CN105067022B - 电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器。电容式传感器的检测方法包括：检测电容式传感器的电阻值；判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；如果判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则确定电容式传感器异常。通过本发明，提高了电容式传感器的检测效率。

Description

电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器

技术领域

本发明涉及检测领域，具体而言，涉及一种电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器。

背景技术

电容式传感器，是常见的传感器件，包括电容式触摸传感器、电容式触摸按键传感器等。对电容式传感器的检测，通常是通过非自动化方式进行的。比如，利用导电薄膜(Indium Tin Oxide，简称为ITO)、导电泡棉、弹簧等传感器的阻抗进行的电容检测，在进行生产测试时，都需要依靠测试人员使用专门的电阻测试仪器来进行，只有通过此种方式才能达到电容式传感器检测的目的，以进一步完成测试任务。但是，由于人工的参与，测试的整个过程会受到测试人员的观察力、判断力、精力、工作经验等多方面的因素影响，存在着检测效率低，能量损耗大，检测成本高等缺陷。

针对相关技术中对电容式传感器的检测效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种电容式传感器的检测方法和装置及触摸芯片和空调器，以解决电容式传感器的检测效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电容式传感器的检测方法，该方法包括：检测电容式传感器的电阻值；判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；以及如果判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则确定电容式传感器异常。

进一步地，通过以下方法检测电容式传感器的电阻值：对电容式传感器进行充电；充电后的内置电容对触摸介质进行放电；在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值；将剩余电压值与预设电压阈值进行对比；计算第一次数和第二次数，其中，第一次数为剩余电压值超出预设电压阈值的次数，第二次数为剩余电压值低于预设电压阈值的次数；以及根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，通过以下方法计算电容式传感器的剩余电压值：检测电容式传感器的初始电压值；检测触摸介质的电压值；以及根据电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值计算电容式传感器的剩余电压值，其中，电容式传感器的剩余电压值为电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值的差值。

进一步地，根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值包括：获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系；以及根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足预设关系，通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，通过判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种电容式传感器的检测装置。该装置包括：检测单元，用于检测电容式传感器的电阻值；判断单元，用于判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；确定单元，用于在判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内时，确定电容式传感器异常。

进一步地，检测单元包括：充电模块，用于对电容式传感器进行充电；放电模块，用于使充电后的内置电容对触摸介质进行放电；第一计算模块，用于在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值；对比模块，用于将剩余电压值与预设电压阈值进行对比；第二计算模块，用于计算第一次数和第二次数，其中，第一次数为剩余电压值超出预设电压阈值的次数，第二次数为剩余电压值低于预设电压阈值的次数；以及确定模块，用于根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，第一计算模块包括：第一检测子模块，用于检测电容式传感器的初始电压值；第二检测子模块，用于检测触摸介质的电压值；以及计算子模块，用于根据电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值计算电容式传感器的剩余电压值，其中，电容式传感器的剩余电压值为电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值的差值。

进一步地，确定模块包括：获取子模块，用于获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系；以及确定子模块，用于根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

进一步地，电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足预设关系，装置通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，通过判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种触摸芯片，该触摸芯片包括本发明提供的任意一种电容式传感器的检测装置。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，还提供了一种空调器，该空调器包括电容式传感器和本发明提供的触摸芯片。

通过本发明，检测电容式传感器的电阻值，然后判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内，在判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围时确定电容式传感器异常，可以实现对电容式传感器的自动检测，解决了现有技术中电容式传感器检测效率低的问题，提高了电容式传感器的检测效率。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的电容式传感器的检测方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的检测电容式传感器的电阻值的流程图；

图3是根据本发明实施例的电容式传感器的检测的示意图；

图4是根据本发明第一实施例的电容式传感器的检测装置的示意图；

图5是根据本发明第二实施例的电容式传感器的检测装置的示意图；

图6是根据本发明第三实施例的电容式传感器的检测装置的示意图；

图7是根据本发明第四实施例的电容式传感器的检测装置的示意图；以及

图8是根据本发明实施例的电容式传感器检测系统的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

图1是根据本发明实施例的电容式传感器的检测方法的流程图，该方法用于对电容式传感器进行检测，如图1所示，该电容式传感器的检测方法包括以下步骤：

步骤S11，检测电容式传感器的电阻值。

电容式传感器可以为电容式触摸按键传感器，其测试性能与电阻值的大小有关。因而，可以通过检测电容式传感器的电阻值对电容式传感器的性能进行检测。

优选地，可以通过图2所示的方法检测电容式传感器的电阻值，如图2所示，该方法包括以下步骤：

步骤S111，对电容式传感器进行充电。在检测电容式传感器的电阻值之前，先对电容式传感器进行充电。例如，利用触摸芯片(Integrated Circuit，简称为IC)对电容式传感器进行充电，将电容式传感器上的电平充至高电平H。

步骤S112，充电后的内置电容对触摸介质进行放电。在触摸IC对电容式传感器充电完成之后，电容式传感器的内置电容对触摸介质进行放电，将电容式传感器上的电容转移到触摸介质上，触摸介质可以为设置在电容式传感器上的电阻。通过对触摸介质进行放电，电容式传感器上的电逐渐减少，触摸介质上的电逐渐增多。

步骤S113，在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值。随着电容式传感器上的电逐渐转移到触摸介质上，电容式传感器的电压值，也即，剩余电压值，会发生变化，因而，在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值。该预设时间周期为预先设置的对电容式传感器的剩余电压值进行计算的周期，预设时间周期和预设采样频率可以根据需要进行设置。可以通过以下方法计算电容式传感器的剩余电压值：

首先，检测电容式传感器的初始电压值。在触摸IC对电容式传感器充电完成之后，放电之前，检测电容式传感器的初始电压值。

然后，检测触摸介质的电压值。在触摸IC对电容式传感器充电完成之后，电容式传感器的内置电容对触摸介质进行放电，每间隔预设时间周期，检测触摸介质上的电压值。

最后，根据电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值计算电容式传感器的剩余电压值。电容式传感器的剩余电压值为电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值的差值。

步骤S114，将剩余电压值与预设电压阈值进行对比。将剩余电压值与预设电压阈值进行对比，判断剩余电压值与预设电压阈值之间的大小关系，预设电压阈值的大小由传感器自身性能预先设定，不同传感器在测试程序中设定的预设电压阈值可以是不同的，在测试之前，对所使用的电容式传感器的预设电压阈值进行设定。

步骤S115，计算第一次数和第二次数，其中，第一次数为剩余电压值超出预设电压阈值的次数，第二次数为剩余电压值低于预设电压阈值的次数。假定T为充放电时间，R为电容式传感器的电阻值，C为电容式传感器的电容值，由T＝RC可知，充放电快慢程度可以用T表征，在C一定的情况下，T可以反映线路上电阻值的大小。第一次数和第二次数反映电容式传感器充放电的快慢程度，因此，剩余电压值超出预设电压阈值的第一次数和剩余电压值低于预设电压阈值的第二次数可以反映电路上电容式传感器电阻值的大小。

步骤S116，根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值。由于剩余电压值超出预设电压阈值的第一次数和剩余电压值低于预设电压阈值的第二次数可以反映电路上电容式传感器电阻值的大小，因此，可以根据第一次数和第二次数计算电容式传感器的电阻值。优选地，根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值包括：获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系；根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

在预设时间周期内，根据第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系，具体的第一次数和第二次数对应一定的电容式传感器的电阻值。比如，在第一次数和第二次数不同时，电容式传感器的电阻值也会相应地发生变化。

步骤S12，判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内。

在检测出电容式传感器的电阻值之后，需要判断电容式传感器的电阻值是否在安全范围之内，这个安全范围为预设电阻范围，与电容式传感器的自身性能有关，不同电容式传感器的预设电阻范围不同。

步骤S13，如果判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则确定电容式传感器异常。

在检测出电容式传感器的电阻值之后，如果判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内。

由T＝RC可以看出，电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足一定的关系，通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，并且判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内，检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。进一步地，如果电容式传感器的电阻值在预设电阻范围内，则检测出电容式传感器的电容值在预设电容范围内，确定电容式传感器工作正常，如果电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则检测出电容式传感器的电容值不在预设电容范围内，则确定电容式传感器异常，进而实现异常报警。

该实施例的电容式传感器的检测方法采用检测电容式传感器的电阻值；判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；以及如果判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则确定电容式传感器异常，解决了现有技术中电容式传感器检测效率低的问题，进而达到了提高电容式传感器检测效率的效果。

图3是根据本发明实施例的电容式传感器的检测的示意图。如图3所示，触摸IC对电容式传感器内置采样电容进行充电，充电至高电平H。A表征电容式传感器内置采样电容，纵坐标为电压值V_c(Cap Cc)，横坐标为时间T，B表征电容式传感器小电阻的阻值M，CHxA为检测端口，输入信号为IS，设定预设电压阈值为Y₁，C表征电容式传感器大电阻的阻值N，CHxA为检测端口，输出信号为PD，设定预设电压阈值为Y₂，横坐标为时间T。如图所示，充电后的电容式传感器的内置电容对触摸介质进行放电。在触摸IC对电容式传感器充电完成之后，电容式传感器的内置电容对触摸介质进行放电。

在预设时间周期内计算内置电容上的剩余电压值为电容上初始电压值与触摸介质上的电压值之差。在预设时间周期内，电容式传感器的剩余电压值通过电容式传感器在放电之前，电容式传感器的初始电压值，以及电容式传感器的内置电容对触摸介质进行放电时触摸介质上的电压值的差值来获得电容式传感器的剩余电压值，其中，触摸介质，也即，触摸介质为电容式传感器的电阻。

电容式传感器内置电容上的剩余电压值与预设电压阈值对比。将获得的剩余电压值与预设电压阈值Y₁或者Y₂进行对比。高于Y₁或者Y₂的记为高电平H，为S1，低于Y₁或者Y₂的记为低电平L，为S2。

计算超出预设电压阈值和低于预设电压阈值的次数。计算超出预设电压阈值和低于预设电压阈值的次数，如图3所示，B中超出Y₁的次数为4，也即，S1中，H为4次，低于Y₁的次数为2，也即，S2中L为2次；C中超出Y₂的次数为2，也即，S1中，H为2次，低于Y₂的次数为4，也即，S2中，L为4次。

由于剩余电压值超出预设电压阈值的次数和剩余电压值低于预设电压阈值的次数可以反映电路上电容式传感器电阻值的大小，因此，在预设时间周期内，根据剩余电压值超出预设电压阈值的次数和剩余电压值低于预设电压阈值的次数判断电阻的大小，确定电容式传感器的电阻值。通过获取已经确定好的预设映射关系，其中，预设映射关系为剩余电压值超出预设电压阈值的次数、剩余电压值低于预设电压阈值的次数和电容式传感器的电阻值的映射关系；以及根据剩余电压值超出预设电压阈值的次数、剩余电压值低于预设电压阈值的次数和电容式传感器的电阻值的映射关系最终确定电容式传感器的电阻值。

由于电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足一定的关系，通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。如果电容式传感器的电阻值在预设电阻范围内，则检测出电容式传感器的电容值在预设电容范围内，确定电容式传感器工作正常，如果电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，检测出电容式传感器的电容值不在预设电容范围内，则确定电容式传感器异常。

该实施例采用触摸IC对电容式传感器内置采样电容进行充电，充电至高电平H，充电后的电容式传感器内置电容对触摸介质进行放电，在预设时间周期内计算电容上初始电压值与触摸介质上的电压值之差，将其作为内置电容上的剩余电压值，电容式传感器内置电容上的剩余电压值与预设电压阈值对比，计算超出预设电压阈值和预设电压阈值的次数，根据剩余电压值超出预设电压阈值的次数和剩余电压值低于预设电压阈值的次数判断电阻的大小，确定电容式传感器的电阻值，通过检测电容式传感器的电阻值检测电容式传感器的电容值，判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内，解决了现有技术中电容式传感器检测效率低的问题，进而达到了提高电容式传感器检测效率的效果。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本发明实施例还提供了一种电容式传感器的检测装置，需要说明的是，该实施例的电容式传感器的检测装置可以用于执行本发明实施例的电容式传感器的检测方法。

图4是根据本发明第一实施例的电容式传感器的检测装置的示意图，如图4所示，该装置包括检测单元10，判断单元20和确定单元30。

检测单元10，用于检测电容式传感器的电阻值。

判断单元20，用于判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内。在检测单元10检测出电容式传感器的电阻值之后，判断单元20需要判断电容式传感器的电阻值是否在安全范围之内，这个安全范围为预设电阻范围内，与电容式传感器的自身性能有关，不同电容式传感器的预设电阻范围不同。

确定单元30，用于在判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内时，确定电容式传感器异常。在检测出电容式传感器的电阻值之后，如果判断单元20判断出电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内。

电容式传感器的电阻值和电容式传感器的电容值满足预设关系，通过检测单元10检测电容式传感器的电阻值来检测电容式传感器的电容值，通过判断单元20判断电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。进一步地，如果电容式传感器的电阻值在预设电阻范围内，则检测出电容式传感器的电容值在预设电容范围内，确定单元30确定电容式传感器工作正常，如果电容式传感器的电阻值不在预设电阻范围内，则检测出电容式传感器的电容值不在预设电容范围内，则确定单元30确定电容式传感器异常，在确定异常时，可以进行异常报警。

图5是根据本发明第二实施例的电容式传感器的检测装置的示意图。在本发明的一个实施例中，检测单元10包括充电模块11，放电模块12，第一计算模块13，对比模块14，第二计算模块15，确定模块16。如图5所示，该实施例的装置包括检测单元10，判断单元20和确定单元30，其中，检测单元10还包括充电模块11，放电模块12，第一计算模块13，对比模块14，第二计算模块15和确定模块16。

充电模块11用于对电容式传感器进行充电。在检测单元10检测电容式传感器的电阻值之前，充电模块11先对电容式传感器进行充电。优选地，利用触摸IC对电容式传感器进行充电，将电容式传感器上的电平充至高电平H。

放电模块12用于使充电后的内置电容对触摸介质进行放电。在充电模块11对电容式传感器充电完成之后，放电模块12对触摸介质进行放电。

第一计算模块13用于在预设时间周期内计算电容式传感器的剩余电压值。在预设时间周期内，随着电容式传感器上的电容逐渐转移到触摸介质上，电容式传感器的电压值也随着变化。具体而言，预设时间周期和采样频率可以根据实际的测试情况在具体的测试程序中进行设置。

对比模块14，用于将剩余电压值与预设电压阈值进行对比。将第一计算模块13获得的剩余电压值与预设电压阈值进行对比。

第二计算模块15，用于计算第一次数和第二次数，其中，第一次数为剩余电压值超出预设电压阈值的次数，第二次数为剩余电压值低于预设电压阈值的次数。

确定模块16，用于根据第一次数和第二次数确定电容式传感器的电阻值。由于剩余电压值超出预设电压阈值的第一次数和剩余电压值低于预设电压阈值的第二次数可以反映电路上电容式传感器电阻值的大小，因此，在预设时间周期内，通过获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系以及根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

图6是根据本发明第三实施例的电容式传感器的检测装置的示意图。在本发明的一个实施例中，第一计算模块13包括第一检测子模块131，第二检测子模块132和计算子模块133。如图5所示，该实施例的装置包括检测单元10，判断单元20和确定单元30，其中，检测单元10包括充电模块11，放电模块12，第一计算模块13，对比模块14，第二计算模块15，确定模块16，第一计算模块13还包括第一检测子模块131，第二检测子模块132，计算子模块133。

第一检测子模块131用于检测电容式传感器的初始电压值。

第二检测子模块132，用于检测触摸介质的电压值。在预设时间周期内，在充电模块11对电容式传感器充电完成之后，放电模块12对触摸介质进行放电，第二检测子模块132检测触摸介质上的电压值。

计算子模块133，用于根据电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值计算电容式传感器的剩余电压值，其中，电容式传感器的剩余电压值为电容式传感器的初始电压值和触摸介质的电压值的差值。

图7是根据本发明第四实施例的电容式传感器的检测装置的示意图。在本发明的一个实施例中，确定模块16包括获取子模块161和确定子模块162。如图5所示，该实施例的装置包括检测单元10，判断单元20和确定单元30，其中，检测单元10包括充电模块11，放电模块12，第一计算模块13，对比模块14，第二计算模块15，确定模块16，确定模块16包括获取子模块161和确定子模块162。

获取子模块161用于获取预设映射关系，其中，预设映射关系为第一次数、第二次数和电容式传感器的电阻值的映射关系。

确定子模块162用于根据第一次数、第二次数和预设映射关系确定电容式传感器的电阻值。

本发明实施例还提供了一种触摸芯片，该触摸芯片可以用于本发明实施例的电容式传感器的检测装置，用于对电容式传感器进行检测。

本发明实施例还提供了一种电容式传感器的检测系统，该电容式传感器的检测系统可以用于执行本发明实施例的电容式传感器的检测方法。需要说明的是，本发明实施的方法，装置或者系统可以用于空调器中。

图8是根据本发明实施例的电容式传感器检测系统的示意图，如图8所示，该系统包括触摸介质40、触摸芯片50和单片机60。触摸介质40可以为导电薄膜。单片机60用于执行与触摸芯片50相关的控制功能，例如，在触摸芯片50判断出电容式传感器异常时控制报警器执行异常报警的控制。

本发明实施例采用触摸芯片扫描电容式传感器的状况，将电容式传感器本身阻抗的相对大小转换为触摸芯片检测的环境中存在的电容的表征值，并实现自动判断传电容式传感器阻抗是否在正常范围，提高了电容式传感器的检测效率。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电容式传感器的检测方法，其特征在于，包括：

检测电容式传感器的电阻值；

判断所述电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；以及

如果判断出所述电容式传感器的电阻值不在所述预设电阻范围内，则确定所述电容式传感器异常；

其中，通过以下方法检测所述电容式传感器的电阻值：对所述电容式传感器进行充电；充电后的内置电容对触摸介质进行放电；在预设时间周期内计算所述电容式传感器的剩余电压值；将所述剩余电压值与预设电压阈值进行对比；计算第一次数和第二次数，其中，所述第一次数为所述剩余电压值超出所述预设电压阈值的次数，所述第二次数为所述剩余电压值低于所述预设电压阈值的次数；以及，根据所述第一次数和所述第二次数确定所述电容式传感器的电阻值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过以下方法计算所述电容式传感器的剩余电压值：

检测所述电容式传感器的初始电压值；

检测所述触摸介质的电压值；以及

根据所述电容式传感器的初始电压值和所述触摸介质的电压值计算所述电容式传感器的剩余电压值，其中，所述电容式传感器的剩余电压值为所述电容式传感器的初始电压值和所述触摸介质的电压值的差值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一次数和所述第二次数确定所述电容式传感器的电阻值包括：

获取预设映射关系，其中，所述预设映射关系为所述第一次数、所述第二次数和所述电容式传感器的电阻值的映射关系；以及

根据所述第一次数、所述第二次数和所述预设映射关系确定所述电容式传感器的电阻值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电容式传感器的电阻值和所述电容式传感器的电容值满足预设关系，通过检测所述电容式传感器的电阻值检测所述电容式传感器的电容值，通过判断所述电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测所述电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。

5.一种电容式传感器的检测装置，其特征在于，包括：

检测单元，用于检测电容式传感器的电阻值；

判断单元，用于判断所述电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内；以及

确定单元，用于在判断出所述电容式传感器的电阻值不在所述预设电阻范围内时，确定所述电容式传感器异常；

其中，所述检测单元包括：充电模块，用于对所述电容式传感器进行充电；放电模块，用于使充电后的内置电容对触摸介质进行放电；第一计算模块，用于在预设时间周期内计算所述电容式传感器的剩余电压值；对比模块，用于将所述剩余电压值与预设电压阈值进行对比；第二计算模块，用于计算第一次数和第二次数，其中，所述第一次数为所述剩余电压值超出所述预设电压阈值的次数，所述第二次数为所述剩余电压值低于所述预设电压阈值的次数；以及，确定模块，用于根据所述第一次数和所述第二次数确定所述电容式传感器的电阻值。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第一计算模块包括：

第一检测子模块，用于检测所述电容式传感器的初始电压值；

第二检测子模块，用于检测所述触摸介质的电压值；以及

计算子模块，用于根据所述电容式传感器的初始电压值和所述触摸介质的电压值计算所述电容式传感器的剩余电压值，其中，所述电容式传感器的剩余电压值为所述电容式传感器的初始电压值和所述触摸介质的电压值的差值。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述确定模块包括：

获取子模块，用于获取预设映射关系，其中，所述预设映射关系为所述第一次数、所述第二次数和所述电容式传感器的电阻值的映射关系；以及

确定子模块，用于根据所述第一次数、所述第二次数和所述预设映射关系确定所述电容式传感器的电阻值。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述电容式传感器的电阻值和所述电容式传感器的电容值满足预设关系，所述装置通过检测所述电容式传感器的电阻值检测所述电容式传感器的电容值，通过判断所述电容式传感器的电阻值是否在预设电阻范围内检测所述电容式传感器的电容值是否在预设电容范围内。

9.一种触摸芯片，其特征在于，包括权利要求5至8中任一项所述的电容式传感器的检测装置。

10.一种空调器，其特征在于，包括电容式传感器和权利要求9所述的触摸芯片。