CN105551974A - 一种半导体ic类框架校平装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种半导体IC类框架校平装置,包括底座所述底座上固接导轨、弧形导料装置、左校平装置、右校平装置和驱动装置,所述导轨前端连接弧形导料装置,所述导轨两侧分别连接左校平装置和右校平装置。本IC引线框架校平装置的结构能够确保半导体IC框架从卷盘放料进过弧形导料,进入校平装置,校平装置分为左右两套,这样可以解决产品中间的基岛碰到滚轮而发生变形的问题。左右两边校平装置的校平滚轮上下都是分开自由调节,这样可以解决材料两边的内应力不一样,进行分开校平。本发明能够确保引线框架在加工前即消除材料的内应力,从而保证产品表面光滑,确保产品品质。同时本发明调整方便、简单实用,有效的提高了产品的生产效率。
Description
技术领域
本发明涉及IC引线框架制作领域,尤其涉及一种半导体IC类框架校平装置。
背景技术
集成电路(IC)由芯片,引线框架和塑封三部分组成。其中,引线框架的主要功能是为芯片提供机械支撑载体,并作为导电介质连接IC外部电路、传送电信号、以及与塑封材料一起向外散发芯片工作时产生的热量,因此引线框架成为IC中极为关键的零部件。引线框架作为集成电路的芯片载体,是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。
现在一般制作半导体IC框架的流程包括冲压、电镀、切断。冲压好的产品经过电镀,到后工序切断时,材料经过卷绕内部产生内应力,直接切断产品会出现弧形。当前的传统是在模具内加校准,但是此方法会使的产品上有压痕,不方便调节。
发明内容
本发明的目的是解决现有技术的不足,提供一种能够确保材料进入模具前其内应力被消除的校平装置。
本发明采用的技术方案是:一种半导体IC类框架校平装置,包括底座,所述底座上固接导轨、弧形导料装置、左校平装置、右校平装置和驱动装置,所述导轨前端连接弧形导料装置,所述导轨两侧分别连接左校平装置和右校平装置;
所述弧形导料装置包括弧形轨道、导料器滚轮和接头检测器,所述导料器滚轮两端分别设有弧形轨道和接头检测器;
所述左校平装置包括滚轮支座、校平滚轮、丝杆固定块、宽度调节丝杆和上下调节丝杆,所述校平滚轮通过螺母固定在丝杆上,所述丝杆连接滚轮支座,所述宽度调节丝杆控制丝杆的左右移动,所述上下调节丝杆控制丝杆的上下移动,所述上下调节丝杆上设有滚轮位置检测百分表,所述宽度调节丝杆上设有宽度数字显示表;
所述右校平装置与左校平装置结构相同;
所述驱动装置包括电机、主动轮、随动轮和随动轮压力调整装置,所述随动轮压力调整装置包括支轴、弹簧、挡销和挡销座,所述随动轮通过支轴与挡销相连,所述挡销通过弹簧与挡销座相连,所述主动轮带动半导体IC框架移动。
作为本发明的进一步改进,所述导料器滚轮为双曲线形状。
作为本发明的更进一步改进,接头检测器包括位置开关和调整夹,所述调整夹的缝隙宽度等于产品的厚度,所述调整夹通过螺钉和垫块与位置开关连接。
作为本发明的更进一步改进,还包括有防护罩,所述防护罩将左、右校平装置罩于其中。
本发明采用的有益效果是:本IC引线框架校平装置的结构能够确保半导体IC框架从卷盘放料进过弧形导料,进入校平装置,校平装置分为左右两套,这样可以解决产品中间的基岛碰到滚轮而发生变形的问题。左右两边校平装置的校平滚轮上下都是分开自由调节,这样可以解决材料两边的内应力不一样,进行分开校平。本发明能够确保引线框架在加工前即消除材料的内应力,从而保证产品表面光滑,确保产品品质。同时本发明调整方便、简单实用,有效的提高了产品的生产效率。
附图说明
图1为本发明示意图。
图2为本发明俯视图。
图3为本发明的接头检测器示意图。
图4为本发明的导料器滚轮示意图。
图5为本发明的校平装置俯视图。
图6为本发明的校平装置示意图。
图7为本发明的驱动装置示意图。
图中所示:1底座,4电机,5防护罩,21弧形轨道,22导料器滚轮,23接头探测器,31滚轮支座,32校平滚轮,33丝杆固定块,34宽度调节丝杆,35上下调节丝杆,36宽度数字显示表,42随动轮,43压力调整装置,44支轴,45弹簧,46挡销,47挡销座,231位置开关,232调整夹。
具体实施方式
下面结合图1至图7,对本发明做进一步的说明。
如图所示,一种半导体IC类框架校平装置,包括底座1,所述底座)上固接导轨、弧形导料装置、左校平装置、右校平装置和驱动装置,所述导轨前端连接弧形导料装置,所述导轨两侧分别连接左校平装置和右校平装置;
所述弧形导料装置包括弧形轨道21、导料器滚轮22和接头检测器23,所述导料器滚轮22两端分别设有弧形轨道21和接头检测器23;
所述左校平装置包括滚轮支座31、校平滚轮32、丝杆固定块33、宽度调节丝杆34和上下调节丝杆35,所述校平滚轮32通过螺母固定在丝杆上,所述丝杆连接滚轮支座,所述宽度调节丝杆34控制丝杆的左右移动,所述上下调节丝杆35控制丝杆的上下移动,所述上下调节丝杆35上设有滚轮位置检测百分表,所述宽度调节丝杆上设有宽度数字显示表36;
所述右校平装置与左校平装置结构相同;
所述驱动装置包括电机4、主动轮、随动轮42和随动轮压力调整装置43,所述随动轮压力调整装置43包括支轴44、弹簧45、挡销46和挡销座47,所述随动轮42通过支轴44与挡销46相连,所述挡销46通过弹簧45与挡销座47相连,所述主动轮带动半导体IC框架移动。
本IC引线框架校平装置的结构能够确保半导体IC框架从卷盘放料进过弧形导料,进入校平装置,校平装置分为左右两套,这样可以解决产品中间的基岛碰到滚轮而发生变形的问题。左右两边的校平装置的校平滚轮上下都是分开自由调节,这样可以解决材料两边的内应力不一样,进行分开校平。
半导体IC框架从卷盘放料进过弧形导料,导料器滚轮采用双曲线形状,这样产品两侧面与滚轮接触,产品功能区不与导轮接触,避免产品产生划痕。
产品经过导料轮后进入产品接头检测器。半导体IC框架在电镀生产连续卷式生产中,中间接头是靠铆钉连接。偶尔铆钉忘记剪掉,采用本检测装置就会杜绝模具被损坏的现象。接头检测器的调整夹指宽度只能通过一片产品的厚度,当接头铆钉过来时,无法通过,带动位置开关摆动。报警设备停机进行处理。
产品通过位置检测进入校平区域,校平采用的是,两边直径为22CM的校平滚轮对半导体IC框架进行校平。采用分体校平是因为半导体IC框架结构,半导体IC框架中间是已经加工结束的,其两边是非功能区。根据产品宽度及产品两边内应力不一样,左、右校平装置的校平滚轮的位置可以独立移动。移动方式是松开丝杠固定块,调节宽度调节丝杆的调节旋钮带动丝杠。通过宽度数字显示表,可以精确定位宽度数字显示安装位置,连接可靠。宽度数字显示表为丝杠弧形宽度显示表。因材料厚度及内应力不同每个校平滚轮上下都可以调节高度。调节方法,松开校平滚轮固定块,通过上下调节丝杠调整丝杠上下位置,高度通过百分表进行检测,保证上下移动的位置准确度。
电机带动两片主动轮,两片主动轮带动半导体IC框架两边,在两片随动轮的压力下,向前运转。随动轮左右两边的压力是通过调整旋钮来控制弹簧弹簧,通过弹簧力的作用调整随动轮的压力,保证压力可以带动半导体IC框架移动,保证产品表面的力量。
因材料厚度及内应力不同每个校平滚轮上下都可以调节高度。调节方法,松开校平滚轮固定块71,通过丝杠14调整丝杠上下位置,高度通过百分表进行检测,保证上下移动的位置准确度。
本IC引线框架校平装置的结构能够确保半导体IC框架从卷盘放料进过弧形导料,进入校平装置,校平装置分为左右两套,这样可以解决产品中间的基岛碰到滚轮而发生变形的问题。左右两边校平装置的校平滚轮上下都是分开自由调节,这样可以解决材料两边的内应力不一样,进行分开校平。本发明能够确保引线框架在加工前即消除材料的内应力,从而保证产品表面光滑,确保产品品质。同时本发明调整方便、简单实用,有效的提高了产品的生产效率。
本领域技术人员应当知晓,本发明的保护方案不仅限于上述的实施例,还可以在上述实施例的基础上进行各种排列组合与变换,在不违背本发明精神的前提下,对本发明进行的各种变换均落在本发明的保护范围内。
Claims (4)
1.一种半导体IC类框架校平装置,包括底座(1),其特征是所述底座(1)上固接导轨、弧形导料装置、左校平装置、右校平装置和驱动装置,所述导轨前端连接弧形导料装置,所述导轨两侧分别连接左校平装置和右校平装置;
所述弧形导料装置包括弧形轨道(21)、导料器滚轮(22)和接头检测器(23),所述导料器滚轮(22)两端分别设有弧形轨道(21)和接头检测器(23);
所述左校平装置包括滚轮支座(31)、校平滚轮(32)、丝杆固定块(33)、宽度调节丝杆(34)和上下调节丝杆(35),所述校平滚轮(32)通过螺母固定在丝杆上,所述丝杆连接滚轮支座,所述宽度调节丝杆(34)控制丝杆的左右移动,所述上下调节丝杆(35)控制丝杆的上下移动,所述上下调节丝杆(35)上设有滚轮位置检测百分表,所述宽度调节丝杆上设有宽度数字显示表(36);
所述右校平装置与左校平装置结构相同;
所述驱动装置包括电机(4)、主动轮、随动轮(42)和随动轮压力调整装置(43),所述随动轮压力调整装置(43)包括支轴(44)、弹簧(45)、挡销(46)和挡销座(47),所述随动轮(42)通过支轴(44)与挡销(46)相连,所述挡销(46)通过弹簧(45)与挡销座(47)相连,所述主动轮带动半导体IC框架移动。
2.根据权利要求1所述的一种半导体IC类框架校平装置,其特征是所述导料器滚轮(22)为双曲线形状。
3.根据权利要求1或2所述的一种半导体IC类框架校平装置,其特征是接头检测器包括位置开关(231)和调整夹(232),所述调整夹的缝隙宽度等于产品的厚度,所述调整夹通过螺钉和垫块与位置开关连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体IC类框架校平装置,其特征是还包括有防护罩(5),所述防护罩(5)将左、右校平装置罩于其中。
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