CN104992650B - Mipi信号自动测试方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种MIPI信号自动测试方法和装置，其方法包括1)从上层接收MIPI信号的各个参数；2)接收MIPI信号，将MIPI信号分解为HS信号和LP信号；3)将LP信号进行AD转换并与LP电平基准参数相比较，将比较结果产生报告；4)根据LP信号产生LPDT数据和时钟，与LPDT传输基准参数相比较，将比较结果产生报告；5)将HS信号进行AD转换为数字的采样数据，并与HS电平基准参数，将比较结果产生报告；6)根据MIPI信号的配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据；7)用MIPI工作时钟接收和采集MIPI解包数据，将传输时序信息和包头数据与MIPI DSI传输时序基准参数相比较，将比较结果产生报告。
Description
技术领域
本发明涉及MIPI液晶模组的显示和测试领域，具体地指一种MIPI信号自动测试方法和装置。
背景技术
在MIPI(Mobile Industry Processor Interface，移动通信行业处理器接口)液晶模组使用客户和生产厂商在进行产品生产和检测时，经常需要检测MIPI信号是否符合MIPI DSI、DPHY协议规范。一般的图像信号源或视频转板往往不具备此功能，而在实验室检测MIPI信号往往用示波器来查看信号。但在生产中则无法这样做，因为MIPI信号速率高(可达1Gpbs)，能对此进行查看的示波器往往都是高端示波器，价格昂贵；另外MIPI信号较复杂，有HS(High Speed，高速)状态、LP(Low Power，低功耗)状态，还要满足HS-LP之间的切换时序和各自的传输时序，用示波器查看往往操作复杂、耗时过长、非普通操作人员能胜任。
为此，需要有一种自动测试设备能快速分析出MIPI信号是否符合MIPI DSI和DPHY协议规范，且操作简单、成本较低，能用于MIPI产品的生产过程中。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明的目的是提供一种能对MIPI信号的HS和LP的电气特性和传输时序特性进行测试，并产生相应测试报告的MIPI信号自动测试方法和装置。
为实现上述目的，本发明所设计的一种MIPI信号自动测试方法，其特殊之处在于，包括如下步骤：
1)从上层接收MIPI信号的配置参数、HS电平基准参数、LP电平基准参数、MIPILPDT传输基准参数、MIPI DSI传输时序基准参数；
2)接收MIPI信号，将MIPI信号分解为HS信号和LP信号；
3)对所述LP信号进行采样，将LP信号进行AD转换为数字的采样数据，并与所述LP电平基准参数相比较，判断是否符合MIPI DPHY协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示；
4)对LP信号进行恢复操作，产生LPDT数据和时钟，并与所述LPDT传输基准参数相比较，判断是否符合MIPI DPHY协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示；
5)对所述HS信号进行采样，将HS信号中的时钟LANE信号和各个数据LANE信号进行AD转换为数字的采样数据，并与所述HS电平基准参数相比较，判断是否符合MIPI DPHY协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示；
6)将所述LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号，并根据所述MIPI信号的配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，对数据进行还原和解包，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据；
7)用所述MIPI工作时钟接收和采集MIPI解包数据，将传输时序信息和包头数据与所述MIPI DSI传输时序基准参数相比较，判断是否符合MIPI DSI协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示。
优选地，所述步骤6)中将所述LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号之前还包括分别将HS信号、LP信号进行整形的步骤。分别对HS信号和LP信号进行整形，以产生较好质量的信号供后续模块操作。
优选地，所述MIPI信号的配置参数包括MIPI传输方式为BURST模式或者NONBURST模式、数据RGB位宽。
一种实现上述MIPI信号自动测试方法的装置，其特殊之处在于，包括上层接口模块、输入MIPI电平转换模块、MIPI HS电平采样模块、MIPI HS时钟电平AD转换模块、MIPI HS数据电平AD转换模块、MIPI HS电平测试模块、MIPI LP电平采样模块、MIPI LPDT时钟数据恢复模块、MIPI LP数据电平AD转换模块、MIPI LP电平测试模块、MIPI信号重建模块、MIPI信号接收模块和MIPI数据时序解析模块；
所述上层接口模块用于从上层接收MIPI信号的配置参数、HS电平基准参数、LP电平基准参数、MIPI LPDT传输基准参数、MIPI DSI传输时序基准参数并分别传输至MIPI HS电平测试模块、MIPI LP电平测试模块和MIPI信号接收模块；
所述输入MIPI电平转换模块用于将接收的MIPI信号分解为HS信号和LP信号，分别发送至MIPI HS电平采样模块、MIPI LP电平采样模块和MIPI信号重建模块；
所述MIPI HS电平采样模块用于对接收的HS信号采样，并分别将时钟LANE信号和数据LANE信号发送至MIPI HS时钟电平AD转换模块和MIPI HS数据电平AD转换模块；
所述MIPI HS时钟电平AD转换模块用于产生时钟LANE信号的数字采样数据；
所述MIPI HS数据电平AD转换模块用于产生数据LANE信号的数字采样数据；
所述MIPI HS电平测试模块用于根据时钟LANE信号和数据LANE信号的数字采样数据与所述HS电平基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块；
所述MIPI LP电平采样模块用于对接收的LP信号采样，并将LP采样信号分别发送至MIPI LPDT时钟数据恢复模块和MIPI LP数据电平AD转换模块；
所述MIPI LPDT时钟数据恢复模块用于从接收的LP信号中恢复出LPDT的数据和时钟并发送至MIPI LP电平测试模块；
所述MIPI LP数据电平AD转换模块用于产生LP信号的数字采样数据；
所述MIPI LP电平测试模块用于根据LP信号的数字采样数据与所述LP电平基准参数相比较，并根据LPDT的数据和时钟与所述MIPI LPDT传输基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块；
所述MIPI信号重建模块将LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号；
所述MIPI信号接收模块用于根据所述MIPI配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据；
所述MIPI数据时序解析模块用于用所述MIPI工作时钟接收和采集MIPI解包数据，将传输时序信息和包头数据与所述MIPI DSI传输时序基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块。
进一步地，还包括与所述输入MIPI电平转换模块连接的MIPI HS信号整形模块和MIPI LP信号整形模块，所述MIPI HS信号整形模块和MIPI LP信号整形模块均与MIPI信号重建模块，所述MIPI HS信号整形模块用于对MIPI信号中的HS信号整形，所述MIPI LP信号整形模块用于对MIPI信号中的LP信号整形。
更进一步地，所述上层接口模块分别与MIPI HS电平测试模块、MIPI LP电平测试模块、MIPI信号接收模块和MIPI数据时序解析模块连接，用于实现上层接口模块将从上层接收的MIPI信号的配置参数、HS电平基准参数、LP电平基准参数、MIPI LPDT传输基准参数、MIPI DSI传输时序基准参数分别传输至MIPI HS电平测试模块、MIPI LP电平测试模块和MIPI信号接收模块的功能以及上层接口模块分别从MIPI HS电平测试模块、MIPI LP电平测试模块和MIPI数据时序解析模块接收报告的功能。
更进一步地，所述输入MIPI电平转换模块分别与MIPI HS电平采样模块、MIPI LP电平采样模块和MIPI信号重建模块连接，用于实现将接收的MIPI信号分解为HS信号和LP信号，分别发送至MIPI HS电平采样模块、MIPI LP电平采样模块和MIPI信号重建模块的功能。
更进一步地，所述MIPI HS电平采样模块分别与MIPI HS时钟电平AD转换模块和MIPI HS数据电平AD转换模块连接，用于实现MIPI HS电平采样模块对接收的HS信号采样，并分别将时钟LANE信号和数据LANE信号发送至MIPI HS时钟电平AD转换模块和MIPI HS数据电平AD转换模块的功能。
更进一步地，所述MIPI LP电平采样模块分别与MIPI LPDT时钟数据恢复模块和MIPI LP数据电平AD转换模块连接，用于实现MIPI LP电平采样模块对接收的LP信号采样，并将LP采样信号分别发送至MIPI LPDT时钟数据恢复模块和MIPI LP数据电平AD转换模块的功能。
更进一步地，所述MIPI信号重建模块通过MIPI信号接收模块和MIPI数据时序解析模块连接，用于实现所述MIPI信号重建模块将LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号发送至MIPI信号接收模块，所述MIPI信号接收模块根据所述MIPI配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据并发送至MIPI数据时序解析模块的功能。
本发明的有益效果在于：
(1)本发明能对MIPI信号的HS、LP电气特性进行测试、也对其HS-LP传输时序进行测试，并将测试结果发给上层。
(2)本发明能对MIPI信号的时钟LANE和数据LANE均测试，保证了MIPI信号测试的完整性。
(3)本发明操作简单，无需其他复杂昂贵的测试设备，测试效率高，便于工厂中大规模使用。
(4)本发明可通过用FPGA(现场可编程逻辑阵列)芯片，不仅工作稳定、实现容易，而且价格便宜，操作方便。
附图说明
图1为本发明MIPI信号自动测试装置的框图。
图中：上层接口模块1，输入MIPI电平转换模块2，MIPI HS电平采样模块3，MIPI HS时钟电平AD转换模块4，MIPI HS数据电平AD转换模块5，MIPI HS电平测试模块6，MIPI LP电平采样模块7，MIPI LPDT时钟数据恢复模块8，MIPI LP数据电平AD转换模块9，MIPI LP电平测试模块10，MIPI HS信号整形模块11，MIPI LP信号整形模块12，MIPI信号重建模块13，MIPI信号接收模块14，MIPI数据时序解析模块15。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
如图1所示，本发明所提供的一种MIPI信号自动测试装置，包括上层接口模块1、输入MIPI电平转换模块2、MIPI HS电平采样模块3、MIPI HS时钟电平AD转换模块4、MIPI HS数据电平AD转换模块5、MIPI HS电平测试模块6、MIPI LP电平采样模块7、MIPI LPDT时钟数据恢复模块8、MIPI LP数据电平AD转换模块9、MIPI LP电平测试模块10、MIPI HS信号整形模块11、MIPI LP信号整形模块12、MIPI信号重建模块13、MIPI信号接收模块14和MIPI数据时序解析模块15。
上层接口模块1分别与MIPI HS电平测试模块6、MIPI LP电平测试模块10和MIPI信号接收模块14连接，输入MIPI电平转换模块2分别与MIPI HS电平采样模块3、MIPI LP电平采样模块7、MIPI HS信号整形模块11和MIPI LP信号整形模块12连接，MIPI HS电平采样模块3分别与MIPI HS时钟电平AD转换模块4和MIPI HS数据电平AD转换模块5连接MIPI HS时钟电平AD转换模块4和MIPI HS数据电平AD转换模块5均与MIPI HS电平测试模块6连接，MIPI LP电平采样模块7分别与MIPI LPDT时钟数据恢复模块8和MIPI LP数据电平AD转换模块9连接，MIPI LPDT时钟数据恢复模块8、MIPI LP数据电平AD转换模块9均与MIPI LP电平测试模块10连接，MIPI HS信号整形模块11和MIPI LP信号整形模块12均与MIPI信号重建模块13连接，MIPI信号重建模块13通过MIPI信号接收模块14和MIPI数据时序解析模块15连接。
上层接口模块1用于从上层接收MIPI信号的配置参数、HS电平基准参数、LP电平基准参数、MIPI LPDT传输基准参数、MIPI DSI传输时序基准参数并分别传输至MIPI HS电平测试模块6、MIPI LP电平测试模块10和MIPI信号接收模块14；
输入MIPI电平转换模块2用于将接收的MIPI信号分解为HS信号和LP信号，分别发送至MIPI HS电平采样模块3、MIPI LP电平采样模块7和MIPI信号重建模块13；
MIPI HS电平采样模块3用于对接收的HS信号采样，并分别将时钟LANE信号和数据LANE信号发送至MIPI HS时钟电平AD转换模块4和MIPI HS数据电平AD转换模块5；
MIPI HS时钟电平AD转换模块4用于产生时钟LANE信号的数字采样数据；
MIPI HS数据电平AD转换模块5用于产生数据LANE信号的数字采样数据；
MIPI HS电平测试模块6用于根据时钟LANE信号和数据LANE信号的数字采样数据与HS电平基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块1；
MIPI LP电平采样模块7用于对接收的LP信号采样，并将LP采样信号分别发送至MIPI LPDT时钟数据恢复模块8和MIPI LP数据电平AD转换模块9；
MIPI LPDT时钟数据恢复模块8用于从接收的LP信号中恢复出LPDT的数据和时钟并发送至MIPI LP电平测试模块10；
MIPI LP数据电平AD转换模块9用于产生LP信号的数字采样数据；
MIPI LP电平测试模块10用于根据LP信号的数字采样数据与LP电平基准参数相比较，并根据LPDT的数据和时钟与MIPI LPDT传输基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块1；
MIPI HS信号整形模块11用于对MIPI信号中的HS信号整形；
MIPI LP信号整形模块12用于对MIPI信号中的LP信号整形；
MIPI信号重建模块13将LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号；
MIPI信号接收模块14用于根据MIPI配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据；
MIPI数据时序解析模块15用于用MIPI工作时钟接收和采集MIPI解包数据，将传输时序信息和包头数据与MIPI DSI传输时序基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块1。
根据上述装置实现MIPI信号自动测试方法的具体步骤包括：
1)上层设置好MIPI信号的配置参数、HS电平基准参数、LP电平基准参数、MIPILPDT传输基准参数、MIPI DSI传输时序基准参数，并通过上层接口模块1将MIPI信号的配置参数发送给MIPI信号接收模块14，将HS电平基准参数发送给MIPI HS电平测试模块6，将LP电平基准参数和MIPI LPDT传输基准参数发送给MIPI LP电平测试模块10，将MIPI DSI传输时序基准参数发送给MIPI数据时序解析模块15。
2)输入MIPI电平转换模块2接收MIPI视频信号，先分析LP状态的信号质量，因为MIPI传输视频信号时有一个从LP到HS状态转换操作。输入MIPI电平转换模块2将输入的MIPI信号(每个LANE上均混合HS和LP状态)进行分解，输出单独的HS和LP信号，将HS信号发送至MIPI HS电平采样模块3，将LP信号发送至MIPI LP电平采样模块7。
3)MIPI LP电平采样模块7对LP信号进行采样，将采样信号送入MIPI LP数据电平AD转换模块9，MIPI LP数据电平AD转换模块9将其进行AD转换成为数字的采样数据送入MIPI LP电平测试模块10，MIPI LP电平测试模块10将LP信号的数字采样数据和LP基准电平比较，从而判断出MIPI信号中LP信号是否符合MIPIDPHY协议要求，产生报告送给上层接口模块1，再由上层接口模块1送入上层软件显示。
4)MIPI信号在进入LPDT模式下，会在LP状态下发数据，这时MIPI LP电平采样模块7将这些LPDT模式下的LP信号送入MIPI LPDT时钟数据恢复模块8中，从而恢复出相应的LPDT数据和LPDT时钟，并将其送入MIPI LP电平测试模块10中与MIPI LPDT传输基准参数进行比较，从而判断出是否符合MIPIDPHY协议要求，产生报告送给上层接口模块1，再由上层接口模块1送入上层软件显示。
5)MIPI HS电平采样模块3对接收的HS信号采样，将采样的HS信号中的时钟LANE信号送入MIPI HS时钟电平AD转换模块4，其他各个数据LANE的信号送入MIPI HS数据电平AD转换模块5，MIPI HS时钟电平AD转换模块4产生时钟LANE信号的数字采样数据，MIPI HS数据电平AD转换模块5产生各个数据LANE信号的数字采样数据，分别送入MIPI HS电平测试模块6，MIPI HS电平测试模块6将时钟LANE信号的数字采样数据和数据LANE信号的数字采样数据与HS电平基准参数比较，从而判断出MIPI信号中HS信号是否符合MIPIDPHY协议要求，产生报告送给上层接口模块1，再由上层接口模块1送入上层软件显示。
6)当上述测试都通过后，则进行MIPI传输的HS-LP时序测试。输入MIPI电平转换模块2分别将HS信号、LP信号送入MIPI HS信号整形模块11和MIPI LP信号整形模块12中整形，以产生较好质量的信号以供后续模块操作。
7)MIPI信号重建模块13将输入整形后的HS信号、LP信号后重新生成本地的MIPI信号，从而确保和后续模块保持同步操作，使得后续模块正确的解析其数据。
8)MIPI信号接收模块14根据MIPI配置参数对输入的信号进行字节数据串并转换，对其组包数据进行还原和解包，并恢复出并行数据的工作时钟，并将其输出给MIPI数据时序解析模块15。
9)MIPI数据时序解析模块15用MIPI工作时钟去接收和采集其输入的MIPI并行解包数据，从而产生相应的传输时序信息和包头数据，并和传输时序参数对比，产生测试报告经上次接口模块1发给上层显示。
以上仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以设计出若干改进，这些改进也应视为本发明的保护范围。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (10)
1.一种MIPI信号自动测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
1)从上层接收MIPI信号的配置参数、HS电平基准参数、LP电平基准参数、MIPI LPDT传输基准参数、MIPI DSI传输时序基准参数；
2)接收MIPI信号，将MIPI信号分解为HS信号和LP信号；
3)对所述LP信号进行采样，将LP信号进行AD转换为数字的采样数据，并与所述LP电平基准参数相比较，判断是否符合MIPI DPHY协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示；
4)对LP信号进行恢复操作，产生LPDT数据和时钟，并与所述MIPI LPDT传输基准参数相比较，判断是否符合MIPI DPHY协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示；
5)对所述HS信号进行采样，将HS信号中的时钟LANE信号和各个数据LANE信号进行AD转换为数字的采样数据，并与所述HS电平基准参数相比较，判断是否符合MIPI DPHY协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示；
6)将所述LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号，并根据所述MIPI信号的配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，对数据进行还原和解包，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据；
7)用所述MIPI工作时钟接收和采集MIPI解包数据，将传输时序信息和包头数据与所述MIPI DSI传输时序基准参数相比较，判断是否符合MIPI DSI协议要求，再将比较结果产生报告发送至上层显示。
2.根据权利要求1所述的MIPI信号自动测试方法，其特征在于：所述步骤6)中将所述LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号之前还包括分别将HS信号、LP信号进行整形的步骤。
3.根据权利要求1或者2所述的MIPI信号自动测试方法，其特征在于：所述MIPI信号的配置参数包括MIPI传输方式为BURST模式或者NONBURST模式、数据RGB位宽。
4.一种实现权利要求1所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：包括上层接口模块(1)、输入MIPI电平转换模块(2)、MIPI HS电平采样模块(3)、MIPI HS时钟电平AD转换模块(4)、MIPI HS数据电平AD转换模块(5)、MIPI HS电平测试模块(6)、MIPI LP电平采样模块(7)、MIPI LPDT时钟数据恢复模块(8)、MIPI LP数据电平AD转换模块(9)、MIPI LP电平测试模块(10)、MIPI信号重建模块(13)、MIPI信号接收模块(14)和MIPI数据时序解析模块(15)；
所述上层接口模块(1)用于将从上层接收的MIPI信号的配置参数发送给MIPI信号接收模块(14)，将HS电平基准参数发送给MIPI HS电平测试模块(6)，将LP电平基准参数和MIPILPDT传输基准参数发送给MIPI LP电平测试模块(10)，将MIPI DSI传输时序基准参数发送给MIPI数据时序解析模块(15)；
所述输入MIPI电平转换模块(2)用于将接收的MIPI信号分解为HS信号和LP信号，分别发送至MIPI HS电平采样模块(3)、MIPILP电平采样模块(7)和MIPI信号重建模块(13)；
所述MIPI HS电平采样模块(3)用于对接收的HS信号采样，并分别将时钟LANE信号和数据LANE信号发送至MIPI HS时钟电平AD转换模块(4)和MIPI HS数据电平AD转换模块(5)；
所述MIPI HS时钟电平AD转换模块(4)用于产生时钟LANE信号的数字采样数据；
所述MIPI HS数据电平AD转换模块(5)用于产生数据LANE信号的数字采样数据；
所述MIPI HS电平测试模块(6)用于根据时钟LANE信号和数据LANE信号的数字采样数据与所述HS电平基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块(1)；
所述MIPI LP电平采样模块(7)用于对接收的LP信号采样，并将LP采样信号分别发送至MIPI LPDT时钟数据恢复模块(8)和MIPILP数据电平AD转换模块(9)；
所述MIPI LPDT时钟数据恢复模块(8)用于从接收的LP信号中恢复出LPDT的数据和时钟并发送至MIPI LP电平测试模块(10)；
所述MIPI LP数据电平AD转换模块(9)用于产生LP信号的数字采样数据；
所述MIPI LP电平测试模块(10)用于根据LP信号的数字采样数据与所述LP电平基准参数相比较，并根据LPDT的数据和时钟与所述MIPI LPDT传输基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块(1)；
所述MIPI信号重建模块(13)将LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号；
所述MIPI信号接收模块(14)用于根据所述MIPI配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据；
所述MIPI数据时序解析模块(15)用于用所述MIPI工作时钟接收和采集MIPI解包数据，将传输时序信息和包头数据与所述MIPI DSI传输时序基准参数相比较，再将比较结果产生报告发送至上层接口模块(1)。
5.根据权利要求4所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：还包括与所述输入MIPI电平转换模块(2)连接的MIPI HS信号整形模块(11)和MIPI LP信号整形模块(12)，所述MIPI HS信号整形模块(11)和MIPI LP信号整形模块(12)均与MIPI信号重建模块(13)连接，所述MIPI HS信号整形模块(11)用于对MIPI信号中的HS信号整形，所述MIPI LP信号整形模块(12)用于对MIPI信号中的LP信号整形。
6.根据权利要求4或者5所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：所述上层接口模块(1)分别与MIPI HS电平测试模块(6)、MIPI LP电平测试模块(10)、MIPI信号接收模块(14)和MIPI数据时序解析模块(15)连接，用于实现上层接口模块(1)将MIPI信号的配置参数发送给MIPI信号接收模块(14)，将HS电平基准参数发送给MIPI HS电平测试模块(6)，将LP电平基准参数和MIPILPDT传输基准参数发送给MIPI LP电平测试模块(10)，将MIPI DSI传输时序基准参数发送给MIPI数据时序解析模块(15)的功能以及上层接口模块(1)分别从MIPI HS电平测试模块(6)、MIPI LP电平测试模块(10)和MIPI数据时序解析模块(15)接收报告的功能。
7.根据权利要求4或者5所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：所述输入MIPI电平转换模块(2)分别与MIPI HS电平采样模块(3)、MIPI LP电平采样模块(7)和MIPI信号重建模块(13)连接，用于实现将接收的MIPI信号分解为HS信号和LP信号，分别发送至MIPI HS电平采样模块(3)、MIPI LP电平采样模块(7)和MIPI信号重建模块(13)的功能。
8.根据权利要求4或者5所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：所述MIPIHS电平采样模块(3)分别与MIPI HS时钟电平AD转换模块(4)和MIPI HS数据电平AD转换模块(5)连接，用于实现MIPI HS电平采样模块(3)对接收的HS信号采样，并分别将时钟LANE信号和数据LANE信号发送至MIPI HS时钟电平AD转换模块(4)和MIPI HS数据电平AD转换模块(5)的功能。
9.根据权利要求4或者5所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：所述MIPILP电平采样模块(7)分别与MIPI LPDT时钟数据恢复模块(8)和MIPI LP数据电平AD转换模块(9)连接，用于实现MIPI LP电平采样模块(7)对接收的LP信号采样，并将LP采样信号分别发送至MIPI LPDT时钟数据恢复模块(8)和MIPI LP数据电平AD转换模块(9)的功能。
10.根据权利要求4或者5所述的MIPI信号自动测试方法的装置，其特征在于：所述MIPI信号重建模块(13)通过MIPI信号接收模块(14)和MIPI数据时序解析模块(15)连接，用于实现所述MIPI信号重建模块(13)将LP信号和HS信号重建为本地MIPI信号发送至MIPI信号接收模块(14)，所述MIPI信号接收模块(14)根据所述MIPI配置参数对本地MIPI信号进行串并转换，恢复出MIPI工作时钟和MIPI解包数据并发送至MIPI数据时序解析模块(15)的功能。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510426637.1A CN104992650B (zh) | 2015-07-20 | 2015-07-20 | Mipi信号自动测试方法和装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510426637.1A CN104992650B (zh) | 2015-07-20 | 2015-07-20 | Mipi信号自动测试方法和装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN104992650A CN104992650A (zh) | 2015-10-21 |
| CN104992650B true CN104992650B (zh) | 2017-07-07 |
Family
ID=54304455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201510426637.1A Active CN104992650B (zh) | 2015-07-20 | 2015-07-20 | Mipi信号自动测试方法和装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN104992650B (zh) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105611018B (zh) * | 2016-01-08 | 2018-10-30 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种mipi lp信号测试系统及方法 |
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| CN107977290B (zh) * | 2016-10-21 | 2021-03-05 | 炬芯科技股份有限公司 | 一种mipi回路的测试方法及测试系统 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US9606954B2 (en) * | 2014-01-10 | 2017-03-28 | Lattice Semiconductor Corporation | Communicating with MIPI-compliant devices using non-MIPI interfaces |
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- 2015-07-20 CN CN201510426637.1A patent/CN104992650B/zh active Active
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN104992650A (zh) | 2015-10-21 |
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