CN105389063A - 显示装置以及输入装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示装置以及输入装置。提供一种具有输入装置的显示装置，由输入装置检测的信号不易受到噪声的影响。显示装置(1)包括基板(21)、与基板(21)相对的基板(31)、设在基板(21)或者基板(31)的引线(WRT)以及设在基板(31)的上表面上的绝缘体部(IPd)。在俯视时，引线(WRT)配置在周边区域(As)内，在俯视时，绝缘体部(IPd)与显示区域(Ad)重叠。绝缘体部(IPd)的侧面设有介电常数低于绝缘体部(IPd)的介电常数的绝缘体部、或者空间(SPs1)。在俯视时，在周边区域(As)内，绝缘体部或者空间(SPs1)被配置为与引线(WRT)重叠。

Description

显示装置以及输入装置
技术领域
本发明涉及显示装置，特别涉及具有静电电容方式的输入装置的显示装置。
背景技术
近年来，公开了这样的技术：在显示装置的显示面侧安装有被称为触控面板或者触摸传感器的输入装置，用手指或触笔等输入工具等接触触控面板来进行输入动作时，检测输入位置后进行输出。这样的具有触控面板的显示装置中无需设置键盘、鼠标、或者数字键盘等输入装置，因此，除了计算机之外，还广泛应用与手机等携帯信息终端等。
检测手指等接触触控面板的接触位置的检测方式有静电电容方式。在利用静电电容方式的触控面板中，触控面板的表面内设有由夹着介电层相对配置的一对电极(即驱动电极和检测电极)构成的多个电容元件。而且，利用手指或触笔等输入工具接触电容元件来进行输入动作时，电容元件的静电电容发生变化的特征，检测输入位置。
这样的显示装置包括显示区域和位于显示区域周围的周边区域，显示区域内配置有用于检测输入位置的驱动电极以及检测电极。例如，特开2013-16141号公报(专利文献1)中公开了一种触摸屏，其包括划分为活性区域以及位于活性区域的周围的非活性区域的薄膜基板以及形成在薄膜基板的活性区域的感测图案。
现有技术文献
专利文献
专利文献1日本特开2013-16141号公报
发明内容
发明要解决的课题
在这样的显示装置中，周边区域内配置有包括与驱动电极电连接的引线(引き回し配線)的驱动电极驱动器、或者与检测电极电连接的引线。并且，在显示区域内的包括在相对基板中的基板的上表面上设有例如由偏光板或者树脂等构成的电介质。
但是，当在周边区域内，与显示区域同样地，在包括在相对基板中的基板的上表面上也设置有例如由偏光板或者树脂等构成的电介质时，在周边区域中，当手指或输入工具接近显示装置时，配置在周边区域内的引线与手指或输入工具之间的静电电容相对增大。因此，在周边区域中，手指或输入工具接近显示装置时，来自手指或输入工具的噪声容易传递至引线，检测到的通过引线的信号易受到噪声的影响，相对于噪声强度的信号强度的比例下降，无法提高输入装置的检测性能。
为了解决上述的现有技术中的问题，本发明的目的在于提供一种具有输入装置的显示装置，在周边区域，当手指或输入工具接近显示装置时，由输入装置检测的信号不易受到噪声影响。
解决课题的手段
下面，简单说明本申请公开的发明中的代表性内容的概要。
作为本发明的一方面的显示装置包括：第一基板、与第一基板相对的第二基板、设在第一基板上的多个像素、设在第一基板或第二基板上的第一布线、设在第二基板的第一主面上的第一绝缘体部以及设在第一绝缘体部的侧方的第二绝缘体部或者空间。第二绝缘体部的介电常数低于第一绝缘体部的介电常数。在俯视时，多个像素配置在第二基板的第一主面的第一区域内；在俯视时，第一布线配置在第二基板的第一主面的区域中的第二区域内，所述第二区域是位于第一区域的第二基板的外周侧的区域；并且，第一绝缘体部以在俯视时与第一区域重叠的方式配置。第二绝缘体部或者空间以在俯视时在第二区域内与第一布线重叠的方式配置。检测经过第一布线的信号，从而检测输入位置。
附图说明
图1是示出实施方式1的显示装置的一构成例的框图。
图2是示出手指接触或接近触摸检测设备的状态的说明图。
图3是示出手指接触或接近触摸检测设备的状态下等效电路例子的说明图。
图4是示出驱动信号以及检测信号的波形一例子的图。
图5是示出安装有实施方式1的显示装置的组件的一例子的俯视图。
图6是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。
图7是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的电路图。
图8是示出实施方式1的显示装置的驱动电极以及检测电极的一构成例的立体图。
图9是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
图10是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
图11是示出比较例1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。
图12是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的、通过背光灯框架实现的支撑结构的截面图。
图13是示出背光灯单元以及背光灯框架的结构的分解立体图。
图14是示出偏光板的一构成例的截面图。
图15是示出偏光板的另一构成例的截面图。
图16是示出偏光板的另一构成例的截面图。
图17是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
图18是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
图19是用于说明测量偏光板对保护膜的附着力的大小的方法的图。
图20是用于说明测量偏光板对保护膜的附着力的大小的方法的图。
图21是用于说明测量偏光板对保护膜的附着力的大小的方法的图。
图22是示出安装了实施方式2的显示装置的组件的一例子的俯视图。
图23是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。
图24是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的电路图。
图25是示出比较例2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。
图26是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
图27是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
具体实施方式
下面，参照附图说明本发明的各实施方式。
另外，下面公开的内容仅仅是一种示例，本领域技术人员在不脱离发明宗旨的情况下容易想到的适当的变更均属于本发明的范围。并且，为了进一步明确说明，与实施方式相比，附图中示意性示出各部的宽度、厚度、形状等，仅仅是一种示例，并不限定对本发明的解释。
并且，在本说明书及附图中，对于与已经示出的图中说明过的要素相同的要素，标注相同的符号，适当地省略详细说明。
而且，在实施方式中利用的附图中，为了便于观察，有些截面图中省略示出剖面线。并且，为了便于观察，有些俯视图中省略示出剖面线。
并且，在下面的实施方式中，以A～B的方式表示范围时，除了特别限定的之外，表示A以上B以下的范围。
(实施方式1)
首先，作为实施方式1说明将显示装置(其具有作为输入装置的触控面板)应用于in-cell式的带触摸检测功能的液晶显示装置的例子。另外，在本申请的说明书中，输入装置是检测至少根据接近或者接触电极的物体的电容发生变化的静电电容的输入装置。并且，带触摸检测功能的液晶显示装置是在形成显示装置的阵列基板和相对基板中的任一上设有触摸检测用的检测电极的液晶显示装置。并且，在本实施方式1中，说明具有驱动电极起到显示装置的驱动电极的作用并且起到输入装置的驱动电极的作用的特征的in-cell式的带触摸检测功能的显示装置。
〈整体构成〉
首先，参照图1，说明实施方式1的显示装置的整体构成。图1是示出实施方式1的显示装置的一构成例的框图。
显示装置1具有带触摸检测功能的显示设备10、控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14以及触摸检测部40。
带触摸检测功能的显示设备10具有显示设备20以及触摸检测设备30。在本实施方式1，显示设备20是作为显示元件采用了液晶显示元件的显示设备。因此，在下面的说明中，显示设备20还称为液晶显示设备20。触摸检测设备30是静电电容方式的触摸检测设备，即静电电容型触摸检测设备。因此，显示装置1是包括具有触摸检测功能的输入装置的显示装置。并且，带触摸检测功能的显示设备10是将液晶显示设备20和触摸检测设备30一体化的显示设备，是内置有触摸检测功能的显示设备，即in-cell式的带触摸检测功能的显示设备。
另外，带触摸检测功能的显示设备10还可以是在显示设备20上安装了触摸检测设备30的显示设备。并且，显示设备20还可以是例如有机EL(电致发光)显示设备，以此来代替采用了液晶显示元件的显示设备。
显示设备20根据从栅极驱动器12供给的扫描信号Vscan，在显示区域通过进行每次一条水平线的扫描来进行显示。如下文所述，触摸检测设备30基于静电电容型触摸检测原理进行动作，并输出检测信号Vdet。
控制部11是这样的电路：基于从外部供给的映像信号Vdisp，分别向栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14以及触摸检测部40供给控制信号，以控制它们彼此同步地动作。
栅极驱动器12具有基于从控制部11供给的控制信号，依次选择成为带触摸检测功能的显示设备10的显示驱动对象的每一水平线的功能。
源极驱动器13是基于从控制部11供给的图像信号Vsig的控制信号，向包括在带触摸检测功能的显示设备10的子像素SPix(参照后面说明的图7)供给像素信号Vpix的电路。
驱动电极驱动器14是基于从控制部11供给的控制信号，向包括在带触摸检测功能的显示设备10的驱动电极COML(参照后面说明的图5或者图6)供给驱动信号Vcom的电路。
触摸检测部40是如下的电路：基于从控制部11供给的控制信号和从带触摸检测功能的显示设备10的触摸检测设备30供给的检测信号Vdet，检测是否存在手指或触笔等输入工具触摸触摸检测设备30，即后面说明的接触或者接近的状态。而且，触摸检测部40是当有触摸时求出触摸检测区域中的其坐标，即输入位置等。触摸检测部40具有触摸检测信号放大部42、A/D(模拟/数字)转换部43、信号处理部44、坐标提取部45以及检测时机控制部46。
触摸检测信号放大部42对从触摸检测设备30供给的检测信号Vdet进行放大。触摸检测信号放大部42还可以具有去除包括在检测信号Vdet中的高频成分(即噪声成分)，并取出触摸成分后分别进行输出的模拟低通滤波器。
〈静电电容型触摸检测的原理〉
接着，参照图1～图4，说明本实施方式1的显示装置1中的触摸检测原理。图2是示出手指接触或者接近触摸检测设备的状态的说明图。图3是示出手指接触或者接近触摸检测设备的状态的等效电路例子的说明图。图4是示出驱动信号以及检测信号的波形的一例子的图。
如图2所示，在静电电容型触摸检测中，被称为触控面板或者触摸传感器的输入装置具有夹着电介质D彼此相对配置的驱动电极E1以及检测电极E2。通过这些驱动电极E1以及检测电极E2形成电容元件C1。如图3所示，电容元件C1的一端连接于作为驱动信号源的交流信号源S，电容元件C1的另一端连接于作为触摸检测部的电压检测器DET。电压检测器DET由例如包括在图1所示的触摸检测信号放大部42中的积分电路构成。
如果从交流信号源S向电容元件C1的一端(即驱动电极E1)施加例如数kHz～数百kHz左右的频率的交流矩形波Sg，则通过连接于电容元件C1的另一端(即检测电极E2)侧的电压检测器DET，产生作为输出波形的检测信号Vdet。另外，该交流矩形波Sg例如相当于图4所示的驱动信号Vcom。
在手指未接触以及未接近的状态(即非接触状态)，如图3所示，随着对电容元件C1进行充电放电，流过对应于电容元件C1的电容值的电流I1。电压检测器DET将对应于交流矩形波Sg的电流I1的波动转换为电压的波动。在图4，用实线的波形V0表示该电压的波动。
另一方面，在手指接触或者接近的状态(即接触状态)，受到因手指形成的静电电容C2的影响，驱动电极E1以及检测电极E2形成的电容元件C1的电容值变小。因此，流过图3所示的电容元件C1的电流I1产生波动。电压检测器DET将对应于交流矩形波Sg的电流I1的波动转换为电压的波动。在图4，以虚线的波形V1表示该电压的波动。这时，波形V1的振幅比上述的波形V0小。从而，波形V0与波形V1的电压差的绝对值|ΔV|根据手指等从外部接近的物体的影响发生变化。另外，为了精确地检测波形V0与波形V1的电压差的绝对值|ΔV|，优选地，电压检测器DET通过电路内的切换，根据交流矩形波Sg的频率，进行设定期间Reset的动作，在该期间Reset重置电容器的充电放电。
在图1所示的例子中，触摸检测设备30根据从驱动电极驱动器14供给的驱动信号Vcom，对于对应于一个或多个驱动电极COML(参照后面说明的图5或者图6)的每一个检测模块进行触摸检测。即，触摸检测设备30通过图3所示的电压检测器DET，向对应于一个或多个驱动电极COML中的各个驱动电极的每一个检测模块输出检测信号Vdet，并将输出的检测信号Vdet供给触摸检测部40的触摸检测信号放大部42。
A/D转换部43是在与驱动信号Vcom同步的时机对从触摸检测信号放大部42输出的模拟信号分别进行采样后转换为数字信号的电路。
信号处理部44具有数字滤波器，该数字滤波器能够降低包括在A/D转换部43的输出信号中的、除了对驱动信号Vcom进行了采样的频率之外的频率成分(即噪声成分)。信号处理部44是基于A/D转换部43的输出信号检测是否存在对触摸检测设备30的触摸的逻辑电路。信号处理部44进行仅取出手指导致的差分电压的处理。该手指导致的差分电压是上述的波形V0与波形V1的差分的绝对值|ΔV|。信号处理部44可以进行将每一个检测模块的绝对值|ΔV|平均化的运算，从而求出绝对值|ΔV|的平均值。从而，信号处理部44能够降低噪声的影响。信号处理部44比较检测到的手指导致的差分电压和指定的阈值电压，如果在该阈值电压以上，则判断从外部接近的外部接近物体处于接触状态，如果低于阈值电压，则判断外部接近物体处于非接触状态。这样进行触摸检测部40的触摸检测。
坐标提取部45是当在信号处理部44中检测到触摸时求出检测到触摸的位置的坐标(即触控面板)中的输入位置的逻辑电路。检测时机控制部46通过控制使A/D转换部43、信号处理部44、坐标提取部45同步动作。坐标提取部45将触控面板坐标作为信号输出Vout进行输出。
〈组件〉
图5是示出安装了实施方式1的显示装置的组件的一例子的俯视图。如图5所示，实施方式1中的带触摸检测功能的显示设备10具有基板21、基板31、多个驱动电极COML以及多个检测电极TDL。基板31具有作为一个主面的上表面和作为另一个主面的下表面。这里，将基板31的上表面内或者基板31的下表面内彼此交叉、优选为正交的两个方向作为X轴方向以及Y轴方向。这时，在俯视时，多个驱动电极COML分别向Y轴方向延伸，并且，沿X轴方向排列。并且，在俯视时，多个检测电极TDL分别向X轴方向延伸，并且，沿Y轴方向排列。
如后面参照图7说明的那样，在俯视时，多个驱动电极COML每一个设为与Y轴方向排列的多个子像素SPix重叠。即、一个驱动电极COML设为多个子像素SPix的公共电极。
另外，在本申请的说明书中，“在俯视时”是指从与基板31或者基板21的作为主面的上表面垂直的方向观察时。
在图5示出的例子中，在俯视时，带触摸检测功能的显示设备10具有分别向X轴方向延伸且彼此相对的两个边和分别向Y轴方向延伸且彼此相对的两个边，具有矩形形状。Y轴方向上的带触摸检测功能的显示设备10的一侧设有端子部TM。端子部TM与多个检测电极TDL每一个之间分别通过引线WRT电连接。端子部TM与布线基板WS电连接，布线基板WS连接于安装在此组件的外部的触摸检测部40(参照图1)。因此，检测电极TDL通过引线WRT、端子部TM以及布线基板WS与触摸检测部40连接。
带触摸检测功能的显示设备10具有COG19。COG19是安装在基板21的芯片，内置有图1所示的控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13等显示动作需要的各种电路。并且，COG19还可以内置有驱动电极驱动器14。COG19与多个驱动电极COML每一个分别通过引线WRC电连接。
另外，作为基板21以及基板31，可以利用例如玻璃基板或者例如树脂制成的薄膜等各种透明的基板。并且，在本申请的说明书中，透明的基板中的“透明”是指可视光的透光率达到例如80％以上。
〈带触摸检测功能的显示设备〉
接着，参照图5～图8，详细说明带触摸检测功能的显示设备10的构成例。图6是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。图7是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的电路图。图8是示出实施方式1的显示装置的驱动电极以及检测电极的一构成例的立体图。图6是沿图5的A-A线的截面图。
带触摸检测功能的显示设备10具有阵列基板2、相对基板3、覆盖板4、液晶层6以及密封部7。相对基板3设为作为阵列基板2的主面的上表面与作为相对基板3的主面的下表面相对。液晶层6设在阵列基板2与相对基板3之间。阵列基板2的外周部与相对基板3的外周部之间设有密封部7，阵列基板2与相对基板3之间的空间通过密封部密封该空间的外周部。而且，外周部被密封部密封的空间中封入液晶层6。
阵列基板2具有基板21。并且，相对基板3具有基板31。
基板31具有作为一个主面的上表面，基板31的上表面包括显示区域Ad和周边区域As，周边区域As是位于基板31的相对于显示区域Ad的外周侧的区域。因此，周边区域As是基板31的上表面的区域并且是位于基板31的相对于显示区域Ad的外周侧的区域。或者，显示区域Ad以及周边区域As也可以包括在基板31的作为另一个主面的下表面中。
或者，显示区域Ad以及周边区域As可以包括在基板21的作为一个主面的上表面。这时，基板21具有作为一个主面的上表面，基板21的上表面包括显示区域Ad和周边区域As，周边区域As是位于基板21的相对于显示区域Ad的外周侧的区域。因此，周边区域As是基板21的上表面的区域并且是位于基板21的相对于显示区域Ad的外周侧的区域。
如图7所示，在显示区域Ad中，基板21上形成有多个扫描线GCL、多个信号线SGL以及作为多个薄膜晶体管(ThinFilmTransistor；TFT)的TFT元件Tr。另外，在图6中，省略示出扫描线GCL、信号线SGL以及TFT元件Tr。并且，扫描线表示栅极布线，信号线表示源极布线。
如图7所示，多个扫描线GCL在显示区域Ad分别沿X轴方向延伸，且在Y轴方向排列。多个信号线SGL在显示区域Ad中分别向Y轴方向延伸，且在X轴方向排列。因此，在俯视时，多个信号线SGL每一个与多个扫描线GCL交叉。这样，在俯视时，子像素SPix配置在彼此交叉的多个扫描线GCL和多个信号线SGL的交叉点，由多个不同颜色的子像素SPix形成一个像素Pix。即，多个子像素SPix设在基板21上，在俯视时，配置在显示区域Ad内，且沿X轴方向以及Y轴方向排列成矩阵状。
在俯视时，多个扫描线GCL中的每一个和多个信号线SGL中的每一个交叉的交叉部形成有TFT元件Tr。因此，在显示区域Ad中，基板21上形成有多个TFT元件Tr，这些多个TFT元件Tr沿X轴方向以及Y轴方向排列成矩阵状。即，多个子像素SPix中的每一个中设有TFT元件Tr。并且，多个子像素SPix中的每一个中除了设有TFT元件Tr之外，还设有液晶元件LC。
TFT元件Tr例如由作为n沟道型MOS(金属氧化物半导体)的薄膜晶体管构成。TFT元件Tr的栅极电极连接于扫描线GCL。TFT元件Tr的源极电极或者漏极电极的中的一个连接于信号线SGL。TFT元件Tr的源极电极或者漏极电极的另一个连接于液晶元件LC的一端。例如，液晶元件LC的一端连接于TFT元件Tr的源极电极或者漏极电极，另一端连接于驱动电极COML。
如图5以及图6所示，阵列基板2具有多个驱动电极COML、引线WRC、绝缘膜24以及多个像素电极22。在俯视时，在显示区域Ad的内部，多个驱动电极COML设在基板21的作为一个主面的上表面上。引线WRC是电连接驱动电极COML和COG19(参照图5)的布线，在俯视时，在周边区域As的内部，形成在基板21的作为一个主面的上表面上。包括多个驱动电极COML中的每一个的表面和多个引线WRC中的每一个的表面的基板21的上表面上形成有绝缘膜24。在显示区域Ad的绝缘膜24上形成有多个像素电极22。因此，绝缘膜24实现驱动电极COML和像素电极22的电绝缘。
如图6以及图7所示，在俯视时，在显示区域Ad的内部，多个像素电极22分别形成在沿X轴方向以及Y轴方向矩阵状排列的多个子像素SPix中的每一个的内部。因此，多个像素电极22沿X轴方向以及Y轴方向排列成矩阵状。
在图6所示的例子中，多个驱动电极COML每一个形成在基板21与像素电极22之间。并且，如图7中示意性示出那样，在俯视时，多个驱动电极COML每一个设为与多个像素电极22重叠。而且，多个像素电极22每一个与多个驱动电极COML每一个之间施加电压，设在多个子像素SPix每一个上的液晶元件LC形成电场，从而，在显示区域Ad显示图像。
这样，当带触摸检测功能的显示设备10包括液晶显示设备20时，由液晶元件LC、多个像素电极22、驱动电极COML、多个扫描线GCL、多个信号线SGL形成控制图像显示的显示控制部。显示控制部设在阵列基板2与相对基板3之间。另外，带触摸检测功能的显示设备10还可以包括作为有机EL显示装置等各种显示装置的显示设备，以代替作为液晶显示装置的液晶显示设备20(在实施方式2中也同样如此)。
多个驱动电极COML每一个还可以形成为隔着像素电极22在与基板21的相反侧。并且，在图6所示的例子中，驱动电极COML和像素电极22的配置为作为横向电场模式的FFS(边缘场切换，FringeFieldSwitching)模式的配置。但是，驱动电极COML和像素电极22的配置还可以为驱动电极COML和像素电极22在俯视时不重叠的、作为横向电场模式的IPS(面内切换，InPlaneSwitching)模式的配置。或者，驱动电极COML和像素电极22的配置还可以是作为纵向电场模式的TN(扭曲向列，TwistedNematic)模式或者VA(垂直排列，VerticalAlignment)模式的配置(在实施方式2中也同样如此)。
液晶层6根据电场状态对通过其的光进行调制，例如，利用有对应于上述的FFS模式或者IPS模式等的横向电场模式的液晶层。即，作为液晶显示设备20，采用FFS模式或者IPS模式等的横向电场模式的液晶显示设备。或者，如上所述，还可以采用TN模式或者VA模式等的纵向电场模式的液晶显示设备。另外，图6所示的液晶层6与阵列基板2之间以及液晶层6与相对基板3之间还可以分别设有取向膜(在实施方式2中也同样如此)。
如图7所示，沿X轴方向排列的多个子像素SPix(即液晶显示设备20的属于同一行的多个子像素SPix)通过扫描线GCL彼此连接。扫描线GCL连接于栅极驱动器12(参照图1)，由栅极驱动器12供给扫描信号Vscan(参照图1)。并且，沿Y轴方向排列的多个子像素SPix(即液晶显示设备20的属于同一列的多个子像素SPix)通过信号线SGL彼此连接。信号线SGL连接于源极驱动器13(参照图1)，由源极驱动器13供给像素信号Vpix(参照图1)。
驱动电极COML连接于驱动电极驱动器14(参照图5)，由驱动电极驱动器14供给驱动信号Vcom(参照图1)。换言之，在图7示出的例子中，属于同一列的多个子像素SPix共用一个驱动电极COML。多个驱动电极COML在显示区域Ad分别向Y轴方向延伸且在X轴方向上排列。如上所述，多个信号线SGL在显示区域Ad中分别向Y轴方向延伸且在X轴方向上排列，因此，多个驱动电极COML每一个的延伸方向与多个信号线SGL每一个的延伸方向平行。
另外，在俯视时，驱动电极COML沿Y轴方向延伸，因此，在图6中没有示出在俯视时配置在周边区域As内的引线WRC，而在图5中示出。
并且，并不限制多个驱动电极COML每一个的延伸方向，例如，在后面的实施方式2中说明，多个驱动电极COML每一个的延伸方向还可以与多个扫描线GCL每一个的延伸方向平行。
图1示出的栅极驱动器12通过图7所示的扫描线GCL将扫描信号Vscan施加在各子像素SPix的TFT元件Tr的栅极电极，从而，依次选择液晶显示设备20中矩阵状形成的子像素SPix中的一行(即一水平线)作为显示驱动对象。图1示出的源极驱动器13通过图7示出的信号线SGL分别向构成由栅极驱动器12依次选择的一水平线的多个子像素SPix供给像素信号Vpix。而且，在构成一水平线的多个子像素SPix中根据供给的像素信号Vpix进行显示。
驱动电极驱动器14(参照图5)施加驱动信号Vcom，对于与一个或多个驱动电极COML对应的每一个检测模块，驱动驱动电极COML。
在液晶显示设备20中，栅极驱动器12以按照时分方式依次扫描扫描线GCL的方式驱动，从而，每次一水平线地依次选择子像素SPix。并且，在液晶显示设备20中，源极驱动器13向属于一水平线的子像素SPix供给像素信号Vpix，从而，每次一水平线的进行显示。在进行该显示动作时，驱动电极驱动器14向包括与其一水平线对应的驱动电极COML的检测模块施加驱动信号Vcom。
本实施方式1的显示装置1中的驱动电极COML起到液晶显示设备20的驱动电极的作用，并且，还起到触摸检测设备30的驱动电极的作用。
触摸检测设备30具有设在阵列基板2上的多个驱动电极COML以及设在相对基板3上的多个检测电极TDL。在俯视时，多个检测电极TDL分别向与多个驱动电极COML每一个延伸的方向交叉的方向延伸。换言之，多个检测电极TDL彼此隔开间隔排列，从而在俯视时分别与多个驱动电极COML交叉。而且，多个检测电极TDL每一个在垂直于阵列基板2所包括的基板21的上表面的方向上与驱动电极COML相对。多个检测电极TDL每一个分别连接于触摸检测部40的触摸检测信号放大部42(参照图1)。
多个驱动电极COML每一个与多个检测电极TDL每一个的俯视时的交叉部产生静电电容。而且，产生对应于多个驱动电极COML每一个与多个检测电极TDL每一个之间的静电电容的信号，通过检测经过包括引线WRC的驱动电极驱动器14以及引线WRT的所产生的信号，从而检测输入位置。即，由形成有检测电极TDL的基板31(参照图6)这样的电极基板、以及驱动电极COML形成检测输入位置的检测部，即输入装置。
通过上述构成，在触摸检测设备30中，进行触摸检测动作时，由驱动电极驱动器14沿扫描方向Scan依次选择对应于一个或多个驱动电极COML的一个检测模块。而且，在所选择的检测模块中，用于测量驱动电极COML与检测电极TDL之间的静电电容的驱动信号Vcom输入驱动电极COML，并从检测电极TDL输出用于检测输入位置的检测信号Vdet。这样，在触摸检测设备30中，对于每一个检测模块进行触摸检测。换言之，一个检测模块对应于上述的触摸检测的原理中的驱动电极E1，检测电极TDL对应于检测电极E2。
另外，进行显示动作时的检测模块的范围和进行触摸检测动作时的检测模块的范围可以相同，也可以不同。
如图8所示，在俯视时，彼此交叉的多个驱动电极COML和多个检测电极TDL形成矩阵状排列的静电电容式触摸传感器。因此，通过扫描触摸检测设备30的整个触摸检测面，从而能够检测手指等接触或者接近的位置。
另外，触摸检测设备30并不限定于设有用作驱动电极的共通电极和检测电极的交互电容方式的触摸检测设备30。例如，作为触摸检测设备30还可以适用仅设有检测电极的自身电容方式的触摸检测设备30。在这样的自身电容方式中，当检测电极TDL从检测电路断开后电连接于电源时，检测电极TDL中储存电荷量。接着，当检测电极TDL从电源断开后电连接于检测电路时，检测从检测电路流出的电荷量。
这里，当手指接触或者接近检测电极TDL时，由于手指带来的电容，检测电极TDL的静电电容发生变化，当检测电极TDL连接于检测电路时，从检测电路流出的电荷量发生变化。因此，通过检测电路测量流出的电荷量，检测检测电极TDL的静电电容的变化，从而，能够判断手指是否接触或者接近检测电极TDL。
如图5以及图6所示，相对基板3具有基板31、滤色层32、检测电极TDL、引线WRT以及保护膜33。基板31具有作为主面的上表面以及在上表面的相反侧的作为主面的下表面。滤色层32设在基板31的作为一个主面的下表面上。检测电极TDL是触摸检测设备30的检测电极，在俯视时，在显示区域Ad的内部，设在基板31的作为另一个主面的上表面上。引线WRT是电连接检测电极TDL和端子部TM(参照图5)的布线，在俯视时，在周边区域As的内部，形成在基板31的作为另一个主面的上表面上。保护膜33以覆盖检测电极TDL以及引线WRT的方式设在基板31的上表面上。
作为检测电极TDL以及引线WRT的材料，可以使用含有金属的金属材料，也可以使用例如氧化铟锡(ITO)、氧化铟锌(IZO)或氧化锡(SnO)等透明导电材料。
如图5所述，设有多个检测电极TDL。多个检测电极TDL在显示区域Ad的内部，在俯视时，分别在X方向上延伸并且在Y轴方向上排列。另外，端子部TM设置在部分的周边区域As，该部分位于以显示区域Ad为中心在沿Y轴方向上的一侧。因此，引线WRT包含沿Y轴方向延伸的延伸部EX1。而且，引线WRT包含延伸部EX1的检测电极TDL侧的端部、以及连接检测电极TDL的连接部CN1。连接部CN1沿例如X轴方向等与延伸部EX1延伸的Y轴方向交叉的方向延伸。连接部CN1的检测电极TDL侧的端部连接于检测电极TDL，连接部CN1的端子部TM侧的端部连接于延伸部EX1的检测电极TDL侧的端部。
在俯视时，连接部CN1的长度比延伸部EX1的长度短，作为连接部CN1的面积与引线WRT的面积的比的面积比率小于作为延伸部EX1的面与引线WRT的面积的比的面积比率。并且，延伸部EX1以及连接部CN1在周边区域As的内部设在基板31的上表面上。因此，多个引线WRT每一个也在周边区域As的内部设在基板31的上表面上。
另外，根据X轴方向上的端子部TM的位置，引线WRT还可以包括连接延伸部EX1和端子部TM的连接部CT1。连接部CT1也在周边区域As的内部设在基板31的上表面上。
作为滤色层32，沿X轴方向排列有例如被着色为红色(R)、绿色(G)以及蓝色(B)的三种颜色的滤色器。从而，如图7所示，形成分别对应于R、G、B三种颜色的颜色区域32R、32G以及32B的多个子像素SPix，由分别对应于一组颜色区域32R、32G以及32B每一个的多个子像素SPix形成一个像素Pix。像素Pix沿扫描线GCL延伸的方向(X轴方向)以及信号线SGL延伸的方向(Y轴方向)排列成矩阵状。并且，矩阵状排列像素Pix的区域例如是上述的显示区域Ad。另外，显示区域Ad的周边还可以设有虚拟区域，该虚拟区域中设有虚拟像素。
滤色层32的颜色组合还可以是包括除了R、G、B之外的其他颜色的多个颜色的组合。并且，也可以不设置滤色层32。或者，还可以是一个像素Pix包括未设置滤色层32的子像素SPix(即白色子像素SPix)。并且，还可以通过COA(阵列上滤色器，ColorfilterOnArray)技術将滤色器设在阵列基板2上。
如图6所示，作为基板的覆盖板4隔着相对基板3设在与阵列基板2的相反侧。即，覆盖板4设置为在显示区域Ad以及周边区域As与相对基板3的上表面相对。作为覆盖板4可以采用例如，玻璃基板或者例如树脂制成的薄膜等各种透明的基板。
另外，如图6所示，可隔着阵列基板2在与相对基板3相反侧设有偏光板25。
在俯视时，沿Y轴方向排列的多个检测电极TDL每一个可以具有由多个导电线形成的网状形状。即，多个检测电极TDL每一个例如可具有两个导电线，在俯视时，这些两个导电线每一个形成为以交替地反方向弯曲的状态整体上沿X轴方向延伸的之字状，并且，在Y轴方向相邻的两个导电线的彼此向反方向弯曲的部分相结合。或者，在俯视时，沿Y轴方向排列的多个检测电极TDL每一个可以形成为以交替反方向弯曲的状态整体上沿X轴方向延伸的之字状。
〈保护膜上的绝缘体部的配置〉
接着，参照图5、图6、图9以及图10，说明保护膜上的绝缘体部的配置。图9和图10是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
如图5、图6以及图9所示，在显示区域Ad中，保护膜33上设有绝缘体部IPd。即，绝缘体部IPd设在保护膜33上，并且，在俯视时，与显示区域Ad重叠。换言之，绝缘体部IPd隔着保护膜33设在基板31的上表面上，并且，在俯视时，与显示区域Ad重叠。
绝缘体部IPd例如包括偏光板34以及树脂35。偏光板34隔着保护膜33设在基板31的上表面上。树脂35设在偏光板34上。覆盖板4设在树脂35上，通过树脂35连结在偏光板34上。另外，在后面详细说明偏光板34的结构。
如图6所示，在俯视时，在周边区域As的内部的、与检测电极TDL的引线WRT重叠的部分，在保护膜33上设有与绝缘体部IPd同层的空间SPs1。即、空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，与引线WRT重叠。空间SPs1的介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数。从而，如后面参照图11的说明那样，在周边区域As中，当手指或输入工具接近覆盖板4时，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
或者，如图9所示，在俯视时，也可在周边区域As的内部的、与检测电极TDL的引线WRT重叠的部分，在保护膜33上设有与绝缘体部IPd同层的绝缘体部IPs，该绝缘体部IPs的介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数。即、绝缘体部IPs可设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内与引线WRT重叠。从而，如后面参照图11说明那样，在周边区域As中，当手指或输入工具接近覆盖板4时，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
另外，在俯视时，绝缘体部IPd可以设在整个显示区域Ad上，在俯视时，也可以设在从整个显示区域Ad到周边区域As的一部分的区域。这时，在俯视时，可以将包括在绝缘体部IPd的偏光板34设在整个显示区域Ad，因此，作为液晶显示装置的带触摸检测功能的显示设备10能够在整个显示区域Ad显示图像。
并且，如图10所示，还可以是绝缘体部IPd包括偏光板34，在偏光板34与覆盖板4之间设有空间SPd。这时，在俯视时，在周边区域As的内部，在保护膜33的上可以设有与空间SPd同层的空间SPs2。即，空间SPs2可以设在空间SPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内与引线WRT重叠。空间SPs2的介电常数与空间SPd的介电常数相同，但是，空间SPs1的介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数。从而，如后面参照图11说明那样，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
另外，如上所述，还可以有作为输入装置适用仅设有检测电极TDL的自身电容方式的触摸检测设备30(参照图8)的例子。这时，输入装置包括基板31、设在基板31的检测电极TDL、设在基板31的引线WRT、设在基板31的上表面上的绝缘体部IPd以及设在绝缘体部IPd的侧方的绝缘体部IPs或者空间SPs1。并且，在输入装置中，与检测电极TDL的静电电容对应的信号通过引线WRT而被检测到，从而检测输入位置。
〈降低周边区域的噪声〉
接着，与比较例1的显示装置对比说明在本实施方式1的显示装置中降低周边区域的噪声的情况。图11是示出比较例1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。
与实施方式1的显示装置相同地，在比较例1的显示装置101的带触摸检测功能的显示设备110中，在俯视时，在显示区域Ad的内部，保护膜33上设有绝缘体部IPd。即、绝缘体部IPd设在保护膜33上，并且，在俯视时，与显示区域Ad重叠。绝缘体部IPd包括设在保护膜33上的偏光板34以及设在偏光板34上的树脂35。
但是，在比较例1的显示装置101的带触摸检测功能的显示设备110中，在俯视时，在周边区域As的内部的与检测电极TDL的引线WRT重叠的部分的保护膜33上与绝缘体部IPd同层形成有绝缘体部IPs100。绝缘体部IPs100包括设在保护膜33上的偏光板34s以及设在偏光板34s上的树脂35s。
偏光板34s形成为与偏光板34同层，并且以与偏光板34的材料相同种类的材料构成。树脂35s形成为与树脂35同层，并且以与树脂35的材料相同种类的材料构成。即，在比较例1中，绝缘体部IPs100以与绝缘体部IPd的材料相同种类的材料构成，绝缘体部IPs100的介电常数并不低于绝缘体部IPd的介电常数。
因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变大。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声容易传递至引线WRT。而且，通过引线WRT从检测电极TDL检测到的信号容易受到噪声的影响，信号强度相对于噪声强度的比(即SN)降低。
另一方面，在实施方式1中，如图9或者图6所示，介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs或者空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，绝缘体部IPs或者空间SPs1与引线WRT重叠的方式配置。绝缘体部IPs的介电常数和空间SPs1的介电常数均低于绝缘体部IPd的介电常数。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT。而且，通过引线WRT从检测电极TDL检测到的信号不易受到噪声的影响，SN比增大，从而能够提高输入装置的检测性能。
而且，在实施方式1中，在俯视时，具有相对高的介电常数的绝缘体部IPd与显示区域Ad重叠设置。因此，在显示区域Ad，当手指或输入工具接近覆盖板4时，检测电极TDL与手指或输入工具之间的静电电容相对变大。因此，能够提高输入装置的检测性能。
如参照图5说明那样，还可以考虑引线WRT包括延伸部EX1以及连接部CN1并且连接部CN1的面积相对于引线WRT的面积的比低于延伸部EX1的面积相对于引线WRT的面积的比的情况。这时，优选为，在俯视时，绝缘体部IPs或者空间SPs1至少与延伸部EX1重叠配置。从而，在俯视时，绝缘体部IPs或者空间SPs1与引线WRT中的具有更大面积比率的延伸部EX1重叠，因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT。
并且，优选地，在俯视时，绝缘体部IPs或者空间SPs1除了延伸部EX1之外，还与连接部CN1重叠配置。从而，在俯视时，与绝缘体部IPs或者空间SPs1仅与延伸部EX1重叠配置的情况相比，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT。
〈背光灯框架的支撑结构〉
接着，参照图12以及图13，说明背光灯框架的支撑结构。图12是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的背光灯框架的支撑结构的截面图。图13是示出背光灯单元以及背光灯框架的结构的分解立体图。另外，在图12，为了便于理解，省略示出驱动电极COML、绝缘膜24、像素电极22以及滤色层32。并且，在图13，省略示出胶带55。
在图12示出的例子中，显示装置1具有带触摸检测功能的显示设备10、背光灯单元51以及背光灯框架52。背光灯框架52、即、背光灯遮光板具有底部53以及设在底部53的外周的框部54。被框部54围绕的区域的内部的底部53上设有背光灯单元51。并且，被框部54围绕的区域的内部的背光灯单元51上通过胶带55设有带触摸检测功能的显示设备10。具体地，带触摸检测功能的显示设备10的偏光板25通过胶带55设在背光灯单元51的上方。
如图13所示，背光灯单元51具有反射板56、导光板57以及发光二极管(LightEmittingDiode：LED)单元58。反射板56上设有导光板57，导光板57的侧方设有LED单元58。LED单元58具有支撑部件58a以及多个LED58b。支撑部件58a与导光板57的侧面相对设置，LED58b分别与导光板57的侧面相对并且沿导光板57的侧面排列的方式安装在支撑部件58a上。
在图12和图13示出的例子中，从LED58b发射的光通过导光板57以及反射板56从导光板57的整个上表面发射出去，入射至带触摸检测功能的显示设备10的偏光板25。入射至偏光板25的光在带触摸检测功能的显示设备10的各子像素SPix透过液晶层6，从而，在俯视时，在显示区域Ad的内部显示图像。
如图12中的两点虚线所示，可以不设置覆盖板4。即、显示装置1可以不包括覆盖板4。如图12所示，还可以考虑如下情况：不设置覆盖板4，背光灯框架52的框部54的上端的高度位置高于保护膜33的上表面的高度位置，并且，空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，空间SPs1与引线WRT重叠配置。这时，空间SPs1是设在绝缘体部IPd与背光灯框架52的框部54之间的槽部TR1。
即使在这种情况下，如果槽部TR1的宽度窄到手指或输入工具无法进入槽部TR1内的程度，则在周边区域As，当手指或输入工具接近相对基板3时，手指或输入工具不会进入槽部TR1内。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近相对基板3时，与未设置作为槽部TR1的空间SPs1时相比，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容变小。因此，在俯视时，在周边区域As，当手指或输入工具接近相对基板3时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT，从检测电极TDL通过引线WRT输出的信号不易受到噪声的影响，信噪比(即SN比)增大。
另外，在显示区域Ad中的由偏光板34构成的绝缘体部IPd的上方以及周边区域As中的槽部TR1的上方也可以设置覆盖板4。覆盖板4可以通过例如未图示的连接部材连接于背光灯框架52。并且，如图9所示，也可以在周边区域As，绝缘体部IPd的侧方设有绝缘体部IPs，以此来代替作为槽部TR1的空间SPs1，并且，在该绝缘体部IPs的上方设置覆盖板4。
〈偏光板〉
接着，参照图14～图16说明偏光板的结构。图14是示出偏光板的一构成例的截面图。在图14示出的例子中，偏光板34包括接合层61、导电层62、覆盖层63、偏光层64以及覆盖层65。另外，在图14示出了偏光板34以及基板31和保护膜33，并且，省略示出检测电极TDL以及引线WRT(参照图6)。
偏光层64是具有偏光功能的层。偏光层64例如由含有聚乙烯醇(Polyvinylalcohol；PVA)作为主成分的绝缘膜构成，通过在该主成分PVA中使例如含有碘的化合物分子吸附取向而形成。
偏光层64的与保护膜33侧相反的一侧面上形成有覆盖层65，该覆盖层65覆盖偏光层64的与保护膜33侧相反的一侧的面。覆盖层65包含例如三醋酸纤维素(Triacetylcellulose；TAC)作为主成分。另外，虽然未图示，覆盖层65上还可以形成有硬涂层。并且，偏光层64的保护膜33侧的一面上形成有覆盖保护膜33侧的一面的覆盖层63。与覆盖层65相同地，覆盖层63包含例如TAC作为主成分。
覆盖层63的保护膜33侧形成有导电层62。导电层62是具有透光性及导电性的层，例如由氧化铟锡(IndiumTinOxide；ITO)、氧化铟锌(IndiumZincOxide；IZO)、氧化锡(SnO)或者有机导电膜等构成。该导电层62对从外部施加的静电传递至液晶层6而扰乱显示的情况加以抑制，或者，抑制降低触摸检测灵敏度。
导电层62的保护膜33侧形成有接合层61。接合层61用于将偏光板34的导电层62接合于保护膜33。
如上所述，偏光板34包括层叠膜66，该层叠膜66中任意顺序层叠有包括由绝缘膜构成的偏光层64和具有导电性的导电层62的多个层。与偏光板34包括对应于导电层62的厚度的另外的绝缘膜的情况相比，当偏光板34包括导电层62时，检测电极TDL与手指或输入工具之间的静电电容变大。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声容易传递至检测电极TDL，从检测电极TDL输出的信号容易受到噪声的影响，信噪比(即SN比)降低。
另一方面，与偏光板34不包括导电层62而只是由绝缘膜构成的情况相比，当偏光板34包括导电层62时，在基板31的面内，噪声的影响容易波及到比手指或输入工具接近的位置更远的位置。这种情况下，在俯视时，一旦偏光板34也配置在周边区域As内，则在周边区域As产生的噪声的影响波及到显示区域Ad。
这样，当偏光板34包括导电层62时，绝缘体部IPd的侧方设有介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs或者空间SPs1，从而，增大在周边区域As难以产生噪声的效果。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以进一步传递至检测电极TDL，由输入装置检测的信号不易受到噪声的影响，能够进一步增大SN比。
即，如图9所示，在周边区域As内，绝缘体部IPd的侧方设有介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs，并且偏光板34包括导电层62时，优选地，绝缘体部IPs不包括偏光板34，即不包括导电层。从而，能够防止或者抑制显示区域Ad的噪声的影响波及到周边区域As。
另外，当绝缘体部由层叠了多个绝缘层和多个导电层的层叠膜构成时，绝缘体部的介电常数是指基于作为多个绝缘层每一个的静电电容的串联合计的全部静电电容确定的平均的介电常数。
图15和图16是示出偏光板的其他构成例的截面图。在图15示出的例子中，没有形成导电层62(参照图14)，覆盖层63与接合层61a接触。并且，在图15示出的例子中，接合层61a中包括导电性颗粒，从而，接合层61a被用作导电层。另一方面，在图16示出的例子中，偏光层64与覆盖层63之间形成有具有导电性的接合层61b，偏光层64与覆盖层65之间形成有具有导电性的接合层61c。从而，接合层61b以及61c被用作导电层。
这时，与图14示出的偏光板34相同地，图15中示出的偏光板34也包括层叠膜66，层叠膜66中按照任意顺序层叠有包括由绝缘膜构成的偏光层64和具有导电性的导电层(即接合层61a)的多个层。并且，与图14示出的偏光板34相同地，图16示出的偏光板34也包括层叠膜66，层叠膜66中按照任意顺序层叠有包括由绝缘膜构成的偏光层64和具有导电性的导电层(即接合层61b以及61c)的多个层。由此，在绝缘体部IPd的侧方设置介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs或者空间SPs1，从而，增大在周边区域As难以产生噪声的效果。
〈保护膜的材料〉
接着，参照图17和图18说明保护膜的材料。图17和图18是示出实施方式1的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
优选地，保护膜33由紫外线(Ultraviolet；UV)固化型材料构成。从而，可以涂覆保护膜33的材料形成涂覆膜之后，向所形成的涂覆膜照射包括紫外线的光，从而，固化涂覆膜，形成保护膜。因此，形成保护膜33时无需进行热处理，因此，能够防止或抑制例如液晶层6等带触摸检测功能的显示设备的各部分因为热处理而劣化。
并且，当保护膜33由紫外线固化型材料构成时，带触摸检测功能的显示设备10具有吸收紫外线的紫外线吸收层71。而且，优选地，紫外线吸收层71设在隔着液晶层6与阵列基板2的相反侧，即，设在液晶层6与保护膜33之间。
形成液晶层6的液晶分子中存在被照射紫外线时分解变质的风险。并且，隔着液晶层6设在阵列基板2侧或者相对基板3侧的取向膜(未图示)也存在被照射时分解变质的风险。因此，紫外线吸收层71设在隔着液晶层6与阵列基板2的相反侧、即液晶层6与保护膜33之间，从而，形成保护膜33时照射的紫外线被紫外线吸收层71吸收，能够防止或抑制紫外线到达液晶层6或者取向膜(未图示)。因此，能够防止或抑制液晶层6或者取向膜(未图示)被照射紫外线而分解变质。
作为这样的紫外线吸收层71，可以采用由作为无机材料的氧化钛(TiO2)或者氧化锌(ZnO)等无机材料构成的透明的膜，或者，由苯并三唑等有机材料构成的透明的膜。
另外，在本申请的说明书中，透明的膜中的“透明”是指可视光的透光率例如在80％以上。
并且，照射紫外线构成的光的光源，优选采用发射单一波长的光、或者单一波长及其周边波长区域的波长的光的LED灯。或者，作为发射紫外线构成的光的光源，优选采用发射长波长区域的波长的光的光源以及、例如，通过滤波器等去除短波长区域的波长的光的光源。
在图17示出的例子中，紫外线吸收层71设在基板31的作为一个主面的上表面上，保护膜33设在紫外线吸收层71上。即，紫外线吸收层71配置在保护膜33的正下方。在图17示出的例子中，作为紫外线吸收层71，也可以设置例如兼具提高保护膜33对基板31的附着性的层。
在图18示出的例子中，紫外线吸收层71设在基板31的作为另一个主面的下表面。在图18示出的例子中，紫外线吸收层71还用作滤色层32，优选地，在俯视时，设置为覆盖配置有液晶层6的整个区域。并且，虽然未图示，紫外线吸收层71还可以作为与滤色层32不同的部件，设在基板31与滤色层32之间，或者，隔着滤色层32在与基板31相反侧且比取向膜(未图示)更靠近基板31侧。
或者，保护膜33由热固化型材料构成。从而，涂覆保护膜33的材料形成涂覆膜之后，对所形成的涂覆膜进行热处，从而可以固化涂覆膜，形成保护膜33。因此，无需形成紫外线固化型材料构成的保护膜，能够降低材料成本。
并且，优选地，保护膜33的绝缘性较高。优选地，保护膜33的薄膜电阻在1×109Ω/□(Ω/square)以上。保护膜33的薄膜电阻低于1×109Ω/□时，覆盖有保护膜33的检测电极TDL之间容易产生短路。另一方面，当保护膜33的薄膜电阻在1×109Ω/□以上时，能够防止或抑制覆盖有保护膜33的检测电极TDL之间产生短路，能够提高输入装置的检测性能。
〈偏光板对保护膜的附着力〉
接着，说明偏光板34对保护膜33的附着力。
优选地，保护膜33对基板31的附着力大于偏光板34对保护膜33的附着力。从而，在基板31上形成保护膜33之后，例如，利用接合层61(参照图14)将偏光板34接合在保护膜33上时，即使偏光板34的位置从期望的位置偏移，也可将偏光板34从保护膜33剥离后再次接合。因此，能够在包括偏光板34的绝缘体部IPd的侧方的精确位置上设置例如，空间SPs1(参照图6)等。因此，在周边区域As(参照图6)，当手指或输入工具接近覆盖板4时，能够使引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
并且，例如，可以通过测量利用胶带将偏光板34从保护膜33剥离时的强度的胶带实验法测量上述的偏光板34对保护膜33的附着力的大小。图19～图21是示出用于说明测量偏光板对保护膜的附着力的大小的方法的图。
首先，准备在阵列基板2和相对基板3相对配置的状态下，在阵列基板2与相对基板3之间填充液晶层6，通过密封部7密封液晶层6之后，在基板31上形成保护膜33，而且在保护膜33上接合偏光板34的结构体，如图19所示。接着，将胶带(未图示)接合在偏光板34的一个端部，通过牵引接合的胶带来从保护膜33剥离偏光板34。
例如，如图20所示，剥离偏光板34时，保护膜33与偏光板34一起被剥离，则保护膜33对基板31的附着力小于偏光板34对保护膜33的附着力。这时，在基板31上形成保护膜33之后，将偏光板34接合于保护膜33上时，如果俯视时的偏光板34的位置从期望的位置偏移，则无法从保护膜33剥离偏光板34后再次接合。
另一方面，如图21所示，在剥离偏光板34时，保护膜33未被剥离，只有偏光板34被剥离，则保护膜33对基板31的附着力大于偏光板34对保护膜33的附着力。这时，在基板31上形成保护膜33之后，将偏光板34接合于保护膜33上时，如果俯视时的偏光板34的位置即使从期望的位置偏移，也可以从保护膜33剥离偏光板34后再次接合。
〈本实施方式的主要的特征及效果〉
在本实施方式1的显示装置中，绝缘体部IPs或者空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，与引线WRT重叠。绝缘体部IPs的介电常数以及空间SPs1的介电常数均低于绝缘体部IPd的介电常数。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，引线WRT与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT，由输入装置检测的信号不易受到噪声的影响，SN比增大。
在本实施方式1中，驱动电极COML沿信号线SGL延伸，检测电极TDL沿扫描线GCL延伸。并且，相对于显示区域Ad，端子部TM设在信号线SGL的延伸方向的一侧，端子部TM和检测电极TDL通过引线WRT电连接。这时，作为检测电极TDL的材料采用金属材料时，周边区域As中的设有引线WRT的区域的比率增加。因此，可特别增大上述的本实施方式1的效果，即在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT，由输入装置检测的信号不易受到噪声的影响，SN比增大的效果。
另外，在本实施方式1中，说明了检测电极TDL、引线WRT以及保护膜33形成在基板31的上表面上的例子。但是，本实施方式1的显示装置1的带触摸检测功能的显示设备10还可以适用于检测电极TDL、引线WRT以及保护膜33形成在基板31的下表面或者基板21的上表面或者下表面的例子。这时，相同地，介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs或者空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，从而，来自手指或输入工具的噪声难以传递至引线WRT。
并且，在本实施方式1中，说明了将具有作为输入装置的触控面板的显示装置适用于显示装置的驱动电极COML兼具输入装置的驱动电极功能的in-cell式的带触摸检测功能的液晶显示装置的例子。另一方面，还可以将具有作为输入装置的触控面板的显示装置适用于分别形成有显示装置的驱动电极COML和输入装置的驱动电极的in-cell式的带触摸检测功能的液晶显示装置(在实施方式2中也同样如此)。或者，还可以将具有作为输入装置的触控面板的显示装置适用于各种显示装置具有单独的输入装置的on-cell式的显示装置(在实施方式2中也同样如此)。
(实施方式2)
在实施方式1中，在俯视时，驱动电极沿信号线延伸，检测电极沿扫描线延伸。相对于此，在实施方式2中，驱动电极沿扫描线延伸，检测电极沿信号线延伸。
本实施方式2的显示装置中的整体构成可以与实施方式1的显示装置中的整体构成相同，因此，省略其说明。
〈组件〉
图22是示出安装有实施方式2的显示装置的组件例子的俯视图。如图22所示，与实施方式1中的带触摸检测功能的显示设备10相同地，实施方式2中的带触摸检测功能的显示设备10包括基板21、基板31、多个驱动电极COML以及多个检测电极TDL。基板31具有作为一个主面的上表面和作为另一个主面的下表面。其中，将在基板31的上表面内或者基板31的下表面内彼此交叉、优选为正交的两个方向定义为X轴方向以及Y轴方向。这时，在俯视时，多个驱动电极COML分别沿X轴方向延伸，且在Y轴方向上排列。并且，在俯视时，多个检测电极TDL分别沿Y轴方向延伸，且向X轴方向排列。
如后面参照图24的说明，在俯视时，多个驱动电极COML每一个设为与在X轴方向排列的多个子像素SPix重叠。即，一个驱动电极COML设为多个子像素SPix的公共电极。
在图22示出的例子中，与实施方式1相同地，Y轴方向的带触摸检测功能的显示设备10的一侧设有端子部TM。端子部TM与多个检测电极TDL每一个之间分别通过引线WRT电连接。端子部TM与布线基板WS电连接，布线基板WS连接于安装在该组件的外部的触摸检测部40(参照图1)。因此，检测电极TDL通过引线WRT、端子部TM以及布线基板WS连接于触摸检测部40。
带触摸检测功能的显示设备10具有驱动电极驱动器14以及COG19。COG19是安装在基板21的芯片，内置有图1示出的控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13等显示动作需要的各电路。并且，驱动电极驱动器14与COG19之间电连接，驱动电极驱动器14与多个驱动电极COML每一个之间电连接。另外，驱动电极驱动器14包括电连接多个驱动电极COML每一个和驱动电极驱动器14的引线WRC。
另外，与实施方式1相同地，在本实施方式2，作为基板21以及基板31可以采用例如玻璃基板或者例如树脂构成的薄膜等各种透明的基板。
〈带触摸检测功能的显示设备〉
图23是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。图24是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的电路图。图23是图22的沿A-A线的截面图。
与实施方式1相同地，在本实施方式2中，带触摸检测功能的显示设备10具有阵列基板2、相对基板3、覆盖板4、液晶层6以及密封部7。相对基板3设置为阵列基板2的作为主面的上表面与相对基板3的作为主面的下表面相对。液晶层6设在阵列基板2与相对基板3之间。
阵列基板2具有基板21。并且，相对基板3具有基板31。
基板31具有作为一个主面的上表面，基板31的上表面包括显示区域Ad以及位于基板31的相对于显示区域Ad的外周侧的区域、即周边区域As。因此，周边区域As是基板31的上表面的区域并且是位于基板31的相对于显示区域Ad的外周侧的区域。或者，显示区域Ad以及周边区域As也可以包括在基板31的作为另一个主面的下表面。
或者，显示区域Ad以及周边区域As也可以包括在基板21的作为一个主面的上表面。这时，基板21具有作为一个主面的上表面，基板21的上表面包括显示区域Ad以及位于基板21的相对于显示区域Ad的外周侧的区域、即周边区域As。因此，周边区域As是基板21的上表面的区域并且位于基板21的相对于显示区域Ad的外周侧的区域。
如图24所示，在显示区域Ad，基板21上形成有多个扫描线GCL、多个信号线SGL以及多个TFT元件Tr。另外，在图23，省略示出扫描线GCL、信号线SGL以及TFT元件Tr。
在本实施方式2，与实施方式1相同地，如图24所示，在显示区域Ad，多个扫描线GCL分别沿X轴方向延伸，且在Y轴方向上排列。在显示区域Ad，多个信号线SGL分别沿Y轴方向延伸，且在X轴方向上排列。而且，在俯视时，在彼此交叉的多个扫描线GCL和多个信号线SGL的交叉点配置有子像素SPix，由多个不同颜色的子像素SPix形成一个像素Pix。TFT元件Tr例如由n沟道型MOS的薄膜晶体管构成。
在本实施方式2，与实施方式1相同地，如图22以及图23所示，阵列基板2具有多个驱动电极COML、引线WRC、绝缘膜24以及多个像素电极22。并且，如图23以及图24所示，在俯视时，在显示区域Ad的内部，多个像素电极22分别形成在沿X轴方向以及Y轴方向矩阵状排列的多个子像素SPix每一个的内部。另外，在本实施方式2中，引线WRC包括在驱动电极驱动器14中。包括引线WRC的驱动电极驱动器14电连接驱动电极COML和COG19。
在图23示出的例子中，与在实施方式1中参照图6说明的情况相同地，多个驱动电极COML每一个形成在基板21与像素电极22之间。并且，如图24中示意性示出，在俯视时，多个驱动电极COML每一个设为与多个像素电极22重叠。而且，多个像素电极22每一个与多个驱动电极COML每一个之间施加电压，在设在多个子像素SPix每一个中的液晶元件LC形成电场，从而在显示区域Ad显示图像。
在本实施方式2中，与实施方式1相同地，由液晶元件LC、多个像素电极22、驱动电极COML、多个扫描线GCL、多个信号线SGL形成控制图像的显示的显示控制部。而且，多个驱动电极COML与像素电极22的配置、液晶层6以及取向膜也可以与实施方式1相同。
在本实施方式2中，与实施方式1相同地，如图24所示，沿X轴方向排列的多个子像素SPix(即液晶显示设备20的属于同一行的多个子像素SPix)通过扫描线GCL彼此连接。扫描线GCL连接于栅极驱动器12(参照图1)，由栅极驱动器12供给扫描信号Vscan(参照图1)。并且，驱动电极COML连接于驱动电极驱动器14(参照图1)，由驱动电极驱动器14供给驱动信号Vcom(参照图1)。
另一方面，在图24示出的例子中，与实施方式1不同，属于同一行的多个子像素SPix共用一个驱动电极COML。在显示区域Ad，多个驱动电极COML分别沿X轴方向延伸，且在Y轴方向上排列。如上所述，在显示区域Ad，多个扫描线GCL分别沿X轴方向延伸，且在Y轴方向上排列，因此，多个驱动电极COML每一个的延伸方向与多个扫描线GCL每一个的延伸方向平行。
如图22所示，COG19设在以显示区域Ad为中心位于Y轴方向的一侧的部分的周边区域As。因此，包括引线WRC的驱动电极驱动器14包括沿Y轴方向延伸的延伸部EX2。包括引线WRC的驱动电极驱动器14包括分别连接延伸部EX2和多个驱动电极COML每一个的多个连接部CN2。连接部CN2在例如X轴方向等与延伸部EX2延伸的Y轴方向交叉的方向上延伸。连接部CN2的驱动电极COML侧的端部连接于驱动电极COML，连接部CN2的COG19侧的端部连接于延伸部EX2的驱动电极COML侧的端部。在周边区域As的内部，延伸部EX2和连接部CN2设在基板21的上表面上。
另外，根据X轴方向的COG19的位置，包括引线WRC的驱动电极驱动器14可以包括连接延伸部EX2和COG19的连接部CT2。连接部CT2也设在基板21的上表面上。
另外，在图22的俯视图和图23的截面图中均未示出在俯视时配置在周边区域As内的、包括引线WRC的驱动电极驱动器14。
利用本实施方式2的显示装置的液晶显示设备20中的栅极驱动器12、源极驱动器13以及驱动电极驱动器14的显示动作可与实施方式1的显示装置的液晶显示设备20中的显示动作相同。
与实施方式1的显示装置1中的驱动电极COML相同地，本实施方式2的显示装置1中的驱动电极COML也是作为液晶显示设备20的驱动电极进行动作，并且，作为触摸检测设备30的驱动电极进行动作。
在本实施方式2中，与实施方式1相同地，触摸检测设备30具有设在阵列基板2的多个驱动电极COML以及设在相对基板3的多个检测电极TDL。在俯视时，多个检测电极TDL分别向与多个驱动电极COML每一个的延伸方向交叉的方向延伸。而且，产生对应于多个驱动电极COML每一个与多个检测电极TDL每一个之间的静电电容的信号，所产生的信号通过包括引线WRC的驱动电极驱动器14以及引线WRT而被检测，从而检测出输入位置。即，由形成有检测电极TDL的基板31(参照图23)这样的电极基板、以及驱动电极COML来形成用于检测输入位置的检测部(即输入装置)。
在实施方式1和本实施方式2中，均通过引线WRC向驱动电极COML供给驱动信号，并通过引线WRT检测检测信号。并且，在实施方式1中，例如，在俯视时，在周边区域As内，空间SPs1(参照图6)与引线WRT重叠配置，因此，能够实现防止噪声进入通过引线WRT检测的检测信号中的效果。另一方面，在本实施方式2中，例如，在俯视时，在周边区域As内，空间SPs1(参照图23)与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠配置，因此，可实现防止噪声进入通过引线WRC供给至驱动电极COML的驱动信号中的效果。
本实施方式2的显示装置的触摸检测设备30中的触摸检测动作也可以与实施方式1的显示装置的触摸检测设备30中的触摸检测动作相同。
如在实施方式1中参照图8说明，在俯视时，彼此交叉的多个驱动电极COML和多个检测电极TDL形成矩阵状排列的静电电容式触摸传感器。因此，对触摸检测设备30的整个触摸检测面进行扫描，能够检测手指等接触或者接近的位置。
并且，与实施方式1的触摸检测设备30相同地，作为本实施方式2的触摸检测设备30可以适用自身电容方式的触摸检测设备30。
在本实施方式2中，与实施方式1相同地，如图22以及图23所示，相对基板3具有基板31、滤色层32、检测电极TDL、引线WRT以及保护膜33。但是，如图22所示，在俯视时，检测电极TDL沿Y轴方向延伸，因此，在图23的截面中，在俯视时，在周边区域As的内部，没有配置引线WRT。
与实施方式1相同地，在本实施方式2中，如图23所示，作为基板的覆盖板4隔着相对基板3设在与阵列基板2的相反侧。即，在显示区域Ad以及周边区域As，覆盖板4设为与相对基板3的上表面相对。
在本实施方式2中，与实施方式1相同地，在俯视时，在X轴方向排列的多个检测电极TDL每一个可以形成为由多个导电线形成的网状，也可以形成为在俯视时以交替地在反方向上弯曲的状态整体沿Y轴方向延伸的之字状。
〈保护膜上的绝缘体部的配置〉
接着，参照图22和图23，说明保护膜上的绝缘体部的配置。
如图22和图23所示，在显示区域Ad，保护膜33上设有绝缘体部IPd。即，绝缘体部IPd设在保护膜33上，并且，在俯视时，与显示区域Ad重叠配置。换言之，绝缘体部IPd隔着保护膜33设在基板31的上表面上，并且，在俯视时，与显示区域Ad重叠配置。
绝缘体部IPd例如包括偏光板34以及树脂35。偏光板34隔着保护膜33设在基板31的作为主面的上表面上。树脂35设在偏光板34上。覆盖板4设在树脂35上，并且，通过树脂35与偏光板34接合。另外，在后面说明偏光板34的结构。
如图23所示，在俯视时，在作为周边区域As的内部的与包括驱动电极COML的引线WRC的驱动电极驱动器14重叠的部分，在保护膜33上设有与绝缘体部IPd同层的空间SPs1。即，空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠配置。空间SPs1的介电常数低于绝缘体部IPd的介电常。从而，如后面参照图25说明那样，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
或者，如在实施方式1中参照图9说明那样，在俯视时，在作为周边区域As的内部的与包括驱动电极COML的引线WRC的驱动电极驱动器14重叠的部分，在保护膜33上设有与绝缘体部IPd同层的绝缘体部IPs，该绝缘体部IPs的介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数。即，绝缘体部IPs可以设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠。这时，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
另外，在本实施方式2中，与实施方式1相同地，在俯视时，绝缘体部IPd可以设在从整个显示区域Ad到周边区域As的一部分的区域。
并且，如在实施方式1中参照图10说明那样，绝缘体部IPd可以包括偏光板34，偏光板34与覆盖板4之间设有空间SPd。而且，空间SPs2可设在空间SPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠。这时，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
〈降低周边区域中的噪声〉
接着，与比较例2对比说明本实施方式2的显示装置中降低周边区域中的噪声的情况。图25是示出比较例2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的截面图。
与实施方式2的显示装置相同地，在俯视时，在比较例2的显示装置101的带触摸检测功能的显示设备110中，在显示区域Ad的内部的保护膜33上设有绝缘体部IPd。即，绝缘体部IPd设在保护膜33上，并且，在俯视时，与显示区域Ad重叠。绝缘体部IPd包括设在保护膜33上的偏光板34以及设在偏光板34上的树脂35。
但是，在比较例2的显示装置101的带触摸检测功能的显示设备110中，在俯视时，在周边区域As的内部，与包括驱动电极COML的引线WRC的驱动电极驱动器14重叠的部分的保护膜33上形成有与绝缘体部IPd同层的绝缘体部IPs100。绝缘体部IPs100包括设在保护膜33上的偏光板34s以及设在偏光板34s上的树脂35s。
偏光板34s形成为与偏光板34同层，并且由与偏光板34的材料相同种类的材料构成。树脂35s形成为与树脂35同层，并且由与树脂35的材料相同种类的材料构成。即，在比较例2中，绝缘体部IPs100由与绝缘体部IPd的材料相同种类的材料构成，绝缘体部IPs100的介电常数不低于绝缘体部IPd的介电常数。
因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变大。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声容易传递至包括引线WRC的驱动电极驱动器14。而且，通过包括引线WRC的驱动电极驱动器14输入驱动电极COML的信号容易受到噪声的影响，降低信号强度对噪声强度的比(即SN比)。
另一方面，在实施方式2中，如图23所示，介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs(参照图9)或者空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，在俯视时，在周边区域As内，绝缘体部IPs或者空间SPs1与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠。绝缘体部IPs的介电常数以及空间SPs1的介电常数均低于绝缘体部IPd的介电常数。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声不易传递至包括引线WRC的驱动电极驱动器14。而且，通过包括引线WRC的驱动电极驱动器14输入驱动电极COML的信号不易受到噪声的影响，SN比增大，能够提高输入装置的检测性能。
而且，在实施方式2中，具有相对高的介电常数的绝缘体部IPd设置为在俯视时与显示区域Ad重叠。因此，在显示区域Ad，当手指或输入工具接近覆盖板4时，检测电极TDL与手指或输入工具之间的静电电容相对变大。因此，能够提高输入装置的检测性能。
并且，优选地，绝缘体部IPs或者空间SPs1配置为在俯视时除了延伸部EX2之外还与连接部CN2重叠。从而，与绝缘体部IPs或者空间SPs1被配置为在俯视时仅与延伸部EX2重叠的情况相比，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声更加难以传递至包括引线WRC的驱动电极驱动器14。
另外，即使是除了引线WRT以及包括引线WRC的驱动电极驱动器14之外的、用于检测输入位置的任何布线配置在周边区域As内时，绝缘体部IPs或者空间SPs1可以配置为在俯视时在周边区域As内与该布线重叠。这时，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声难以传递至该布线。
〈背光灯框架的支撑结构〉
在本实施方式2中，可以适用在实施方式1中参照图12以及图13说明的背光灯框架52的支撑结构。并且，如参照图12说明，还可以由未设置覆盖板4，背光灯框架52的框部54的上端的高度位置高于保护膜33的上表面的高度位置，且空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，空间SPs1配置为俯视时在周边区域As内与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠的情况。这时，空间SPs1是设在绝缘体部IPd与背光灯框架52的框部54之间的槽部TR1。
即使在这种情况下，与实施方式1相同地，在俯视时，在周边区域As，手指或输入工具接近覆盖板4时，与未设置槽部TR1(即空间Sps1)时相比，能够减少包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容。
〈偏光板〉
在本实施方式2中，可以适用在实施方式1中参照图14～图16说明的偏光板的结构。并且，与实施方式1相同地，当偏光板34包括导电层62时，通过在绝缘体部IPd的侧方设置介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs(参照图9)或者空间SPs1，能够增大在周边区域As中难以产生噪声的效果。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，来自手指或输入工具的噪声更加难以传递至驱动电极COML，由输入装置检测的信号更加不易受到噪声的影响，能够进一步增大SN比。
并且，在本实施方式2中，与实施方式1相同地，如图9所示，在周边区域As内，在绝缘体部IPd的侧方设有介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs，并且如图14所示，偏光板34包括导电层62时，优选地，绝缘体部IPs不包括导电层。从而，能够防止或抑制显示区域Ad的噪声的影响波及到周边区域As。
〈保护膜的材料〉
接着，参照图26和图27说明保护膜的材料。图26和图27是示出实施方式2的显示装置中的带触摸检测功能的显示设备的另一例子的截面图。
在本实施方式2中，可以适用在实施方式1中参照图17以及图18说明的保护膜的材料。即，优选地，保护膜33由紫外线固化型材料构成，紫外线吸收层71设在隔着液晶层6的与阵列基板2的相反侧，即液晶层6与保护膜33之间。从而，与实施方式1相同地，在形成保护膜33时无需进行热处理，并且，能够防止或抑制液晶层6或者取向膜(未图示)被照射紫外线而分解变质。
在图26示出的例子中，紫外线吸收层71设在基板31的作为一个主面的上表面上，保护膜33设在紫外线吸收层71上。即、紫外线吸收层71配置在保护膜33的正下方。在图26示出的例子中，作为紫外线吸收层71，例如可以设置兼具提高保护膜33对基板31的紧贴性的功能的层。
在图27示出的例子中，紫外线吸收层71设在基板31的作为另一个主面的下表面。在图27示出的例子中，紫外线吸收层71还用作滤色层32，优选地，设为在俯视时覆盖配置有液晶层6的整个区域。并且，虽然未图示，但是，紫外线吸收层71还可以作为与滤色层32不同的部件，设在基板31与滤色层32之间，或者，设在隔着滤色层32的与基板31的相反侧、相比取向膜(未图示)更靠近基板31侧。
或者，与实施方式1同样地，保护膜33由热固化型材料构成。从而，与实施方式1相同地，无需形成紫外线固化型材料构成的保护膜，能够降低材料成本。
并且，与实施方式1同样地，优选地，保护膜33的薄膜电阻在1×109Ω/□以上。从而，与实施方式1同样地，能够防止或抑制覆盖有保护膜33的检测电极TDL之间产生短路，能够提高输入装置的检测性能。
〈偏光板对保护膜的附着力〉
如在实施方式1中参照图19～图21说明那样，在本实施方式2中，保护膜33对基板31的附着力大于偏光板34对保护膜33的附着力。从而，在基板31上形成保护膜33之后，例如，利用接合层61(参照图14)将偏光板34接合于保护膜33上时，即使在偏光板34的位置从期望的位置偏移时，也可以从保护膜33剥离偏光板34后重新接合。因此，能够将例如空间SPs1(参照图23)等设在包括偏光板34的绝缘体部IPd的侧方的精确的位置。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，能够使包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。
〈本实施方式的主要的特征及效果〉
在本实施方式2的显示装置中，绝缘体部IPs或者空间SPs1设在绝缘体部IPd的侧方，被配置为在俯视时在周边区域As内与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠。绝缘体部IPs的介电常数以及空间SPs1的介电常数均低于绝缘体部IPd的介电常数。因此，在周边区域As，手指或输入工具接近覆盖板时，包括引线WRC的驱动电极驱动器14与手指或输入工具之间的静电电容相对变小。因此，在周边区域As，当手指或输入工具接近覆盖板4时，噪声难以传递至包括引线WRC的驱动电极驱动器14，由输入装置检测的信号不易受到噪声的影响，SN比增大。
即，在本实施方式2的显示装置中，绝缘体部IPs或者空间SPs1被配置为在俯视时在周边区域As内与包括引线WRC的驱动电极驱动器14重叠，因此，可实现防止噪声进入通过引线WRC供给驱动电极COML的驱动信号中的效果。
另外，在本实施方式2中，说明了驱动电极COML以及包括引线WRC的驱动电极驱动器14形成在基板21的上表面上的例子。但是，在本实施方式2的显示装置1的带触摸检测功能的显示设备10还可以适用于驱动电极COML以及包括引线WRC的驱动电极驱动器14形成在基板21的下表面或者基板31的上表面或者下表面的情况。这时，通过在绝缘体部IPd的侧方设置介电常数低于绝缘体部IPd的介电常数的绝缘体部IPs或者空间SPs1，从而，来自手指或输入工具的噪声难以传递至包括引线WRC的驱动电极驱动器14。
在上文中基于实施方式具体说明了本发明人实现的发明，但是本发明并不限定于上述实施方式，在未脱离其宗旨的范围内，可以进行各种变更。
并且，在上述的实施方式中，作为一种示例示出了液晶显示装置的例子，作为其他适用例，也可以是有机EL显示装置、其他自发光型显示装置、或者具有电泳元件等的电子纸式显示装置等所有平板式显示装置。并且，不用说，从中小型到大型均可适用，并没有特别限制。
在本发明的思想范畴内，本领域技术人员可以想到各种变更例及修改例，这些变更例及修改例也应该属于本发明的范围内。
例如，对于上述的各实施方式，本领域技术人员适当地进行要素的添加、删除或者变更设计时，或者进行步骤的增加、省略或者变更条件时，只要具有本发明的宗旨，均包括在本发明中。
工业实用性
本发明可有效适用于显示装置以及输入装置。
符号说明
1显示装置
2阵列基板
3相对基板
4覆盖板
6液晶层
7密封部
10带触摸检测功能的显示设备
11控制部
12栅极驱动器
13源极驱动器
14驱动电极驱动器
19COG
20液晶显示设备(显示设备)
21基板
22像素电极
24绝缘膜
25偏光板
30触摸检测设备
31基板
32滤色层
32B、32G、32R颜色区域
33保护膜
34、34s偏光板
35、35s树脂
40触摸检测部
42触摸检测信号放大部
43A/D转换部
44信号处理部
45坐标提取部
46检测时机控制部
51背光灯单元
52背光灯框架
53底部
54框部
55胶带
56反射板
57导光板
58发光二极管单元(LED单元)
58a支撑部件
58bLED
61、61a～61c接合层
62导电层
63、65覆盖层
64偏光层
66层叠膜
71紫外线吸收层
Ad显示区域
As周边区域
C1电容元件
C2静电电容
CN1、CN2、CT1、CT2连接部
COML驱动电极
D电介质
DET电压检测器
E1驱动电极
E2检测电极
EX1、EX2延伸部
GCL扫描线
IPd、IPs绝缘体部
LC液晶元件
Pix像素
Reset期间
S交流信号源
Scan扫描方向
Sg交流矩形波
SGL信号线
SPd、SPs1、SPs2空间
SPix子像素
TDL检测电极
TM端子部
TrTFT元件
TR1槽部
Vcom驱动信号
Vdet检测信号
Vdisp映像信号
Vout信号输出
Vpix像素信号
Vscan扫描信号
Vsig图像信号
WRC、WRT引线
WS布线基板

Claims (21)

1.一种显示装置，其包括：
第一基板；
与所述第一基板相对的第二基板；
设在所述第一基板上的多个像素；
设在所述第一基板或者所述第二基板上的第一布线；
设在所述第二基板的第一主面上的第一绝缘体部；以及
设在所述第一绝缘体部的侧方的第二绝缘体部或者空间，
其中，所述第二绝缘体部的介电常数低于所述第一绝缘体部的介电常数，
在俯视时，所述多个像素配置在所述第二基板的所述第一主面的第一区域内，
在俯视时，所述第一布线配置于第二区域内，所述第二区域是所述第二基板的所述第一主面的区域并且是位于所述第二基板的相对于所述第一区域的外周侧的区域，
所述第一绝缘体部被配置成在俯视时与所述第一区域重叠，
所述第二绝缘体部或者所述空间被配置成在俯视时在所述第二区域内与所述第一布线重叠，
信号通过所述第一布线而被检测，从而检测输入位置。
2.根据权利要求1所述的显示装置，还包括：
设在所述第二基板上的第一电极，
在俯视时，所述第一电极配置在所述第一区域内，
所述第一布线设在所述第二基板上并且与所述第一电极电连接，
通过检测对应于所述第一电极的静电电容的所述信号来检测所述输入位置。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中，
在所述第一区域以及所述第二区域，所述第二基板的所述第一主面上具有覆盖所述第一电极以及所述第一布线的保护膜，
所述第二基板的在所述第一主面的相反侧的第二主面与所述第一基板相对，
所述第一绝缘体部以及所述第二绝缘体部设在所述第二基板的所述第一主面上并且所述第一绝缘体部以及所述第二绝缘体部与所述第二基板之间隔着所述保护膜。
4.根据权利要求3所述的显示装置，还包括：
第三基板，以与所述第二基板的所述第一主面相对的方式设在所述第一区域以及所述第二区域。
5.根据权利要求3所述的显示装置，其中，
所述第一绝缘体部包括偏光板，所述偏光板隔着所述保护膜设在所述第二基板的所述第一主面上。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，
所述偏光板由层叠膜构成，在所述层叠膜中以任意顺序层叠有包括绝缘膜构成的偏光层和具有导电性的导电层的多个层。
7.根据权利要求5所述的显示装置，还包括：
第三基板，以与所述第二基板的所述第一主面相对的方式设在所述第一区域以及所述第二区域，
所述第一绝缘体部包括设在所述偏光板上的绝缘性树脂，
所述第三基板通过所述树脂接合于所述偏光板。
8.根据权利要求2所述的显示装置，还包括：
多个扫描线，在俯视时，分别沿第一方向延伸并且在与所述第一方向交叉的第二方向上排列；以及
多个信号线，在俯视时，分别沿所述第二方向延伸并且在所述第一方向上排列，
其中，所述第一电极沿所述第一方向延伸。
9.根据权利要求5所述的显示装置，其中，
所述保护膜对所述第二基板的附着力大于所述偏光板对所述保护膜的附着力。
10.根据权利要求3所述的显示装置，还包括：
夹在所述第一基板与所述第二基板之间的液晶层；以及
设在所述液晶层与所述保护膜之间的、吸收紫外线的紫外线吸收层，
其中，所述保护膜由紫外线固化型材料构成。
11.根据权利要求3所述的显示装置，还包括：
夹在所述第一基板与所述第二基板之间的液晶层，
其中，所述保护膜由热固化型材料构成。
12.根据权利要求3所述的显示装置，其中，
所述保护膜的薄膜电阻为1×109Ω/□以上。
13.根据权利要求1所述的显示装置，还包括：
设在所述第一基板上的第一电极，
其中，在俯视时，所述第一电极配置在所述第一区域内，
所述第一布线设在所述第一基板上并且与所述第一电极电连接。
14.根据权利要求13所述的显示装置，还包括：
设在所述第二基板上的第二电极；以及
设在所述第二基板上的第二布线，
其中，在俯视时，所述第二电极配置在所述第一区域内，
在俯视时，所述第二布线配置在所述第二区域内，
通过检测对应于所述第一电极与所述第二电极的静电电容的所述信号来检测所述输入位置。
15.根据权利要求14所述的显示装置，还包括：
保护膜，在所述第一区域以及所述第二区域，所述保护膜以覆盖所述第二电极以及所述第二布线的方式设在所述第二基板的所述第一主面上，
其中，所述第二基板的在与所述第一主面的相反侧的第二主面与所述第一基板相对，
所述第一绝缘体部以及所述第二绝缘体部设在所述第二基板的所述第一主面上并且所述第一绝缘体部以及所述第二绝缘体部与所述第二基板之间隔着所述保护膜。
16.根据权利要求15所述的显示装置，还包括：
第三基板，以与所述第二基板的所述第一主面相对方式设在所述第一区域以及所述第二区域。
17.根据权利要求15所述的显示装置，其中，
所述第一绝缘体部包括偏光板，所述偏光板隔着所述保护膜设在所述第二基板的所述第一主面上。
18.根据权利要求17所述的显示装置，其中，
所述偏光板由层叠膜构成，在所述层叠膜中以任意顺序层叠有包括绝缘膜构成的偏光层和具有导电性的导电层的多个层。
19.根据权利要求17所述的显示装置，还包括：
第三基板，以与所述第二基板的所述第一主面相对的方式设在所述第一区域以及所述第二区域，
其中，所述第一绝缘体部包括设在所述偏光板上的树脂，
所述第三基板通过所述树脂接合于所述偏光板。
20.根据权利要求13所述的显示装置，还包括：
多个扫描线，在俯视时，分别沿第一方向延伸并且在与所述第一方向交叉的第二方向上排列；以及
多个信号线，在俯视时，分别沿所述第二方向延伸并且在所述第一方向上排列，
其中，所述第一电极沿所述第一方向延伸。
21.一种输入装置，其包括：
第一基板；
设在所述第一基板上的第一电极；
设在所述第一基板上的第一布线；
设在所述第一基板的第一主面上的第一绝缘体部；以及
设在所述第一绝缘体部的侧方的第二绝缘体部或者空间，
其中，所述第一布线与所述第一电极电连接，
所述第二绝缘体部的介电常数低于所述第一绝缘体部的介电常数，
在俯视时，所述第一电极配置在所述第一基板的所述第一主面的第一区域内，
在俯视时，所述第一布线配置在第二区域内，所述第二区域是所述第一基板的所述第一主面的区域并且是位于所述第一基板的相对于所述第一区域的外周侧的区域，
所述第一绝缘体部被配置成在俯视时与所述第一区域重叠，
所述第二绝缘体部或者所述空间被配置成在俯视时在所述第二区域内与所述第一布线重叠，
对应于所述第一电极的静电电容的信号通过所述第一布线而被检测，从而检测输入位置。
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