CN104390911A - 一种芯片键合线焊接力度的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种芯片键合线焊接力度的检测方法,包括以下步骤:S1:配制质量分数为20%~30%氢氧化钾溶液;S2:检查芯片是否已采用塑封材料进行封装,如果是,则转到步骤S3,否则转到步骤S5;S3:将芯片置入腐蚀液中,去除芯片的封装材料,露出金线;S4:将芯片从腐蚀液中取出,用丙酮进行清洗;S5:将S1中配置的氢氧化钾溶液加热,保持氢氧化钾溶液温度在40~60℃;S6:将芯片浸入S5的氢氧化钾溶液中,腐蚀1.5~3分钟,然后取出芯片;S7:用清水冲洗芯片;S8:用离子风机将带检测芯片风干;S9:将芯片置于40倍显微镜下,使用钩针将目标金线剥离焊垫,观察芯片焊垫上的弹坑,以判断键合线的焊接力度。
Description
技术领域
本发明属于芯片焊接力度检测技术领域,涉及一种芯片键合线焊接力度的检测方法,尤其是一种金线作为键合线的焊接力度的检测方法;该检测方法既能够快速将键合线和芯片进行分离,又能够确保键合线留在芯片上的弹坑的痕迹不受损坏。
背景技术
在芯片的生产制造过程中,需要通过在芯片的晶圆焊垫上焊接键合线,以实现芯片内部电路与外界电路的电连接,而键合线通常采用金线;键合线与晶圆焊垫的接触点被称为金球,焊接方式通常采用超声焊焊接,使金线瞬间熔化并与焊垫粘接,从而实现芯片内部电路与外界电路的电连接。
在实际操作过程中,由于各种原因将会导致焊接时力度不同,从而会影响芯片内部电路与外界电路的电连接效果;如果焊接时力度过大可能会对焊垫甚至晶圆内部的线路造成损伤,影响芯片质量,而如果焊接力度过小可能会降低金线键合质量,容易出现开路的情况。
因此,为检测键合线在焊接过程中的力度,通常会抽取部分芯片将键合线与焊垫分离,判断键合线在焊垫留下的弹坑痕迹,以确定焊接力度是否合适,从而判断焊接质量是否达到生产要求;该过程通常被称为弹坑实验。
现有技术中,通常采用酸性溶液,如磷酸、王水;或者双氧水进行弹坑实验;但是采用上述溶液进行弹坑实验时,容易出现弹坑被溶液损伤,或者无法将键合线与焊垫进行分离的现象;此为现有技术的不足之处。
发明内容
本发明的目的在于,针对上述现有技术中存在的技术缺陷,提供设计一种芯片键合线焊接力度的检测方法,以解决上述技术问题,既能够快速将键合线和芯片进行分离,又能够确保键合线留在芯片上的弹坑的痕迹不受损坏。
为实现上述目的,本发明给出以下技术方案:
一种芯片键合线焊接力度的检测方法,包括以下步骤:
S1:配制质量分数为20%~30%的氢氧化钾溶液;
S2:检查待检测芯片是否已采用塑封材料进行封装,如果是,则转到步骤S3,否则转到步骤S5;
S3:将待检测芯片置入腐蚀液中,去除检测芯片的封装材料,露出金线,在此过程中需要确保金线不受腐蚀液的影响;
S4:将待检测芯片从腐蚀液中取出,用丙酮进行清洗,然后将待检测芯片晾干;
S5:将S1中配置的氢氧化钾溶液加热,保持氢氧化钾溶液温度在40~60℃;
S6:用镊子将键合线外露的芯片轻轻浸入到S5中的氢氧化钾溶液中进行腐蚀,腐蚀1.5~3分钟,再用镊子将待检测芯片从氢氧化钾溶液中取出;
S7:用清水充分冲洗待检测芯片,以去除粘附于待检测芯片表面残余的氢氧化钾溶液;
S8:采用离子风机将带检测芯片风干,以蒸发存留在待检测芯片表面的水分;
S9:将待检测芯片置于放大倍数为40倍的显微镜下,使用钩针将目标金线剥离焊垫,观察芯片焊垫上的弹坑,以判断键合线的焊接力度。
优选地,所述步骤S3中的腐蚀液为硝酸;采用硝酸作为封装材料的腐蚀液,能够快速溶解封装材料,同时不易破坏键合线。
优选地,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为40℃,所述步骤S6中腐蚀时间为3分钟。
优选地,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为50℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2.5分钟。
优选地,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为60℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2分钟。
优选地,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为40℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2.5分钟。
优选地,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为50℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2分钟。
优选地,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为60℃,所述步骤S6中腐蚀时间为1.5分钟。
本发明的有益效果在于,采用该检测方法,既能够使得键合线与焊垫分离,又能够避免键合线与焊垫之间的弹坑痕迹被破坏,从而准确检测焊接芯片时的焊接力度;此外,本发明设计原理可靠,具有非常广泛的应用前景。
由此可见,本发明与现有技术相比,具有突出的实质性特点和显著地进步,其实施的有益效果也是显而易见的。
具体实施方式
下面通过具体实施例对本发明进行详细阐述,以下实施例是对本发明的解释,而本发明并不局限于以下实施方式。
实施例一:
本发明提供的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,包括以下步骤:
S1:配制质量分数为20%~30%的氢氧化钾溶液;
S2:检查待检测芯片是否已采用塑封材料进行封装,如果是,则转到步骤S3,否则转到步骤S5;
S3:将待检测芯片置入腐蚀液中,去除检测芯片的封装材料,露出金线,在此过程中需要确保金线不受腐蚀液的影响;
S4:将待检测芯片从腐蚀液中取出,用丙酮进行清洗,然后将待检测芯片晾干;
S5:将S1中配置的氢氧化钾溶液加热,保持氢氧化钾溶液温度在40~60℃;
S6:用镊子将键合线外露的芯片轻轻浸入到S5中的氢氧化钾溶液中进行腐蚀,腐蚀1.5~3分钟,再用镊子将待检测芯片从氢氧化钾溶液中取出;
S7:用清水充分冲洗待检测芯片,以去除粘附于待检测芯片表面残余的氢氧化钾溶液;
S8:采用离子风机将带检测芯片风干,以蒸发存留在待检测芯片表面的水分;
S9:将待检测芯片置于放大倍数为40倍的显微镜下,使用钩针将目标金线剥离焊垫,观察芯片焊垫上的弹坑,以判断键合线的焊接力度。
本实施例中,所述步骤S3中的腐蚀液为硝酸;采用硝酸作为封装材料的腐蚀液,能够快速溶解封装材料,同时不易破坏键合线。
本实施例中,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为40℃,所述步骤S6中腐蚀时间为3分钟。
实施例二:
本实施例与实施例一的不同之处在于:
本实施例中,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为50℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2.5分钟。
实施例三:
本实施例与实施例一的不同之处在于:
本实施例中,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为60℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2分钟。
实施例四:
本实施例与实施例一的不同之处在于:
本实施例中,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为40℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2.5分钟。
实施例五:
本实施例与实施例一的不同之处在于:
本实施例中,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为50℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2分钟。
实施例六:
本实施例与实施例一的不同之处在于:
本实施例中,所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为60℃,所述步骤S6中腐蚀时间为1.5分钟。
以上公开的仅为本发明的优选实施方式,但本发明并非局限于此,任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化,以及在不脱离本发明原理前提下所作的若干改进和润饰,都应落在本发明的保护范围内。
Claims (8)
1.一种芯片键合线焊接力度的检测方法,包括以下步骤:
S1:配制质量分数为20%~30%的氢氧化钾溶液;
S2:检查待检测芯片是否已采用塑封材料进行封装,如果是,则转到步骤S3,否则转到步骤S5;
S3:将待检测芯片置入腐蚀液中,去除检测芯片的封装材料,露出金线,在此过程中需要确保金线不受腐蚀液的影响;
S4:将待检测芯片从腐蚀液中取出,用丙酮进行清洗,然后将待检测芯片晾干;
S5:将S1中配置的氢氧化钾溶液加热,保持氢氧化钾溶液温度在40~60℃;
S6:用镊子将键合线外露的芯片轻轻浸入到S5中的氢氧化钾溶液中进行腐蚀,腐蚀1.5~3分钟,再用镊子将待检测芯片从氢氧化钾溶液中取出;
S7:用清水充分冲洗待检测芯片,以去除粘附于待检测芯片表面残余的氢氧化钾溶液;
S8:采用离子风机将带检测芯片风干,以蒸发存留在待检测芯片表面的水分;
S9:将待检测芯片置于放大倍数为40倍的显微镜下,使用钩针将目标金线剥离焊垫,观察芯片焊垫上的弹坑,以判断键合线的焊接力度。
2.根据权利要求1所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S3中的腐蚀液为硝酸。
3.根据权利要求1或2所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为40℃,所述步骤S6中腐蚀时间为3分钟。
4.根据权利要求1或2所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为50℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2.5分钟。
5.根据权利要求1或2所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为20%,所述步骤S5中加热的温度为60℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2分钟。
6.根据权利要求1或2所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为40℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2.5分钟。
7.根据权利要求1或2所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为50℃,所述步骤S6中腐蚀时间为2分钟。
8.根据权利要求1或2所述的一种芯片键合线焊接力度的检测方法,其特征在于:所述步骤S1中的氢氧化钾溶液的质量分数为30%,所述步骤S5中加热的温度为60℃,所述步骤S6中腐蚀时间为1.5分钟。
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20150304 |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |