CN105202989B - 一种互为基准的结构件位置度测量工具及测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种互为基准的结构件位置度测量工具及测量方法,测量工具由起吊环、吊梁、4 个定位器组成，在吊梁的中间设置起吊环，在吊梁的左侧设置定位器Ⅰ和定位器Ⅱ；在吊梁的右侧设置定位器Ⅲ和定位器Ⅳ，其中定位器Ⅰ为一块平面挡板，定位器Ⅱ和定位器Ⅲ为“凹”字型结构，各工作面均为平面，定位器Ⅳ为圆锥形结构，包括一个球头,工作面为球面。测量工具以被测工件自身某端面作为基准，用千分片测量4 个定位器工作面与被测工件之间的间隙来判断结构件的距离、平面度和对称度等位置度的正确性。

Description

一种互为基准的结构件位置度测量工具及测量方法

技术领域

本发明涉及一种互为基准的结构件位置度测量工具及测量方法，属于测绘技术领域。

背景技术

一般而言，互为基准的结构件位置度主要包括长度、平面度、对称度等，如图1中被测工件Ⅰ和被测工件Ⅱ的位置度用常用的计量器具无法全部完成测量。目前该结构产品的测量是采用柔性三坐标测量臂来完成的，测量的准备周期长，测量周期长，对工人的技术要求高，测量基准的选取困难，而且传递环节较多，影响产品的测量精度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种互为基准的结构件位置度测量工具及测量方法，以降低劳动强度，提高生产效率，提高测量精度，保证产品质量，降低操作难度。

为了实现上述目的，本发明采用下述技术方案来实现。一种互为基准的结构件位置度测量工具, 其特征是由起吊环、吊梁、4 个定位器组成，在吊梁的中间设置起吊环，在吊梁的左侧设置定位器Ⅰ和定位器Ⅱ；在吊梁的右侧设置定位器Ⅲ和定位器Ⅳ，其中定位器Ⅰ为一块平面挡板，用来定位测量工具与被测工件的相对位置，定位器Ⅱ和定位器Ⅲ为“凹”字型结构，各工作面均为平面，用以测量被测工件Ⅰ和被测工件Ⅱ的平面度，定位器Ⅳ为圆锥形结构，包括一个球头, 工作面为球面，用以测量被测工件Ⅰ和被测工件Ⅱ的距离。

测量工具以被测工件自身某端面作为基准，用千分片测量4 个定位器工作面与被测工件之间的间隙来判断结构件的距离、平面度和对称度等位置度的正确性。

一种互为基准的结构件位置测量方法，其特征在于：利用上述的测量工具，具体测量步骤为：

（1）.将测量工具通过起吊环吊起，打开定位器Ⅳ，将测量工具吊入被测工件中，使定位器Ⅰ挡板与被测工件Ⅰ右前端面、被测工件Ⅰ左前端面贴合；

（2）.放下测量工具，定位器Ⅱ上工作面落在被测工件Ⅰ右上表面、被测工件Ⅰ左上表面上、定位器Ⅲ的上工作面落在被测工件Ⅱ右上表面、被测工件Ⅱ左上表面上，闭合定位器Ⅳ，插上定位销；

（3）.测量定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ右后端面的间隙、定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ左后端面的间隙，根据定位器Ⅳ球头与定位器Ⅰ挡板的理论距离，判定被测工件Ⅰ与被测工件Ⅱ的距离；

（4）.通过定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ右后端面的间隙、定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ左后端面的间隙的差值，判定被测工件Ⅱ的平行度；

（5）.测量定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右侧面的间隙、定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左侧面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙，判定被测工件Ⅰ和被测工件Ⅱ的对称度；

（6）.测量定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右下齿面的间隙、定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左下齿面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙，判定被测工件Ⅰ右下齿面、被测工件Ⅰ左下齿面、被测工件Ⅱ右下齿面、被测工件Ⅱ左下齿面的平面度。

本发明不仅能解决目前测量工具和测量方法的不足之处，而且能够真实、高效的反应出被测工件的正确状态。

附图说明

图1 是互为基准的结构件示意图；

图2 是互为基准的结构件A 向视图；

图3 是互为基准的结构件的B 向视图；

图4 是本发明的测量工具立体图；

图5 是测量工具的前视图；

图6 是测量工具的A-A 剖视图；

图7 是测量工具的B-B 剖视图；

图8 是测量工具测量各间隙示意图；

图中：A1—被测工件Ⅰ右前端面；A2--被测工件Ⅰ左前端面；A3--被测工件Ⅱ右后端面；A4--被测工件Ⅱ左后端面；B1--被测工件Ⅰ右上表面；B2--被测工件Ⅰ左上表面；B3--被测工件Ⅱ右上表面；B4--被测工件Ⅱ左上表面；C1--被测工件Ⅰ右下齿面；C2--被测工件Ⅰ左下齿面；C3--被测工件Ⅱ右下齿面；C4--被测工件Ⅱ左下齿面；D1--被测工件Ⅰ右侧面；D2--被测工件Ⅰ左侧面；D3--被测工件Ⅱ右下齿面；D4--被测工件Ⅱ左下齿面；1-- 起吊环；2--吊梁；3--定位器Ⅰ；4--定位器Ⅱ；5--定位器Ⅲ；6--定位器Ⅳ（活动）；7—定位销；8--被测工件Ⅰ；9--被测工件Ⅱ；L1--定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右下齿面的间隙；L2--定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左下齿面的间隙；L3--定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右侧面的间隙；L4--定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左侧面的间隙；L5--定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙；L6--定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙；L7--定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙；L8--定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙；L9--定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ右后端面的间隙；L10--定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ左后端面的间隙。

具体实施方式

下面结合附图和实施例进一步阐明本发明。

如图4 和图5 所示，该测量工具由起吊环1、吊梁2、定位器Ⅰ3、定位器Ⅱ4、定位器Ⅲ5、定位器Ⅳ6组成，在吊梁2的中间设置起吊环1，在吊梁2的左侧设置定位器Ⅰ3和定位器Ⅱ4；在吊梁2的右侧设置定位器Ⅲ5和定位器Ⅳ6，其中定位器Ⅰ3为一块平面挡板，用来定位测量工具与被测工件（被测工件Ⅰ8和被测工件Ⅱ9）的相对位置，定位器Ⅱ4和定位器Ⅲ5为“凹”字型结构，各工作面均为平面，用以测量被测工件Ⅰ8和被测工件Ⅱ9的平面度，定位器Ⅳ6为圆锥形结构，包括一个球头，工作面为球面，用以测量被测工件Ⅰ8和被测工件Ⅱ9的距离。

如图1 至8 所示，测量方法如下：

（1）.将测量工具通过起吊环1吊起，打开定位器Ⅳ6，将测量工具吊入被测工件（被测工件Ⅰ8和被测工件Ⅱ9）中，使定位器Ⅰ3的挡板与被测工件Ⅰ右前端面A1、被测工件Ⅰ左前端面A2贴合；

（2）.放下测量工具，定位器Ⅱ4上工作面落在被测工件Ⅰ右上表面B1、被测工件Ⅰ左上表面B2 上、定位器Ⅲ5的上工作面落在被测工件Ⅱ右上表面B3、被测工件Ⅱ左上表面B4上，闭合定位器Ⅳ6，插上定位销7；

（3）.测量定位器Ⅳ6球头与被测工件Ⅱ右后端面A3的间隙L9、定位器Ⅳ6球头与被测工件Ⅱ左后端面A4的间隙L10，根据定位器Ⅳ6球头与定位器Ⅰ3挡板的理论距离，判定被测工件Ⅰ8与被测工件Ⅱ9的距离；

（4）.通过定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ右后端面的间隙L9、定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ左后端面的间隙L10 的差值，判定被测工件Ⅱ9 的平行度；

（5）.测量定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右侧面D1的间隙L3、定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左侧面D2的间隙L4、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面D4的间隙L7、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面D3的间隙L8，判定被测工件Ⅰ8和被测工件Ⅱ9的对称度；

（6）.测量定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右下齿面的间隙L1、定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左下齿面的间隙L2、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙L5、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙L6，判定被测工件Ⅰ右下齿面C1、被测工件Ⅰ左下齿面C2、被测工件Ⅱ右下齿面C3、被测工件Ⅱ左下齿面C4的平面度。

Claims (2)

1.一种互为基准的结构件位置度测量工具, 其特征是由起吊环、吊梁、4 个定位器组成，在吊梁的中间设置起吊环，在吊梁的左侧设置定位器Ⅰ和定位器Ⅱ；在吊梁的右侧设置定位器Ⅲ和定位器Ⅳ，其中定位器Ⅰ为一块平面挡板，定位器Ⅱ 和定位器Ⅲ为“凹”字型结构，各工作面均为平面，定位器Ⅳ为圆锥形结构，包括一个球头, 工作面为球面。

2.一种互为基准的结构件位置测量方法，其特征在于：利用权利要求1 所述的测量工具，具体测量步骤为：

（1). 将测量工具通过起吊环吊起，打开定位器Ⅳ，将测量工具吊入被测工件中，使定位器Ⅰ挡板与被测工件Ⅰ右前端面、被测工件Ⅰ左前端面贴合；

（2). 放下测量工具，定位器Ⅱ上工作面落在被测工件Ⅰ右上表面、被测工件Ⅰ左上表面上、定位器Ⅲ的上工作面落在被测工件Ⅱ右上表面、被测工件Ⅱ左上表面上，闭合定位器Ⅳ，插上定位销；

（3). 测量定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ右后端面的间隙、定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ左后端面的间隙，根据定位器Ⅳ球头与定位器Ⅰ挡板的理论距离，判定被测工件Ⅰ与被测工件Ⅱ的距离；

（4). 通过定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ右后端面的间隙、定位器Ⅳ球头与被测工件Ⅱ左后端面的间隙的差值，判定被测工件Ⅱ的平行度；

（5). 测量定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右侧面的间隙、定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左侧面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙，判定被测工件Ⅰ和被测工件Ⅱ的对称度；

（6). 测量定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ右下齿面的间隙、定位器Ⅱ与被测工件Ⅰ左下齿面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ左下齿面的间隙、定位器Ⅲ与被测工件Ⅱ右下齿面的间隙，判定被测工件Ⅰ右下齿面、被测工件Ⅰ左下齿面、被测工件Ⅱ右下齿面、被测工件Ⅱ左下齿面的平面度。