CN105611018B - 一种mipi lp信号测试系统及方法 - Google Patents
一种mipi lp信号测试系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105611018B CN105611018B CN201610012372.5A CN201610012372A CN105611018B CN 105611018 B CN105611018 B CN 105611018B CN 201610012372 A CN201610012372 A CN 201610012372A CN 105611018 B CN105611018 B CN 105611018B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- data
- mipi
- module
- trigger
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M1/00—Substation equipment, e.g. for use by subscribers
- H04M1/24—Arrangements for testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开了一种MIPI LP信号测试系统及方法,其系统包括依次连接的信号接收单元、信号采集单元和信号传输单元;其信号接收单元对探测信号进行消除杂波和放大处理;其信号采集单元对处理后的信号进行差分转单端处理,并根据上层设置对所述单端信号进行采样,直到采样数据达到设置的采样深度;其信号传输单元将采样数据发送到外部上位机,上位机根据接收到的采样数据进行波形绘制和数据解析;其方法基于该装置,根据预设的采样频率采集数据,将满足触发条件的信号触发后分配到信号存储单元,直到达到预设的采样深度;由上位机提取信号存储单元里的数据进行解析和波形绘制;解析获得的数据还可在异地还原成信号波形,具有高效的特点,且适用于两地协作测试开发的工作模式。
Description
技术领域
本发明属于信号处理技术领域,更具体地,涉及一种MIPI LP信号测试系统及方法。
背景技术
目前MIPI屏为手机屏的主流屏,MIPI点屏时需要用到通道0的LP(Low Power,低功耗)信号下发开屏指令,而开屏指令下发成功与否直接关系到点屏能否成功;另一方面,LP信号还可用于扩展显示标识数据(Extended Display Identification Data,EDID)读写,LP信号是否通讯正常关系到EDID读写的正确性。
当MIPI屏不能正常点亮或EDID读写的值与实际值不相符时,需要对LP信号进行测试以寻找故障原因;传统的方法是采用示波器对LP信号进行人工测试,存在以下缺陷:
(1)用示波器进行信号测试,需要测试者手动设置示波器,手动捕获目标信号;
(2)测试出正常信号后需要将波形图逐张存取,数据量大时,需要存储大量的波形图片;
(3)对于存储的波形图片,需要根据LP协议对LP信号进行人工解码,转换成十六进制的数值后与实际值进行比对,由于数据量很大,人工解码效率低,而且容易出错。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种MIPI LP信号测试系统及方法,其目的在于实现对MIPI LP信号测试、解码以及解码 数据导入导出一体化,提高LP信号测试效率。
为实现本发明目的,按照本发明的一个方面,提供了一种MIPI LP信号测试系统,包括信号接收单元、信号采集单元和信号传输单元;
其中,信号接收单元与测试探头连接,对探头探测到的信号进行消除杂波和放大处理;
信号采集单元对上述处理后的信号进行波形整形处理,并根据上层设置的采样频率对该单端信号进行采样,当采样数据达到设置的采样深度后停止采样;
信号传输单元具有上位机接口,通过该接口将上述采样数据发送到外部上位机,上位机根据接收到的采样数据绘制波形,并进行数据解析。
优选的,上述MIPI LP信号测试系统,其信号接收单元包括BNC接头与信号处理电路;通过BNC接头与外部测试探头连接;
其信号处理电路包括依次连接的低通滤波电路、反馈放大电路和波形整形电路;低通滤波电路用于滤除频率大于50MHz的信号;所述反馈放大电路用于对输入信号进行放大处理;波形整形电路用于将MIPI LP信号进行波形整形,将锯齿波变换成方波后输出。
优选的,上述MIPI LP信号测试系统,其信号采集单元包括固化在一颗可编程逻辑器件上的配置模块、数据采集模块、信号触发模块和信号存储模块;
其中,配置模块用于获取上层配置数据,包括采样频率、采样深度、触发信号源和信号类型;
数据采集模块对信号处理单元输出的信号进行波形整形处理,根据采样频率和采样深度对该单端信号进行采样,并根据触发信号源将采样信号分配到信号触发模块;
信号触发模块用于将满足触发条件的采样信号触发后发送到信号存储模块;
上位机从信号存储模块获取数据进行波形绘制和数据解析。
优选地,上述MIPI LP信号测试系统,其信号采集单元还包括FIFO缓存,FIFO缓存也固化在上述可编程逻辑器件上;信号存储模块通过FIFO缓存连接信号触发模块;FIFO缓存用于将信号触发模块输出的信号缓存后发送到信号存储模块,起跨时钟域数据交互作用。
优选的,上述MIPI LP信号测试系统,其信号采集单元还包括DDR,DDR也固化在上述可编程逻辑器件上;上位机通过DDR连接信号存储模块。
为实现本发明目的,按照本发明的另一个方面,提供了一种MIPI LP信号测试方法,具体如下:
(1)获取上层配置命令,并根据配置命令配置信号采集模块;其中,上层配置命令包括采样频率、采样深度、触发信号源以及信号类型;
(2)根据触发信号源,将采集到的待触发信号分配到信号触发模块;
(3)检测满足触发条件的待触发信号,将其触发后分配到信号存储单元;
(4)信号存储单元将上述信号存入DDR;
(5)从DDR中提取数据,进行波形还原和数据解析;
(6)将解析获得的数据导出,采用二进制或十六进制文件存储。
优选地,上述MIPI LP信号测试方法,导出的数据可在本地或异地还原成信号波形。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
(1)本发明提供的MIPI LP信号测试系统,具有采样频率可调整,采样深度可设置的特点;
(2)本发明提供的MIPI LP信号测试方法及系统,在测试中可同步地解码并将测试解码获得的数据导出,在外部上位机的辅助下绘制波形并进 行数据解析;其实时解码功能,可极大提高测试效率;
(3)本发明提供的MIPI LP信号测试系统,可以将测试解码获得的数据导出并存储,形成文本;通过将存储的文本还原成波形,实现本地测试;还可将文本在异地还原成波形,适用于两地协作测试开发的工作模式;
(4)本发明提供的MIPI LP信号测试系统,具有上位机接口;在应用中,可直接与上位机连接,利用上位机辅助进行界面控制,操作方便;只需要将被测信号接入探头,然后对上层进行设置即可进行测试,操作简便,降低了测试难度。
附图说明
图1是实施例提供的MIPI LP信号测试系统应用于测试的系统框图;
图2是实施例提供的MIPI LP信号测试方法中的信号采集流程示意图;
图3是实施例中信号处理电路示意图;
图4是实施例提供的MIPI LP信号测试系统的应用示意图;
图5是实施例提供的MIPI LP信号测试系统波形异地还原的应用示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
实施例提供的MIPI LP信号测试系统包括依次连接的信号接收单元、信号采集单元和信号传输单元;其应用于测试的系统框图如图1所示;
信号接收单元通过测试探头与待测模组连接,对探头探测到的信号进行消除杂波和放大处理;信号采集单元对处理后的信号进行波形整形处理,并根据上层设置的采样频率对该单端信号进行采样,当采样数据达到设置 的采样深度后停止采样;信号传输单元将采样数据发送到上位机,上位机根据接收到的采样数据绘制波形,并进行数据解析,将解析获得的数据以二进制或十六进制格式保存;
实施例中,信号采集单元包括固化于一颗可编程逻辑器件上的配置模块、数据采集模块、信号触发模块、FIFO缓存和信号存储模块。
以下结合实施例具体描述本发明提供的MIPI LP信号测试方法,采用实施例提供的MIPI LP信号测试系统,进行MIPI LP信号测试的方法具体如下:
(1)获取上层配置命令,并根据配置命令配置信号采集模块;实施例中,上层配置命令包括信号类型、通道数量、采样频率、采样深度、触发信号、以及触发类型;
(2)根据触发信号源,将采集到的待触发信号分配到信号触发模块;
(3)检测满足触发条件的待触发信号,将其触发后分配到信号存储单元;
(4)信号存储单元将上述信号存入DDR;
(5)上位机从DDR中提取数据,进行波形还原和数据解析;
(6)将解析获得的数据导出,采用二进制或十六进制文件存储。
本实施例中,步骤(5)中,持续从DDR中提取数据,直到接收到的数据达到设置的采样深度;对还原生成的波形和解析获得的十六进制文件,采用GUI图形界面显示。
本实施例中,对于步骤(6)中获得的文件,可以异地导入上位机后进解析,在解析前需将本地参数与导入文件的转制参数设置成一致;解析可还原探测信号的波形。
本实施例中,信号采集的流程如图2所示,具体如下:
(1)通过以太网口获取上层下发的配置命令,并根据配置命令配置信号采集模块;
(2)配置模块获取上层的配置数据,同步进行数据采集;
(3)根据配置模块配置的触发信号源,将待触发信号分配到信号触发模块;
(4)由信号触发模块检测满足触发条件的待触发信号,并将其触发后经过FIFO缓存分配到信号存储单元;实施例中,通道0的LP信号触发的条件是起始数据为87;
(5)信号存储单元将采集到的信号存入DDR中。
实施例提供的MIPI LP信号测试系统,其信号接收单元的信号处理电路如图3所示,为运放同向输入电路,其中R1与C1构成低通滤波电路,滤除频率大于50MHz的信号;R2与R3组成反馈电路,R2与R3阻值相等,运放输出信号是输入信号幅度的2倍;由于通道0的MIPILP信号是锯齿波,U2对通道0的MIPI LP信号进行波形整形,将锯齿波变换成方波后输出;采用实施例提供的这种MIPI LP信号测试系统,可将信号发生器PG发送的信号与待测MIPI屏接收到的LP信号进行对比分析。
采用实施例提供的MIPI LP信号测试系统进行LP信号测试的应用如图4所示意的,信号发生器PG输出的一组LP信号送往待测模组,同时通过探头将这一组LP信号发送到MIPILP信号测试系统;上位机配合MIPI LP信号测试系统,对测试得的信号进行解析和波形显示。
图5是实施例提供的MIPI LP信号测试系统波形异地还原的应用示意图,该应用中,上位机配合MIPI LP信号测试系统,对测试得的信号进行解析和波形显示;同时,将解析获得的文件导出,通过网络传输到异地,异地上位机通过接收到的文件恢复出信号波形;该应用为两地协作测试开发的工作模式提供了便利。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种MIPI LP信号测试系统,其特征在于,包括依次连接的信号接收单元、信号采集单元和信号传输单元;
所述信号接收单元与外部测试探头连接,用于对探测信号进行消除杂波和放大处理;
所述信号接收单元包括信号处理电路;所述信号处理电路包括依次连接的低通滤波电路、反馈放大电路和波形整形电路;
所述低通滤波电路用于滤除频率大于50MHz的信号;所述反馈放大电路用于对输入信号进行放大处理;所述波形整形电路用于将MIPI LP信号进行波形整形,将锯齿波变换成方波后输出;
所述信号采集单元用于对信号接收单元输出的信号进行波形整形处理,并根据上层设置的采样频率对整形处理后的单端信号进行采样,直到采样数据达到设置的采样深度;
所述信号传输单元将所述采样数据发送到上位机,上位机根据接收到的采样数据进行波形绘制和数据解析。
2.如权利要求1所述的MIPI LP信号测试系统,其特征在于,所述信号采集单元包括固化于一颗可编程逻辑器件上的配置模块、数据采集模块、信号触发模块和信号存储模块;
所述配置模块用于获取上层配置数据,包括采样频率、采样深度、触发信号源和信号类型;
所述数据采集模块对信号处理单元输出的信号进行波形整形处理,根据采样频率和采样深度对该单端信号进行采样,并根据触发信号源将采样信号分配到信号触发模块;
所述信号触发模块用于将满足触发条件的采样信号触发后发送到信号存储模块;上位机从所述信号存储模块获取数据进行波形绘制和数据解析。
3.如权利要求2所述的MIPI LP信号测试系统,其特征在于,所述信号采集单元还包括固化于所述可编程逻辑器件上的FIFO缓存;所述信号存储模块通过所述FIFO缓存连接信号触发模块;所述FIFO缓存用于将信号触发模块输出的信号缓存后发送到信号存储模块,起跨时钟域数据交互作用。
4.如权利要求3所述的MIPI LP信号测试系统,其特征在于,所述信号采集单元还包括固化于所述可编程逻辑器件上的DDR,外部上位机通过DDR连接所述信号存储模块。
5.一种基于权利要求1至4任一项所述的MIPI LP信号测试系统的MIPI LP信号测试方法,其特征在于,具体包括如下步骤:
(1)获取上层配置命令,并根据配置命令配置信号采集模块;
(2)根据触发信号源,将采集到的待触发信号分配到信号触发模块;
(3)检测满足触发条件的待触发信号,将其触发后分配到信号存储单元;
(4)信号存储单元将上述信号存入DDR;
(5)从DDR中提取数据,进行波形还原和数据解析;
(6)将解析获得的数据导出,采用二进制或十六进制文件存储。
6.如权利要求5所述的MIPI LP信号测试方法,其特征在于,所述步骤(6)中导出的数据可还原成信号波形。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610012372.5A CN105611018B (zh) | 2016-01-08 | 2016-01-08 | 一种mipi lp信号测试系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201610012372.5A CN105611018B (zh) | 2016-01-08 | 2016-01-08 | 一种mipi lp信号测试系统及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105611018A CN105611018A (zh) | 2016-05-25 |
CN105611018B true CN105611018B (zh) | 2018-10-30 |
Family
ID=55990551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201610012372.5A Active CN105611018B (zh) | 2016-01-08 | 2016-01-08 | 一种mipi lp信号测试系统及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN105611018B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106370999B (zh) * | 2016-09-07 | 2018-12-04 | 中国科学院上海高等研究院 | 一种基于mipi d-phy协议的回路测试系统 |
CN106572347B (zh) * | 2016-10-21 | 2019-04-02 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | Mipi信号解析方法和装置 |
CN107734386B (zh) * | 2017-09-13 | 2019-12-17 | 东莞市爱协生智能科技有限公司 | 一种基于mipi协议的视频图像缩小的方法及其系统 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102496342A (zh) * | 2011-12-29 | 2012-06-13 | 广东海博威视电子科技股份有限公司 | 一种led显示面板自动测试仪 |
CN104469349A (zh) * | 2014-12-11 | 2015-03-25 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 一种检测视频源产生的mipi视频信号的方法 |
CN104517554A (zh) * | 2014-12-17 | 2015-04-15 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 基于FPGA的MIPI液晶模组Vcom调校装置及方法 |
CN104992650A (zh) * | 2015-07-20 | 2015-10-21 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | Mipi信号自动测试方法和装置 |
-
2016
- 2016-01-08 CN CN201610012372.5A patent/CN105611018B/zh active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102496342A (zh) * | 2011-12-29 | 2012-06-13 | 广东海博威视电子科技股份有限公司 | 一种led显示面板自动测试仪 |
CN104469349A (zh) * | 2014-12-11 | 2015-03-25 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 一种检测视频源产生的mipi视频信号的方法 |
CN104517554A (zh) * | 2014-12-17 | 2015-04-15 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 基于FPGA的MIPI液晶模组Vcom调校装置及方法 |
CN104992650A (zh) * | 2015-07-20 | 2015-10-21 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | Mipi信号自动测试方法和装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105611018A (zh) | 2016-05-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN203502550U (zh) | 局部放电带电检测装置 | |
CN105611018B (zh) | 一种mipi lp信号测试系统及方法 | |
CN104569745B (zh) | 局部放电带电检测装置和方法 | |
CN101710166B (zh) | 电力电缆接头局部放电在线监测方法 | |
CN110850244B (zh) | 基于深度学习的局放缺陷时域图谱诊断方法、系统及介质 | |
CN105679217B (zh) | 一种aux信号测试系统及方法 | |
CN208872879U (zh) | 一种微地震数据采集系统 | |
CN106885975A (zh) | 一种基于脉冲响应的高压电缆老化测试方法及装置 | |
CN204389583U (zh) | 一种变电站接地网三维数字化监控用数据采集装置 | |
CN105510980A (zh) | 一种用于激发极化法的多通道采集装置及系统 | |
CN207198217U (zh) | 一种基于可扩展平台的多功能虚拟示波器 | |
CN205320085U (zh) | 一种100m以太网接口的眼图测试系统 | |
CN205317861U (zh) | 一种三分量瞬变电磁探测接收机 | |
CN204241102U (zh) | 基于dds的变压器振动监测校验平台 | |
CN207908626U (zh) | 一种模拟高频局放信号发生装置 | |
CN103592686A (zh) | 一种海上地震数据采集测试系统 | |
CN107561475A (zh) | 高频电流传感器频带量化校验方法、系统以及装置 | |
CN103513275A (zh) | 具有采样率可调及自检功能的地震信号采集节点 | |
CN111308194A (zh) | 频率特性测试仪 | |
CN103472376B (zh) | 变压器局部放电特高频定位分析器及其定位分析方法 | |
CN204214987U (zh) | 智能化套管末屏泄漏电流检测调试装置 | |
CN104994377A (zh) | 一种电视机机震测试方法 | |
CN101382593B (zh) | 从未知强变频信号中检测弱低频信号的方法 | |
CN204145492U (zh) | 通信电缆故障检测装置 | |
CN106603166A (zh) | 一种用于宽带调制信号的矢量测量装置及方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 430070 Hubei City, Hongshan Province, South Lake Road, No. 53, Hongshan Venture Center, building on the four floor, No. Applicant after: Wuhan fine test electronics group Limited by Share Ltd Address before: 430070 Hubei City, Hongshan Province, South Lake Road, No. 53, Hongshan Venture Center, building on the four floor, No. Applicant before: Wuhan Jingce Electronic Technology Co., Ltd. |
|
CB02 | Change of applicant information | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |