CN104575343B - 一种检测电路及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种检测电路包括第一至第三检测线、第一及第二控制线及第一至第六组晶体管，第一至第六组晶体管连接至显示装置的第一至第六扫描线，每组晶体管均包括第一及第二晶体管，第一及第二晶体管的控制端均分别连接至第一及第二控制线，其第一端分别连接至第一至第三检测线中的一根，其第二端连接至同组的第二晶体管的第二端，并分别连接至第一至第六扫描线中的一根，第一及第二晶体管的第一端与第一至第三检测线的连接节点构成点集合[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，数字1‑3代表第一至第三检测线，点的第一及第二位数字分别为第一及第二晶体管的第一端与该第一及第二位数字代表的检测线连接。本发明还提供了显示装置。本发明提高了显示装置的良率。

Description

一种检测电路及显示装置

技术领域

本发明涉及电子领域，尤其涉及一种检测电路及显示装置。

背景技术

在传统的显示面板的线路设计中，通常会在像素区域的外侧设计短路条/短路棒(Shorting Bar)的外围走线，并将扫描线按照奇数和偶数分别引出至该外围走线。即，整个显示面板上的奇数和偶数扫描线在所述显示面板的外围各自短接在一起。这种设计是为了在TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)制程的检测环节中，可以通过给奇数和偶数扫描线不同的电讯号来检查所述显示面板内是否存在短路或断路的情况，配合不同的数据信号还可以检查出其他类型的不良。短路条也会被用于液晶盒制程中的点灯检测环节，并在检测后被断开或去除，使其不会影响到成品的正常显示。

如图1所示，如果同一行的充电扫描线103和电荷共享扫描线104间发生短路(第二短路位置102或第一短路位置101)，由于该电荷共享扫描线与后面第N+偶数的充电扫描线相连(其中，N为正整数)，使得二者在顺序上皆为奇数或偶数，那么仅通过上述奇偶分别引出的短路条的检测方式是无法在TFT制程段将短路现象检出的，只能依靠Cell点灯甚至成品检测的方式方能检出，因此会导致产品良率降低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种检测电路及显示装置，以高效且精准地对显示装置中出现的异常现象进行检测，从而提高显示装置的良率。

为了实现上述目的，本发明实施方式提供如下技术方案：

本发明供了一种检测电路，用于对显示装置的异常状况进行检测，所述检测电路包括第一至第三检测线、第一及第二控制线及第一至第六组晶体管，所述第一至第六组晶体管连接至所述显示装置的第一至第六扫描线，其中，每组晶体管均包括第一晶体管及第二晶体管，所述第一晶体管的控制端均连接至所述第一控制线，所述第一晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第二晶体管的控制端均连接至所述第二控制线，所述第二晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第一晶体管的第二端连接至同组的第二晶体管的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一至第六组晶体管的第一及第二晶体管的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线来控制所述第一或第二晶体管闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。

其中，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第三检测线，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第一扫描线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第二检测线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第二扫描线，所述第三组晶体管的第一晶体管的第一端连接至第三检测线，所述第三组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第三组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第三扫描线，所述第四组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第四组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第四组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第四扫描线，所述第五组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第五组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第五组晶体管的第一及第二晶体管的第二端连接所述第五扫描线，所述第六组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第六组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第六组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第六扫描线。

其中，所述第一至第六组晶体管沿着预设方向依次排布设置，所述第一至第六扫描线沿着所述预设方向依次排布设置。

其中，所述第一至第六组晶体管的第一晶体管及第二晶体管均为N型晶体管，所述第一及第二晶体管的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。

其中，所述第一至第六扫描为第一至第六充电扫描线。

本发明还提供一种显示装置，包括第一至第六扫描线、第一至第三检测线、第一及第二控制线及第一至第六组晶体管，所述第一至第六组晶体管连接至所述第一至第六扫描线，其中，每组晶体管均包括第一晶体管及第二晶体管，所述第一晶体管的控制端均连接至所述第一控制线，所述第一晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第二晶体管的控制端均连接至所述第二控制线，所述第二晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第一晶体管的第二端连接至同组的第二晶体管的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一及第二晶体管的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线来控制所述第一晶体管或第二晶体管闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。

其中，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第三检测线，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第一扫描线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第二检测线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第二扫描线，所述第三组晶体管的第一晶体管的第一端连接至第三检测线，所述第三组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第三组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第三扫描线，所述第四组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第四组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第四组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第四扫描线，所述第五组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第五组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第五组晶体管的第一及第二晶体管的第二端端连接所述第五扫描线，所述第六组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第六组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第六组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第六扫描线。

其中，所述第一至第六组晶体管沿着预设方向依次排布设置，所述第一至第六扫描线沿着所述预设方向依次排布设置。

其中，所述第一至第六扫描线为第一至第六充电扫描线，所述显示装置还包括第一至第六电荷共享扫描线、第一及第二额外充电扫描线、第一及第二额外电荷共享扫描线及第一至六像素行，所述第一至第六电荷共享扫描线分别对应所述第一至第六扫描线及所述第一至第六像素行，所述第一扫描线还连接至所述第一额外电荷共享扫描线，所述第二扫描线还连接至所述第二额外电荷共享扫描线，所述第一电荷共享扫描线还连接至所述第三扫描线，所述第二电荷共享扫描线还连接至所述第四扫描线，所述第三电荷共享扫描线连接至所述第五扫描线，所述第四电荷共享扫描线连接至所述第六扫描线，所述第五电荷共享扫描线连接至第一额外充电扫描线，所述第六电荷共享扫描线连接至所述第二额外充电扫描线，其中，所述第一至第六扫描线及所述第一及第二额外充电扫描线依次接收信号。

其中，所述第一至第六组晶体管的第一晶体管及第二晶体管均为N型晶体管，所述第一及第二晶体管的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。

本发明所述检测电路包括第一至第三检测线、第一及第二控制线及第一至第六组晶体管，所述第一至第六组晶体管连接至所述显示装置的第一至第六扫描线，其中，每组晶体管均包括第一晶体管及第二晶体管，所述第一晶体管的控制端均连接至所述第一控制线，所述第一晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第二晶体管的控制端均连接至所述第二控制线，所述第二晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第一晶体管的第二端连接至同组的第二晶体管的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一至第六组晶体管的第一及第二晶体管的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线来控制所述第一或第二晶体管闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。因此，本发明实现了高效精准地对所述显示装置进行检测，从而提高了显示装置的良率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以如这些附图获得其他的附图。

图1是传统的显示装置的示意图；

图2是本发明第一方案较佳实施方式提供的检测电路的应用示意图；

图3是本发明第一方案较佳实施方式提供的检测电路的一具体实例的第一示意图；

图4是本发明第一方案较佳实施方式提供的检测电路的一具体实例的第二示意图；

图5是本发明第二方案较佳实施方式提供的显示装置的示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。

请参阅图2，本发明第一方案较佳实施方式提供一种检测电路100。所述检测电路100用于对显示装置的短路状况进行检测。所述检测电路100包括第一至第三检测线11-13、第一及第二控制线14及15及第一至第六组晶体管21-26。所述第一至第六组晶体管21-26连接至所述显示装置的第一至第六扫描线31-36。其中，每组晶体管均包括第一晶体管T1及第二晶体管T2。所述第一晶体管T1的控制端均连接至所述第一控制线14。所述第一晶体管T1的第一端连接至所述第一至第三检测线11-13中的一根检测线。所述第二晶体管T2的控制端均连接至所述第二控制线15。所述第二晶体管T2的第一端连接至所述第一至第三检测线11-13中的一根检测线。所述第一晶体管T1的第二端连接至同组的第二晶体管T2的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线31-36中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一至第六组晶体管21-26的第一及第二晶体管T1及T2的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]。其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线14及15来控制所述第一晶体管T1或第二晶体管T2闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。

需要说明的是，在进行检测时，通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1及所述第二晶体管T2处于不同的状态。即当所述第一晶体管T1闭合时，所述第二晶体管T2断开；当所述第一晶体管T1断开时，所述第二晶体管T2闭合。

在本实施方式中，所述第一至第六扫描线31-36为第一至第六充电扫描线。其中，在显示装置中，所述显示装置还包括第一至第六电荷共享扫描线及第一至第六像素行。所述第一共享扫描线对应第一充电扫描线31，且对应第一像素行。所述第二共享扫描线对应第二充电扫描线32，且对应第二像素行。所述第三共享扫描线对应第三充电扫描线33，且对应第三像素行。所述第四共享扫描线对应第四充电扫描线34，且对应第四像素行。所述第五共享扫描线对应第五充电扫描线35，且对应第五像素行。所述第六共享扫描线对应第六充电扫描线36，且对应第六像素行。且所述第一至第六共享扫描线与后面第N+偶数的充电扫描线连接(其中，N为正整数)。当所述第一至第六扫描线31-36与所述第一至第三检测线11-13的连接的点可以构成所述预设点集合[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，且通过所述第一及第二控制线14及15使得所述第一晶体管T1断开，所述第二晶体管T2闭合，可以使得会发生短路的充电扫描线及电荷共享扫描线均连接不同的检测线。一旦发生短路现象，则可以通过检测线准确的检测出来，从而提高了显示装置的良率。

另外，当对其他类型的异常进行检测时，可以通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1闭合，所述第二晶体管T2断开，使得所述第一至第六扫描线31-36只与两根检测线进行连接，从而可以闲置一条检测，而无需再同时利用三根检测线对所述显示装置进行检测，节约了检测时间，提高了检测效率。同时，所述第一检测线11被闲置，则所述第一检测线11连接的检测设备也无需再利用，从而降低了检测成本。

具体地，所述第一组晶体管21的第一及第二晶体管T1及T2的第一端均连接至所述第三检测线13。所述第一组晶体管21的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第一扫描线31。所述第二组晶体管22的第一及第二晶体管T1及T2的第一端均连接至所述第二检测线12。所述第二组晶体管22的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第二扫描线32。所述第三组晶体管23的第一晶体管T1的第一端连接至第三检测线13。所述第三组晶体管23的第二晶体管T2的第一端连接至所述第一检测线11。所述第三组晶体管23的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第三扫描线33。所述第四组晶体管24的第一晶体管T1的第一端连接至所述第二检测线12。所述第四组晶体管24的第二晶体管T2的第一端连接至所述第三检测线13。所述第四组晶体管24的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第四扫描线34。所述第五组晶体管25的第一晶体管T1的第一端连接至所述第三检测线13。所述第五组晶体管25的第二晶体管T2的第一端连接至所述第二检测线12。所述第五组晶体管25的第一及第二晶体管T1及T2的第二端连接所述第五扫描线35。所述第六组晶体管26的第一晶体管T1的第一端连接至所述第二检测线12。所述第六组晶体管26的第二晶体管T2的第一端连接至所述第一检测线11。所述第六组晶体管26的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第六扫描线36。

请参阅图3，现举一实例说明如何检测所述显示装置是否存在短路异常状况，则在所述显示装置的量产初期时，通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1处于断开状态，所述第二晶体管T2处于闭合状态。所述第一扫描线31连接至所述第三检测线13；所述第二扫描线32连接至所述第二检测线12；所述第三扫描线33连接至所述第一检测线11；所述第四扫描线34连接至所述第三检测线13；所述第五扫描线35连接至所述第二检测线12；所述第六扫描线36连接至所述第一检测线11。假设对应所述第一扫描线31的电荷共享扫描线与所述第一扫描线31发生短路，其中，对应所述第一扫描线31的电荷共享扫描线连接至所述第三扫描线33。此时，所述第三扫描线33连接至所述第一检测线11，而所述第一扫描线31连接至所述第三扫描线13。因此，通过所述第一检测线11及所述第三检测线33即可准确地检测出所述第一扫描线31与其对应的电荷共享扫描线存在短路现象。

需要说明的是，在本实施方式中，所述第一至第六组晶体管21-26的第一晶体管T1及第二晶体管T2均为N型晶体管。所述第一及第二晶体管T1及T2的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1处于断开状态，所述第二晶体管T2处于闭合状态即为所述第一控制线14输出低电平信号至所述第一晶体管T1的控制端，所述第二控制线15输出高电平信号至所述第二晶体管T2的控制端，则所述第一晶体管T1处于断开状态，所述第二晶体管T2处于闭合状态。

同理，当所述第一至第六组晶体管21-26的第一晶体管T1及第二晶体管T2均为P型晶体管时，通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1处于断开状态，所述第二晶体管T2处于闭合状态即为所述第一控制线14输出高电平信号至所述第一晶体管T1的控制端，所述第二控制线15输出低电平信号至所述第二晶体管T2的控制端，则所述第一晶体管T1处于断开状态，所述第二晶体管T2处于闭合状态。

在本实施方式中，所述第一至第六组晶体管21-26沿着预设方向依次排布设置。所述第一至第六扫描线31-36沿着所述预设方向依次排布设置。

需要说明的是，所述预设方向是所述第一至第六扫描线31-36的依次接收检测信号的顺序，即所述第一至第六扫描线31-36依次接收检测信号。

请参阅图4，现举一实例说明如何高效地检测所述显示装置异常状况。当所述显示装置制程条件稳定后，通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1处于闭合状态，所述第二晶体管T2处于断开状态。所述第一扫描线31连接至所述第三检测线13；所述第二扫描线32连接至所述第二检测线12；所述第三扫描线33连接至所述第三检测线13；所述第四扫描线34连接至所述第二检测线12；所述第五扫描线35连接至所述第三检测线13；所述第六扫描线36连接至所述第二检测线12。则通过所述第二及第三检测线12及13即可对所述显示装置进行检测。因此，所述第一检测线11被闲置，而无需再同时利用三根检测线对所述显示装置进行检测，节约了检测时间，提高了检测效率。同时，所述第一检测线11被闲置，则所述第一检测线11连接的检测设备也无需再利用，从而降低了检测成本。

需要说明的是，在本实施方式中，所述第一至第六组晶体管21-26的第一晶体管T1及第二晶体管T2均为N型晶体管。所述第一及第二晶体管T1及T2的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1处于闭合状态，所述第二晶体管T2处于断开状态即为所述第一控制线14输出高电平信号至所述第一晶体管T1的控制端，所述第二控制线15输出低电平信号至所述第二晶体管T2的控制端，则所述第一晶体管T1处于闭合状态，所述第二晶体管T2处于断开状态。

同理，当所述第一至第六组晶体管21-26的第一晶体管T1及第二晶体管T2均为P型晶体管时，通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1处于闭合状态，所述第二晶体管T2处于断开状态即为所述第一控制线14输出低电平信号至所述第一晶体管T1的控制端，所述第二控制线15输出高电平信号至所述第二晶体管T2的控制端，则所述第一晶体管T1处于闭合状态，所述第二晶体管T2处于断开状态。

需要说明的是，所述显示装置不仅包括第一至第六充电扫描、第一至第六电荷共享扫描线及第一至第六像素行，所述显示装置包括若干充电扫描线及若干电荷共享扫描线及若干像素行。所述充电扫描线、所述电荷共享扫描线及像素行的数量相同，且均一一对应。在本实施方式中，所述第一至第六充电扫描线均作为一个扫描线循环单元。故，所述显示装置包括多个循环单元，且每个循环单元与所述第一至第三检测线11-13的连接方式相同。当然，在所述检测电路100中，所述第一至第六组晶体管21-26同样作为一个晶体管循环单元来对应所述扫描线循环单元。当所述显示装置包括多个扫描线循环单元时，所述检测电路100也包括相同数量的晶体管循环单元，且与所述扫描线循环单元一一对应。

请参阅图5，本发明第二方案较佳实施方式提供一种显示装置200。所述显示装置200包括第一至第六扫描线31-36及上述第一方案提供的检测电路100。所述检测电路100连接至所述第一至第六扫描线31-36。

具体地，所述检测电路100包括第一至第三检测线11-13、第一及第二控制线14及15及第一至第六组晶体管21-26。所述第一至第六组晶体管21-26连接至所述显示装置的第一至第六扫描线31-36。其中，每组晶体管均包括第一晶体管T1及第二晶体管T2。所述第一晶体管T1的控制端均连接至所述第一控制线14。所述第一晶体管T1的第一端连接至所述第一至第三检测线11-13中的一根检测线。所述第二晶体管T2的控制端均连接至所述第二控制线15。所述第二晶体管T2的第一端连接至所述第一至第三检测线11-13中的一根检测线。所述第一晶体管T1的第二端连接至同组的第二晶体管T2的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线31-36中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一至第六组晶体管21-26的第一及第二晶体管T1及T2的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]。其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线14及15来控制所述第一晶体管T1或第二晶体管T2闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。

需要说明的是，在进行检测时，通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1及所述第二晶体管T2处于不同的状态。即当所述第一晶体管T1闭合时，所述第二晶体管T2断开；当所述第一晶体管T1断开时，所述第二晶体管T2闭合。

在本实施方式中，所述第一至第六扫描线31-36为第一至第六充电扫描线。所述显示装置200还包括第一至第六电荷共享扫描线211-216、第一及第二额外充电扫描线237及238、第一及第二额外电荷共享扫描线217及218及第一至第六像素行241-246。所述第一至第六电荷共享扫描线211-216分别对应所述第一至第六扫描线31-36及第一至第六像素行241-246。所述第一扫描线31还连接至所述第一额外电荷共享扫描线217。所述第二扫描线32还连接至所述第二额外电荷共享扫描线218。所述第一电荷共享扫描线211还连接至所述第三扫描线33。所述第二电荷共享扫描线212还连接至所述第四扫描线34。所述第三电荷共享扫描线213连接至所述第五扫描线35。所述第四电荷共享扫描线214连接至所述第六扫描线36。所述第五电荷共享扫描线215连接至第一额外充电扫描线237。所述第六电荷共享扫描线216连接至所述第二额外充电扫描线238。其中，所述第一至第六扫描线及所述第一及第二额外充电扫描线依次接收信号。

具体地，所述第一共享扫描线对应第一充电扫描线31，且对应第一像素行。所述第二共享扫描线对应第二充电扫描线32，且对应第二像素行。所述第三共享扫描线对应第三充电扫描线33，且对应第三像素行。所述第四共享扫描线对应第四充电扫描线34，且对应第四像素行。所述第五共享扫描线对应第五充电扫描线35，且对应第五像素行。所述第六共享扫描线对应第六充电扫描线36，且对应第六像素行。且所述第一至第六共享扫描线与后面第N+偶数的充电扫描线连接(其中，N为正整数)。当所述第一至第六扫描线31-36与所述第一至第三检测线11-13的连接的点可以构成所述预设点集合[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，且通过所述第一及第二控制线14及15使得所述第一晶体管T1断开，所述第二晶体管T2闭合，可以使得会发生短路的充电扫描线及电荷共享扫描线均连接不同的检测线。一旦发生短路现象，则可以通过检测线准确的检测出来，从而提高了显示装置的良率。

另外，当对其他类型的异常进行检测时，可以通过所述第一及第二控制线14及15控制所述第一晶体管T1闭合，所述第二晶体管T2断开，使得所述第一至第六扫描线31-36只与两根检测线进行连接，从而可以闲置一条检测，减少了检测信号的输出，减少了接入检测线的设备，降低了检测成本，进而降低了产能。

具体地，所述第一组晶体管21的第一及第二晶体管T1及T2的第一端均连接至所述第三检测线13。所述第一组晶体管21的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第一扫描线31。所述第二组晶体管22的第一及第二晶体管T1及T2的第一端均连接至所述第二检测线12。所述第二组晶体管22的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第二扫描线32。所述第三组晶体管23的第一晶体管T1的第一端连接至第三检测线13。所述第三组晶体管23的第二晶体管T2的第一端连接至所述第一检测线11。所述第三组晶体管23的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第三扫描线33。所述第四组晶体管24的第一晶体管T1的第一端连接至所述第二检测线12。所述第四组晶体管24的第二晶体管T2的第一端连接至所述第三检测线13。所述第四组晶体管24的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第四扫描线34。所述第五组晶体管25的第一晶体管T1的第一端连接至所述第三检测线13。所述第五组晶体管25的第二晶体管T2的第一端连接至所述第二检测线12。所述第五组晶体管25的第一及第二晶体管T1及T2的第二端连接所述第五扫描线35。所述第六组晶体管26的第一晶体管T1的第一端连接至所述第二检测线12。所述第六组晶体管26的第二晶体管T2的第一端连接至所述第一检测线11。所述第六组晶体管26的第一及第二晶体管T1及T2的第二端均连接至所述第六扫描线36。

在本实施方式中，所述第一至第六组晶体管21-26沿着预设方向依次排布设置。所述第一至第六扫描线31-36沿着所述预设方向依次排布设置。

需要说明的是，所述预设方向是所述第一至第六扫描线31-36的依次接收检测信号的顺序，即所述第一至第六扫描线31-36依次接收检测信号。

需要说明的是，所述显示装置200不仅包括第一至第六扫描31-36、第一至第六电荷共享扫描线211-216及第一至第六像素行241-246，所述显示装置200包括若干充电扫描线及若干电荷共享扫描线及若干像素行。所述充电扫描线、所述电荷共享扫描线及像素行的数量相同，且均一一对应。在本实施方式中，所述第一至第六充电扫描线均作为一个扫描线循环单元。故，所述显示装置200包括多个循环单元，且每个循环单元与所述第一至第三检测线11-13的连接方式相同。当然，在所述检测电路100中，所述第一至第六组晶体管21-26同样作为一个晶体管循环单元来对应所述扫描线循环单元。当所述显示装置200包括多个扫描线循环单元时，所述检测电路100也包括相同数量的晶体管循环单元，且与所述扫描线循环单元一一对应。

在本实施方式中，所述第一至第六组晶体管21-26的第一晶体管T1及第二晶体管T2均为N型晶体管。所述第一及第二晶体管T1及T2的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种检测电路，用于对显示装置的异常状况进行检测，其特征在于：所述检测电路包括第一至第三检测线、第一及第二控制线及第一至第六组晶体管，所述第一至第六组晶体管连接至所述显示装置的第一至第六扫描线，其中，每组晶体管均包括第一晶体管及第二晶体管，所述第一晶体管的控制端均连接至所述第一控制线，所述第一晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第二晶体管的控制端均连接至所述第二控制线，所述第二晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第一晶体管的第二端连接至同组的第二晶体管的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一至第六组晶体管的第一及第二晶体管的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该预设点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该预设点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二位数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线来控制所述第一或第二晶体管闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。

2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第三检测线，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第一扫描线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第二检测线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第二扫描线，所述第三组晶体管的第一晶体管的第一端连接至第三检测线，所述第三组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第三组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第三扫描线，所述第四组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第四组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第四组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第四扫描线，所述第五组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第五组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第五组晶体管的第一及第二晶体管的第二端连接所述第五扫描线，所述第六组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第六组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第六组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第六扫描线。

3.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一至第六组晶体管沿着预设方向依次排布设置，所述第一至第六扫描线沿着所述预设方向依次排布设置。

4.如权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第一至第六组晶体管的第一晶体管及第二晶体管均为N型晶体管，所述第一及第二晶体管的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。

5.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一至第六扫描线为第一至第六充电扫描线。

6.一种显示装置，包括第一至第六扫描线、第一至第三检测线、第一及第二控制线及第一至第六组晶体管，所述第一至第六组晶体管连接至所述第一至第六扫描线，其中，每组晶体管均包括第一晶体管及第二晶体管，所述第一晶体管的控制端均连接至所述第一控制线，所述第一晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第二晶体管的控制端均连接至所述第二控制线，所述第二晶体管的第一端连接至所述第一至第三检测线中的一根检测线，所述第一晶体管的第二端连接至同组的第二晶体管的第二端，并连接至所述第一至第六扫描线中的一根扫描线，一组晶体管对应一个扫描线，所述第一及第二晶体管的第一端与所述第一至第三检测线的连接节点构成预设点集合，所述预设点集合为[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，其中，在所述预设点集合中，数字1、2及3代表第一至第三检测线，该预设点的第一位数字表示所述第一晶体管的第一端与该第一位数字代表的检测线连接，该预设点的第二位数字表示所述第二晶体管的第一端与该第二位数字代表的检测线连接，通过所述第一及第二控制线来控制所述第一晶体管或第二晶体管闭合来对所述显示装置的异常状况进行检测。

7.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第三检测线，所述第一组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第一扫描线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第一端均连接至所述第二检测线，所述第二组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第二扫描线，所述第三组晶体管的第一晶体管的第一端连接至第三检测线，所述第三组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第三组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第三扫描线，所述第四组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第四组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第四组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第四扫描线，所述第五组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第三检测线，所述第五组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第五组晶体管的第一及第二晶体管的第二端连接所述第五扫描线，所述第六组晶体管的第一晶体管的第一端连接至所述第二检测线，所述第六组晶体管的第二晶体管的第一端连接至所述第一检测线，所述第六组晶体管的第一及第二晶体管的第二端均连接至所述第六扫描线。

8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述第一至第六组晶体管沿着预设方向依次排布设置，所述第一至第六扫描线沿着所述预设方向依次排布设置。

9.如权利要求8所述的显示装置，其特征在于，所述第一至第六扫描线为第一至第六充电扫描线，所述显示装置还包括第一至第六电荷共享扫描线、第一及第二额外充电扫描线、第一及第二额外电荷共享扫描线及第一至六像素行，所述第一至第六电荷共享扫描线分别对应所述第一至第六扫描线及所述第一至第六像素行，所述第一扫描线还连接至所述第一额外电荷共享扫描线，所述第二扫描线还连接至所述第二额外电荷共享扫描线，所述第一电荷共享扫描线还连接至所述第三扫描线，所述第二电荷共享扫描线还连接至所述第四扫描线，所述第三电荷共享扫描线连接至所述第五扫描线，所述第四电荷共享扫描线连接至所述第六扫描线，所述第五电荷共享扫描线连接至第一额外充电扫描线，所述第六电荷共享扫描线连接至所述第二额外充电扫描线，其中，所述第一至第六扫描线及所述第一及第二额外充电扫描线依次接收信号。

10.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述第一至第六组晶体管的第一晶体管及第二晶体管均为N型晶体管，所述第一及第二晶体管的控制端、第一端及第二端分别为N型晶体管的栅极、源极及漏极。