CN105557081A - 判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法 - Google Patents

判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法。上述方法包括：在基板上的测量区域内求得最外围的多个衬垫的坐标的步骤；在上述基板上的测量区域内求得最外围的多个特征客体的坐标的步骤；针对连接上述最外围的多个衬垫的坐标的第一多边形的第一面积，计算出连接上述第一多边形和上述最外围的多个特征客体的坐标的第二多边形的重叠的第二面积的比率的步骤；以及对上述比率和预先设定的基准值进行比较，来判断补偿矩阵的有效性的步骤。通过上述方法来判断补偿矩阵的有效性，从而能够提高检查基板时的检查结果的可靠性。

Description

判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法
技术领域
本发明涉及判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，更详细地，涉及用于利用第一多边形和第二多边形的面积来补偿衬垫的位置的判断补偿矩阵的有效性的方法，上述第一多边形由测量区域(FOV)上的最外围的多个衬垫的坐标形成，上述第二多边形由上述测量区域上的最外围的多个特征客体的坐标形成。
背景技术
一般情况下，在电子装置的内部设置有至少一个印刷电路基板(printedcircuitboard；PCB)，而在这种印刷电路基板上安装有电路图案、连接衬垫部以及与上述连接衬垫部电连接的驱动芯片等多种电路元件。
一般情况下，为了确认如上所述的多种电路元件是否正常形成于上述印刷电路基板，使用形状测量装置。
现有的形状测量装置设定规定的测量区域，并检查规定的电路元件是否正常形成于上述测量区域内。
只有在需要进行测量的位置准确地设定测量区域，才可以正常执行对需要测量的电路元件的测量，然而印刷电路基板之类的测量对象物由于底部基板可以发生弯曲(warp)、扭曲(distortion)等歪曲，因而需要对此进行补偿。
为此，可以利用印刷电路基板(PCB)上的弯曲图案或孔图案等特征客体来生成补偿矩阵，并补偿衬垫的位置，而此时，补偿矩阵是否有效可以成为问题。
发明内容
解决的技术问题
为了解决上述的技术问题，本发明的目的在于，提供判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，上述判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法可以为了补偿测量区域上的衬垫的位置而判断利用测量区域上的多个特征客体的坐标来生成的补偿矩阵的有效性。
本发明的目的并不局限于以上所提及的目的，本发明所属技术领域的普通技术人员能够从以下的记载中明确地理解未提及的其他多种目的。
技术方案
用于解决上述问题的本发明一实施方式的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法包括：在基板上的测量区域内求得最外围的多个衬垫的坐标的步骤；在上述基板上的测量区域内求得最外围的多个特征客体的坐标的步骤；针对连接上述最外围的多个衬垫的坐标的第一多边形的第一面积，计算出连接上述第一多边形和上述最外围的多个特征客体的坐标的第二多边形的重叠的第二面积的比率的步骤；以及基于上述比率是否为预先设定的基准值以上，为了补偿上述测量区域内的衬垫的坐标而判断利用上述测量区域内的多个特征客体的坐标值来生成的补偿矩阵的有效性的步骤。
上述最外围的多个衬垫的坐标可以为上述最外围的多个衬垫的中心坐标，上述最外围的多个特征客体的坐标可以为上述最外围的多个特征客体的中心坐标。
上述特征客体可以为上述基板上的孔图案、圆形图案或弯曲图案的角落部分中的至少一种。
可以由(上述第一多边形和上述第二多边形的重叠的面积)/上述第一面积×100决定上述比率。
上述预先设定的基准值可以为50。
上述判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法还可以包括在上述比率为预先设定的基准值以上的情况下，判断补偿矩阵有效的步骤。
本发明还可以包括在上述比率小于预先设定的基准值的情况下，判定补偿矩阵并不有效的步骤。
在上述测量区域内包括多个分割区域的情况下，上述判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法中的上述各步骤可以按上述多个分割区域分别执行，判断上述有效性的步骤对利用上述分割区域内的特征客体的坐标来生成的补偿矩阵判断有效性。
上述多个分割区域可以为上述测量区域所包括的多个面板或多个部件中的一种。
上述基板可以为柔性印刷电路板。
发明效果
根据本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，可以判断利用测量区域上的多个特征客体的坐标来生成的补偿矩阵的有效性，从而能够提高检查基板时的可靠性。
本发明的效果并不局限于以上所提及的效果，只要是本发明所属技术领域的普通技术人员，就可以从以下的记载中明确地理解未提及的其他多种效果。
附图说明
图1为本发明实施例的用于判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的基板检查装置的结构图。
图2为表示本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法的流程图。
图3为用于说明本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法的测量区域的示例图。
图4为示出在基板为柔性印刷电路板的情况下，在测量区域上排列有多个面板的状态的图。
图5为示出在基板为柔性印刷电路板的情况下，在测量区域上的相同的面板内安装有多个部件的状态的图。
具体实施方式
只要参照与所附的附图一同详细说明的多个实施例，就能够明确地理解本发明的目的、效果及用于实现上述目的、效果的技术结构。在对本发明进行说明的过程中，在判断对公知功能或结构的具体说明会不必要地混淆本发明的要旨的情况下，将省略对此的详细说明。并且，后述的多个术语作为在本发明中考虑结构、作用及功能等来定义的术语，这可以根据使用人员、操作人员的意图或惯例等而有所不同。
然而本发明并不局限于以下所公开的多个实施例，而是能够以互不相同的多种形态体现。只不过，本实施例仅为了使本发明的公开变得更加完整，为了使本发明所属技术领域的普通技术人员完整地了解本发明的范畴而提供，本发明仅通过发明要求保护范围所记载的保护范围来定义。因此，其定义应以本说明书的整体内容为基础而定。
在说明书全文中，当指某个部分“包括”某种结构要素时，只要没有特别相反的记载，这就意味着并不排除其他结构要素，而是还可以包括其他结构要素。
以下，参照附图对本发明的优选的实施例进行详细说明。
图1为本发明实施例的用于判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的基板检查装置的结构图，图2为表示本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法的流程图，图3为用于说明本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法的测量区域的示例图。
如上述图1所示，基板检查装置100可以包括控制部110、平台部120、测量部130、存储器部140、显示部150及用户界面部160等，上述控制部110用于控制基板检查装置100的工作，并对用于执行各种功能的运算进行处理，上述平台部120移动及搭载作为检查对象的基板，并进行固定，上述测量部130用于针对搭载于上述平台部120的基板执行检查，上述存储器部140存储用于驱动基板检查装置100的程序及数据，上述显示部150用于输出基板检查装置100的工作状态及检查结果等，上述用户界面部160用于接收使用人员的指令。
首先，为了设定检查区域而在基板上设定测量区域。上述测量区域意味着为了检查上述基板是否不良而设定于上述基板上的规定的区域，例如，能够以上述测量部130所包括的摄像机(未图示)的拍摄范围(FieldofView)为基准来进行设定。
接着，获得针对上述测量区域的基准数据。例如，上述基准数据可以为针对基板的理论性的平面图像。可以从记录有上述基板的形状的计算机辅助设计(CAD)信息或格伯(gerber)信息中获得上述基准数据。上述计算机辅助设计信息或格伯信息包括上述基板的设计基准信息，一般情况下，包括与衬垫、电路图案、孔图案等相关的配置信息。
另一方面，可以从通过学习模式获得的学习信息中获得上述基准数据。例如，上述学习模式能够以如下方式体现，即，在上述存储器部140中检索基板信息，若检索结果没有基板信息，则实施裸基板学习，接着，若结束上述裸基板学习来计算出裸基板的衬垫及配线信息等基板信息，则在上述数据库存储上述基板信息的方式等。即，在上述学习模式中，可以学习印刷电路基板的裸基板来获得印刷电路基板的设计基准信息，并可以通过上述学习模式来获得学习信息，从而可以获得上述基准数据。
然后，获得针对上述测量区域的测量数据。上述测量数据可以为利用上述基板检查装置100来实际对与上述基准数据相对应的上述基板进行拍摄的图像。上述测量数据与基准数据类似，但可以因上述基板的弯曲或扭曲而比基准数据略微歪曲。
因此，为了补偿这种歪曲，可以利用测量区域的多个特征客体的坐标来生成补偿矩阵，并利用此来补偿测量区域上的衬垫的位置。上述特征客体(feature)可以为上述基板上的孔图案、圆形图案或弯曲图案的角落部分中的至少一种。
此时，在上述测量区域上，多个上述特征客体并不均匀地分布于多个上述衬垫之间，而是集中分布于多个特定衬垫之间的情况下，针对多个上述特定衬垫的位置补偿，上述补偿矩阵可以信赖其结果，但针对除此之外的多个衬垫的位置补偿而言，上述补偿矩阵无法信赖其结果。因此，需要对补偿矩阵的有效性进行判断。
以下，本发明的实施例对用于判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法进行具体说明。
参照图2和图3，首先，在基板上的测量区域200内求得最外围的多个衬垫的坐标210(S100)。之后，在上述基板上的测量区域200内求得最外围的多个特征客体的坐标220(S110)。
在上述测量区域200内，最外围的多个衬垫及最外围的多个特征客体意味着上述测量区域200最接近周围的衬垫及特征客体。
若连接上述最外围的多个衬垫的坐标210，则形成第一多边形P1，若连接上述最外围的多个特征客体的坐标220，则形成第二多边形P2。
此时，针对上述第一多边形P1的第一面积S1，计算出上述第一多边形S1和上述第二多边形S2的重叠的第二面积S2的比率(S120)。
之后，对上述比率和预先设定的基准值进行比较，来判断补偿矩阵的有效性(S130)。更详细地，以上述比率是否为预先设定的基准值以上为基础，为了补偿上述测量区域200内的衬垫的坐标而判断利用上述测量区域200内的多个特征客体的坐标值来生成的补偿矩阵的有效性。
此时，上述比率可以被使用为表示测量区域200内的特征客体在衬垫内均匀地分布的均匀性(uniformity)的指标。上述比率越大，就意味着均匀性越高，而这意味着上述补偿矩阵的有效性高。
上述最外围的多个衬垫的坐标可以为上述最外围的多个衬垫的中心坐标，上述最外围的多个特征客体的坐标可以为上述最外围的多个特征客体的中心坐标。但是，根据情况，在特征客体与弯曲的电路图案的角落部分相同的情况下，可以将角落标点的坐标设定为特征客体的坐标。
上述比率可以通过如下的数学式1来进行具体定义。
数学式1：
比率＝(第一多边形和上述第二多边形的重叠的面积(P2)/第一多边形的面积(P1)第一面积)×100
并且，上述预先设定的基准值可以被设定为通过多次测试来保证补偿矩阵的有效性的基准值，而这可以根据情况来进行多种设定。
例如，上述预先设定的基准值可以为50，而这仅为一例，本发明并不局限于此。
另一方面，上述S130步骤可以包括在上述比率为预先设定的基准值以上的情况下，判断补偿矩阵有效的步骤，并且可以包括在上述比率小于预先设定的基准值的情况下，判断补偿矩阵并不有效的步骤。
如果，在上述比率为预先设定的基准值以上的情况下，可以判断补偿矩阵有效，并适用补偿矩阵，在上述比率小于预先设定的基准值的情况下，判断补偿矩阵并不有效，并且不适用补偿矩阵而利用与当前的测量区域相邻的测量区域的特征客体来生成补偿矩阵，而针对此时的补偿矩阵，也可以通过在上述内容中说明的方法来判断补偿矩阵的有效性。
以如上所述的方式判断补偿矩阵的有效性，从而能够提高检查基板时的可靠性。
以下，作为本发明的另一实施例，对在基板为柔性印刷电路板(FPCB,FlexiblePrintedCircuitBoard)的情况下，能够进一步提高判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法的可靠性的方法进行说明。
在基板为柔性印刷电路板的情况下，因柔性印刷电路板的弯曲性质而导致测量区域所包括的多个分割区域并不存在于相同的平面上的可能性高。此时，在生成针对整个测量区域的补偿矩阵，并判断对此的有效性的情况下，针对各个分割区域而言，降低补偿矩阵的可靠性的可能性高。
因此，在本实施例中，建议按测量区域内的不同的分割区域来适用如上所述的本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法。
图4为示出在基板为柔性印刷电路板的情况下，在测量区域上排列有多个面板的状态的图。图5为示出在基板为柔性印刷电路板的情况下，在测量区域上的相同的面板内安装有多个部件的状态的图。
例如，如图4所示，在测量区域400内设置有互不相同的面板，即，第一面板410和第二面板420的情况下，可能因柔性印刷电路板的弯曲而使第一面板410和第二面板420所处的平面变得不同。因此，在适用上述所述的本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法的过程中，针对第一面板410和第二面板420分别生成补偿矩阵，针对第一面板410和第二面板420分别判断补偿矩阵的有效性后，可以将被判断为具有有效性的补偿矩阵分别单独适用于第一面板410区域和第二面板420区域。
另一方面，可以在相同的面板内也能分割区域来适用本发明实施例的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法。
例如，如图5所示，在测量区域500上的相同的面板内存在多个部件，即，第一部件510及第二部件520的情况下，按不同的部件(component)生成补偿矩阵，并按不同的部件判断补偿矩阵的有效性后，可以将被判断为具有有效性的补偿矩阵单独适用于各部件区域。
在上述内容中，虽然例举出面板和部件作为分割区域的例，但这仅为一个例，本发明可以在测量区域内设定多种分割区域。
通过如上所述的方法，在基板为柔性印刷电路板的情况下，可以进一步提高补偿矩阵的可靠性。
以上，对本发明的实施例进行了说明，但需要理解的是，只要是本发明所属技术领域的普通技术人员，就能在不脱离发明要求保护范围所记载的本发明的思想的范围内，通过附加、变更、删除或追加结构要素等方式对本发明实施多种修改及变更，而这同样属于本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，包括：
在基板上的测量区域内求得最外围的多个衬垫的坐标的步骤；
在上述基板上的测量区域内求得最外围的多个特征客体的坐标的步骤；
针对连接上述最外围的多个衬垫的坐标的第一多边形的第一面积，计算出连接上述第一多边形和上述最外围的多个特征客体的坐标的第二多边形的重叠的第二面积的比率的步骤；以及
对上述比率和预先设定的基准值进行比较，来判断补偿矩阵的有效性的步骤。
2.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，上述最外围的多个衬垫的坐标为上述最外围的多个衬垫的中心坐标，上述最外围的多个特征客体的坐标为上述最外围的多个特征客体的中心坐标。
3.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，上述特征客体为上述基板上的孔图案、圆形图案或弯曲图案的角落部分中的至少一种。
4.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，由(上述第一多边形和上述第二多边形的重叠的面积)/上述第一面积×100决定上述比率。
5.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，上述预先设定的基准值为50。
6.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，判断上述有效性的步骤包括在上述比率为预先设定的基准值以上的情况下，判定补偿矩阵有效的步骤。
7.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，判断上述有效性的步骤还包括在上述比率小于预先设定的基准值的情况下，判定补偿矩阵并不有效的步骤。
8.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，利用上述测量区域内的特征客体生成上述补偿矩阵。
9.根据权利要求1所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，在上述测量区域内包括多个分割区域的情况下，上述判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法中的上述各步骤按上述多个分割区域分别执行，判断上述有效性的步骤对利用上述分割区域内的特征客体的坐标来生成的补偿矩阵判断有效性。
10.根据权利要求9所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，上述多个分割区域为上述测量区域所包括的多个面板或多个部件中的一种。
11.根据权利要求9或10所述的判断检查基板时的补偿矩阵的有效性的方法，其中，上述基板为柔性印刷电路板。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101893823B1 (ko) 2016-10-04 2018-08-31 주식회사 고영테크놀러지 기판 검사장치 및 이를 이용한 기판의 왜곡 보상 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006078206A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 I-Pulse Co Ltd 実装基板の検査方法及び検査装置
CN102466645A (zh) * 2010-11-15 2012-05-23 株式会社高永科技 检查方法
CN102564346A (zh) * 2010-11-23 2012-07-11 株式会社高永科技 检测方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101237497B1 (ko) * 2009-03-30 2013-02-26 주식회사 고영테크놀러지 검사영역의 설정방법
KR20120069646A (ko) * 2012-06-05 2012-06-28 주식회사 고영테크놀러지 검사방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006078206A (ja) * 2004-09-07 2006-03-23 I-Pulse Co Ltd 実装基板の検査方法及び検査装置
CN102466645A (zh) * 2010-11-15 2012-05-23 株式会社高永科技 检查方法
CN102564346A (zh) * 2010-11-23 2012-07-11 株式会社高永科技 检测方法

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