CN105606993A - 一种手动单片机芯片测试装置及其操作方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种手动单片机芯片测试装置及其操作方法，包括上盖和底座，所述上盖的上表面设有一号镜头和二号镜头，所述底座的上表面设有浮板，所述浮板上对应于所述一号镜头和所述二号镜头的位置处分别设有一号测试槽和二号测试槽。所述测试装置能够有效避免操作中出现的混乱，同时可以减少操作步骤，进而提升操作效率。

Description

一种手动单片机芯片测试装置及其操作方法

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，具体涉及一种手动单片机芯片测试装置及其操作方法。

背景技术

现有手动单片机芯片测试装置，只有一个测试槽，只能满足单颗测试，在使用过程中，由于单次测试量的局限性，导致整个测试至少需要四个步骤来完成，步骤分别为：①将未测的芯片先放置到待测区，②将测试后的芯片取出并放到待测区，③将待测区未测试的芯片放到测试装置中，④将待测区测试后的芯片放到测试后区域。上述步骤繁琐，不仅限制了测试速度，也存在测试后及未测试的芯片出现混乱的隐患。

由于使用的是手动单通道测试治具，测试芯片的区域和测试后区域存在一定的距离，无法在短时间将测试好的芯片放到测试后区域，只能先将测试好的芯片也暂时放置在待测区，然后再夹起待测区内未测试的芯片放入测试治具内进行测试，这个过程就容易将已测芯片和待测芯片搞混，尤其是实际不止两个未测试芯片，因此非常容易造成混淆，且操作步骤繁琐。

针对现有技术的缺陷，市场上亟待出现一种新型的手动单片机芯片测试装置及操作方法，能够有效避免操作中出现的混乱，同时可以减少操作步骤，进而提升操作效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术存在的缺陷，提出一种能够在提升操作效率的同时避免芯片出现混乱的手动单片机芯片测试装置及其操作方法。

为解决上述技术问题，本发明采取的技术方案如下：

一种手动单片机芯片测试装置，包括上盖和底座，所述上盖的上表面设有一号镜头和二号镜头，所述底座的上表面设有浮板，所述浮板上对应于所述一号镜头和所述二号镜头的位置处分别设有一号测试槽和二号测试槽。

进一步地，所述上盖的前端设置有卡扣，所述卡扣能够扣合在所述底座上。

进一步地，当所述卡扣扣合在所述底座上时，所述一号镜头位于所述一号测试槽的正上方，所述二号镜头位于所述二号测试槽的正上方。

进一步地，所述一号镜头和所述二号镜头均由凸透镜形成。

进一步地，所述底座为双通道底座。

此外，本发明还提供了一种操作上述手动单片机芯片测试装置的方法如下：

步骤1：将待测试的芯片A由待测区放置于所述一号测试槽内，

步骤2：闭合上盖并进行测试，

步骤3.：打开所述上盖，将待测试的芯片B由待测区放置于二号测试槽内，再将已完成测试的芯片A由所述一号测试槽内取出并放置于测试后区域，

步骤4：再次闭合所述上盖进行测试。

本发明与现有技术相比具有如下显著的优点和有益效果：

①测试双通道，相比单通道治具，测试效率提升一倍；

②已测芯片与待测芯片的位置分离，无混料隐患。

附图说明

图1为本发明的手动单片机芯片测试装置打开状态的主视图。

图2为本发明的手动单片机芯片测试装置打开状态的后视图。

图3为本发明的手动单片机芯片测试装置闭合状态下的结构图。

附图标记说明：

1、卡扣，2、上盖，

3、浮板，4、一号镜头，

5、二号镜头，6、底座，

7、一号测试槽，8、二号测试槽。

具体实施方式

为充分公开的目的，以下将结合实施例对本发明做进一步详细说明。应当理解，以下所述的具体实施例仅用于解释本发明，并非用于限定本发明的保护范围。

如图1-2所示，一种手动单片机芯片测试装置，包括：卡扣1、上盖2、浮板3、以及底座6，其中上盖表面设置有一号镜头4和二号镜头5。本发明改善了测试底座结构，将原有底座的单通道改善为双通道，简化测试步骤，可实现测试手动测试时的效率提升，同时杜绝了芯片混乱的现象。新型装置中测试双通道分别为一号测试槽7、二号测试槽8，其中一号测试槽7对应于一号镜头4，二号测试槽8对应于二号镜头5。测试步骤分两步：

①将待测试的芯片A由待测区放置于一号测试槽7内，闭合测试治具进行测试；

②测试完成后，先将待测试的芯片B由待测区放置于二号测试槽8内，再取出一号测试槽7内的已经完成测试的芯片A，放置于测试后区域。

由此可见，由于双测试槽的设置，可以先将待测试芯片放入测试槽，再取出已测试芯片，由此避免了误将已测试芯片重新放入测试槽中的情况，同时减少了操作步骤，效率进一步得到提升。

如图3所示，将待测芯片A放入一号测试槽7内并闭合治具上盖2，扣上卡扣1之后，待测芯片A底部的锡球紧紧压在一号测试槽7内的探针上，此时测试软件(PC主机内)会对芯片的电流引脚进行电流检测，电流检测成功，即默认芯片放置完成，软件对芯片功能测试开始，软件发送出测试项指令，并将指令传输到主板，主板通过模拟转换将测试信号发到芯片，芯片在完成该项测试后，再将结果通过主板转换成数据并发到软件。

测试过程中对芯片的功能及表面均需要进行检测，以保证芯片的功能良好且成像无异常，在功能检测完成后，软件开始光学检测，由于芯片非常小，通过肉眼无法判断上面的制作工艺是否合格，因此通过由凸透镜形成的镜头将外界的光导射到芯片感光，并将芯片成像传输到电脑上来进行芯片表面检测，具体如下：通过对应于一号测试槽7的一号镜头4(镜头为凸透镜)将外界光通过凸透镜导入芯片A的表面，芯片A表面的像素点通过感光，将光信号转换为电信号并经主板处理后发到测试软件中，软件即可成像，软件通过模拟数字转换对图像数据进行对比处理。测试完成后，开启治具上盖，将待测芯片B放入二号测试槽8内，并取出已经测试完成的芯片A，闭合上盖，继续测试，期间通过对应于二号测试槽8的二号镜头5对芯片B表面进行感光测试。

本发明相对于现有技术，至少具有以下有益效果：

①测试双通道，相比单通道治具，测试效率提升一倍；

②已测芯片与待测芯片的位置分离，无混料隐患。

以上所述实施例仅表达了本发明的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (6)

1.一种手动单片机芯片测试装置，包括上盖和底座，其特征在于，所述上盖的上表面设有一号镜头和二号镜头，所述底座的上表面设有浮板，所述浮板上对应于所述一号镜头和所述二号镜头的位置处分别设有一号测试槽和二号测试槽。

2.根据权利要求1所述的手动单片机芯片测试装置，其特征在于，所述上盖的前端设置有卡扣，所述卡扣能够扣合在所述底座上。

3.根据权利要求2所述的手动单片机芯片测试装置，其特征在于，当所述卡扣扣合在所述底座上时，所述一号镜头位于所述一号测试槽的正上方，所述二号镜头位于所述二号测试槽的正上方。

4.根据权利要求1所述的手动单片机芯片测试装置，其特征在于，所述一号镜头和所述二号镜头均由凸透镜形成。

5.根据权利要求1所述的手动单片机芯片测试装置，其特征在于，所述底座为双通道底座。

6.一种操作权利要求1-5中任一项所述的手动单片机芯片测试装置的方法，其特征在于，

步骤1：将待测试的芯片A由待测区放置于一号测试槽内，

步骤2：闭合上盖并进行测试，

步骤3.：打开所述上盖，将待测试的芯片B由待测区放置于二号测试槽内，再将已完成测试的芯片A由所述一号测试槽内取出并放置于测试后区域，

步骤4：再次闭合所述上盖进行测试。