CN104567605B - 孔径检验工装 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种孔径检验工装,该工装包括:待测样件安放支架;检验棒安装体,设置在待测样件安放支架的上方;多个规格可选择的孔径检验棒,具有通段和止段,通段的外径小于相应规格的待测孔的内径,止段的外径大于待测孔的内径,孔径检验棒按照通段在下、止段在上的方向安装在检验棒安装体的下方。本发明提供的孔径检验工装,将多个不同规格的孔径检验棒设置在检验棒安装体上,可以对同一个待测样件(边板)上的多个孔径进行检验,如果孔径检验棒的通段能够通过待测孔,而止段不能通过待测孔,则待测孔的孔径合格,否则不合格,利用该孔径检验工装能够大大提高边板的孔径检验效率,并且操作方便,结构简单,易于制造。

Description

孔径检验工装
技术领域
本发明涉及空调器零件检验技术领域,特别地,涉及一种孔径检验工装。
背景技术
边板是空调器核心部件(蒸发器、冷凝器)上的重要零件,边板上孔径的大小,会影响与之配合的铜管胀管后的质量。如果边板孔径尺寸偏大,则胀管后铜管会有松动,如果边板尺寸偏小,则胀管后会导致铜管割裂。因此边板孔径的大小为边板重点控制尺寸。而且,边板的结构是直径不同的孔间隔排列(通常为两种不同直径的孔),而边板的孔距、列距是一定的。
目前,对边板的孔径控制是使用标准通止规检验,在检验时要对每个边板孔分别进行通端、止端的检验(即:对第一种孔径的边板孔先进行下公差的通端检验,再进行上公差的止端检验,然后再对第二种孔径的边板孔先进行下公差的通端检验,再进行上公差的止端检验)。因此要对每一个边板上的孔检验两次,而且检验过程需要多次更换标准通止规,影响检验效率。
发明内容
本发明目的在于提供一种孔径检验工装,以解决现有技术中,对边板孔的孔径测量步骤繁琐的技术问题。
为实现上述目的,本发明提供了一种孔径检验工装,包括:待测样件安放支架;检验棒安装体,设置在待测样件安放支架的上方;多个规格可选择的孔径检验棒,具有通段和止段,通段的外径小于相应规格的待测孔的内径,止段的外径大于待测孔的内径,孔径检验棒按照通段在下、止段在上的方向安装在检验棒安装体的下方。
进一步地,孔径检验棒的通段所在的一端呈锥形。
进一步地,检验棒安装体包括:第一安装板,具有沿上下方向延伸的导向孔,导向孔内设置有推顶孔径检验棒的推顶弹性件,推顶弹性件的上端与第一安装板相连,推顶弹性件的下端与孔径检验棒的顶端相连。
进一步地,检验棒安装体还包括:第二安装板,设置在第一安装板的下面,并具有多个与导向孔同轴的T形孔,孔径检验棒的止段所在的一端形成有与T形孔的内径大的孔段相配合的环台。
进一步地,环台的外径以及孔径检验棒的位于T形孔内的部分的外径与T形孔的内壁之间形成有便于孔径检验棒的下端摆动的活动空间。
进一步地,本发明提供的孔径检验工装,还包括升降机构,设置在待测样件安放支架的一侧,升降机构包括:升降导向柱,沿与孔径检验棒的轴向平行的方向延伸;升降定位块,沿升降导向柱的延伸方向高度可调地固定在升降导向柱的一侧,检验棒安装体与升降定位块相连。
进一步地,升降导向柱的一侧设置有让位槽,让位槽内设置有升降调节螺杆,升降调节螺杆的延伸方向与升降导向柱的延伸方向相同;升降定位块的与升降导向柱相对的侧面上设置有与升降调节螺杆相配合并沿升降调节螺杆可移动的螺母。
进一步地,让位槽的槽口端面上还设置有与升降调节螺杆的延伸方向平行的导轨,升降定位块上形成有与导轨相配合的滑槽。
进一步地,升降机构还包括:升降操作手柄,设置在升降导向柱的顶端,升降操作手柄与升降调节螺杆的上端相连。
进一步地,待测样件安放支架包括:待测样件支撑板,具有检验棒让位孔;支腿,支撑在待测样件支撑板的下方;垫块,设置在支腿的下端。
进一步地,本发明提供的孔径检验工装,还包括检验基座,检验基座包括:底板,待测样件安放支架和升降机构均设置在底板上;底板支脚,支撑在底板的下方。
本发明具有以下有益效果:
本发明提供了一种孔径检验工装,该工装包括:待测样件安放支架;检验棒安装体,设置在待测样件安放支架的上方;多个规格可选择的孔径检验棒,具有通段和止段,通段的外径小于相应规格的待测孔的内径,止段的外径大于待测孔的内径,孔径检验棒按照通段在下、止段在上的方向安装在检验棒安装体的下方。本发明提供的孔径检验工装,将多个不同规格的孔径检验棒设置在检验棒安装体上,可以对同一个待测样件(边板)上的多个孔径进行检验,如果孔径检验棒的通段能够通过待测孔,而止段不能通过待测孔,则待测孔的孔径合格,否则不合格,利用该孔径检验工装能够大大提高边板的孔径检验效率,并且操作方便,结构简单,易于制造。
除了上面所描述的目的、特征和优点之外,本发明还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图,对本发明作进一步详细的说明。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是本发明优选实施例的孔径检验工装的立体结构示意图;以及
图2是本发明优选实施例的孔径检验棒与检验棒安装体之间的安装结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明,但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
如图1所示,本发明提供了一种孔径检验工装,包括:待测样件安放支架10;检验棒安装体30,设置在待测样件安放支架10的上方;多个规格可选择的孔径检验棒50,具有通段51和止段53,通段51的外径小于相应规格的待测孔的内径,止段53的外径大于待测孔的内径,孔径检验棒50按照通段51在下、止段53在上的方向安装在检验棒安装体30的下方。本发明提供的孔径检验工装,按照边板的孔距、列距的设计标准,设计通止规的检验棒安装体30,将不同孔径规格的孔径检验棒50间隔排布安装在检验棒安装体30的下方,并且将孔径检验棒50的通段51朝下设置、止段53朝上设置,检验时,如果孔径检验棒50的通段51通过待测样件的孔,而止段53没有通过待测样件的孔,则说明待测样件的孔径合格,否则,不合格。利用本发明提供的孔径检验工装,可以一次完成对边板孔的检验,大大提高了检验效率。
为了使孔径检验棒50能够更加顺利地进入到待测孔径内,孔径检验棒50的通段51所在的一端呈锥形。具体地,通段51所在的一端,即孔径检验棒50的下端可以设计成圆锥形,且圆锥的顶端朝下设置,这样,与圆形柱形的端部相比,圆锥形的下端更容易进入到待测孔内,提高工作效率。
为了实现孔径检验棒50的安装,检验棒安装体30包括第一安装板31,该第一安装板31具有沿上下方向延伸的导向孔,并且,导向孔内设置有推顶孔径检验棒50的推顶弹性件40,推顶弹性件40的上端与第一安装板31相连,推顶弹性件40的下端与孔径检验棒50的顶端相连。推顶弹性件40可以为弹簧或弹片等弹性件,利用该推顶弹性件40,可以向孔径检验棒50提供向下的推力,推动孔径检验棒50进入到待测孔径内,并且,利用导向孔的导向,可以控制孔径检验棒50沿垂直方向的位移,从而实现各个孔径检验棒50在垂直方向上互不影响。
为了保证孔径检验棒50的整齐排列,检验棒安装体30还包括第二安装板33,设置在第一安装板31的下面,并具有多个与导向孔同轴的T形孔,孔径检验棒50的止段53所在的一端形成有与T形孔的内径大的孔段相配合的环台55。利用T形孔和环台55可以防止孔径检验棒50向下坠落而在空中摆动。
为了使孔径检验棒50的下端能够有一定的摆动空间,以在孔径检验棒50的下端与待测孔没有完全对准时能够具有一定的调节空间,环台55的外径以及孔径检验棒50的位于T形孔内的部分的外径与T形孔的内壁之间形成有便于孔径检验棒50的下端摆动的活动空间。由于一次对多个孔检验,所有孔径检验棒50可能不会全部插入待测孔内,所以T形孔的内壁与孔径检验棒50之间预留活动空间,即T形孔的内径大于孔径检验棒50上端(包括环台55)的外径,从而使两者之间形成配合间隙,检验时孔径检验棒50的上端可在孔内沿圆周方向摆动,从而保证所有孔径检验棒50均可以套入边板孔内进行检验。孔径检验棒50的下端为圆锥形,在下推顶力的作用下,孔径检验棒50可以自动调节径向位移,保证与待测孔的轴线重合。
为了提高检验过程的操作的便利性,本发明提供的孔径检验工装还包括设置在待测样件安放支架10的一侧的升降机构70,该升降机构70包括升降导向柱71和升降定位块73,升降导向柱71沿与孔径检验棒50的轴向平行的方向延伸,升降定位块73沿升降导向柱71的延伸方向高度可调地固定在升降导向柱71的一侧,检验棒安装体30与升降定位块73之间通过支撑臂74相连。利用升降机构70,可以调整检验棒安装体30的高度,进而可以调整孔径检验棒50的高度,可以对多个孔径检验棒50的高度同时进行调节,以使孔径检验棒50能够伸入待测孔内并从待测孔内抽出。
上述升降机构70可以采用多种滑轨机构实现升降定位块73沿升降导向柱71进行移动,作为一种具体的实施方式,本发明提供的升降机构70中,升降导向柱71的一侧设置让位槽,让位槽内设置有升降调节螺杆75,升降调节螺杆75的延伸方向与升降导向柱71的延伸方向相同;升降定位块73的与升降导向柱71相对的侧面上设置有与升降调节螺杆75相配合并沿升降调节螺杆75可移动的螺母。让位槽的槽口端面上还设置有与升降调节螺杆75的延伸方向平行的导轨77,升降定位块73上形成有与导轨77相配合的滑槽。通过升降调节螺杆75调节孔径检验棒50的垂直位移,从而实现与边板的配合检验。
为了便于操作,升降机构70还包括升降操作手柄79,该升降操作手柄79设置在升降导向柱71的顶端,升降操作手柄79与升降调节螺杆75的上端相连。升降操作手柄79与升降调节螺杆75的连接方式可以有多种形式,两者可以采用螺纹连接,也可以采用焊接等形式。
此外,上述待测样件安放支架10包括:用于安放待测样件80的待测样件支撑板(被待测样件80遮挡),待测样件支撑板上具有检验棒让位孔,以保证孔径检验棒50的通段51能够顺利穿过待测孔。待测样件支撑板的下方还设置有支腿11,支腿11支撑在待测样件支撑板的下方,以使待测样件支撑板的下方形成孔径检验棒50穿过的预留空间,支腿11的下端还设置有垫块13,以起到稳定支腿11的作用。
为了提高本发明提供的孔径检验工装的整体性以及操作的可靠性,本发明提供的孔径检验工装还包括检验基座60,检验基座60包括底板61,待测样件安放支架10和升降机构70均设置在底板61上,底板61的下方还设置有用于支撑底板61的底板支脚63。
利用本发明提供的孔径检验工装对边板的孔径进行检验的过程如下:
1、将待测样件80放置于待测样件支撑板上;
2、调整待测样件支撑板的位置,使待测样件80的孔对准对应规格的孔径检验棒50;
3、旋转升降操作手柄79,孔径检验棒50向待测样件80方向垂直移动,使孔径检验棒50与待测孔的轴线重合;
4、如果通段51通过、止段53止住,说明待测样件80合格;如果通段51止住,说明孔径偏小;如果止段53通过,说明孔径偏大,均为不合格。
利用本发明提供的孔径检验工装,能够大大提高检验效率,检验效率的提高倍数与边板上孔的数量有关,例如,如果一个边板上有二十个具有第一孔径的待测孔和二十个具有第二孔径的待测孔,按照现有的技术方案检验时,则要检验八十次,而按此工装检验,则一次就可以完成检验。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种孔径检验工装,其特征在于,包括:
待测样件安放支架(10);
检验棒安装体(30),设置在所述待测样件安放支架(10)的上方;
多个规格可选择的孔径检验棒(50),具有通段(51)和止段(53),所述通段(51)的外径小于相应规格的待测孔的内径,所述止段(53)的外径大于所述待测孔的内径,所述孔径检验棒(50)按照所述通段(51)在下、所述止段(53)在上的方向安装在所述检验棒安装体(30)的下方,所述孔径检验棒(50)的所述通段(51)所在的一端呈锥形;
其中,所述检验棒安装体(30)包括:
第一安装板(31),具有沿上下方向延伸的导向孔,所述导向孔内设置有推顶所述孔径检验棒(50)的推顶弹性件(40),所述推顶弹性件(40)的上端与所述第一安装板(31)相连,所述推顶弹性件(40)的下端与所述孔径检验棒(50)的顶端相连;
第二安装板(33),设置在所述第一安装板(31)的下面,并具有多个与所述导向孔同轴的T形孔,所述孔径检验棒(50)的所述止段(53)所在的一端形成有与所述T形孔的内径大的孔段相配合的环台(55);
所述环台(55)的外径以及所述孔径检验棒(50)的位于所述T形孔内的部分的外径与所述T形孔的内壁之间形成有便于所述孔径检验棒(50)的下端摆动的活动空间。
2.根据权利要求1所述的孔径检验工装,其特征在于,还包括升降机构(70),设置在所述待测样件安放支架(10)的一侧,所述升降机构(70)包括:
升降导向柱(71),沿与所述孔径检验棒(50)的轴向平行的方向延伸;
升降定位块(73),沿所述升降导向柱(71)的延伸方向高度可调地固定在所述升降导向柱(71)的一侧,所述检验棒安装体(30)与所述升降定位块(73)相连。
3.根据权利要求2所述的孔径检验工装,其特征在于,
所述升降导向柱(71)的一侧设置有让位槽,所述让位槽内设置有升降调节螺杆(75),所述升降调节螺杆(75)的延伸方向与所述升降导向柱(71)的延伸方向相同;
所述升降定位块(73)的与所述升降导向柱(71)相对的侧面上设置有与所述升降调节螺杆(75)相配合并沿所述升降调节螺杆(75)可移动的螺母。
4.根据权利要求3所述的孔径检验工装,其特征在于,
所述让位槽的槽口端面上还设置有与所述升降调节螺杆(75)的延伸方向平行的导轨(77),所述升降定位块(73)上形成有与所述导轨(77)相配合的滑槽。
5.根据权利要求3所述的孔径检验工装,其特征在于,所述升降机构(70)还包括:
升降操作手柄(79),设置在所述升降导向柱(71)的顶端,所述升降操作手柄(79)与所述升降调节螺杆(75)的上端相连。
6.根据权利要求1所述的孔径检验工装,其特征在于,所述待测样件安放支架(10)包括:
待测样件支撑板,具有检验棒让位孔;
支腿(11),支撑在所述待测样件支撑板的下方;
垫块(13),设置在所述支腿(11)的下端。
7.根据权利要求2所述的孔径检验工装,其特征在于,还包括检验基座(60),所述检验基座(60)包括:
底板(61),所述待测样件安放支架(10)和所述升降机构(70)均设置在所述底板(61)上;
底板支脚(63),支撑在所述底板(61)的下方。
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