CN106201804A - 一种测试计算机主板的装置、方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试计算机主板的装置、方法及系统,该装置包括:上位机、可编程逻辑器件以及至少两个功能模块;所述上位机,用于根据外部的触发向所述可编程逻辑器件发送配置指令,以及根据外部的触发向待测主板发送测试指令;所述可编程逻辑器件,用于根据所述上位机发送的配置指令,从所述至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与所述待测主板相连;所述至少一个功能模块,用于接受所述待测主板根据所述测试指令进行的读操作及写操作。该系统包括:待测主板及上述测试计算机主板的装置。本方案能够降低对计算机主板进行测试的劳动强度。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种测试计算机主板的装置、方法及系统。
背景技术
主板是计算机最基本、最重要的部件之一,主板上安装了组成计算机的主要电路系统、中央处理器(CPU,Central Processing Unit)、各种接口及插口、各种控制芯片等。硬盘、显卡、网卡、内存等功能模块与主板上对应的接口或插口相连,各个功能模块与主板之间相互通信,实现了计算机的基本功能。在同种主板的各个接口或插口上连接不同型号的功能模块,使计算机具有不同的配置,以满足不同用户对计算机配置的不同要求。
为了保证主板在各种配置的计算机中都能够正常、稳定地运行,需要对主板与不同型号功能模块连接时的工作状态进行测试。
目前,在检测主板的工作状态时,需要通过手动的方式切换与主板相连的功能模块,以检测主板与所需功能模块相连后的工作状态是否正常及稳定。通过手动方式切换与主板相连的功能模块,需要耗费较长的时间,造成对计算机主板进行测试的劳动强度较高。
发明内容
本发明实施例提供了一种测试计算机主板的装置、方法及系统,能够降低对计算机主板进行测试的劳动强度。
本发明实施例提供了一种测试计算机主板的装置,包括:上位机、可编程逻辑器件以及至少两个功能模块;
所述上位机,用于根据外部的触发向所述可编程逻辑器件发送配置指令,以及根据外部的触发向待测主板发送测试指令;
所述可编程逻辑器件,用于根据所述上位机发送的配置指令,从所述至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与所述待测主板相连;
所述至少一个功能模块,用于接受所述待测主板根据所述测试指令进行的读操作及写操作。
优选地,
所述上位机,进一步用于在所述待测主板根据所述测试指令对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作的过程中,对所述待测主板的工作状态进行监控,获取所述待测主板的测试数据,并根据所述测试数据形成对应于所述待测主板的测试日志。
优选地,
所述上位机,进一步用于对所述测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,以判断所述待测主板的工作状态是否正常,如果是,输出所述待测主板工作状态为正常的判断结果;如果否,根据所述分析结果确定所述待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将所述故障因素输出。
优选地,
所述上位机与所述待测主板上的基板管理控制器相连;
所述上位机,用于向所述待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令,并接收所述基板管理控制器发送的连接状态信息;
所述基板管理控制器,用于根据接收到的状态测试指令,检测所述功能模块与所述待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,并将所述连接状态信息发送给所述上位机。
优选地,
所述功能模块包括:具有不同型号的硬盘、内存、网卡、显卡、声卡或光驱。
本发明实施例还提供了一种利用本发明实施例提供的任意一种测试计算机主板的装置对计算机主板进行测试的方法,包括:
根据外部的触发,通过所述上位机向所述可编程逻辑器件发送配置指令;
根据所述上位机发送的配置指令,通过所述可编程逻辑器件从所述至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与所述待测主板相连;
根据外部的触发,通过所述上位机向所述待测主板发送测试指令;
根据所述上位机发送的测试指令,通过所述待测主板对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作。
优选地,
在所述通过所述待测主板对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作之后进一步包括:
通过所述上位机对所述待测主板的工作状态进行监控,获取所述待测主板的测试数据,并根据所述测试数据形成对应于所述待测主板的测试日志。
优选地,
在所述获取所述待测主板的测试数据之后进一步包括:
通过所述上位机对所述测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,以判断所述待测主板的工作状态是否正常;
如果是,输出所述待测主板工作状态为正常的判断结果;
如果否,根据所述分析结果,确定所述待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将所述故障因素输出。
优选地,
在所述根据外部的触发,通过所述上位机向所述待测主板发送测试指令之前进一步包括:
通过上位机向所述待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令;根据所述状态测试指令,通过所述基板管理控制器检测所述至少一个功能模块与所述待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,并将所述连接状态信息发送给所述上位机。
本发明实施例还提供了一种测试计算机主板的系统,包括:待测主板及本发明实施例提供的任意一种测试计算机主板的装置;
所述待测主板,用于根据所述测试计算机主板的装置发送的测试指令,对所述测试计算机主板的装置包括的至少一个功能模块进行读操作及写操作。
本发明实施例提供的测试计算机主板的装置、方法及系统,可编程逻辑器件根据上位机发送的配置指令,从至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与待测主板相连;上位机向待测主板发送测试指令,待测主板根据上位机发送的测试指令,对相连的至少一个功能模块进行读操作及写操作。这样,通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令,便可以切换与待测主板相连的功能模块,无需通过手动更改连接线的方式切换与待测主板相连的功能模块,从而降低了对计算机主板进行测试的劳动强度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例提供的一种测试计算机主板的装置示意图;
图2是本发明一个实施例提供的一种测试计算机主板的方法流程图;
图3是本发明一个实施例提供的一种测试计算机主板的系统示意图;
图4是本发明另一个实施例提供的一种测试计算机主板的方法流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1所示,本发明实施例提供了一种测试计算机主板的装置,该装置包括:上位机101、可编程逻辑器件102以及至少两个功能模块103;
所述上位机101,用于根据外部的触发向所述可编程逻辑器件102发送配置指令,以及根据外部的触发向待测主板发送测试指令;
所述可编程逻辑器件102,用于根据所述上位机101发送的配置指令,从所述至少两个功能模块103中确定至少一个功能模块103与所述待测主板相连;
所述至少一个功能模块103,用于接受所述待测主板根据所述测试指令进行的读操作及写操作。
本发明实施例提供了一种测试计算机主板的装置,可编程逻辑器件根据上位机发送的配置指令,从至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与待测主板相连;上位机向待测主板发送测试指令,待测主板根据上位机发送的测试指令,对相连的至少一个功能模块进行读操作及写操作。这样,通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令,便可以切换与待测主板相连的功能模块,无需通过手动更改连接线的方式切换与待测主板相连的功能模块,从而降低了对计算机主板进行测试的劳动强度。
在本发明一个实施例中,在待测主板根据上位机发送的测试指令对与其相连的至少一个功能模块进行读操作及写操作的过程中,上位机用于对待测主板的工作状态进行监控,获取待测主板的测试数据,根据获取到的测试数据形成对应于待测主板的测试日志。
在待测主板根据测试指令对功能模块进行读操作及写操作的过程中,上位机对待测主板的工作状态进行监控,获取待测主板的测试数据,根据测试数据可以确定待测主板在对相应功能模块进行读操作或写操作的过程中是否出现故障,进而确定待测主板是否需要进行设计优化;根据测试数据形成对应于待测主板的测试日志,如果待测主板在测试过程中出现问题,通过测试日志可以方便地对待测主板出现的问题进行分析定位,提高对待测主板设计优化的效率。
在本发明一个实施例中,在上位机获取到待测主板的测试数据后,上位机进一步用于对测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,以判断待测主板的工作状态是否正常,如果是,输出待测主板工作状态为正常的判断结果;如果否,根据分析结果确定待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将故障因素输出。
上位机对测试数据进行分析后,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,如果分析结果位于测试阈值允许的范围内,则判断待测主板的工作状态正常,输出待测主板工作状态为正常的判断结果;如果分析结果处于测试阈值允许的范围之外,则判断待测主板的工作状态出现异常,进而根据分析结果确定待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将故障因素输出。通过将测试数据的分析结果与预设的测试阈值进行比较来判断待测主板的工作状态是否正常,实现了待测主板工作状态的自动判断,减少了人工判断的过程,提高了测试计算机主板的效率及测试结果的准确性。当待测主板工作状态出现异常时,上位机还能够根据测试数据的分析结果确定导致待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将确定出的故障因素输出,这样上位机可以直接诊断出一些比较简单的故障,节省了通过人工分析故障原因的时间,进一步提高了对待测主板进行设计优化的效率。
在本发明一个实施例中,上位机与待测主板上的基板管理控制器相连,上位机向基板管理控制器发送状态测试指令,基板管理控制器在接收到状态测试指令后,检测功能模块与待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,并将连接状态信息发送给上位机。
上位机与待测主板上的基板管理控制器相连,上位机通过向基板管理控制器发送状态测试指令,以带外测试的形式检测功能模块与待测主板之间的连接状态,根据基板管理控制器返回的连接状态信息可以确定功能模块与待测主板之间的连接是否正常,保证测试的正常进行。通过基板管理控制器检测功能模块的在位状态,同时可以对主板上基板管理控制器及带外传输模式进行检测,提高对主板进行检测的全面性。
在本发明一个实施例中,功能模块可以包括硬盘、内存、网卡、显卡、声卡或光驱等多种与主板相连的设备,其中至少两个功能模块中可以包括同一类型不同型号的设备。
在测试计算机主板的装置中设置多种类型的设备,并且每种类型的设备包括有多种不同的型号,这样通过上位机发送配置指令,可以将不同类型及不同型号的功能模块与待测主板相连,从而可以根据计算机的配置选择相应的功能模块对待测主板进行测试,保证能够对具有不同配置计算机的主板进行测试,提高了该测试计算机主板的装置的适用性。
如图2所示,本发明一个实施例提供了一种利用本发明实施例提供的任意一种测试计算机主板的装置对计算机主板进行测试的方法,该方法可以包括以下步骤:
步骤101:根据外部的触发,通过所述上位机向所述可编程逻辑器件发送配置指令;
步骤102:根据所述上位机发送的配置指令,通过所述可编程逻辑器件从所述至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与所述待测主板相连;
步骤103:根据外部的触发,通过所述上位机向所述待测主板发送测试指令;
步骤104:根据所述上位机发送的测试指令,通过所述待测主板对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作。
本发明实施例提供了一种测试计算机主板的方法,通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令,根据配置指令确定与待测主机相连的至少一个功能模块;通过上位机向待测主机发送测试指令,待测主机根据接收到的测试指令对与其相连的至少一个功能模块进行读操作及写操作,开始对待测主板进行测试。在对待测主板进行测试的过程中,仅需通过上位机发送配置指令便可以将所需的功能模块与待测主板相连,无需通过手动更改连接线的方式切换与待测主板相连的功能模块,从而降低了对计算机主板进行测试的劳动强度。
在本发明一个实施例中,在待测主板对与其相连的至少一个功能模块进行读操作及写操作之后,通过上位机对待测主板的工作状态进行监控,获取待测主板的测试数据,并根据测试数据形成对应于待测主板的测试日志。通过测试数据可以确定待测主板是否出现故障,进而判断待测主板的设计是否合格;通过测试日志可以对待测主板出现的问题进行分析定位,提高对待测主板设计进行优化的效率。
在本发明一个实施例中,在获取到待测主板的测试数据之后,通过上位机对测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,以判断待测主板的工作状态是否正常;如果是,输出待测主板工作状态为正常的判断结果;如果否,根据分析结果,确定待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将故障因素输出。通过预先设定测试阈值,将测试数据的分析结果与测试阈值进行比较,可以自动判断待测主板的工作状态是否正常,相对于人工判断的方法节省了判断待测主板是否合格的时间,提高了对计算机主板进行测试的效率;当判断待测主板的工作状态出现异常后,根据对测试数据的分析结果,上位机可以确定出导致待测主板工作状态出现异常的故障因素,这样对于比较简单的故障上位机可以进行自动诊断,节省了通过人工分析故障原因的时间,进一步提高了对待测主板进行设计优化的效率。
在本发明一个实施例中,在通过上位机向待测主板发送测试指令之前,通过上位机向待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令;根据状态测试指令,通过基板管理控制器检测功能模块与待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,并将连接状态信息发送给上位机。在通过待测主板对相应功能模块进行读操作及写操作之前,检测待测主板与相应功能模块之间的连接关系,根据基板管理控制器返回的连接状态信息,可以确定功能模块与待测主板之间的连接是够正常,保证对待测主板的测试能够正常进行。
如图3所示,本发明一个实施例提供了一种测试计算机主板的系统,该系统包括:待测主板301及本发明实施例提供的任意一种测试计算机主板的装置302;
所述待测主板301,用于根据所述测试计算机主板的装置302发送的测试指令,对所述测试计算机主板的装置302包括的至少一个功能模块进行读操作及写操作。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面以硬盘作为功能模块为例,对本发明实施例提供的测试计算机主板的方法作进一步详细说明,如图4所示,该方法包括以下步骤:
步骤401:将待测主板分别与上位机、可编程逻辑器件及电源相连。
在本发明一个实施例中,当需要对待测主板进行测试时,将待测主板分别与测试计算机主板的装置中的上位机、可编程逻辑器件及电源相连。其中待测主板与上位机之间可以通过交换机相连。
步骤402:通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令。
在本发明一个实施例中,将待测主板与测试计算机主板的装置相连后,根据对待测主板进行测试的项目,通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令,确定与待测主板相连的功能模块。
例如,型号A计算机配置有型号A的硬盘,将型号A计算机配置的硬盘A与测试计算机主板的装置相连后,通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令,该配置指令要求可编程逻辑器件将型号A的硬盘与待测试主板相连,其中上位机可以通过通用异步收发传输器将配置指令发送给可编程逻辑器件。
步骤403:根据配置指令,通过可编程逻辑器件将所需功能模块与待测主板相连。
在本发明一个实施例中,可编程逻辑器件接收到的上位机发送的配置指令后,根据配置指令将所需的功能模块与待测主板相连,以备待测主板对功能模块进行读操作及写操作。
例如,测试计算机主板的装置中设置有多个功能模块,包括有多个型号的硬盘、多个型号的内存、多个型号的声卡、多个型号的显卡、多个型号的网卡及多个型号的光驱。可编程逻辑器件在接收到上位机发送的配置指令后,将型号A的硬盘与待测主板相连。
步骤404:通过上位机为待测主板上电。
在本发明一个实施例中,将在所需的功能模块与待测主板相连后,通过上位机控制电源,由电源为待测主板上电,使待测主板进入工作状态。
步骤405:通过上位机检查功能模块的在位状态。
在本发明一个实施例中,在对待测主板上电后,通过上位机向待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令,检测功能模块与待测主板的连接是否正常;基板管理控制器接收到状态测试指令后,检测所需功能模块与待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,将形成的连接状态信息发送给上位机。
例如,上位机向待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令,基板管理控制器检测待测主板与型号A硬盘的连接状态,将携带待测主板与型号A硬盘连接状态的连接状态信息发送给上位机。
步骤406:通过上位机向待测主板发送测试指令,使待测主板对功能模块进行读操作及写操作。
在本发明一个实施例中,在确定待测主板与所需功能模块的连接状态正常后,通过上位机向待测主板发送测试指令,控制待测主板对相应的功能模块进行读操作及写操作。
例如,通过上位机向待测主板发送测试指令,待测主板接收到测试指令后,以一定的读写速度及读写块大小对型号A硬盘中的数据进行读写。
步骤407:通过上位机对待测主板进行监控,获取对待测主板进行测试的测试数据。
在本发明一个实施例中,在待测主板对功能模块进行读操作及写操作的过程中,通过上位机对待测主板的工作状态进行监控,获取待测转的测试数据,并根据测试数据形成对应于待测主板的测试日志。
例如,在待测主板对型号A硬盘中的数据进行读操作及写操作的过程中,通过上位机对待测主板的工作状态进行监控,获取待测主板对型号A硬盘进行读写的速度及数据块大小等信息作为测试数据,并将测试数据形成测试日志进行储存。
步骤408:根据测试数据判断待测主板的工作状态是否正常,如果是,执行步骤410,否则执行步骤409。
在本发明一个实施例中,上位机获取到待测主板的测试数据后,对测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,如果测试数据位于测试阈值允许的范围内,判断待测主板的工作状态正常,相应地执行步骤410;如果测试数据不位于测试阈值允许的范围内,则判断待测主板的工作状态异常,相应地执行步骤409。
例如,上位机在获取待测主板对型号A硬盘进行读写操作的读写速度及数据块大小信息后,将读写速度及数据块大小信息与预先设定的测试阈值进行比较,如果读写速度及数据块大小信息均位于测试阈值允许的范围内,判断待测主板的工作状态正常,相应地执行步骤410;如果读写速度或数据块大小信息不为与测试阈值允许的范围内,则判断待测主板的工作状态异常,相应地执行步骤409。
步骤409:根据测试数据确定导致待测主板工作状态出现异常的故障因素,将故障因素输出,并执行步骤411。
在本发明一个实施例中,在判断待测主板工作状态出现异常后,上位机对测试数据进行分析,根据分析结果确定出待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将故障因素以文件的形式输出。
步骤410:输出待测主板工作状态为正常的判断结果。
在本发明一个实施例中,在判断待测主板的工作状态没有出现异常后,上位机输出待测主板工作状态为正常的判断结果,说明待测主板在本次测试项目涉及的范围内设计合格。
步骤411:通过上位机为待测主板下电。
在本发明一个实施例中,获取到对待测主板进行测试的结果后,通过上位机控制电源,停止对待测主板供电,结束对待测主板的测试。
本发明实施例提供的测试计算机主板的装置、方法及系统,至少具有如下有益效果:
1、在本发明实施例中,可编程逻辑器件根据上位机发送的配置指令,从至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与待测主板相连;上位机向待测主板发送测试指令,待测主板根据上位机发送的测试指令,对相连的至少一个功能模块进行读操作及写操作。这样,通过上位机向可编程逻辑器件发送配置指令,便可以切换与待测主板相连的功能模块,无需通过手动更改连接线的方式切换与待测主板相连的功能模块,从而降低了对计算机主板进行测试的劳动强度。
2、在本发明实施例中,上位机将测试数据与预设的测试阈值进行比较,可以判断待测主板在测试过程中的过程状态是否正常,并数据相应的判断结果,这样测试人员通过上位机输出的判断结果变可以确定待测主板的设计是否合格,节省了人工判断的过程,进一步减小了对计算机主板进行测试的劳动强度。
3、在本发明实施例中,当上位机判断待测主板的工作状态出现异常后,上位机进一步还能够根据测试数据诊断导致待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将确定出的故障因素输出,这样测试人员根据上位机输出的故障因素可以快速确定待测主板存在的设计缺陷,从而及时对设计缺陷进行修正,提高了对待测主板的设计进行优化的效率。
4、在本发明实施例中,功能模块包括有多种型号的硬盘、内存、网卡、声卡、显卡及光驱等设备,从而能够将多种功能模块与待测主板相连,以实现对各种配置计算机主板进行测试,提高了该测试计算机主板的装置、方法及系统的适用性。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个〃·····”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成,前述的程序可以存储在计算机可读取的存储介质中,该程序在执行时,执行包括上述方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质中。
最后需要说明的是:以上所述仅为本发明的较佳实施例,仅用于说明本发明的技术方案,并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等,均包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种测试计算机主板的装置,其特征在于,包括:上位机、可编程逻辑器件以及至少两个功能模块;
所述上位机,用于根据外部的触发向所述可编程逻辑器件发送配置指令,以及根据外部的触发向待测主板发送测试指令;
所述可编程逻辑器件,用于根据所述上位机发送的配置指令,从所述至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与所述待测主板相连;
所述至少一个功能模块,用于接受所述待测主板根据所述测试指令进行的读操作及写操作。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述上位机,进一步用于在所述待测主板根据所述测试指令对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作的过程中,对所述待测主板的工作状态进行监控,获取所述待测主板的测试数据,并根据所述测试数据形成对应于所述待测主板的测试日志。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,
所述上位机,进一步用于对所述测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,以判断所述待测主板的工作状态是否正常,如果是,输出所述待测主板工作状态为正常的判断结果;如果否,根据所述分析结果确定所述待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将所述故障因素输出。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
所述上位机与所述待测主板上的基板管理控制器相连;
所述上位机,用于向所述待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令,并接收所述基板管理控制器发送的连接状态信息;
所述基板管理控制器,用于根据接收到的状态测试指令,检测所述功能模块与所述待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,并将所述连接状态信息发送给所述上位机。
5.根据权利要求1至4中任一所述的装置,其特征在于,
所述功能模块包括:具有不同型号的硬盘、内存、网卡、显卡、声卡或光驱。
6.一种利用权利要求1至5中任一所述测试计算机主板的装置对计算机主板进行测试的方法,其特征在于,包括:
根据外部的触发,通过所述上位机向所述可编程逻辑器件发送配置指令;
根据所述上位机发送的配置指令,通过所述可编程逻辑器件从所述至少两个功能模块中确定至少一个功能模块与所述待测主板相连;
根据外部的触发,通过所述上位机向所述待测主板发送测试指令;
根据所述上位机发送的测试指令,通过所述待测主板对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,
在所述通过所述待测主板对所述至少一个功能模块进行读操作及写操作之后进一步包括:
通过所述上位机对所述待测主板的工作状态进行监控,获取所述待测主板的测试数据,并根据所述测试数据形成对应于所述待测主板的测试日志。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,
在所述获取所述待测主板的测试数据之后进一步包括:
通过所述上位机对所述测试数据进行分析,将分析结果与预先设定的测试阈值进行比较,以判断所述待测主板的工作状态是否正常;
如果是,输出所述待测主板工作状态为正常的判断结果;
如果否,根据所述分析结果,确定所述待测主板工作状态出现异常的故障因素,并将所述故障因素输出。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,
在所述根据外部的触发,通过所述上位机向所述待测主板发送测试指令之前进一步包括:
通过上位机向所述待测主板上的基板管理控制器发送状态测试指令;根据所述状态测试指令,通过所述基板管理控制器检测所述至少一个功能模块与所述待测主板之间的连接状态,形成连接状态信息,并将所述连接状态信息发送给所述上位机。
10.一种测试计算机主板的系统,其特征在于,包括:待测主板及权利要求1至5中任一所述测试计算机主板的装置;
所述待测主板,用于根据所述测试计算机主板的装置发送的测试指令,对所述测试计算机主板的装置包括的至少一个功能模块进行读操作及写操作。
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