能满足要求，并且当板卡在实际工作环境中，由于受环境以及板卡空间的限制，工程师没有办法在线逻辑分析仪进行调试，工程师难以快速的确定逻辑问题。因此，现有的板卡测试技术难以在实验室测试环境和实际工作环境对FPGA内部逻辑功能进行测试。

综上可知，现有的板卡测试技术在实际使用上，显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

发明内容

针对上述的缺陷，本发明的目的在于提供一种板卡的测试方法及其系统，以实现在线和/或远程对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。

为了实现上述目的，本发明提供一种板卡的测试方法，所述方法包括如下步骤：

A、设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；

B、根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；

C、根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。

根据所述的测试方法，所述步骤A包括：

A1、所述板卡的主机和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

所述步骤B包括：

B1、根据所述需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号采集对应的数据源数据；

B2、将采集到所述对应的数据源数据传送到所述主机；

所述步骤C包括：

C1、所述主机对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得所述现场可编程门阵列内部逻辑的测试结果信息；或者

所述步骤A包括：

A2、所述板卡的主机设置测试所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；

所述步骤B包括：

B2、所述主机根据所述模拟测试数据源生成模拟数据，并将所述模拟数据传送到所述现场可编程门阵列内部逻辑；

所述步骤C包括：

C2、所述现场可编程门阵列内部逻辑根据所述模拟数据生成模拟测试数据，并将所述模拟测试数据返回所述主机。

根据所述的测试方法，在所述步骤A1中所述板卡的主机和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号的采集深度；

在所述步骤B1中根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

在所述步骤A2中通过选择所述主机的控制台选取所述模拟测试源；或者通过选择外部数据源选取所述模拟测试源。

根据所述的测试方法，所述步骤C之后包括：

D、在所述主机上显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑进行测试的结果信息。

根据所述的测试方法，所述主机为所述板卡的远程主机；所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。

为了实现本发明的另一发明目的，本发明还提供了一种板卡的测试系统，所述系统还包括：

设置模块，用于设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；

获取模块，用于根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；

测试模块，用于根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试。

根据所述的测试系统，所述测试系统包括所述板卡的主机和/或寄存器，所述设置模块设置于所述主机和/或寄存器上；所述主机和/或寄存器通过所述设置模块设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

所述获取模块包括：

测试逻辑子模块，用于根据所述需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号判断需要采集的数据源数据；

数据采集子模块，用于根据所述测试逻辑子模块判断的所述需要采集的数据源数据采集对应的数据源数据，并将采集到所述对应的数据源数据传送到所述主机；

所述测试模块包括：

第一测试子模块，设置于所述主机，用于对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试结果信息。

根据所述的测试系统，所述测试系统包括主机，所述设置模块设置于所述主机上；所述主机通过所述设置模块设置测试所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；

所述获取模块包括：

数据生成子模块，设置于所述主机上，用于根据所述模拟测试数据源生成模拟数据；

传送子模块，设置于所述主机上，用于将所述模拟数据传送到测试逻辑子模块；

所述测试模块包括：

测试逻辑子模块，用于将所述模拟数据传送到所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑；并接收所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑根据所述模拟数据生成并返回的模拟测试数据；以及将所述模拟测试数据传送到数据采集子模块；

数据采集子模块，用于将所述模拟测试数据返回所述主机。

根据所述的测试系统，所述主机和/或寄存器通过所述设置模块设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号的采集深度；

所述数据采集子模块根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号。

根据所述的测试系统，所述测试系统还包括：

显示模块，设置于所述主机上，用于显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑进行测试的相关信息；

所述主机为所述板卡的远程主机；

所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。

本发明通过设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；接着根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；最后根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试，实现了根据用户通过控制台设置需要跟踪的FPGA内部信号或者模拟测试数据，对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行在线或者远程测试。另一方面用户还可以通过控制台设置跟踪触发条件以及信号采集深度，增强在线维护并且及时确定FPGA内部逻辑是否存在错误。

附图说明

图1是现有技术中提供的板卡的测试系统结构示意图；

图2是本发明第一实施例提供的板卡的测试系统结构示意图；

图3是本发明第二实施例提供的板卡的测试系统结构示意图；

图4是本发明第三实施例提供的板卡的测试系统结构示意图；

图5是本发明第四实施例提供的板卡的测试方法流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

参见图2，在本发明的第一实施例中，板卡的测试系统100包括：

设置模块10，用于设置对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的测试内容；

获取模块30，用于根据所述测试内容获取板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的相关数据和/或信号；

测试模块40，用于根据所述数据和/或信号对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20进行测试。

在该实施例中，板卡的测试系统100包括设置模块10、获取模块30以及测试模块40。其中，工程师可以通过设置模块10设置需要对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的测试内容；例如需要根据的数据信号或者是具体的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据处理能力的测试。然后，获取模块30可以根据工程师通过设置模块10设置的测试内容获取板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的相关数据和/或信号。最后由测试模块40根据所述数据和/或信号对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20进行测试，获取相关的测试结果信息，帮助工程师了解板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20发生的错误情况。该板卡的测试系统100在实验室情况或者是现场情况下均可以方便操作。

参见图3，在本发明的第二实施例中，测试系统100包括板卡的主机1和/或寄存器，设置模块10设置于主机1和/或寄存器上；主机1和/或寄存器通过设置模块10设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号；

获取模块30包括：

测试逻辑子模块21，用于根据所述需要跟踪的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号判断需要采集的数据源数据；

数据采集子模块22，用于根据测试逻辑子模块21判断的所述需要采集的数据源数据采集对应的数据源数据，并将采集到所述对应的数据源数据传送到主机1；

测试模块40包括：

第一测试子模块41，设置于主机1，用于对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的测试结果信息。

在该实施例中，测试系统100包括板卡的主机1，工程师可以通过主机1的控制台启动FPGA逻辑测试状态，并可以通过主机1将测试数据源写入到用户逻辑进行处理，再将处理过后的数据传输到测试逻辑子模块21，再到数据采集子模块22后，通过PCIE(PCI-Express，最新的总线和接口标准)接口输出到主机1中的第一测试子模块41进行分析，判断整个数据通路是否正常。也可以通过主机1界面设置其他要求跟踪的信号，测试逻辑子模块21根据板卡的寄存器设置选择需要跟踪的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20，即用户逻辑中的信号，并通过数据采集子模块22对该跟踪信号进行采集后通过PCIE输出到主机1的第一测试子模块41进行分析后，由主机1界面进行显示处理或者分析结果。还可以通过板卡的寄存器设置要求跟踪的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20内部信号，测试逻辑子模块21对信号进行采集后将采样电平信号或者数据信号在主机1的控制台进行显示，方便工程师进行分析。

具体的，例如当主机1要求测试板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的某一信号或者多个信号，将监测的信号除了板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20正常控制外，同时也要将其输入到获取模块30，获取模块30则根据主机1命令确定将监测信号的高低电平状态进行存储；而当需要对数据进行获取时，数据可以再发送到板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的同时也传输到获取模块30，而对于获取模块30则是根据主机1命令进行将数据进行存储。

优选的，主机1和/或寄存器通过设置模块10设置需要跟踪的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号的采集深度；数据采集子模块22根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号。测试系统100还包括：显示模块50，设置于主机1上，用于显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑20进行测试的相关信息；主机1为所述板卡的远程主机；并且所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。主机1的操作通过主机1的控制台实现。

参见图4，在本发明的第三实施例中，测试系统100包括主机1，设置模块10设置于主机1上；主机1通过设置模块10设置测试板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；

获取模块30包括：

数据生成子模块31，设置于主机1上，用于根据所述模拟测试数据源生成模拟数据；

传送子模块32，设置于主机1上，用于将所述模拟数据传送到测试逻辑子模块21；

测试模块40包括：

测试逻辑子模块21，用于将所述模拟数据传送到板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20；并接收板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20根据所述模拟数据生成并返回的模拟测试数据；以及将所述模拟测试数据传送到数据采集子模块22；

数据采集子模块22，用于将所述模拟测试数据返回所述主机1。

在该实施例中，如在实验环境中，只需对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据处理过程进行测试时，则首先通过主机1的控制台设置测试板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20数据处理功能，该数据处理功能可以为板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20为对输入的数据进行滤波处理的功能。然后继续设置模拟数据源测试；该模拟数据源测试可以为主机1的控制台启动将主机1内部存储的固定数据源进行测试。接着将各个寄存器设置完成后启动控制台上的测试功能，主机1的数据生成子模块31则产生模拟数据，传送子模块32通过PCIE接口传输到测试逻辑子模块21，测试逻辑子模块21将数据传输到板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20进行处理，板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20处理后产生的数据反馈回测试逻辑子模块21，最后通过数据采集子模块22将数据返回到主机1界面显示。

在本发明的一个实施例中，当具有PCIE接口的FPGA板卡工作在实际环境中，由于环境或者其他外界因素，工程人员很难进行实时跟踪，导致调试困难，这时工程人员可以使用FPGA板卡的远程主机1的桌面对FPGA板卡的测试控制台进行监测。如实际环境中需要测试FPGA板卡数据通路，通过控制台设置选择主机1的控制台产生测试数据，或者选择选择外部数据源设备输入的数据进行数据处理。此外，还可以对选择外部数据源设备输入的数据进行采集后返回的主机1进行分析，或者作为模拟测试数据源，跟踪数据通道处理采集。

对外部数据源设备产生的数据进行采集时，主机1采集数据源数据时，通过主机1的控制台设置获取数据源功能，将各个寄存器设置完成后启动控制台上的测试功能，则主机1通过PCIE接口使能测试逻辑中的截取数据源功能，测试逻辑将截取数据源数据传输到数据采集子模块22，数据采集子模块22将数据通过PCIE接口返回到主机1界面进行显示记录。该板卡的测试系统100还连接于数据源70和外围设备60，可以通过数据源70和外围设备60获取模拟测试数据。

在上述多个实施例中，测试系统100的多个模块可以是软件单元，硬件单元或软硬件结合单元。

参见图5，在本发明的一种板卡的测试方法，所述方法包括如下步骤：

步骤S501中，设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的测试内容；该步骤由设置模块10实现。

步骤S502中，根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的相关数据和/或信号；该步骤由获取模块30实现。

步骤S503中，根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20进行测试；该步骤由测试模块40实现。

在该实施例中，通过设置模块10设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的测试内容；获取模块30根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的相关数据和/或信号；测试模块40根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20进行测试；实现了对板卡的测试，方便工程师对板卡发生的问题的进行定位，及时掌握板卡发生的错误所在。

在本发明的第六实施例中，所述步骤S501包括：

A1、所述板卡的主机1和/或寄存器设置需要跟踪的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号；该步骤由设置模块10实现。

所述步骤S502包括：

B1、根据所述需要跟踪的板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号采集对应的数据源数据；

B2、将采集到所述对应的数据源数据传送到所述主机1；B1和B2步骤由测试逻辑子模块21和数据采集子模块22实现。

所述步骤S503包括：

C1、主机1对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得所述现场可编程门阵列内部逻辑20的测试结果信息；该步骤由第一测试子模块41实现。或者

所述步骤S501包括：

A2、所述板卡的主机1设置测试所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；该步骤由设置模块10实现。

所述步骤502包括：

B2、所述主机1根据所述模拟测试数据源生成模拟数据，并将所述模拟数据传送到所述现场可编程门阵列内部逻辑20；该步骤由数据生成子模块31和传送子模块32实现。

所述步骤S503包括：

C2、所述现场可编程门阵列内部逻辑20根据所述模拟数据生成模拟测试数据，并将所述模拟测试数据返回所述主机1。该步骤由测试逻辑子模块21和数据采集子模块22实现。

在该实施例中，工程师可以由板卡的主机1通过其控制台设置要求跟踪的信号，将各个板卡的寄存器设置完成后，启动控制台上的测试功能，然后通过PCIE接口将各个寄存器值传送到，测试逻辑子模块21则根据寄存器协议选择要求的操作，例如设置模块10设置要求跟踪数据源信号，发送特定数据到测试逻辑子模块21，测试逻辑子模块21判断出主机1要求采集数据源信号，则将数据源数据直接传输到数据采集子模块22，同时数据采集子模块22将数据通过PCIE接口将数据传输到主机1进行记录。整个过程中，数据采集子模块22接收数据源的速度和向主机1发送PCIE数据的速度达到匹配，则仅需要很小的FPGA资源进行数据存储。而且需要在线逻辑分析仪进行信号跟踪，直接利用板卡本身的PCIE接口完成主机1与FPGA的通信功能，因此其定位板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20速度快且准确，方便工程师进行操作。

另一方面，还可以通过板卡对外部数据源设备数据进行处理后的数据进行采集。当主机1要求采集实际数据源下用户逻辑处理后的数据，则通过设置模块10设置测试板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据处理功能，然后将模拟数据源测试设置为无效，将各个寄存器设置完成后启动主机1控制台上的测试功能。而测试逻辑子模块21接收到主机1命令后，直接读取板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20处理后的有效数据，并将其传输到数据采集子模块22，通过数据采集子模块22将数据返回到主机1界面进行显示记录。

在本发明的一个实施例中，在所述步骤A1中所述板卡的主机1和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号的采集深度；在所述步骤B1中根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20的数据源信号；或者在所述步骤A2中通过选择所述主机1的控制台选取所述模拟测试源；或者通过选择外部数据源选取所述模拟测试源。

在该实施例中，可以对信号的触发采集控制，因为对信号的实时采集会产生很多不必要的数据，通过触发条件对跟踪信号进行选择性的采集，或者为了采集某个临界值，设置触发条件，返回的数据更有参考价值。工程师可以根据其测试的需要具体设置触发条件采集深度则可以根据触发条件设置要求采集的数据量大小，因为数据量越大带来很多不必要分析的数据并且对系统内部的资源消耗越大，通过同时设置触发条件和采集深度，则可以帮助工程师选择更加有价值的数据进行分析。例如实际数据源下板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20处理后的数据，设置流程如下：首先通过主机1的设置模块10设置测试板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20数据处理功能，然后将模拟数据源测试设置为无效，采集深度为1K字节数据，采集条件设置为数据源数据在(1，100)范围内，将板卡的各个寄存器设置完成后启动控制台上的测试功能，当测试逻辑子模块21接收到主机1启动命令后，直接读取板卡的现场可编程门阵列内部逻辑20处理后的有效数据，并与采集条件进行比较，并将其传输到数据采集子模块22，通过数据采集子模块22将数据返回到主机1界面进行显示记录，当采集到符合条件的用户数据个数为1K字节时，则停止整个测试功能。对于所述触发条件可以设置为当检测到某个测试信号为1时开始对检测信号进行采集，也可以当检测到数据源为大于某一数据时开始时进行数据采集。最后在所述主机1上显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑20进行测试的结果信息。优选的，主机1为所述板卡的远程主机，方便工程师进行远程测试；而所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。

综上所述，本发明通过设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；接着根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；最后根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试，实现了根据用户通过控制台设置需要跟踪的FPGA内部信号或者模拟测试数据，对板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行在线或者远程测试。另一方面用户还可以通过控制台设置跟踪触发条件以及信号采集深度，增强在线维护并且及时确定FPGA内部逻辑是否存在错误。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种板卡的测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

A、设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；

B、根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；

C、根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试；

所述步骤A包括:

A1、所述板卡的主机和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

所述步骤B包括：

B1、根据所述需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号采集对应的数据源数据；

B2、将采集到所述对应的数据源数据传送到所述主机；

所述步骤C包括：

C1、所述主机对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得所述现场可编程门阵列内部逻辑的测试结果信息；或者

所述步骤A包括：

A2、所述板卡的主机设置测试所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；

所述步骤B包括：

B2、所述主机根据所述模拟测试数据源生成模拟数据，并将所述模拟数据传送到所述现场可编程门阵列内部逻辑；

所述步骤C包括：

C2、所述现场可编程门阵列内部逻辑根据所述模拟数据生成模拟测试数据，并将所述模拟测试数据返回所述主机。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤A1中所述板卡的主机和/或寄存器设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号的采集深度；

在所述步骤B1中根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

在所述步骤A2中通过选择所述主机的控制台选取所述模拟测试数据源；或者通过选择外部数据源选取所述模拟测试数据源。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤C之后包括：

D、在主机上显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑进行测试的结果信息。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述主机为所述板卡的远程主机；所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。

5.一种板卡的测试系统，其特征在于，所述系统还包括：

设置模块，用于设置对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试内容；

获取模块，用于根据所述测试内容获取所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的相关数据和/或信号；

测试模块，用于根据所述数据和/或信号对所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑进行测试；

所述测试系统包括所述板卡的主机和/或寄存器，所述设置模块设置于所述主机和/或寄存器上；所述主机和/或寄存器通过所述设置模块设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号；

所述获取模块包括：

测试逻辑子模块，用于根据所述需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号判断需要采集的数据源数据；

数据采集子模块，用于根据所述测试逻辑子模块判断的所述需要采集的数据源数据采集对应的数据源数据，并将采集到所述对应的数据源数据传送到所述主机；

所述测试模块包括：

第一测试子模块，设置于所述主机，用于对采集到所述对应的数据源数据进行分析，获得所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的测试结果信息；或者

所述测试系统包括主机，所述设置模块设置于所述主机上；所述主机通过所述设置模块设置测试所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据处理能力的测试内容以及模拟测试数据源；

所述获取模块包括：

数据生成子模块，设置于所述主机上，用于根据所述模拟测试数据源生成模拟数据；

传送子模块，设置于所述主机上，用于将所述模拟数据传送到测试逻辑子模块；

所述测试模块包括：

测试逻辑子模块，用于将所述模拟数据传送到所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑；并接收所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑根据所述模拟数据生成并返回的模拟测试数据；以及将所述模拟测试数据传送到数据采集子模块；

数据采集子模块，用于将所述模拟测试数据返回所述主机。

6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述主机和/或寄存器通过所述设置模块设置需要跟踪的所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号的采集深度；

所述数据采集子模块根据所述采集深度采集所述板卡的现场可编程门阵列内部逻辑的数据源信号。

7.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：

显示模块，设置于所述主机上，用于显示对所述现场可编程门阵列内部逻辑进行测试的相关信息；

所述主机为所述板卡的远程主机；

所述板卡为具有PCIE接口的现场可编程门阵列板卡。