CN105723227A - 电压检测装置及电压检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种电压检测装置，检测电气设备中各相的导体的电压，该电气设备包括在接地箱体(5)内延伸设置的三相的导体(1a～1c)、分别包围三相的导体(1a～1c)周围的三相的中间电极(2a～2c)、及连接在三相的中间电极(2a～2c)与箱体(5)之间的三相的分压电阻(3a～3c)，电压检测装置包括与各相的中间电极和箱体(5)连接的各相的电压检测部，各相的电压检测部包括测定本相的中间电极的电压的中间电极电压测定部、存储表示其它相对本相的中间电极的电压的影响程度的修正系数的存储部、利用由中间电极电压测定部测定出的本相的中间电极的电压测定值和存储于存储部中的修正系数来计算本相的导体的电压的电压计算部。

Description

电压检测装置及电压检测方法

技术领域

本发明涉及基于设置在各相导体周围的中间电极的电压来检测施加于三相导体的电压的电压检测装置及电压检测方法。

背景技术

现有的电压检测装置为了求出某一相的导体的电压，还需要其它相的中间电极的电压数据(data)(例如专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开平9-304446号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

在现有的电压检测装置中，为了求出各相的导体的电压，需要该各相以外的其它相的中间电极的电压数据，因此，需要暂时收集所有相的数据的结构，从而导致电压检测装置的结构大型且复杂。

本发明是鉴于上述内容完成的，其目的在于提供一种无需使用各相以外的其它相的中间电极的电压测定值而是基于该各相的中间电极的电压测定值来检测该各相的导体的电压的电压检测装置及电压检测方法。

解决技术问题的技术方案

为了解决上述问题，达到目的，本发明所涉及的电压检测装置检测电气设备中的各相的导体的电压，该电气设备包括在接地的金属制箱体(tank)内延伸设置且被施加三相交流电压的三相的导体、以包围所述各相的导体周围的方式设置的各相的中间电极、及连接在所述各相的中间电极与所述箱体之间的各相的分压电阻，该电压检测装置的特征在于，包括与所述各相的中间电极和所述箱体连接的各相的电压检测部，所述各相的电压检测部包括：中间电极电压测定部，该中间电极电压测定部与本相的中间电极及所述箱体连接，测定所述本相的中间电极的电压；存储部，该存储部存储有第1修正系数及第2修正系数，该第1修正系数相当于在仅对本相以外的第1相的导体施加有电压的情况下将本相的中间电极的电压除以该第1相的中间电极的电压得到的比值，该第2修正系数相当于在仅对本相以外的第2相的导体施加有电压的情况下将本相的中间电极的电压除以该第2相的中间电极的电压得到的比值；及电压计算部，该电压计算部利用由所述中间电极电压测定部测定出的本相的中间电极的电压测定值及存储在所述存储部中的所述第1修正系数及第2修正系数，计算本相的导体的电压。

发明效果

根据本发明，起到如下效果：无需使用各相以外的其它相的中间电极的电压测定值而是基于该各相的中间电极的电压测定值来检测该各相的导体的电压。

附图说明

图1是表示实施方式1所涉及的电压检测装置的结构的图。

图2是表示在仅对A相的导体施加电压的情况下用于测定A相的中间电极的电压的分压部的等效电路的图。

图3是表示用于测定A相的中间电极的电压的分压部的等效电路的图。

图4是表示电压检测电路的结构的图。

图5是表示电压检测电路的功能结构的框(block)图。

图6是表示实施方式2所涉及的电压检测装置的结构的图。

具体实施方式

下面，基于附图详细说明本发明实施方式所涉及的电压检测装置及电压检测方法。另外，本发明并不由本实施方式所限定。

实施方式1

图1是表示本实施方式所涉及的电压检测装置的结构的图。如图1所示，本实施方式所涉及的电压检测装置用于气体绝缘开关装置30的三相导体1a～1c的电压检测。此处，气体绝缘开关装置30包括金属制圆筒状的箱体5、及在箱体5内沿轴向延伸设置且被施加三相交流电压的三相导体1a～1c。箱体5接地，在箱体5内封入有例如六氟化(hexafluoride)硫气体等绝缘性气体。对导体1a～1c施加例如商用频率的三相高电压。另外，图1中，仅示出箱体5的横截面所涉及的气体绝缘开关装置30的结构的一部分。

在导体1a的周围以包围导体1a的方式设置有圆筒状的中间电极2a。具体而言，以导体1a为中心，设置有由金属制圆筒状构件构成的中间电极2a。同样，在导体1b的周围以包围导体1b的方式设置有圆筒状的中间电极2b，在导体1c的周围以包围导体1c的方式设置有圆筒状的中间电极2c。

在中间电极2a与箱体5之间连接有分压电阻3a。即，分压电阻3a的一端连接到中间电极2a，分压电阻3a的另一端连接到箱体5。同样，在中间电极2b与箱体5之间连接有分压电阻3b，在中间电极2c与箱体5之间连接有分压电阻3c。

本实施方式所涉及的电压检测装置包括电压检测电路4a～4c而构成，利用所谓分压方式，测定中间电极2a～2c的电压，根据中间电极2a～2c的电压测定值来检测导体1a～1c的电压，以取代直接测定导体1a～1c的电压。另外，中间电极2a～2c及分压电阻3a～3c也可包含在电压检测装置的结构要素中。

电压检测电路4a对应于导体1a及中间电极2a而设置。电压检测电路4a与中间电极2a及箱体5双方连接。因此，分压电阻3a的两端连接到电压检测电路4a。同样，电压检测电路4b对应于导体1b及中间电极2b而设置，与中间电极2b及箱体5双方连接。同样，电压检测电路4c对应于导体1c及中间电极2c而设置，与中间电极2c及箱体5双方连接。这样，为每相设置电压检测电路4a～4c。关于电压检测电路4a～4c的结构，将在后文中阐述。

电压检测电路4a～4c分别经由通信线6a～6c与上位装置7连接。上位装置7是例如电压测量用设备或电力用保护继电器(relay)。

接下来，对本实施方式中采用的电压检测的原理进行说明。首先，考虑仅对三相导体1a～1c中的A相导体1a施加电压Va的情况。若对导体1a施加电压Va，则在中间电极2a上产生电压va1。若设导体1a与中间电极2a之间的静电电容为Ca1，中间电极2a与箱体5之间的静电电容为Ca2，分压电阻3a的电阻值为Ra，则此时的等效电路如图2那样，下式成立。

va1＝Ra×Ca1×(dVa/dt)···(1)

在导出式(1)时，设ω为电压Va的角频率，假设Ra<<1/(ωCa2)成立。实际上，Ca2设定为pF的量级(order)，Ra设定为kΩ的量级，因此，例如对于商用频率，该条件成立。

因此，在仅对A相导体1a施加电压Va的情况下，测定A相的中间电极2a的电压va1，按照式(1)对va1进行时间积分，从而可得到Va。另外，Ra是已知的，Ca1可预先计算出，因此，若得到va1，则也可得到va1/(Ra×Ca1)。

仅对B相导体1b或仅对C相导体1c施加电压的情况也同样。即，在仅对B相导体1b施加电压Vb时，在中间电极2b上产生的电压vb1由下式给出。

vb1＝Rb×Cb1×(dVb/dt)···(2)

此处，Rb为分压电阻3b的电阻值，Cb1为导体1b与中间电极2b之间的静电电容。另外，在导出式(2)时，假设Rb<<1/(ωCb2)成立。此处，Cb2为中间电极2b与箱体5之间的静电电容。

在仅对C相导体1c施加电压Vc时，在中间电极2c上产生的电压vc1由下式给出。

vc1＝Rc×Cc1×(dVc/dt)···(3)

此处，Rc为分压电阻3c的电阻值，Cc1为导体1c与中间电极2c之间的静电电容。另外，在导出式(3)时，假设Rc<<1/(ωCc2)成立。此处，Cc2为中间电极2c与箱体5之间的静电电容。

接下来，考虑实际运用的情况。在实际运用中，对导体1a施加电压Va，对导体1b施加电压Vb，且对导体1c施加电压Vc，因此，对于A相，实际上在中间电压2a上产生的电压va如下。

va＝Ra×Ca1×(dVa/dt)+Ra×Cba1×(dVb/dt)+Ra×Cca1×(dVc/dt)

＝va1+Ra×Cba1×(dVb/dt)+Ra×Cca1×(dVc/dt)···(4)

此处，设导体1b与中间电极2a之间的静电电容为Cba1，导体1c与中间电极2a之间的静电电容为Cca1。对于A相，在图3中示出还考虑了其它相的影响后得到的等效电路。

式(4)的右边第2项Ra×Cba1×(dVb/dt)为对导体1b施加有电压Vb时在中间电极2a上产生的电压，右边第3项Ra×Cca1×(dVc/dt)为对导体1c施加有电压Vc时在中间电极2a上产生的电压，均为表示因其它相的影响而产生的电压修正的项。

对B相、C相也同样。

vb＝Rb×Cab1×(dVa/dt)+vb1+Rb×Ccb1×(dVc/dt)···(5)

vc＝Rc×Cac1×(dVa/dt)+Rc×Cbc1×(dVb/dt)+vc1···(6)

成立。此处，vb表示B相的中间电极2b上产生的电压，Cab1表示导体1a与中间电极2b之间的静电电容，Ccb1表示导体1c与中间电极2b之间的静电电容，vc表示C相的中间电极2c上产生的电压，Cac1表示导体1a与中间电极2c之间的静电电容，Cbc1表示导体1b与中间电极2c之间的静电电容。

为了简化说明，若设n12＝(Ra×Cba1)/(Rb×Cb1)，n13＝(Ra×Cca1)/(Rc×Cc1)，n21＝(Rb×Cab1)/(Ra×Ca1)，n23＝(Rb×Ccb1)/(Rc×Cc1)，n31＝(Rc×Cac1)/(Ra×Ca1)，n32＝(Rc×Cbc1)/(Rb×Cb1)，则

va＝va1+n12×vb1+n13×vc1···(7)

vb＝n21×va1+vb1+n23×vc1···(8)

vc＝n31×va1+n32×vb1+vc1···(9)

成立。

相当于来自其它相的影响程度的n12、n13、n21、n23、n31、n32可根据对每一相依次施加电压的实测结果来求出。或者，也可根据结构、电场解析来求出。以下，将n12、n13、n21、n23、n31、n32统称为“修正系数”。

例如，在仅对A相导体1a施加电压Va的情况下，va＝va1，vb＝n21×va1，vc＝n31×va1成立，因此，通过实际测量va、vb、vc，可预先决定n21、n31。B相、C相的情况也同样。

对于A相，根据式(7)，va1＝va-(n12×vb1+n13×vc1)成立。即，从中间电极2a的电压的测定值即va减去表示来自其它相的电压的影响的(n12×vb1-n13×vc1)，从而得到相当于Va的时间微分的va1。此处，需要n12、n13、vb1、vb2的值，但如上所述，n12、n13是预先提供的。对于vb1、vb2，如下那样决定。

Va、Vb、Vc为三相交流电压，振幅V彼此相等，相位偏移2π/3＝120°。因此，若无视高次的修正，则可设vb1为将va的相位偏移2π/3后的电压，vc1为将va的相位偏移4π/3后的电压。即，

va＝va0×sin(ω×t+θa)···(10)

时，可以得到

vb1＝va0×sin(ω×t+θa+2π/3)···(11)

vc1＝va0×sin(ω×t+θa+4π/3)···(12)

此处，va0为va的振幅，θa为va的相位。

实际上，vb1不等于va0×sin(ω×t+θa+2π/3)，但vb1与va0×sin(ω×t+θa+2π/3)的差达到与修正系数相同的修正量级，因此，对于n12×vb1中该差的贡献，与n12相乘会变成高次修正，从而只要是与修正系数相同程度的修正问题，就可以无视该差的贡献。同样，实际上，vc1不等于va0×sin(ω×t+θa+4π/3)，但vc1与va0×sin(ω×t+θa+4π/3)的差达到与修正系数相同的修正量级，因此，对于n13×vc1中该差的贡献，与n13相乘会变成高次的修正，从而只要是与修正系数相同程度的修正问题，就可以无视该差的贡献。因此，在计算(n12×vb1-n13×vc1)时，可设vb1为将va的相位偏移2π/3后的电压，vb1为将va的相位偏移4π/3后的电压。

另外，va的振幅及相位可通过以时间序列来获取一定时间内va的数据并对其波形进行解析来决定。

这样，对于A相，基于式(7)，利用va的数据和预先决定的n12、n13，可求出va1，并进一步执行时间积分(也包含(Ra×Ca1)的系数修正)，从而可求出Va。

对B相、C相也同样。例如，对于B相，根据式(8)，vb1＝vb-(n21×va1+n23×vc1)成立。此处，在计算(n21×va1+n23×vc1)时，n21、n23可预先决定，因此，是已知的。此外，可设vc1为将vb的相位偏移2π/3后的电压，va1为将vb的相位偏移4π/3后的电压。即，在设vb＝vb0×sin(ω×t+θb)时，可设

vc1＝vb0×sin(ω×t+θb+2π/3)

va1＝vb0×sin(ω×t+θb+4π/3)

此处，vb0为vb的振幅，θb为vb的相位。另外，vb的振幅及相位可通过以时间序列来获取一定时间内的vb的数据并对其波形进行解析来决定。

根据这种电压检测的原理，在求出各相的导体的电压时，无需使用其它相的中间电极的电压测定值，而是利用本相的中间电极的电压测定值和预先决定的修正系数。

接下来，基于上述电压检测的原理来说明检测导体1a～1c的电压的电压检测电路4a～4c的结构。另外，以下，对A相的电压检测电路4a的结构进行说明，但其它相的电压检测电路4b、4c的结构也同样。

图4是表示电压检测电路的结构的图。图4中，一并示出图3中示出的等效电路及图1的上位装置7。电压检测电路4a与中间电极2a及箱体5连接。

电压检测电路4a的硬件(hardware)结构包括模拟(analog)电路8、A/D转换器9及微机(microcomputer)10。

模拟电路8测定中间电极2a与箱体5的电位差即中间电极2a的电压va，将其测定值输出到A/D转换器9。A/D转换器9连接到模拟电路8，对模拟电路8的输出(va)进行A/D转换，并将其输出到微机10。

微机10连接到A/D转换器9，基于A/D转换器9的输出来检测导体1a的电压。微机10包括至少存储包含n12、n13的修正系数的存储器(未图示)。另外，电压检测电路4b的微机10包括至少存储包含n21、n23的修正系数的存储器(memory)(未图示)，电压检测电路4c的微机10包括至少存储包含n31、n32的修正系数的存储器(未图示)。微机10可基于式(7)，利用将va的相位偏移2π/3后的电压、将va的相位偏移4π/3后的电压、n12、n13、va，来计算出va1，并基于式(1)，来计算出导体1a的电压Va。微机10经由通信线6a连接到上位装置7，将导体1a的电压检测值Va输出到上位装置7。上位装置7利用电压检测值Va～Vc进行必要的处理。

接着，说明电压检测电路4a的功能结构及动作。另外，对于电压检测电路4b、4c也可同样地进行说明。图5是表示电压检测电路4a的功能结构的框图。如图5所示，电压检测电路4a的功能结构包括中间电极电压测定部20、存储部21、电压计算部22。

中间电极电压测定部20与中间电极2a及箱体5连接。中间电极电压测定部20例如以一定周期测定中间电极2a的电压。中间电极电压测定部20用模拟电路8来实现。

存储部21预先至少存储n12、n13。即，存储部21至少存储第1修正系数(n12)及第2修正系数(n13)，该第1修正系数(n12)相当于在仅对本相(A相)以外的第1相(B相)的导体1b施加电压的情况下将本相的中间电极2a的电压除以该第1相的中间电极2b的电压得到的比值，该第2修正系数(n13)相当于在仅对本相以外的第2相(C相)的导体1c施加电压的情况下将本相的中间电极2a的电压除以该第2相的中间电极2c的电压得到的比值。此外，存储部21也可以存储其它修正系数。存储部21例如利用微机10的存储器来实现。

电压计算部22将由中间电极电压测定部20测定出的经A/D转换后的中间电极2a的电压测定值va依次保存于存储部21。

电压计算部22通过对最新的中间电极2a的电压测定数据va及存储部21中存储的过去一定时间的时间序列的中间电极2a的电压测定数据va进行解析，计算出va的振幅va0及va的相位θa。

接着，电压计算部22基于式(7)、(11)、(12)，执行va1＝va-(n12×vb1+n13×vc1)的右边的计算。此处，va的振幅va0及va的相位θa已求出，因此，可利用式(11)、(12)来计算vb1、vc1。此外，n12、n13存储于存储部21中。因此，电压计算部22使用参照存储部21获得的n12、n13和va0、θa，求出n12×vb1(第1电压修正值)和n13×vc1(第2电压修正值)，从va减去(n12×vb1+n13×vc1)，从而可对各时刻求出去除其它相的影响后的修正后电压即va1。

电压计算部22基于式(1)，对va1进行时间积分(也包含(Ra×Ca1)的系数修正)，从而可计算出最新的导体1a的电压Va。另外，Ra、Ca1的值预先保存在存储部21中。

电压计算部22可利用微机10来实现。但是，积分处理也可利用模拟电路8来实施。在此情况下，式(7)～(12)作为对两边进行时间积分的关系式成立，利用事先实施了积分处理的电压测定值，进行去除来自其它相的影响的修正。该处理与已说明的处理实质上相同，因此，省略详细说明。

如以上说明那样，在本实施方式中，电压检测电路4a无需利用其它相的中间电极2b、2c的电压测定值vb、vc，而是基于本相的中间电极2a的电压测定值va，计算修正了来自其它相的电压的影响后的va1＝va-(n12×vb1+n13×vc1)，并对该va1进行积分，从而可计算出导体1a的电压Va。

同样，电压检测电路4b无需利用其它相的中间电极2c、2a的电压测定值vc、va，而是基于本相的中间电极2b的电压测定值vb，计算修正了来自其它相的电压的影响后的vb1＝vb-(n21×va1+n23×vc1)，并对该vb1进行积分，从而可计算出导体1b的电压Vb。

同样，电压检测电路4c无需利用其它相的中间电极2a、2b的电压测定值va、vb，而是基于本相的中间电极2c的电压测定值vc，计算修正了来自其它相的电压的影响后的vc1＝vc-(n31×va1+n32×vb1)，并对该vc1进行积分，从而可计算出导体1c的电压Vc。

因此，在本实施方式中，为了求出各相的导体的电压，无需该各相以外的其它相的中间电极的电压数据，因此，暂时无需收集所有相的电压数据，电压检测装置的结构小型且简单。

另一方面，在现有的电压检测装置中，利用va、vb、vc的实测值，将这些值与表示来自其它相的影响程度的修正系数(n12、n13、n21、n23、n31、n32)相乘，计算出va1、vb1、vc1。因此，需要获取其它相的数据，需要暂时一并输入所有相的数据的装置或结构。

或者，在上位装置7附带对其它相的影响进行修正的功能的情况下，上位装置7的处理能力的要求水平变高，需要嵌入追加功能。与此相对，本实施方式中，利用电压检测电路4a～4c对来自其它相的影响进行修正，因此，无需对上位装置7嵌入追加功能。

实施方式2

实施方式1中，对于箱体5内的导体1a～1c及中间电极2a～2c的位置、以及分压电阻3a～3c的大小未设置任何限制，但在本实施方式中，说明箱体5内的导体1a～1c及中间电极2a～2c的配置对称、且分压电阻3a～3c的大小彼此相等的情况下的电压检测装置及电压检测方法。

图6是表示本实施方式所涉及的电压检测装置的结构的图。图6中，对与图1相同的结构要素附加相同的标号。如图6所示，气体绝缘开关装置30的结构与图1的情况相同。但是，在本实施方式中，在圆筒状箱体5的横截面中，以导体1a～1c的中心为顶点的三角形形成一边的边长为“a”的正三角形，导体1a～1c相对于箱体5对称配置。具体而言，从箱体5的中心O到导体1a～1c的各中心的距离彼此相等，从导体1a～1c的各中心到箱体5的最短距离彼此相等。中间电极2a～2c的半径彼此相等，且轴向长度也彼此相等。

因此，本实施方式中，导体1a与中间电极2a之间的静电电容Ca1、导体1b与中间电极2b之间的静电电容Cb1、导体1c与中间电极2c之间的静电电容Cc1彼此相等(Ca1＝Cb1＝Cc1)。导体1b与中间电极2a之间的静电电容Cba1、导体1c与中间电极2a之间的静电电容Cca1、导体1a与中间电极2b之间的静电电容Cab1、导体1c与中间电极2b之间的静电电容Ccb1、导体1a与中间电极2c之间的静电电容Cac1、导体1b与中间电极2c之间的静电电容Cbc1彼此相等(Cba1＝Cca1＝Cab1＝Ccb1＝Cac1＝Cbc1)。因此，中间电极2a～2c的电压测定值受其它相影响的程度也均等，n12、n13、n21、n23、n31、n32为相同值。

因此，若设

Ca1＝Cb1＝Cc1＝C1

n12＝n13＝n21＝n23＝n31＝n32＝n

Ra＝Rb＝Rc＝R，

则式(7)～(9)变成如下那样。

va＝va1+n×vb1+n×vc1···(13)

vb＝n×va1+vb1+n×vc1···(14)

vc＝n×va1+n×vb1+vc1···(15)

若对式(13)进行变形，则

va＝R×C1×(d(V×sin(ω×t+θ))/dt)+n×R×C1×(d(V×sin(ω×t+θ+2π/3)/dt)+n×R×C1×(d(V×sin(ω×t+θ+4π/3)/dt)

＝(1-n)×R×C1×(d(V×sin(ω×t+θ))/dt)

+n×R×C1×d(V×(sin(ω×t+θ)+sin(ω×t+θ+2π/3)+sin(ω×t+θ+4π/3))/dt)

成立。此处，V为三相交流电压Va～Vc的振幅，θ为A相的相位，ω为角频率。

由于sin(ω×t+θ)+sin(ω×t+θ+2π/3)+sin(ω×t+θ+4π/3)＝0，因此，

va＝(1-n)×R×C1×(d(V×sin(ω×t+θ))/dt)

＝(1-n)×va1···(16)

成立。

即，无需基于式(13)像实施方式1那样利用近似式来评价A相的中间电极2a的电压测定值va受其它相影响的原因，而是如式(16)所示，只要将va乘以1/(1-n)倍，就可正确得到去除其它相的电压的影响后的本相的电压值。

因此，本实施方式中，存储部21存储所有相都通用的单一的修正系数n。电压计算部22若被输入中间电极电压测定值20的输出即va，则参照存储部21中存储的修正系数n，计算出va/(1-n)。此外，电压计算部22对va/(1-n)进行时间积分，将积分值除以(Ra×Ca1)，从而可计算出本相的导体1a的电压Va。

与(16)同样的关系式对于B相及C相也成立。

vb＝(1-n)×vb1···(17)

vc＝(1-n)×vc1···(18)

因此，对于B相、C相，也与A相同样，可检测出电压Vb、Vc。

如以上说明的那样，在本实施方式中，利用箱体5内的导体1a～1c及中间电极2a～2c的配置对称这一点，可更简单且严密地进行实施方式1的计算。具体而言，不仅无需其它相的中间电极的电压测定值来检测本相的导体的电压，而且无需计算本相的中间电极的电压的相位信息及振幅，可不考虑其它相的信息而利用简单方法计算出正确值。

另外，实施方式1、2中，作为本发明所涉及的电压检测装置的用途，以气体绝缘开关装置为例进行了说明，但并不限于此，也可适用于其它的电气设备。

工业上的实用性

如上所述，本发明可用作为检测配置在气体绝缘开关装置的箱体内的三相导体的电压的电压检测装置及电压检测方法。

符号说明

1a～1c导体、2a～2c中间电极、3a～3c分压电阻、4a～4c电压检测电路、5箱体、6a～6c通信线、7上位装置、8模拟电路、9A/D转换器、10微机、20中间电极电压测定部、21存储部、22电压计算部、30气体绝缘开关装置。

Claims (5)

1.一种电压检测装置，该电压检测装置检测电气设备中的各相的导体的电压，该电气设备包括在接地的金属制的箱体内延伸设置且被施加三相交流电压的三相的导体、以包围所述各相的导体的周围的方式设置的各相的中间电极、及连接在所述各相的中间电极与所述箱体之间的各相的分压电阻，

该电压检测装置的特征在于，

包括与所述各相的中间电极和所述箱体连接的各相的电压检测部，

所述各相的电压检测部包括：

中间电极电压测定部，该中间电极电压测定部与本相的中间电极及所述箱体连接，测定该本相的中间电极的电压；

存储部，该存储部存储有第1修正系数及第2修正系数，该第1修正系数相当于在仅对本相以外的第1相的导体施加有电压的情况下将本相的中间电极的电压除以该第1相的中间电极的电压得到的比值，该第2修正系数相当于在仅对本相以外的第2相的导体施加有电压的情况下将本相的中间电极的电压除以该第2相的中间电极的电压得到的比值；及

电压计算部，该电压计算部利用由所述中间电极电压测定部测定出的本相的中间电极的电压测定值及存储在所述存储部中的所述第1修正系数及第2修正系数，计算本相的导体的电压。

2.如权利要求1所述的电压检测装置，其特征在于，

所述电压计算部基于由所述中间电极电压测定部测定出的本相的中间电极的电压测定值及存储在所述存储部中的所述第1修正系数及第2修正系数，求出将该本相的中间电极的电压测定值的相位偏移120度后的电压值与所述第1修正系数之积即第1电压修正值、及将该本相的中间电极的电压测定值的相位偏移240度后的电压值与所述第2修正系数之积即第2电压修正值，从所述本相的中间电极的电压测定值减去所述第1电压修正值与所述第2电压修正值之和，得到修正后的电压值，利用该修正后的电压值，计算所述本相的导体的电压。

3.如权利要求1所述的电压检测装置，其特征在于，

所述箱体为圆筒状，

所述各相的中间电极为以所述各相的导体为中心的圆筒状，

所述各相的中间电极的半径及轴向长度彼此相等，

在与所述箱体的轴垂直的截面中，所述三相的导体的中心成为正三角形的顶点，所述三相的导体在所述箱体内配置成对称，

所述各相的分压电阻彼此相等，

所述第1修正系数及第2修正系数彼此相等，且所有相通用修正系数n，

所述各相的电压检测部的电压计算部基于由所述中间电极电压测定部测定出的本相的中间电极的电压测定值及存储在所述存储部中的所述修正系数n，利用将所述本相的中间电极的电压测定值除以(1-n)而得到的修正后的电压值，计算所述本相的导体的电压。

4.如权利要求1至3中任一项所述的电压检测装置，其特征在于，

所述电气设备为气体绝缘开关装置。

5.一种电压检测方法，该电压检测方法检测电气设备中的各相的导体的电压，该电气设备包括在接地的金属制的箱体内延伸设置且被施加三相交流电压的三相的导体、以包围所述各相的导体的周围的方式设置的各相的中间电极、及连接在所述各相的中间电极与所述箱体之间的各相的分压电阻，

该电压检测方法的特征在于，包含：

与所述各相的中间电极及所述箱体连接的各相的电压检测部测定本相的中间电极的电压的步骤；

所述各相的电压检测部参照存储第1修正系数及第2修正系数的存储部的步骤，该第1修正系数相当于在仅对本相以外的第1相的导体施加有电压的情况下将本相的中间电极的电压除以该第1相的中间电极的电压得到的比值，该第2修正系数相当于在仅对本相以外的第2相的导体施加有电压的情况下将本相的中间电极的电压除以该第2相的中间电极的电压得到的比值；及

所述各相的电压检测部利用由所述中间电极电压测定部测定出的本相的中间电极的电压测定值和所述第1修正系数及第2修正系数，计算本相的导体的电压的步骤。