CN104819875B - 一种均匀性装样品设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种均匀性装样品设备，旨在提供一种适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，并且装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性的均匀性装样品设备。它包括机架，设置在机架上的支撑平板，设置在支撑平板下表面上的振动器，设置在支撑平板上方的放置平板，设置在放置平板顶面中部的圆形限位槽，放置在圆形限位槽内的装样盒体，设置支撑平板与放置平板之间的称重传感器，设置在机架上的抱紧校验装置及设置在机架上、位于装样盒体上方的压实装置。

Description

一种均匀性装样品设备

技术领域

本发明涉及一种装样设备，具体涉及一种均匀性装样品设备。

背景技术

有放射性的同位素称为“放射性同位素”,没有放射性并且半衰期大于1050年的则称为“稳定同位素”，并不是所有同位素都具有放射性；因此有放射性的同位素称称放射性同位素或放射性核素。放射性核素超标的物品对人体和动物存在着某种损害作用，因而加强对物品放射性核素的检验、监管，尤其是对与人民生活密切相关的货物的放射性核素的检验、监管力度是非常有必要的。

物品放射性核素的检验通常是通过放射性检测仪器来检验的。目前一些放射性检测仪器在检测粉末状、小颗粒状、肉糜状等这类物质的放射性核素过程中，对待检样品的物质分布均匀性要求较高；物质分布的均匀性对放射性核素检验结果的准确性影响较大，对于物质分布均匀性好的检测物品的放射性核素检测结果准确性高，而物质分布均匀性不佳的检测物品的放射性核素检测结果准确性差；因而在检测粉末状、小颗粒状、肉糜状等这类物质的放射性核素检时，如何得到物质分布均匀性好的待检样品是非常重要的。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，并且装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性的均匀性装样品设备。

本发明的技术方案是：

一种均匀性装样品设备，包括机架，设置在机架上的支撑平板，设置在支撑平板下表面上的振动器，设置在支撑平板上方的放置平板，设置在放置平板顶面中部的圆形限位槽，放置在圆形限位槽内的装样盒体，设置在支撑平板与放置平板之间的称重传感器，设置在机架上的抱紧校验装置及设置在机架上、位于装样盒体上方的压实装置；所述装样盒体呈圆筒形，且装样盒体的上端开口，圆形限位槽的底面中心设有上过杆通孔，支撑平板上、位于上过杆通孔正下方设有下过杆通孔，所述抱紧校验装置包括设置在机架上的竖直下导套，可滑动的设置在竖直下导套内的竖直推杆，套设在竖直推杆上的导向圆环，连接导向圆环与竖直推杆的连接杆，设置在机架上的竖直上导套，可滑动的设置在竖直上导套内的竖直校验顶杆，若干设置在机架上并绕竖直下导套的轴线周向均布的水平导套，可滑动设置在各水平导套内的水平推杆及设置在机架上用于带动竖直推杆升降的第一升降气缸；所述竖直上导套位于竖直下导套上方，竖直上导套与竖直下导套同轴，竖直上导套位于下过杆通孔的正下方，所述竖直校验顶杆的上端可自下而上穿过下过杆通孔及上过杆通孔；所述水平导套与水平推杆之间通过键连接，各水平推杆上、靠近竖直推杆的一端设有往下延伸的下支撑杆，远离竖直推杆的一端设有往上延伸的上支撑杆，所述下支撑杆上设有自下而上横截面逐渐增大的导向锥体，所述水平推杆上、位于水平导套与竖直推杆之间设有限位挡块，水平推杆上、位于水平导套与限位挡块之间设有可使导向锥体抵靠在导向圆环上的压缩弹簧；所述上支撑杆上、位于放置平板上方设有往圆形限位槽中心延伸的抱紧块；所述压实装置包括压板，设置在机架上用于升降压板的第二升降气缸，所述压板水平设置，压板位于装样盒体的上方。

本方案结构适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，装样得到的样品的物质分布均匀性好，并且可以对装样样品的物质分布均匀性分布是否均匀进行检验，保证装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性。

作为优选，竖直校验顶杆外侧面上设有上限位块及下限位块，所述上限位块位于竖直上导套上方，下限位块位于竖直上导套下方；并且当上限位块位抵靠在竖直上导套上端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的下方；当下限位块位抵靠在竖直上导套下端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的上方。

作为优选，竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上，同时，竖直推杆上端与竖直校验顶杆之间设有间隙。

作为优选，竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上。

作为优选，压实装置还包括设置在机架上、位于装样盒体上方的水平导轨，可滑动设置在水平导轨上的滑座，设置在机架上用于推移滑座的水平气缸，设置在滑座上的竖直限位套及可滑动设置在竖直限位套内的导柱，所述压板位于滑座下方，所述导柱的下端与压板相连接，所述第二升降气缸设置在滑座上。

作为优选，装样盒体的上端开口呈圆形，且装样盒体的上端开口的内径大于压板的外径。

作为优选，放置平板上设有往上延伸的环形限位套，所述圆形限位槽位于环形限位套内，所述环形限位套上设有若干与抱紧块一一对应的避让缺口，所述抱紧块可穿过避让缺口。

作为优选，圆形限位槽的中心落在竖直校验顶杆的轴线上。

作为优选，竖直校验顶杆的顶面为平面。

作为优选，机架上设有机体外壳，所述支撑平板，放置平板，抱紧校验装置及压实装置均位于机体外壳内。

本发明的有益效果是：适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，并且装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性。

附图说明

图1是本发明的一种均匀性装样品设备的一种结构示意图。

图2是图1中A处的放大图。

图3是本发明的一种均匀性装样品设备在装样过程中的一种结构示意图。

图中：机架1，振动器2，支撑平板3、下过杆通孔31，称重传感器4，放置平板5、上过杆通孔51，装样盒体6，抱紧校验装置7、抱紧块71、上支撑杆72、限位挡块73、压缩弹簧74、水平导套75、水平推杆76、导向锥体77、导向圆环78、环形限位凸块79、竖直下导套710、竖直推杆711、第一升降气缸712、上限位块713、竖直校验顶杆714、竖直上导套715、下限位块716，压实装置8、压板81、水平导轨82、滑座83、导柱84、第二升降气缸85。

具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述：

如图1、图2所示，一种均匀性装样品设备包括机架1，设置在机架上的支撑平板3，设置在支撑平板下表面上的振动器2，设置在支撑平板上方的放置平板5，设置在放置平板顶面中部的圆形限位槽，放置在圆形限位槽内的装样盒体6，设置在支撑平板与放置平板之间的称重传感器4，设置在机架上的抱紧校验装置7及设置在机架上、位于装样盒体上方的压实装置8。机架上设有机体外壳。支撑平板，放置平板，抱紧校验装置及压实装置均位于机体外壳内。支撑平板及放置平板水平设置。称重传感器用于测量放置平板，装样盒体及装样盒体内的物质的重量。装样盒体呈圆筒形，且装样盒体的上端开口。装样盒体的上端开口呈圆形。装样盒体的外径大于20厘米，且装样盒体的高度小于5厘米。圆形限位槽的底面中心设有往下延伸的上过杆通孔51。支撑平板上、位于上过杆通孔正下方设有下过杆通孔31。

抱紧校验装置包括设置在机架上的竖直下导套710，可滑动的设置在竖直下导套内的竖直推杆711，套设在竖直推杆上的导向圆环78，连接导向圆环与竖直推杆的连接杆，设置在机架上的竖直上导套715，可滑动的设置在竖直上导套内的竖直校验顶杆714，若干设置在机架上并绕竖直下导套的轴线周向均布的水平导套75，可滑动设置在各水平导套内的水平推杆76及设置在机架上用于带动竖直推杆升降的第一升降气缸712。本实施例中的第一升降气缸还可以由推杆电机代替。

竖直上导套位于竖直下导套上方。竖直上导套与竖直下导套同轴。竖直上导套位于下过杆通孔的正下方。竖直校验顶杆的上端可自下而上穿过下过杆通孔及上过杆通孔。圆形限位槽的中心落在竖直校验顶杆的轴线上。竖直校验顶杆的顶面为平面。竖直校验顶杆呈圆形，且竖直校验顶杆的外径为1至8毫米之间。水平导套与水平推杆之间通过键连接，本实施例中，水平导套与水平推杆之间通过花键连接。各水平推杆上、靠近竖直推杆的一端设有往下延伸的下支撑杆，远离竖直推杆的一端设有往上延伸的上支撑杆72。上支撑杆及下支撑杆竖直设置。下支撑杆上设有自下而上横截面逐渐增大的导向锥体77。导向锥体的轴线竖直设置。导向圆环位于竖直上导套与竖直下导套之间，且导向圆环与导向锥体的高度相对应。水平推杆上、位于水平导套与竖直推杆之间设有限位挡块73。水平推杆上、位于水平导套与限位挡块之间设有可使导向锥体抵靠在导向圆环上的压缩弹簧74。上支撑杆上、位于放置平板上方设有往圆形限位槽中心延伸的抱紧块71。抱紧块上、朝向装样盒体的侧面为竖直延伸的圆柱面，且该圆柱面的直径与装样盒体外侧面的直径相同。放置平板上设有往上延伸的环形限位套。圆形限位槽位于环形限位套内。环形限位套上设有若干与抱紧块一一对应的避让缺口，所述抱紧块可穿过避让缺口。

竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块79。竖直校验顶杆外侧面上设有上限位块713及下限位块716。上限位块位于竖直上导套上方。下限位块位于竖直上导套下方。如图1所示，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上，同时，竖直推杆上端与竖直校验顶杆之间设有间隙。当上限位块位抵靠在竖直上导套上端时，竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的下方。如图3所示，当下限位块位抵靠在竖直上导套下端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的上方，并且此时竖直校验顶杆的上端与圆形限位槽底面之间的间距小于0.5毫米，具体说是，此时竖直校验顶杆的上端与圆形限位槽底面之间的间距为0.1毫米或0.2毫米或0.3毫米或0.4。

压实装置包括压板81，设置在机架上用于升降压板的第二升降气缸85，设置在机架上、位于装样盒体上方的水平导轨82，可滑动设置在水平导轨上的滑座83，设置在机架上用于推移滑座的水平气缸，设置在滑座上的竖直限位套及可滑动设置在竖直限位套内的导柱84。压板水平设置。压板位于装样盒体的上方。压板位于滑座下方。导柱的下端与压板相连接。第二升降气缸设置在滑座上。压板呈圆形，且装样盒体的上端开口的内径大于压板的外径。本实施例中的第二升降气缸还可以由推杆电机代替。

本实施例的均匀性装样品设备的具体工作过程如下：

第一，将装样盒体取出，并将待检物质（粉末状或小颗粒状或肉糜状物质）放置在装样盒体内；然后，通过刮板等将装样盒体内的待检物质大致刮平，使装样盒体内的待检物质大致分布均匀。

第二，将装样盒体放置到放置平板顶面的圆形限位槽。

第三，第一升降气缸带动竖直推杆下降，直至环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端；此时，各抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上，从而抱紧装样盒体，对装样盒体进行固定；同时，竖直推杆上端与竖直校验顶杆之间设有间隙，竖直推杆下降过程中，竖直校验顶杆在自重作用下往下移，直至上限位块位抵靠在竖直上导套上端，此时竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的下方。

第四，振动器工作，带动装样盒体机其内的待检物质一同振动；从而消除待检物内的空隙、气体，进一步使装样盒体内的待检物质分布均匀。

第五，振动器工作一段时间（例如1-3分钟后）停止工作；

接着，如图3所示，第一升降气缸带动竖直推杆上升，从而通过导向圆环，导向锥体，下支撑杆，水平推杆及上支撑杆使抱紧块往外移动，从而解除对装样盒体的抱紧固定；

同时，在竖直推杆上升过程中，还将带动竖直校验顶杆上移，直至下限位块位抵靠在竖直上导套下端；此时竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的上方，并将装样盒体顶起。由于竖直校验顶杆的顶面为平面，且竖直校验顶杆位于装样盒体中心；在竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，若装样盒体内的待检物质分布均匀（即装样盒体及其内的待检物质的重心位于装样盒体的中心），则装样盒体将被竖直校验顶杆顶起，也就是说，在竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，若装样盒体被竖直校验顶杆顶起，则说明装样盒体内的待检物质分布均匀。

而在竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，若装样盒体内的待检物质分布不均匀（即装样盒体及其内的待检物质的重心没有位于装样盒体的中心），则装样盒体将偏倒；也就是说，在竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，若装样盒体偏倒，则说明装样盒体内的待检物质分布不均匀。

而竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，装样盒体是被竖直校验顶杆顶起，还是偏倒，则是通过称重传感器来判断。在竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，若装样盒体被竖直校验顶杆顶起，则称重传感器测得的质量为放置平板的质量；若装样盒体偏倒，则称重传感器测得的质量为放置平板与部分装样盒体的质量；这样就可以通过称重传感器测得的质量变化来判断装样盒体是被竖直校验顶杆顶起，还是偏倒，进而检验装样盒体内的待检物质是否分布均匀。

另外，当下限位块位抵靠在竖直上导套下端，此时竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的上方，并且由于竖直校验顶杆的上端与圆形限位槽底面之间的间距小于0.5毫米；这样在竖直校验顶杆将装样盒体顶起的过程中，若装样盒体偏倒，装样盒体内的待检物质也基本不会发生倾倒。

第六，若检验得到检验装样盒体内的待检物质分布均匀，则第一升降气缸带动竖直推杆下降，直至环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端；此时，各抱紧块抱紧装样盒体，对装样盒体进行固定；同时竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的下方，装样盒体位于圆形限位槽底面上；接着，水平气缸带动压板平移至装样盒体的上端开口的正上方；在接着，第二升降气缸带动压板下移至装样盒体内，将装样盒体内的待检物质压实；最后，压板平移上移、复位；操作者可将装样盒体取出，从而得到物质分布均匀的待检样品；

若检验得到检验装样盒体内的待检物质分布不均匀，则返回第三步骤，继续工作，直至检验得到检验装样盒体内的待检物质分布均匀为止。

Claims (10)

1.一种均匀性装样品设备，其特征是，包括机架，设置在机架上的支撑平板，设置在支撑平板下表面上的振动器，设置在支撑平板上方的放置平板，设置在放置平板顶面中部的圆形限位槽，放置在圆形限位槽内的装样盒体，设置在支撑平板与放置平板之间的称重传感器，设置在机架上的抱紧校验装置及设置在机架上、位于装样盒体上方的压实装置；所述装样盒体呈圆筒形，且装样盒体的上端开口，圆形限位槽的底面中心设有上过杆通孔，支撑平板上、位于上过杆通孔正下方设有下过杆通孔，

所述抱紧校验装置包括设置在机架上的竖直下导套，可滑动的设置在竖直下导套内的竖直推杆，套设在竖直推杆上的导向圆环，连接导向圆环与竖直推杆的连接杆，设置在机架上的竖直上导套，可滑动的设置在竖直上导套内的竖直校验顶杆，若干设置在机架上并绕竖直下导套的轴线周向均布的水平导套，可滑动设置在各水平导套内的水平推杆及设置在机架上用于带动竖直推杆升降的第一升降气缸；

所述竖直上导套位于竖直下导套上方，竖直上导套与竖直下导套同轴，竖直上导套位于下过杆通孔的正下方，所述竖直校验顶杆的上端可自下而上穿过下过杆通孔及上过杆通孔；

所述水平导套与水平推杆之间通过键连接，各水平推杆上、靠近竖直推杆的一端设有往下延伸的下支撑杆，远离竖直推杆的一端设有往上延伸的上支撑杆，所述下支撑杆上设有自下而上横截面逐渐增大的导向锥体，所述水平推杆上、位于水平导套与竖直推杆之间设有限位挡块，水平推杆上、位于水平导套与限位挡块之间设有可使导向锥体抵靠在导向圆环上的压缩弹簧；所述上支撑杆上、位于放置平板上方设有往圆形限位槽中心延伸的抱紧块；

所述压实装置包括压板，设置在机架上用于升降压板的第二升降气缸，所述压板水平设置，压板位于装样盒体的上方。

2.根据权利要求1所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述竖直校验顶杆外侧面上设有上限位块及下限位块，所述上限位块位于竖直上导套上方，下限位块位于竖直上导套下方；并且当上限位块位抵靠在竖直上导套上端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的下方；当下限位块位抵靠在竖直上导套下端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的上方。

3.根据权利要求2所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上，同时，竖直推杆上端与竖直校验顶杆之间设有间隙。

4.根据权利要求1或2所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上。

5.根据权利要求1所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述压实装置还包括设置在机架上、位于装样盒体上方的水平导轨，可滑动设置在水平导轨上的滑座，设置在机架上用于推移滑座的水平气缸，设置在滑座上的竖直限位套及可滑动设置在竖直限位套内的导柱，所述压板位于滑座下方，所述导柱的下端与压板相连接，所述第二升降气缸设置在滑座上。

6.根据权利要求1所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述压板呈圆形，所述装样盒体的上端开口呈圆形，且装样盒体的上端开口的内径大于压板的外径。

7.根据权利要求1或2或3或5或6所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述放置平板上设有往上延伸的环形限位套，所述圆形限位槽位于环形限位套内，所述环形限位套上设有若干与抱紧块一一对应的避让缺口，所述抱紧块可穿过避让缺口。

8.根据权利要求1或2或3或5或6所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述圆形限位槽的中心落在竖直校验顶杆的轴线上。

9.根据权利要求1或2或3或5或6所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述竖直校验顶杆的顶面为平面。

10.根据权利要求1或2或3或5或6所述的一种均匀性装样品设备，其特征是，所述机架上设有机体外壳，所述支撑平板，放置平板，抱紧校验装置及压实装置均位于机体外壳内。