CN105653416B - 一种光模块性能参数调试方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光模块性能参数调试方法及系统，方法包括:在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。本发明节约了调试时间，提高光模块生产效率。

Description

一种光模块性能参数调试方法及系统

技术领域

本发明涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块性能参数调试方法及系统。

背景技术

光模块的性能参数(比如光功率、消光比等)的基本调试方法是，设定一个初值到光模块内对应影响该性能参数的寄存器中，然后通过外部仪器读取光模块工作时该性能参数的值，如此反复直到通过外部仪器读取到的该性能参数的值满足SPEC需求，即光模块设计要求的数值或数值范围，即完成该新能参数的调试。

目前的光模块性能参数的调试方法大致有步进法和二分法，具体介绍如下：

步进法：设定一个初值，一个步进长度值，一个越界值。在开始调试的时候将初值(X)写入光模块，然后通过仪器读取对应调试的性能参数值，如果值不满足SPEC，那么X＝X+步长值(S)，再将X写入光模块，再通过仪器读取，以此反复，直到性能参数满足SPEC或X>＝越界值，停止调试。

二分法：设定一个最小值MIN、一个最大值MAX、最大二分次数。在开始调试的时候将初值X＝(MIN+MAX)/2写入光模块，然后通过仪器读取对应调试的性能参数值Y，如果Y值不满足SPEC，通过二分计算，如果参数是单调增，那么Y大于SPEC，则(X1＝(X+MIN)/2，再将X1写入模块，读取Y，如果Y小于SPEC则X1＝(X+MAX)/2。第三次分，边界则变成了X和X1，以此再分，通过仪器读取，以此反复，直到性能参数满足SPEC或无法进行二分或大于最大二分次数，停止调试。

发明人研究发现，在光模块生产过程中，同一批次(即物料号相同)的多个光模块的内部器件性能是满足正态分布规律的，由于光模块内的器件性能满足正态分布，那么光模块满足SPEC的性能参数对应的调试寄存器的设定值也是满足正态分布的，在这种情况下，当进行同一物料号的多个光模块的性能参数调试时，若依然采用上述方法会导致调试时间增加，降低光模块生产效率。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种光模块性能参数调试方法及系统，旨在节约光模块调试时间，提高光模块生产效率。

为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案是：

一种光模块性能参数调试方法，包括如下步骤：

S1、在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

S2、当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

S3、当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，该方法还包括：如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调；将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，所述预定阈值不小于50。

优选的，所述步骤S2中将该组内的所有设定值统计计算出一个设定值，具体为：确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。

优选的，至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。

本发明实施例还提供一种光模块性能参数调试系统，包括：

参数分组单元，用于在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

设定值计算单元，用于当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

判断调试单元，用于当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，所述判断调试单元还用于：如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调；将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，所述预定阈值不小于50。

优选的，所述设定值计算单元将该组内的所有设定值统计计算出一个设定值具体为：确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。

优选的，至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。

与现有技术相比，本发明的有益效果：

本发明在光模块进行性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组，当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值，当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。本发明与传统的方法相比，节约了调试时间，提高了光模块生产效率。

附图说明：

图1是本发明光模块性能参数调试方法流程图；

图2是本发明光模块性能参数调试系统示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。

如图1所示的光模块性能参数调试方法，包括如下步骤：

S1、在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组。

具体的，所述至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。本发明方法的被调参数是线性的，基于这个原则对光模块的所有性能参数都适用该方法(比如光功率，消光比参数等)，同时光模块的部分性能参数真值测试也适合该方法。

本发明方法是以物料号为基础实现，同一批次生产的多个光模块，即物料号相同的光模块的内部所有器件都是一相同批次的采购物料，根据采购物料制作生产同一批的多个光模块，相同批次的采购物料即器件的参数性能是满足正态分布的，由于模块器件性能满足正态分布，那么模块满足设计要求SPEC的性能参数对应的调试寄存器的设定值也是满足正态分布的。

物料号对应多个光模块，该物料号下面的所有光模块都具备相同的性能参数，也同时具备相同的性能参数对应的寄存器调试位置。所以是对同物料号的多个光模块的同一性能参数对应的寄存器设定值分组。

所以在整个测试过程中，本发明根据物料号、光模块的不同类型的性能参数来将满足SPEC的性能参数对应的寄存器的设定值进行分组。如同一物料号的多个光模块中按照性能参数名称分组。以光功率和消光比两个性能参数为例说明，多个光模块在调试时每个都会调试光功率和消光比，即对应调试设置相应的每个光模块内对应的寄存器的设定值，那么根据光功率这一性能参数的类型，将所有设定值中与光功率相关的设定值作为第一组，将所有设定值中与消光比相关的设定值作为第二组。需要说明的是，本发明包括但不限于对上述两种光模块性能参数(即光功率和消光比)的调试，其他满足区间线性度的任何参数均可以采用本发明方法来调试。

S2、当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律。

具体的，所述预定阈值不小于50，小于50的话，统计样本数据没有意义。确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。本实施例中优选为3次，确定计算范围即确定上下限，所有数据的平均值为中心值，所有数据的标准偏差(标准方差)为偏离度，也就是上下限。基于这个范围使用3次二分，如果无法满足光模块设计要求的数值或数值范围SPEC，则使用传统调试方法。比如该性能参数的值是单调增的情况，平均值为5，标准偏差为0.5，那么调试范围就是4.5～5.5，第一次设置初步设定值X＝5，将X写入光模块对应的寄存器中，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值大于SPEC范围，则第二次设置X＝(5+4.5)/2＝4.75,将X写入光模块对应的寄存器中，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值还大于SPEC范围，则第三次设置X＝(4.75+4.5)/2＝4.625，将X写入光模块对应的寄存器中，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值位于SPEC范围，则停止调试，记录该值，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值还大于SPEC范围，则终止本发明方法调试，按照传统方式进行该光模块的调试。因为调试结果是满足正态分布的，所以标准偏差的值都比较小，所以3次内的二分基本上能够完成调试，如果3次都无法完成，只能说明该光模块不满足分布条件，那么就只能按照传统方式进行调试。

继续以上述光功率和消光比两个性能参数为例说明，当第一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值，当第二组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值，这样可以就光功率和消光比分别进行调试。

S3、当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试，之后继续再下一个光模块的调试。

本发明使得对同一物料号的多个光模块进行性能参数的调试时，当分组后一组内的设定值的数量达到预定阈值之后，即可通过统计计算出一个设定值，那么接下来对所述同一物料号的多个光模块中剩余的光模块进行对应的性能参数(如光功率)调试的时候，即不再使用传统方法来调试该参数，而是直接将计算出来的设定值写入到对应寄存器中，然后再通过仪器(如光功率计)来读取该性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。使用这种方法在对同一物料号的多个光模块进行调试时，可节约大量的时间，最好情况的是将计算的设定值写入模块后，即满足SPEC。例如增长步进法需要5步，耗时30S，每步需要6S，本发明最好情况仅需要一次操作，耗时6S，节约了4/5的时间。因此，本发明与传统的方法相比，进一步节约了调试时间，提高了光模块生产效率。

优选的，在一个实施例中，该方法还包括：如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调，具体根据性能参数是单调递增或递减确定增大或减小初步设定值；将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试；如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则继续微调直至满足设定要求。这样可进一步节省调试时间，保证一次无法调试成功的光模块的再次调试，且在第一次调试的基础上进行，与传统的方法相比，依然会节约部分调试时间，提高光模块生产效率。

本发明使得对同一物料号的多个光模块进行性能参数的调试时，当分组后一组内的设定值的数量达到预定阈值(也即预定个数的光模块)之后，即可通过统计计算出一个设定值，那么接下来对所述同一物料号的多个光模块中剩余的光模块进行对应的性能参数(如光功率)调试的时候，即不再使用传统方法来调试该参数，而是直接将计算出来的设定值写入到对应寄存器中，然后再通过仪器(如光功率计)来读取该性能参数，如果不满足，再在这个值得基础上进行微调。使用这种方法在对同一物料号的多个光模块进行调试时，可节约大量的时间，最好情况的是将计算的设定值写入模块后，即满足SPEC，次好的情况是在此基础上微调，最坏情况同传统调试方法一致。本发明与传统的方法相比，进一步节约了调试时间，提高了光模块生产效率。

基于同一构思，本发明实施例2还提供一种光模块性能参数调试系统，参看图2，包括参数分组单元101、设定值计算单元102和判断调试单元103。

所述参数分组单元101，用于在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

所述设定值计算单元102，用于当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

所述判断调试单元103，用于当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

优选的，所述预定阈值不小于50。所述设定值计算单元将该组内的所有设定值统计计算出一个设定值具体为：确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。

具体的，所述至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。本发明的被调参数是线性的，基于这个原则对光模块的所有性能参数都适用该方法(比如光功率，消光比参数等)，同时光模块的部分性能参数真值测试也适合该方法。

本发明是以物料号为基础实现，同一批次生产的多个光模块，即物料号相同的光模块的内部所有器件都是一相同批次的采购物料，根据采购物料制作生产同一批的多个光模块，相同批次的采购物料即器件的参数性能是满足正态分布的，由于模块器件性能满足正态分布，那么模块满足设计要求SPEC的性能参数对应的调试寄存器的设定值也是满足正态分布的。

物料号对应多个光模块，该物料号下面的所有光模块都具备相同的性能参数，也同时具备相同的性能参数对应的寄存器调试位置。所以是对同物料号的多个光模块的同一性能参数对应的寄存器设定值分组。

所以在整个测试过程中，本发明根据物料号、光模块的不同类型的性能参数来将满足SPEC的性能参数对应的寄存器的设定值进行分组。如同一物料号的多个光模块中按照性能参数名称分组。以光功率和消光比两个性能参数为例说明，多个光模块在调试时每个都会调试光功率和消光比，即对应调试设置相应的每个光模块内对应的寄存器的设定值，那么根据光功率这一性能参数的类型，将所有设定值中与光功率相关的设定值作为第一组，将所有设定值中与消光比相关的设定值作为第二组。需要说明的是，本发明包括但不限于对上述两种光模块性能参数(即光功率和消光比)的调试，其他满足区间线性度的任何参数均可以采用本发明方法来调试。

所述预定阈值不小于50，小于50的话，统计样本数据没有意义。确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。本实施例中优选为3次，确定计算范围即确定上下限，所有数据的平均值为中心值，所有数据的标准偏差(标准方差)为偏离度，也就是上下限。基于这个范围使用3次二分，如果无法满足光模块设计要求的数值或数值范围SPEC，则使用传统调试方法。比如该性能参数的值是单调增的情况，平均值为5，标准偏差为0.5，那么调试范围就是4.5～5.5，第一次设置初步设定值X＝5，将X写入光模块对应的寄存器中，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值大于SPEC范围，则第二次设置X＝(5+4.5)/2＝4.75,将X写入光模块对应的寄存器中，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值还大于SPEC范围，则第三次设置X＝(4.75+4.5)/2＝4.625，将X写入光模块对应的寄存器中，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值位于SPEC范围，则停止调试，记录该值，如果仪器读取该光模块工作时对应的性能参数的值还大于SPEC范围，则终止本发明方法调试，按照传统方式进行该光模块的调试。因为调试结果是满足正态分布的，所以标准偏差的值都比较小，所以3次内的二分基本上能够完成调试，如果3次都无法完成，只能说明该光模块不满足分布条件，那么就只能按照传统方式进行调试。

继续以上述光功率和消光比两个性能参数为例说明，当第一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值，当第二组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值，这样可以就光功率和消光比分别进行调试。

本发明使得对同一物料号的多个光模块进行性能参数的调试时，当分组后一组内的设定值的数量达到预定阈值之后，即可通过统计计算出一个设定值，那么接下来对所述同一物料号的多个光模块中剩余的光模块进行对应的性能参数(如光功率)调试的时候，即不再使用传统方法来调试该参数，而是直接将计算出来的设定值写入到对应寄存器中，然后再通过仪器(如光功率计)来读取该性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。使用这种方法在对同一物料号的多个光模块进行调试时，可节约大量的时间，最好情况的是将计算的设定值写入模块后，即满足SPEC。例如增长步进法需要5步，耗时30S，每步需要6S，本发明最好情况仅需要一次操作，耗时6S，节约了4/5的时间。因此，本发明与传统的方法相比，进一步节约了调试时间，提高了光模块生产效率。

优选的，在一个实施例中，所述判断调试单元还用于：如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调；将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试；如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则继续微调直至满足设定要求。这样可进一步节省调试时间，保证一次无法调试成功的光模块的再次调试，且在第一次调试的基础上进行，与传统的方法相比，依然会节约部分调试时间，提高光模块生产效率。

上面结合附图对本发明的具体实施方式进行了详细说明，但本发明并不限制于上述实施方式，在不脱离本申请的权利要求的精神和范围情况下，本领域的技术人员可以作出各种修改或改型。

Claims (10)

1.一种光模块性能参数调试方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

S2、当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

S3、当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

2.根据权利要求1所述的光模块性能参数调试方法，其特征在于，还包括：

如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调；

将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

3.根据权利要求1或2所述的光模块性能参数调试方法，其特征在于，所述预定阈值不小于50。

4.根据权利要求3所述的光模块性能参数调试方法，其特征在于，所述步骤S2中将该组内的所有设定值统计计算出一个设定值，具体为：

确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；

基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。

5.根据权利要求4所述的光模块性能参数调试方法，其特征在于，至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。

6.一种光模块性能参数调试系统，其特征在于，包括：

参数分组单元，用于在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；

设定值计算单元，用于当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；

判断调试单元，用于当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

7.根据权利要求6所述的光模块性能参数调试系统，其特征在于，所述判断调试单元还用于：

如果仪器读取的性能参数的值不满足光模块设计要求的数值或数值范围，则将所述初步设定值进行增大或减小的微调；

将微调之后的设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。

8.根据权利要求6或7所述的光模块性能参数调试系统，其特征在于，所述预定阈值不小于50。

9.根据权利要求8所述的光模块性能参数调试系统，其特征在于，所述设定值计算单元将该组内的所有设定值统计计算出一个设定值具体为：

确定计算范围：样本的平均值±样本的均方根值；

基于所述计算范围使用预定次数的二分法计算所述初步设定值。

10.根据权利要求9所述的光模块性能参数调试系统，其特征在于，至少一个性能参数为满足区间线性度的线性参数。