CN104698305A - 一种电容检验方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电容检验方法，包括如下步骤：在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；检测电阻R两端的电压UR；计算待测电容两端的电压UC=U-UR；计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 π f）得出待测电容的电容值C；根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；本发明能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果。
Description
技术领域
本发明涉及一种电容检验方法。
背景技术
电容是电子电路中必不可少的电子元器件，广泛应用于隔直、耦合、旁路、滤波、调谐回路、能量转换和控制电路等方面，其精度的高低直接影响着电子电路的可靠性和电路性能，电容由于标称精度的不同可以分为普通电容和精密电容，精度范围从±20%至±0.5%不等，电容量C的大小受电容材料、形状、极板间的距离、温度、湿度等多种因素影响，故同一标称值的电容实际上的电容值往往存在一定的差别，因此实际使用时对电容的容值校验是十分必要的，尤其是用于去耦电路中的电容，去耦电容的电容精度不够会直接导致去耦效果不佳，进而影响电路的整体性能。
发明内容
本发明针对以上问题的提出，而研制一种准确实用的电容检验方法。
本发明的技术手段如下：
一种电容检验方法，包括如下步骤：
①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；
②检测电阻R两端的电压UR；
③计算待测电容两端的电压UC=U-UR；
④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；
⑤根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 πf）得出待测电容的电容值C；
⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；
⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
进一步地，所述正弦交流电的电压有效值U小于待测电容的耐压值。
由于采用了上述技术方案，本发明提供的一种电容检验方法，通过一种简单准确的检测和计算方式来获取待测电容容值，并通过待测电容容值与基准电容容值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，尤其是当为去耦电路等对电容精度要求较高的电路选取电容时，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果，适于广泛推广。
附图说明
图1是本发明所述方法的流程图。
具体实施方式
如图1所示的一种电容检验方法，包括如下步骤：
①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；
②检测电阻R两端的电压UR；
③计算待测电容两端的电压UC=U-UR；
④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；
⑤根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 πf）得出待测电容的电容值C；
⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；
⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
进一步地，所述正弦交流电的电压有效值U小于待测电容的耐压值。
本发明提供的一种电容检验方法，通过一种简单准确的检测和计算方式来获取待测电容容值，并通过待测电容容值与基准电容容值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，尤其是当为去耦电路等对电容精度要求较高的电路选取电容时，可以利用该电容检验方法对电容器件进行筛选，进而利于保证待测电容的应用效果，适于广泛推广。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种电容检验方法，其特征在于包括如下步骤：
①在待测电容与已知阻值的电阻R相互串联构成的回路两端施加频率为50Hz、电压有效值为U的正弦交流电；
②检测电阻R两端的电压UR；
③计算待测电容两端的电压UC=U-UR；
④计算待测电容与电阻R构成的串联回路电流I=UR/R；
⑤根据计算出的待测电容两端电压UC和回路电流I利用公式C=I/（UC×2 πf）得出待测电容的电容值C；
⑥根据基准电容在频率为50Hz的正弦交流电条件下的电容值对待测电容的容值C进行校验差值；
⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果。
2.根据权利要求1所述的一种电容检验方法，其特征在于所述正弦交流电的电压有效值U小于待测电容的耐压值。
Priority Applications (1)
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| CN201310657220.7A CN104698305A (zh) | 2013-12-04 | 2013-12-04 | 一种电容检验方法 |
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| CN201310657220.7A CN104698305A (zh) | 2013-12-04 | 2013-12-04 | 一种电容检验方法 |
Publications (1)
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|---|---|
| CN104698305A true CN104698305A (zh) | 2015-06-10 |
Family
ID=53345635
Family Applications (1)
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| CN201310657220.7A Pending CN104698305A (zh) | 2013-12-04 | 2013-12-04 | 一种电容检验方法 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN104698305A (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107270800A (zh) * | 2017-05-16 | 2017-10-20 | 浦北县富通电子科技有限公司 | 电解电容的来料检验方法 |
| CN109581067A (zh) * | 2018-11-09 | 2019-04-05 | 电子科技大学 | 一种基于fpga高速接收机的电容测量装置 |
| CN109581062A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-04-05 | 电子科技大学 | 用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统 |
| CN111090034A (zh) * | 2019-12-26 | 2020-05-01 | 苏州市运泰利自动化设备有限公司 | Pcba的电容测试系统及方法 |
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2013
- 2013-12-04 CN CN201310657220.7A patent/CN104698305A/zh active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20150610 |