CN105044118A - 一种aoi光源 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种AOI光源，包括非同轴光源和同轴光源，同轴光源设置于非同轴光源与相机之间，同轴光源沿相机拍摄方向设有第一通孔，非同轴光源沿相机拍摄方向设有第二通孔，第一通孔与第二通孔同心设置。本发明可以真实地拍摄出锡膏、元器件等漫反射物体；同轴光源发出同轴光，由于同轴光源是漫反射光源，发出的光没有指向性且亮度较低，可以使得相机清楚拍摄出铜箔等镜面反射物体以及高亮度物体的图片。在检测时，待检测物体放置于拍摄有效区域内，通过非同轴光源和同轴光源的配合使用，相机透过第一通孔和第二通孔可以真实地拍摄出具有漫反射、镜面反射或高亮度特点的待检测物体，使检测结果更加可靠，提高出厂产品的良率。

Description

一种AOI光源

技术领域

本发明涉及AOI检测技术领域，尤其涉及一种AOI光源。

背景技术

AOI(AutomaticOpticInspection)的全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。AOI是新兴起的一种新型测试技术，但发展迅速，很多厂家都推出了AOI测试设备。当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描待测产品，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出待测产品的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。

现有AOI光源包括两类，一类是只含有红绿蓝多层环形光的光源，该类光源为没有同轴光的光源，如果产品比如元件、铜箔等存在镜面反射，那么相机拍摄得到的图像就是黑色的；另一类是同轴光源，会使PCB板以及元器件失真，使得反光区域杂乱无章，对测量产生影响。

发明内容

本发明提供一种AOI光源，可以真实地拍摄出具有漫反射、镜面反射或高亮度特点的待检测物体，使检测结果更加可靠，提高出厂产品的良率。

本发明采用以下技术方案：

第一方面，本发明提供一种AOI光源，包括非同轴光源和同轴光源，所述同轴光源设置于所述非同轴光源与相机之间，所述同轴光源沿相机拍摄方向设有第一通孔，所述非同轴光源沿相机拍摄方向设有第二通孔，所述第二通孔大于第一通孔且与第一通孔同心设置。

进一步地，所述同轴光源包括依次层叠设置的遮光板、导光介质和匀光板，所述匀光板邻近所述非同轴光源的顶端，所述导光介质的侧壁上贴附有第一LED光源。

进一步地，所述第一LED光源包括红色LED灯、绿色LED灯和蓝色LED灯，所述红色LED灯、绿色LED灯和蓝色LED灯间隔设置。

进一步地，所述同轴光源沿相机拍摄方向的投影为正方形，所述第一LED光源分别设置于所述导光介质的四个侧壁上，且发光方向朝向所述侧壁。

进一步地，所述非同轴光源包括灯罩及第二LED光源，所述灯罩沿相机拍摄方向的投影为圆形，沿相机拍摄方向的截面为抛物线形，所述第二LED光源包括红色LED光源环、绿色LED光源环和蓝色LED光源环。

进一步地，所述红色LED光源环、绿色LED光源环和蓝色LED光源环从所述灯罩的顶端至开口端依次排布。

本发明提供的技术方案带来如下有益效果：

AOI光源中的非同轴光源发出非同轴光，可以真实地拍摄出锡膏、元器件等漫反射物体；同轴光源发出同轴光，由于同轴光源是漫反射光源，发出的光没有指向性且亮度较低，可以使得相机清楚拍摄出铜箔等镜面反射物体以及高亮度物体的图片。在检测时，待检测物体放置于拍摄有效区域内，通过非同轴光源和同轴光源的配合使用，相机透过第一通孔和第二通孔可以真实地拍摄出具有漫反射、镜面反射或高亮度特点的待检测物体，使检测结果更加可靠，提高出厂产品的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。

图1是本发明提供的AOI光源的结构示意图。

图2是本发明提供的同轴光源的沿拍照方向的截面示意图。

图3是本发明提供的同轴光源沿拍照方向的俯视图。

图4是本发明提供的非同轴光源从开口端向顶端的仰视图。

具体实施方式

为使本发明解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面将结合附图对本发明的技术方案作进一步的详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是本发明提供的AOI光源的结构示意图。参考图1所示，该AOI光源，包括非同轴光源10和同轴光源20，所述同轴光源20设置于所述非同轴光源10与相机之间，所述同轴光源20沿相机30拍摄方向X设有第一通孔200，所述非同轴光源10沿相机30拍摄方向X设有第二通孔100，第二通孔100大于第一通孔200且与第一通孔200同心设置。

该AOI光源中的非同轴光源10发出非同轴光，可以真实地拍摄出锡膏、元器件等漫反射物体；同轴光源20发出同轴光，由于同轴光源20是漫反射光源，发出的光没有指向性且亮度较低，可以使得相机30清楚拍摄出铜箔等镜面反射物体以及高亮度物体的图片。在检测时，待检测物体40放置于拍摄有效区域50内，同轴光源20发出的光通过第二通孔100照射到待检测物体40上，通过非同轴光源10和同轴光源20的配合使用，相机30透过第一通孔200和第二通孔100可以真实地拍摄出具有漫反射、镜面反射或高亮度特点的待检测物体40，使检测结果更加可靠，提高出厂产品的良率。

图2是本发明提供的同轴光源的沿拍照方向的截面示意图。结合图2所示，本实施例中，同轴光源20包括依次层叠设置的遮光板201、导光介质202和匀光板203，该匀光板203邻近非同轴光源10的顶端，导光介质202的侧壁上贴附有第一LED光源204。遮光板201、导光介质202和匀光板203均开设有第一通孔200。遮光板201防止光线直接进入相机30影响拍照，匀光板203可以使得光线均匀地照射到电路板上。此外，为了进一步提高出光效率，所述遮光板201可优选为反光板。

图3是本发明提供的同轴光源沿拍照方向的俯视图。结合图3所示，本实施例中，同轴光源20沿相机30拍摄方向X的投影为正方形，第一LED光源204分别设置于导光介质202的四个侧壁上，且发光方向朝向所述侧壁。导光介质202使得光线分布更加均匀，有利于提升相机30的拍照效果。当然，在其他一些实施例中，第一LED光源204也可以只设置于导光介质202的一相对侧壁上，并且同轴光源20的投影形状也可以为圆形，长方形或其他形状，此处仅作为个体实例，并不作为对本发明的限制。

具体地，本实施例中，第一LED光源204包括红色LED灯、绿色LED灯和蓝色LED灯，所述红色LED灯、绿色LED灯和蓝色LED灯间隔设置(图中未示出)。由于不同色光中缺陷可以被突出，比如在红色光中待检测物体40表面缺陷比较清晰，明黄色光中待检测物体40深层缺陷比较清晰，深蓝色光中待检测物体40色彩差异比较清晰，因此通过第一LED光源204的三种LED灯利用RDB三色光组合原理可以配合形成多种色光，在待检测物体40不移动的情况下判断多种缺陷。

图4是本发明提供的非同轴光源从开口端向顶端的仰视图。结合图1、图4所示，非同轴光源10包括灯罩101及第二LED光源102，该灯罩101沿相机拍摄方向X的投影为圆形，沿相机拍摄方向X的切面为抛物线形，第二LED光源102包括红色LED光源环1020、绿色LED光源环1021和蓝色LED光源环1022，红色LED光源环1020、绿色LED光源环1021和蓝色LED光源环1022从灯罩101的顶端至开口端依次排布。由于不同色光中缺陷可以被突出，比如在红色光中待检测物体40表面缺陷比较清晰，明黄色光中待检测物体40深层缺陷比较清晰，深蓝色光中待检测物体40色彩差异比较清晰，因此通过第二LED光源102的三种LED灯利用RDB三色光组合原理可以配合形成多种色光，在待检测物体40不移动的情况下判断多种缺陷。

以上内容仅为本发明的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (6)

1.一种AOI光源，其特征在于，包括非同轴光源和同轴光源，所述同轴光源设置于所述非同轴光源与相机之间，所述同轴光源沿相机拍摄方向设有第一通孔，所述非同轴光源沿相机拍摄方向设有第二通孔，所述第二通孔大于第一通孔且与第一通孔同心设置。

2.根据权利要求1所述的AOI光源，其特征在于，所述同轴光源包括依次层叠设置的遮光板、导光介质和匀光板，所述匀光板邻近所述非同轴光源的顶端，所述导光介质的侧壁上贴附有第一LED光源。

3.根据权利要求2所述的AOI光源，其特征在于，所述第一LED光源包括红色LED灯、绿色LED灯和蓝色LED灯，所述红色LED灯、绿色LED灯和蓝色LED灯间隔设置。

4.根据权利要求3所述的AOI光源，其特征在于，所述同轴光源沿相机拍摄方向的投影为正方形，所述第一LED光源分别设置于所述导光介质的四个侧壁上，且发光方向朝向所述侧壁。

5.根据权利要求1所述的AOI光源，其特征在于，所述非同轴光源包括灯罩及第二LED光源，所述灯罩沿相机拍摄方向的投影为圆形，沿相机拍摄方向的截面为抛物线形，所述第二LED光源包括红色LED光源环、绿色LED光源环和蓝色LED光源环。

6.根据权利要求5所述的AOI光源，其特征在于，所述红色LED光源环、绿色LED光源环和蓝色LED光源环从所述灯罩的顶端至开口端依次排布。