CN104698276A - 一种电阻校验系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电阻校验系统，包括：基准电阻；待测电阻；用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；用于检测当前环境温度t的温度传感器；连接恒压源、电流表和温度传感器，用于利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；用于利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；用于根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；本发明能够有效降低校验误差，准确实用。
Description
技术领域
本发明涉及一种电阻校验系统。
背景技术
电阻是电子电路中必不可少的电子元器件，其精度的高低直接影响着电子电路的可靠性和电路性能，电阻由于标称精度的不同可以分为普通电阻和精密电阻，普通电阻的精度一般在5%左右，而精密电阻的精度至少要达到1%以上，甚至更高，且电阻值的大小受温度、电阻材料和导体长度等多种因素影响，故同一标称值的电阻实际上的阻值往往存在一定的差别，因此实际使用时对电阻的阻值校验是十分必要的，尤其是用于取样等电路中的电阻，取样电阻本身的误差会直接导致控制不准确。
发明内容
本发明针对以上问题的提出，而研制一种准确实用的电阻校验系统。
本发明的技术手段如下：
一种电阻校验系统，包括：
已知20℃时的电阻值的基准电阻；
待测电阻；
与待测电阻两端相连接，用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；
串接在待测电阻与恒压源构成的回路中，用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；
用于检测当前环境温度t的温度传感器；
连接恒压源、电流表和温度传感器，用于根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；
连接温度传感器，用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；
连接温度传感器、第一计算单元和获取单元，用于根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；
连接第二计算单元和基准电阻，用于根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；
连接校验单元，用于根据所述的校验差值显示校验结果的显示单元；
另外，还包括：
用于存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表的存储单元；
用于输入待测电阻导体材料和基准电阻的电阻值的输入单元；所述获取单元与存储单元和输入单元相连接；所述校验单元与输入单元相连接。
由于采用了上述技术方案，本发明提供的一种电阻校验系统，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
附图说明
图1是本发明所述系统的结构框图。
具体实施方式
如图1所示的一种电阻校验系统，包括：已知20℃时的电阻值的基准电阻；待测电阻；与待测电阻两端相连接，用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；串接在待测电阻与恒压源构成的回路中，用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；用于检测当前环境温度t的温度传感器；连接恒压源、电流表和温度传感器，用于根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；连接温度传感器，用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；连接温度传感器、第一计算单元和获取单元，用于根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；连接第二计算单元和基准电阻，用于根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；连接校验单元，用于根据所述的校验差值显示校验结果的显示单元；另外，还包括：用于存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表的存储单元；用于输入待测电阻导体材料和基准电阻的电阻值的输入单元；所述获取单元与存储单元和输入单元相连接；所述校验单元与输入单元相连接。
本发明提供的一种电阻校验系统，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种电阻校验系统，其特征在于包括：
已知20℃时的电阻值的基准电阻；
待测电阻；
与待测电阻两端相连接，用于在待测电阻两端施加恒定电压U的恒压源；
串接在待测电阻与恒压源构成的回路中，用于检测待测电阻所在回路电流I的电流表；
用于检测当前环境温度t的温度传感器；
连接恒压源、电流表和温度传感器，用于根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R的第一计算单元；
连接温度传感器，用于根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α的获取单元；
连接温度传感器、第一计算单元和获取单元，用于根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20的第二计算单元；
连接第二计算单元和基准电阻，用于根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值的校验单元；
连接校验单元，用于根据所述的校验差值显示校验结果的显示单元。
2.根据权利要求1所述的一种电阻校验系统，其特征在于还包括：
用于存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表的存储单元；
用于输入待测电阻导体材料和基准电阻的电阻值的输入单元；所述获取单元与存储单元和输入单元相连接；所述校验单元与输入单元相连接。
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| CN104698276A true CN104698276A (zh) | 2015-06-10 |
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Family Applications (1)
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