CN201562000U - 数据输入、检验及信号波形检测系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型揭示了一种数据输入、检验及信号波形检测系统，包括：测试压床、用于输入或输出电路板的电信号；控制模块、连接所述测试压床，用于通过所述测试压床向所述电路板输入待写入的数据、并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据输出、及采集所述电路板的信号波形信息；数据处理及显示模块、连接所述控制模块，用于向所述控制模块发送控制指令、及传输所述待写入的数据，接收由所述控制模块输出的数据以便与所述待写入的数据对比，接收所述控制模块采集的信号波形信息以便显示信号波形、并进行信号波形对比。本实用新型的有益效果在于：能够进行快速、灵活的数据输入及检验，信号波形检测成本低、错误率低。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种数据输入、检验及信号波形检测系统，特别涉及一种用于存储器数据输入、检验及信号波形检测的系统。
背景技术
处于电路板设计的需要，需要将程序需要存储在存储器中，以方便产品型号的更迭，降低产品生产的成本开销。
在电路板装配生产过程中，为了适应大批量生产，方便SMT设备进行元件的机器装配，存储器IC采用编带片式包装。由于存储器IC为空片，因此电路板上EEPROM数据的输入是通过数据输入设备在电路板装配完成后进行的，在输入过程中，还需要检测输入数据是否正确及信号波形是否异常。
请参阅图1，图1为现有技术的数据输入及信号波形检测系统，其包括数据输入控制BOX、通过数据线缆与所述数据输入控制BOX连接的测试压床、及通过测试线与所述测试压床连接的示波器。
在现有技术中，数据输入设备是采用母片复制的方法，即通过单片机(包含在图中所示的数据输入控制BOX中)控制将同型号的EEPROM母片里的数据通过测试压床复制到电路板中的EEPROM里，由于其为串行数据传输，所以复制时间相对较长，在低容量的EEPROM复制中非常适用，且速度快成本低操作简便。然而，随着程序的信息量的增加，要求存储器EEPROM的容量也不断增加，以往的数据输入方式对大容量的数据输入工作已经不能适应，此外，生产时间成本也需要控制，因此需要一种快速，灵活的数据输入、检测系统。
现有技术的信号波形检查是采用示波器进行人工观察，对于多路信号(几十路)的信号检查，需要一台多踪示波器，而多踪示波器不仅价格昂贵，人工检测也增加了测试成本，并且容易造成检查人员用眼过度、疲劳，从而造成误判断，因此，需要一种简便、低成本、错误率低的波形检测系统。
实用新型内容
本实用新型的所要解决的技术方案是提供一种数据输入、检验及信号波形检测系统，以解决现有技术的不足。
为解决上述技术方案，本实用新型提供一种数据输入、检验及信号波形检测系统，包括：测试压床、用于输入或输出电路板的电信号；控制模块、连接所述测试压床，用于通过所述测试压床向所述电路板输入待写入的数据、并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据输出、及采集所述电路板的信号波形信息；数据处理及显示模块、连接所述控制模块，用于向所述控制模块发送控制指令、及传输所述待写入的数据，接收由所述控制模块输出的数据以便与所述待写入的数据对比，接收所述控制模块采集的信号波形信息以便显示信号波形、并进行信号波形对比；
其中，所述控制模块包括：数据处理及控制单元、与所述测试压床及所述数据处理及显示模块连接，用于接收所述处理及显示模块输出的控制指令、及待写入的数据，根据所述控制指令，通过所述测试压床将所述待写入的数据写入所述电路板中，并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据，输入所述数据处理及显示模块；虚拟示波器、与所述测试压床及所述数据处理及显示模块连接，用于通过所述测试压床采集所述电路板的信号波形信息，输入所述数据处理及显示模块。
较佳的，所述测试压床采用气动元件压合所述电路板，并通过探针实现电信号的传输。
较佳的，所述数据处理及显示模块通过数据电缆与所述控制模块连接，所述测试压床通过信号线与所述控制模块连接。
较佳的，所述数据处理及显示模块为计算机。
较佳的，所述控制模块还包括：计算机接口、及输出接口；所述数据处理及控制单元及所述虚拟示波器通过所述计算机接口与所述计算机连接，所述数据处理及控制单元及所述虚拟示波器通过所述输出接口与所述测试压床连接。
较佳的，所述控制模块还包括向所述数据处理及控制单元、所述虚拟示波器、及所述电路板供电的供电单元。
本实用新型的有益效果在于：能够进行快速、灵活的数据输入及检验，信号波形检测成本低、错误率低。
附图说明
图1为现有技术的数据输入、检验及信号波形检测系统结构原理图。
图2为本实用新型提供的数据输入、检验及信号波形检测系统结构原理图。
图3为控制模块的结构原理图。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施例。
请参阅图2，一种数据输入、检验及信号波形检测系统，包括：
测试压床、用于输入或输出电路板的电信号；
控制模块、内置有底层软件，连接所述测试压床，用于通过所述测试压床向所述电路板输入待写入的数据、并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据输出、及采集所述电路板的信号波形信息；
数据处理及显示模块、内置有上层软件，连接所述控制模块，用于向所述控制模块发送控制指令、传输所述待写入的数据，接收由所述控制模块输出的数据以便与所述待写入的数据对比，接收所述控制模块采集的信号波形信息以便显示波形、并进行波形对比，所述数据处理及显示模块在本实施例中为计算机，其他本领域技术人员公知的数据处理及显示模块均可替代本实施例中的计算机。
请参阅图3，所述控制模块包括：
数据处理及控制单元、与所述测试压床及所述数据处理及显示模块连接，用于接收所述处理及显示模块输出的控制指令、及待写入的数据，根据所述控制指令，通过所述测试压床将所述待写入的数据写入所述电路板中，并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据，输入所述数据处理及显示模块；
虚拟示波器、与所述测试压床及所述数据处理及显示模块连接，用于通过所述测试压床采集所述电路板的信号波形信息，输入所述数据处理及显示模块；
计算机接口及输出接口、所述数据处理及控制单元及所述虚拟示波器通过所述计算机接口与所述计算机连接，所述数据处理及控制单元及所述虚拟示波器通过所述输出接口与所述测试压床连接；
供电单元、向所述数据处理及控制单元、所述虚拟示波器、及所述电路板供电(为简洁起见，图中未示出所有的供电单元与其他元件之间的连接关系)。
进一步的，所述测试压床用于测试所述电路板，其采用气动元件压合所述电路板，并通过探针实现电信号的传输。
进一步的，所述数据处理及控制单元可分为数据处理单元、及控制单元，分别用于处理数据、转换数据格式，及处理控制信号，所述控制信号包括开闭通道的指令、进行信号波形检测的指令、多个测试信号点切换的指令等。
以下介绍本实用新型实现数据输入及检验的过程：
计算机将待写入的数据通过数据电缆传输到控制模块的数据处理单元中，数据处理单元将并行数据转换成I2C格式的数据，通过信号线传输到被写入电路板的相应的IC中。同时计算机将控制信息传输到控制单元，通过控制单元完成写入通路的识别和控制信号的输出。
本系统共可实现4组数据的写入操作，能够对数据量进行自动甄别。
在正常写入的操作过程中，对于数据输入及检验的执行顺序为：先进行第一组数据的写入，同时控制单元按照计算机发出的控制指令要求开通第一通道。当写入数据完成后，计算机进入数据检验过程，通过数据处理单元将被写的IC内的数据读出，并回送给计算机进行数据比对，当所有数据比对完成并无误，计算机显示第一组数据写入工作OK，此时，若还有其他的数据需要写入，计算机发出控制信号关闭第一通道，开通第二通道，进行第二组数据的写入过程。如此，依次完成所有写入工作。当前电路板写入完毕后，可更换另一块重新写入。
当在写入过程或检验过程中出现故障或异常情况，控制单元向计算机发出故障信息，计算机接到故障信息后终止数据的传输，并显示NG标志。
对于成功写入的被测试电路板，计算机将记录所述电路板的产品型号、电路板番号、电路板序号、操作时间日期、操作者工号等信息，以天为单位进行汇总，以备管理人员查询。
以下介绍本实用新型实现信号波形检测的过程：
信号波形检测过程是主要通过虚拟示波器来完成，虚拟示波器采集到电路板波形信号信息后传输到计算机中，计算机通进行数据处理并将信号波形显示在显示器中。
计算机进入波形检测界面，并将检测指令发给控制模块的控制单元，控制单元进入检测状态，多个测试信号点的切换是由计算机发出检测信息切换命令，控制单元执行信息点的切换工作。
如此，便可无需外加示波器，而利用计算机本身的显示器实现波形检查的功能，从而节约生产成本。
进一步的，本实施例中的虚拟示波器可同时对两路信息进行采集。
由于本实用新型采用了计算机技术+控制模块的方式实现EEPROM的数据输入及检验，因而速度快，准确率高，并且，由于采用了虚拟示波器+计算机显示的方式，不仅省去了多踪示波器的成本，还能够避免人工比对造成的误判，对信号检测的正确性与效率均有大幅度提升。
以上实施例仅用以说明而非限制本实用新型的技术方案。不脱离本实用新型精神和范围的任何修改或局部替换，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (6)
1.一种数据输入、检验及信号波形检测系统，其特征在于，包括：
测试压床、用于输入或输出电路板的电信号；
控制模块、连接所述测试压床，用于通过所述测试压床向所述电路板输入待写入的数据、并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据输出、及采集所述电路板的信号波形信息；
数据处理及显示模块、连接所述控制模块，用于向所述控制模块发送控制指令、及传输所述待写入的数据，接收由所述控制模块输出的数据以便与所述待写入的数据对比，接收所述控制模块采集的信号波形信息以便显示信号波形、并进行信号波形对比；
其中，所述控制模块包括：
数据处理及控制单元、与所述测试压床及所述数据处理及显示模块连接，用于接收所述处理及显示模块输出的控制指令、及待写入的数据，根据所述控制指令，通过所述测试压床将所述待写入的数据写入所述电路板中，并通过所述测试压床从所述电路板中读出写入后的数据，输入所述数据处理及显示模块；
虚拟示波器、与所述测试压床及所述数据处理及显示模块连接，用于通过所述测试压床采集所述电路板的信号波形信息，输入所述数据处理及显示模块。
2.如权利要求1所述的数据输入、检验及信号波形检测系统，其特征在于：所述测试压床采用气动元件压合所述电路板，并通过探针实现电信号的传输。
3.如权利要求1所述的数据输入、检验及信号波形检测系统，其特征在于：所述数据处理及显示模块通过数据电缆与所述控制模块连接，所述测试压床通过信号线与所述控制模块连接。
4.如权利要求1所述的数据输入、检验及信号波形检测系统，其特征在于：所述数据处理及显示模块为计算机。
5.如权利要求4所述的数据输入、检验及信号波形检测系统，其特征在于，所述控制模块还包括：计算机接口、及输出接口；所述数据处理及控制单元及所述虚拟示波器通过所述计算机接口与所述计算机连接，所述数据处理及控制单元及所述虚拟示波器通过所述输出接口与所述测试压床连接。
6.如权利要求5所述的数据输入、检验及信号波形检测系统，其特征在于：所述控制模块还包括向所述数据处理及控制单元、所述虚拟示波器、及所述电路板供电的供电单元。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN2009202127425U CN201562000U (zh) | 2009-12-08 | 2009-12-08 | 数据输入、检验及信号波形检测系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| CN201562000U true CN201562000U (zh) | 2010-08-25 |
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|---|---|
| CN (1) | CN201562000U (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102338814A (zh) * | 2011-06-17 | 2012-02-01 | 杭州炬华科技股份有限公司 | 自动化针床 |
| CN104214798A (zh) * | 2014-08-19 | 2014-12-17 | 中山市铧禧电子科技有限公司 | 一种点火器性能测试系统及方法 |
| CN110446936A (zh) * | 2018-03-05 | 2019-11-12 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 波形信号检测方法及装置 |
| CN110888000A (zh) * | 2018-09-10 | 2020-03-17 | 北京松果电子有限公司 | Rbdp接口可用性检测方法、平台、显示终端及系统 |
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2009
- 2009-12-08 CN CN2009202127425U patent/CN201562000U/zh not_active Expired - Lifetime
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: INESA ELECTRON CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: SHANGHAI MATSUSHITA PLASMA DISPLAY CO., LTD. Effective date: 20130608 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 201206 PUDONG NEW AREA, SHANGHAI TO: 201203 PUDONG NEW AREA, SHANGHAI |
|
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20130608 Address after: 201203 Building 1, building 200, Zhang Heng Road, Zhangjiang hi tech park, Shanghai, Pudong New Area, 2 Patentee after: INESA Electron Co., Ltd. Address before: 201206 Shanghai city Pudong New Area Jinsui Road No. 1398 Patentee before: Shanghai Matsushita Plasma Display Co., Ltd. |
|
| CX01 | Expiry of patent term | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20100825 |