CN106443409A - 一种交流发光芯片的老化测试方法和装置 - Google Patents

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李克坚
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer

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Abstract

本发明公开了一种交流发光芯片的老化测试方法和装置，其包括：框架；散热器，该散热器安装在框架内，散热器上表面设有若干设有可放置被测发光芯片的测试平台；固定架，该固定架可扣合在框架上，且固定架与测试平台相对的表面设有若干顶针；以及设于散热器底部的散热风扇，通过该散热风扇可对散热器强制散热；采用本发明公开的测试方法和装置测试发光芯片具有安全、方便、效率高的特点。

Description

一种交流发光芯片的老化测试方法和装置
技术领域
本发明涉及一种测试方法和装置，特别是一种测试交流发光芯片老化时间的测试装置。
背景技术
在交流发光芯片的生产中，需要对发光芯片进行老化测试，即测试发光芯片的使用寿命等性能。现有的测试方式是测试人员直接手持测试电极对交流发光芯片进行测试，由于交流电通常是高压电，超过36V安全电压既会对测试人员存在潜在的危险，同时，每次只能对一个交流发光芯片进行测试，测试效率不高，而且，测试过程中交流发光芯片产生的热量不能及时导出，热量的积累对交流发光芯片的性能会产生影响。因此有必要开发一种测试安全、方便，效率高的测试装置。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本发明提供一种测试安全、方便，效率高的交流发光芯片老化测试方法和装置
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种交流发光芯片的老化测试方法和装置，其特征在于：其包括：框架；散热器，该散热器安装在框架内，散热器上表面设有若干设有可放置被测发光芯片的测试平台；固定架，该固定架可扣合在框架上，且固定架与测试平台相对的表面设有若干顶针；以及设于散热器底部的散热风扇，通过该散热风扇可对散热器强制散热。
优选地，所述固定架可通过铰轴铰接在框架上。
优选地，其还包括一数码显示屏，通过该数码显示屏可将测试数据显示出来。
上述框架上设有控制开关，以控制测试装置的开启或关闭。
本发明的有益效果是：采用本发明公开的测试方法和装置测试发光芯片时，只需将发光芯片放置于测试平台，再将固定架扣合在测试平台上，固定架上的顶针与发光芯片的极点接触，从而与测试电路联接导通，以测试发光芯片的使用寿命等相应性能，从而避免测试人员直接接触带高压的测试电极，因而具有较高的安全性能；同时，由于设置有多个测试平台，一次可以测试多个交流发光芯片，测试效率大大提高；再者，可通过散热器将测试过程中交流发光芯片产生的热量导出，有利于保护交流发光芯片；并且，测试数据可通过数码显示屏直观的显示出来，因此本发明的测试装置具有安全、方便、效率高的特点。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的固定架扣合状态时的立体示意图；
图2是固定架打开状态时的立体示意图；
图3是本发明的立体分解示意图。
具体实施方式
参照图1、图2、图3，本发明公开的一种交流发光芯片的老化测试方法和装置，包括：框架1，框架1内安装有散热器2，散热器2上表面设有若干设有可放置被测发光芯片的测试平台3，框架1上通过连接件4如铰轴铰接有固定架5，该固定架5可扣合在框架1上，且固定架5与测试平台3相对的表面设有若干顶针6，框架1或固定架5内可设置发光芯片的测试电路，或者测试电路也可外置于本测试装置，顶针6与交流发光芯片测试电路电联接，框架1上设有控制开关7，以控制测试装置的开启或关闭。
测试时发光芯片放置于测试平台，再将固定架扣合在测试平台上，固定架上的顶针与发光芯片的极点接触，从而使发光芯片与测试电路联接导通，测试时散热器底部加载风扇正常工作，以测试发光芯片的使用寿命等相应性能，从而避免测试人员直接接触带高压的测试电极，因而具有较高的安全性能；同时，由于设置有多个测试平台，一次可以测试多个交流发光芯片，测试效率大大提高。
由于需长时间对发光芯片进行测试，为更好地解决在测试过程中发光芯片的散热问题，在散热器2底部设有散热风扇9，通过该散热风扇9可对散热器2强制散热，有利于保护交流发光芯片性能。
在固定架5上设有一数码显示屏8，测试数据可通过数码显示屏直观的显示出来，因此测试装置具有安全、方便、效率高的特点。
上述只是本发明优选的实施方式，其不应构成对本发明的限制，本发明还有其它的结构变化，本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下作出的各种等同变形或替换，均包含在本发明权利要求所限定的范围内。

Claims (4)

1.一种交流发光芯片的老化测试方法和装置，其特征在于：其包括：框架；散热器，该散热器安装在框架内，散热器上表面设有若干设有可放置被测发光芯片的测试平台；固定架，该固定架可扣合在框架上，且固定架与测试平台相对的表面设有若干顶针；以及设于散热器底部的散热风扇，通过该散热风扇可对散热器强制散热。
2.根据权利要求1所述的一种交流发光芯片的老化测试方法和装置，其特征在于所述固定架通过铰轴铰接在框架上。
3.根据权利要求1所述的一种交流发光芯片的老化测试方法和装置，其特征在于其还包括一数码显示屏，通过该数码显示屏可将测试数据显示出来。
4.根据权利要求1所述的一种交流发光芯片的老化测试装置，其特征在于所述框架上设有控制开关。
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