CN108196994A - 一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法 - Google Patents

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CN108196994A CN201810005160.3A CN201810005160A CN108196994A CN 108196994 A CN108196994 A CN 108196994A CN 201810005160 A CN201810005160 A CN 201810005160A CN 108196994 A CN108196994 A CN 108196994A
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张希伟
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    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273Test methods

Abstract

本发明公开一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法,涉及硬件测试领域;利用上位机软件控制可编程逻辑器件完成硬件接口的配置,使硬件改配的过程可编程化,自动完成硬件改配过程,测试过程中无需手动进行硬件拆装即可连续进行不同配置的测试,不仅节约测试成本,减少手动拆装部件的频率,延展测试部件寿命,而且减少测试过程中误操作发生的概率,提供测试效率。

Description

一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法
技术领域
[0001]本发明公开一种自动化测试方法,涉及硬件测试领域,具体的说是一种数据中心 服务器硬件的自动化测试方法。
背景技术
[0002]随着云计算时代的到来,数据中心的单节点稳定性将会更加重要。系统测试将会 更加重要,系统整合测试是在单元部件测试的基础上,将各功能模块按照设计说明组装为 系统时,测试系统功能、数据、业务规则、界面、其他技术指标等内容是否与需求达到一致。 系统整合测试需要针对整个产品系统进行各种组装测试和确认测试,是基于系统整体需求 的测试,应覆盖系统所有联合的部件。对象不仅仅包括需测试的软件,还要包含软件所依赖 的硬件、外设甚至包括某些数据、某些支持软件及其接口等。
[0003]同一型号的产品针对不同客户的不同配置需求,系统整合测试经常需要覆盖多种 不同配置。目前,测试时配置变更的工作需要测试人员手动完成,但该过程效率低下,并且 测试用部件常常暴露于高概率损耗风险之中,不利于测试进行。本发明提供一种数据中心 服务器硬件的自动化测试方法,利用上位机软件控制可编程逻辑器件完成硬件接口的配 置,使硬件改配的过程可编程化,自动完成硬件改配过程,测试过程中无需手动进行硬件拆 装即可连续进行不同配置的测试,不仅节约测试成本,减少手动拆装部件的频率,延展测试 部件寿命,而且减少测试过程中误操作发生的概率,提供测试效率。
[0004] PLD,Programmable Logic Device的缩写,可编程逻辑器件:它是做为一种通用集 成电路生产的,逻辑功能按照用户对器件编程来设计。目前使用的PLD产品主要有:1 •现场 可编程逻辑阵列FPLA。2.可编程阵列逻辑PAL。3.通用阵列逻辑GAL。4 •可擦除的可编程逻辑 器件EPLDi现场可编程门阵列FPGA.其中EPLD和FPGA的集成度比较高。有时又把这两种器 件称为高密度PLD。
发明内容
[0005] 本发明针对目前技术发展的需求和不足之处,提供一种数据中心服务器硬件的自 动化测试方法。
[0006] 一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法,利用上位机的测试工具控制可编程 逻辑器件进行不同硬件接口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化测试,同时 在测试中完善上位机的测试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结果进行判 断,并进行电源控制及简单故障诊断。
[0007] 所述的方法的具体步骤为: S1:上位机根据配置需求,控制可编程逻辑器件选择接入待测硬件, S2:上位机控制电源上电, S3:上位机通过BMC检查硬件在位状态, S4:上位机带外运行测试工具,执行测试, S5:测试结束后,上位机对测试结果进行判断,对简单故障进行诊断,并根据需求执行 关机操作及控制电源操作。
[0008]所述的方法中S5步骤后,继续返回S1步骤,直至所有待测硬件测试完成。
[0009]所述的方法中上位机的测试工具中加入测试结果判断函数,通过测试结果控制测 试流程走向。
[0010]所述的方法中可编程逻辑器件为PLD。
[0011] —种数据中心服务器硬件的自动化测试系统,包括具有测试工具的上位机,可编 程逻辑器件,待测硬件,电源,利用上位机的测试工具控制可编程逻辑器件进行不同硬件接 口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化测试,同时在测试中完善上位机的测 试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结果进行判断,并进行电源控制及简单 故障诊断。
[0012] 所述的系统中上位机的测试工具中加入测试结果判断函数,通过测试结果控制测 试流程走向。
[0013]所述的系统中可编程逻辑器件为PLD。
[00M]本发明与现有技术相比具有的有益效果是: 本发明提供一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法,利用上位机的测试工具控制 可编程逻辑器件进行不同硬件接口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化测 试,同时在测试中完善上位机的测试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结果 进行判断,并进行电源控制及简单故障诊断; 利用本发明方法,节约测试成本,减少手动拆装部件的频率,延展测试部件寿命;而且 适用于所有服务器产品,利用可编程逻辑器件配置硬件接口,使测试具有高通用性;自动完 成硬件改配过程,测试过程中无需手动进行硬件拆装即可连续进行不同配置的测试;同时 测试流程简易,减少测试过程中误操作发生的概率;上位机还对待测硬盘的操作进行完全 记录,方便问题分析定位,可控可观。
附图说明
[0015]图1本发明系统框架示意图; 图2本发明方法流程示意图。
具体实施方式
[0016] 本发明提供一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法,利用上位机的测试工具 控制可编程逻辑器件进行不同硬件接口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化 测试,同时在测试中完善上位机的测试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结 果进行判断,并进行电源控制及简单故障诊断。
[0017] 同时提供与上述方法相对应的一种数据中心服务器硬件的自动化测试系统,包括 具有测试工具的上位机,可编程逻辑器件,待测硬件,电源,利用上位机的测试工具控制可 编f王逻$耳器件进行不同硬件接口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化测试, 同时在测试中完善上位机的测试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结果进 行判断,并进行电源控制及简单故障诊断。
[0018]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,对本发 明进一步详细说明。
[0019] 利用本发明方法及系统,以硬盘为例,具体步骤为: S1:上位机根据配置需求,控制PLD选择接入待测硬盘,上位机通过交换机与待测硬盘 进行通信, S2:上位机控制电源上电, S3:上位机通过BMC检查待测硬盘在位状态, S4:上位机带外运行测试工具,执行测试, S5:测试结束后,上位机下载测试结果并利用测试工具中判断函数进行判断,通过测试 结果控制测试流程走向,并对简单故障进行诊断,并根据需求执行关机操作及控制电源AC 操作; 待一硬盘测试完成,返回S1步骤,上位机根据配置需求更改配置,控制PLD选择继续接 入待测的其他硬盘,直至所有硬盘测试完成。
[0020] 其中PLD上可自行进行编程,将硬件改配过程集成为上位机测试工具的流程函数, 与测试工具的带外执行测试、测试结果判断、电源控制、简单故障诊断等功能函数一起提供 给测试人员,完成不同配置的自动化测试。

Claims (8)

1.一种数据中心服务器硬件的自动化测试方法,其特征在于利用上位机的测试工具控 制可编程逻辑器件进行不同硬件接口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化测 试,同时在测试中完善上位机的测试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结果 进行判断,并进行电源控制及简单故障诊断。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于具体步骤为: S1:上位机根据配置需求,控制可编程逻辑器件选择接入待测硬件, S2:上位机控制电源上电, S3:上位机通过BMC检查硬件在位状态, S4:上位机带外运行测试工具,执行测试, S5:测试结束后,上位机对测试结果进行判断,对简单故障进行诊断,并根据需求执行 关机操作及控制电源操作。
3. 根据权利要求2所述的方法,其特征在于S5步骤后,继续返回S1步骤,直至所有待测 硬件测试完成。
4. 根据权利要求1-3任一所述的方法,其特征在于所述上位机的测试工具中加入测试 结果判断函数,通过测试结果控制测试流程走向。
5. 根据权利要求4所述的方法,其特征在于所述的可编程逻辑器件为PLD。
6. —种数据中心服务器硬件的自动化测试系统,其特征在于包括具有测试工具的上位 机,可编程逻辑器件,待测硬件,电源,利用上位机的测试工具控制可编程逻辑器件进行不 同硬件接口的配置,使上位机针对不同配置的硬件进行自动化测试,同时在测试中完善上 位机的测试工具,改进上位机带外执行测试的过程,并对测试结果进行判断,并进行电源控 制及简单故障诊断。
7. 根据权利要求6所述的系统,其特征在于上位机的测试工具中加入测试结果判断函 数,通过测试结果控制测试流程走向。
8. 根据权利要求6或7所述的系统,其特征在于所述的可编程逻辑器件为PLD。
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