CN104698283A - 一种电阻检验方法 - Google Patents

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王榕英
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DALIAN DONGPU MECHANICAL & ELECTRICAL Co Ltd
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DALIAN DONGPU MECHANICAL & ELECTRICAL Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种电阻检验方法，包括如下步骤：在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；检测当前环境温度t；根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；本发明能够有效降低校验误差，准确实用。

Description

一种电阻检验方法
技术领域
本发明涉及一种电阻检验方法。
背景技术
电阻是电子电路中必不可少的电子元器件，其精度的高低直接影响着电子电路的可靠性和电路性能，电阻由于标称精度的不同可以分为普通电阻和精密电阻，普通电阻的精度一般在5%左右，而精密电阻的精度至少要达到1%以上，甚至更高，且电阻值的大小受温度、电阻材料和导体长度等多种因素影响，故同一标称值的电阻实际上的阻值往往存在一定的差别，因此实际使用时对电阻的阻值校验是十分必要的，尤其是用于取样等电路中的电阻，取样电阻本身的误差会直接导致控制不准确。
发明内容
本发明针对以上问题的提出，而研制一种准确实用的电阻检验方法。
本发明的技术手段如下：
一种电阻检验方法，包括如下步骤：
①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；
②检测当前环境温度t；
③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；
④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；
⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；
⑥根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；
⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
进一步地，在步骤①之前还具有如下步骤：
存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表。
由于采用了上述技术方案，本发明提供的一种电阻检验方法，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
附图说明
图1是本发明所述方法的流程图。
具体实施方式
如图1所示的一种电阻检验方法，包括如下步骤：
①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；
②检测当前环境温度t；
③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；
④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；
⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；
⑥根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；
⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果；
进一步地，在步骤①之前还具有如下步骤：
存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表。
本发明提供的一种电阻检验方法，利用欧姆定律和电阻率温度系数公式来获取待测电阻阻值，避免了温度、电阻材料等其它因素对阻值检测结果的影响，通过待测电阻阻值与基准电阻阻值进行差值比较得出校验结果，整个过程能够有效降低校验误差，准确实用，便于满足实际应用的需求，适于广泛推广。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种电阻检验方法，其特征在于包括如下步骤：
①在待测电阻两端施加恒定电压U，检测待测电阻所在回路电流I；
②检测当前环境温度t；
③根据待测电阻两端所施加的恒定电压U和所在回路电流I，利用公式R=U/I得出当前环境温度t下的待测电阻阻值R；
④根据待测电阻的导体材料和当前环境温度t获取该导体材料所对应的电阻率温度系数α；
⑤根据当前环境温度t、当前环境温度t下的待测电阻阻值R和电阻率温度系数α，利用公式R20=R/(1+α（t-20）)得出20℃时的待测电阻阻值R20；
⑥根据基准电阻的20℃时的电阻值对20℃时的待测电阻阻值R20进行校验差值；
⑦根据步骤⑥所述的校验差值显示校验结果。
2.根据权利要求1所述的一种电阻检验方法，其特征在于在步骤①之前还具有如下步骤：
存储不同导体材料与电阻率温度系数的对应关系表。
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