CN104345062B - 光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置 - Google Patents

光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置。将光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给，使上述光学构件通过特定配置后的上述光源部与上述拍摄部之间而进行该光学构件的检查。

Description

光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的 检查装置
技术领域
本发明涉及光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置，更详细而言，涉及具有用于向被检查物照射光的光源部和用于自相反一侧对被检查物的被该光源部照射有光的部位进行拍摄的拍摄部的检查装置、利用该检查装置来检查光学构件的方法以及使用该检查过的光学构件的光学产品的制造方法。
背景技术
以往，作为应用于图像显示装置等光学产品的光学膜而使用偏振膜(偏振片)。
在光学膜厂商处，该偏振膜是以例如在该偏振膜的至少一个面上借助粘合层层叠了保护膜而成的膜层叠体的状态实现产品化的。
并且，在光学产品厂商处，将偏振膜在剥离上述保护膜后安装于图像显示装置等。
另外，通常，偏振膜被连续地制作而成为长条的带状。
然后，偏振膜被制成在至少一个面上借助粘合层层叠了上述保护膜而成的膜层叠体，并将该膜层叠体以卷取成卷状的被称作原料卷(日文：原反ロール)的形式暂时保管。
之后，利用冲裁等将偏振膜自上述原料卷加工成具有规定形状的片材，该片材成为用于安装于光学产品的产品。
此外，上述原料卷未必在整个面上均是合格品，通常，在上述冲裁前，会输入到检查装置来检测缺陷部位。
作为用于检查该原料卷那样的片状的光学构件的检查装置，公知有如下类型的检查装置，该检查装置公知有具有光源部和拍摄部，在该检查装置中，一边使作为被检查物的光学构件沿水平方向通过在上下方向上相对配置的拍摄部与光源部之间，一边自下表面侧利用上述光源部向该光学构件照射光且自光学构件的上侧利用上述拍摄部拍摄该光照射部位而检测缺陷(参照下述专利文献1)。
另外，还公知有如下那样的检查方法：并不是以使光学构件呈水平状态的方式检查光学构件，而是以使光学构件的移动方向成为铅垂方向的方式进行检查(参照下述专利文献2)。
即，在以往的光学产品的制造方法中，实施检测片状的光学构件的缺陷的工序和从该工序后的光学构件中切出比该光学构件小的片材的工序，使用该片材来制造光学产品。
并且，检测上述光学构件的缺陷的工序通常是以如下方法进行的：将上述光学构件中的被来自上述光源部的光照射的光照射部位固定并将该光照射部位作为上述拍摄部所拍摄的拍摄部位，通过使光学构件通过该拍摄部与上述光源部之间而沿着该光学构件的长度方向依次检测缺陷。
专利文献1：日本特开2007－213016号公报
专利文献2：日本特开2009－069142号公报
发明内容
发明要解决的问题
在使用上述那样的检查装置的检查方法中，当然不能利用该检查装置检测在利用拍摄部进行拍摄后附着在光学构件上的附着物。
因而，为了防止附着物被带入到最终的光学产品中而使光学产品的成品率降低，要求在通过上述拍摄部位之后不产生附着物。
尤其是，光学构件是在最外表面具有粘合层且在该粘合层的背面侧上层叠有上述偏振膜的层叠体，使光学构件以该粘合层位于上表面侧的方式通过上述光源部与上述拍摄部之间，在以上那样的形态中，在粘合层的表面粘合力的作用下，附着物难以脱落，从而难以期待在拍摄后附着的附着物自然地从光学构件脱落。
因而，在这样的形态中，特别强烈要求在上述拍摄后不产生附着物。
对于这样的要求，如上述专利文献2(日本特开2009－069142)所示，能够想到以使由粘合层和偏振膜构成的层叠体的移动方向成为铅垂方向的方式进行检查而防止产生拍摄后的附着物的方法。
但是，在这样的检查方法中，由于层叠体的移动方向成为铅垂方向，因此，装置高度变高，从而有可能使作业性降低，因而难以采用该检查方法。
此外，不仅对于以带有粘合层的方式使用的偏振膜要求在拍摄后不产生附着物，对于其他的光学膜也同样要求在拍摄后不产生附着物。
但是，在以往的光学构件的检查方法中，没有充分地满足上述那样的要求，在光学产品的制造过程中难以使成品率提高到以往的成品率以上。
本发明将解决这样的问题作为课题，其课题在于，提供能够抑制检查装置本身或者具有该检查装置的光学构件的生产线的设备高度变高且抑制在上述拍摄后在光学构件上产生附着物的光学构件的检查方法，进而提高在光学产品的制造过程中的成品率。
用于解决问题的方案
本发明人为了解决上述问题而进行了认真研究，结果发现了如下情况而完成了本发明：有时自拍摄部、光源部产生微小的异物，这有时会导致附着物附着在通过拍摄部所拍摄的拍摄部位后的光学构件上，并且，使位于光学构件的上侧的拍摄部或光源部位于比上述拍摄部位的正上方靠上游侧的位置能有效抑制上述附着物。
即，为了解决上述问题，本发明提供一种光学构件的检查方法，在该检查方法中，将片状的光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给，一边使上述光学构件通过上述光源部与上述拍摄部之间，一边自上述光源部向该光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测上述光学构件的缺陷，其特征在于，使上述光学构件以水平状态或相对于水平方向倾斜的状态通过上述光源部与上述拍摄部之间，并且，使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置，而实施上述缺陷的检测。
另外，为了解决上述问题，本发明提供一种光学产品的制造方法，在该制造方法中，从片状的光学构件中切出比该光学构件小的片材，使用该片材来制造光学产品，其中，使用被实施了上述检查方法的光学构件，并从经上述检查方法没有发现缺陷的部分中切出上述片材。
并且，为了解决上述问题，本发明提供一种光学构件的检查装置，其用于检查片状的光学构件，该光学构件的检查装置具有光源部和拍摄部，自上述光源部向通过该光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测缺陷，其特征在于，以使通过上述光源部与上述拍摄部之间的光学构件成为水平状态或相对于水平方向倾斜的状态的方式形成上述光学构件的移动路径，且使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比上述光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置。
发明的效果
采用本发明，检查装置的拍摄部和光源部中的位于光学构件的上侧的一者位于比光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠光学构件的移动方向上游侧的位置。
因而，采用本发明，能够抑制没有被拍摄部检测到的附着物被带入到最终的光学产品中的情况。
并且，本发明由此能够抑制光学产品的成品率降低的情况。
另外，采用本发明，由于不使光学构件沿铅垂方向在拍摄部与光源部之间移动，因此能够抑制检查装置本身、光学构件的制造设备的高度变高的情况。
此外，在本发明中，为了更加显著地发挥上述那样的效果，优选的是，使通过上述光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件成为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态来实施上述缺陷的检测。
另外，在本发明中，为了易于将上述光源部、上述拍摄部配置为接近光学构件而有效地节省空间，优选的是，以使将上述光源部和上述拍摄部相连的线段成为与上述光学构件的移动方向正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍摄部而实施上述缺陷的检测。
并且，在本发明中，在如下情况下能够更加显著地发挥抑制没有被拍摄部检测到的附着物被带入到最终的光学产品中的效果：上述光学构件是在最外表面具有粘合层且在该粘合层的背面侧上层叠有偏振膜的层叠体，使上述光学构件以该粘合层位于上表面侧的方式通过上述光源部与上述拍摄部之间。
附图说明
图1是表示应用本发明的检查方法的光学构件的结构的概略立体图。
图2是表示用于实施本发明的检查方法的设备的概略结构的概略设备图。
图3是将图2的主要部分放大表示的主要部分放大图。
具体实施方式
下面，说明本发明的优选的实施方式。
首先，一边参照表示应用本发明的检查方法的光学构件的结构的图1一边说明该光学构件。
本发明的实施方式的上述光学构件是至少包括光学膜的片状的光学构件，且是由包括上述光学膜在内的多个膜构成的膜层叠体。
如图1所示，该膜层叠体具有长条的带状的光学膜fx和用于保护该光学膜fx的两个面的两张保护膜fy、fz。
该膜层叠体f0中的两张上述保护膜fy、fz具有与光学膜fx相同的形状，并分别借助粘合层a1、a2粘接于光学膜fx。
因而，对于本实施方式中的膜层叠体f0，其俯视形状与光学膜fx的俯视形状相同，厚度厚于光学膜fx的厚度，并具有从图1的上方起依次由保护膜fy、粘合层a1、光学膜fx、粘合层a2以及保护膜fz构成的层结构。
此外，在本实施方式中，两张上述保护膜fy、fz这两者均要在利用检查装置进行检查前自光学膜fx剥离。
更详细地说明一下，上述保护膜fy、fz中的上侧的保护膜fy要在检查前自保护膜fy与光学膜fx之间的粘合层a1(以下，也称作“第1粘合层a1”)的表面剥离。
另一方面，下侧的保护膜fz连同其与光学膜fx之间的粘合层a2(以下，也称作“第2粘合层a2”)一起构成带有粘合层的保护膜fb且该带有粘合层的保护膜fb要在检查前自光学膜f0的表面剥离。
此外，以下，在仅称作“保护膜”的情况下，只要没有特别指定，则指的是构成带有粘合层的保护膜fb的、要自光学膜fx剥离的下侧的保护膜fz，要自第1粘合层a1的表面剥离的上侧的保护膜fy称作“第1保护膜fy”或“离型膜fy”，以与下侧的保护膜fz相区别。
另外，以下，为了使区别更加明确，有时将下侧的保护膜fz称作“第2保护膜fz”。
如上所述，在本实施方式中，利用检查装置进行的检查是在将带有粘合层的保护膜fb和离型膜fy自光学膜fx去除之后实施的。
因而，在本实施方式中利用检查装置检查的被检查物是层叠体fa，该层叠体fa在最外表面具有上述第1粘合层且在该第1粘合层a1的背面侧层叠有上述光学膜fx。
构成实施本实施方式的检查方法的层叠体fa的上述光学膜fx能够为例如在聚合物膜之间夹持有偏振片而成的偏振膜。
接着，一边参照图2、3一边说明用于检查由该光学膜fx和粘合层层叠而成的层叠体fa的缺陷部位的设备。
图2表示从相对于上述层叠体fa的移动方向而言的侧方观察设备的情形。
也如该图2所示，在上述设备中设有输出机1，该输出机1安装有由膜层叠体f0卷取成卷状而成的原料卷，用于自该原料卷的外侧放出上述膜层叠体f0。
另外，在该设备中设有保护膜卷取机2，该保护膜卷取机2用于从由上述输出机1放出的膜层叠体f0将作为由上述第2保护膜fz和上述第2粘合层a2构成的层叠体的带有粘合层的保护膜fb剥离并卷取。
并且，在该设备中设有离型膜卷取机3和检查装置10，该离型膜卷取机3用于自上述膜层叠体f0进一步将离型膜fy剥离并卷取，该检查装置10用于将自膜层叠体f0剥离并去除带有粘合层的保护膜fb和离型膜fy而得到的层叠体fa作为被检查物而进行检查。
另外，虽未图示，上述设备在上述检查装置10的下游侧设有标记装置，该标记装置用于对由该检查装置10发现的缺陷部位进行标记而明示。
上述检查装置10具有用于发现层叠体fa的缺陷部位的拍摄部11和用于自背面侧向该拍摄部11所拍摄的拍摄部位照射光的光源部12。
上述检查装置10在本实施方式中构成为能够将以下部位检测为缺陷部位：伤痕部位，薄壁部位，针孔部位，异物附着部位，以及由于除这些以外的原因导致超过容许范围而使偏振特性与周围不同的部位等。
该检查装置10的上述拍摄部11能够由例如线传感器拍摄装置(日文：ラインセンサカメラ)、面传感器拍摄装置(日文：エリアセンサカメラ)等构成。
该线传感器拍摄装置、面传感器拍摄装置无需单独使用，也可以将多台线传感器拍摄装置、面传感器拍摄装置沿层叠体fa的宽度方向(大致水平方向)排列配置而形成拍摄部11。
另外，总之，上述拍摄部11也可以由具有不同功能的多台装置构成。
上述光源部12能够使用荧光灯、卤素灯、金属卤化物灯、LED等来形成。
与上述拍摄部11同样地，该光源部12也可以由荧光灯、卤素灯、金属卤化物灯、LED等沿层叠体fa的宽度方向排列多个而形成，在该情况下，无需排列配置相同光源，这一点也与拍摄部11相同。
在本实施方式的检查装置10中，上述拍摄部11和上述光源部12以在铅垂方向上具有高度差的方式设置，更详细而言，上述拍摄部11配置在比上述光源部12靠上方的位置。
并且，在本实施方式的检查装置10中，上述拍摄部11和上述光源部12以在水平方向上位置偏移的方式设置。
即，上述拍摄部11并没有配置在上述光源部12的正上方，而是配置在上述光源部12的斜上侧。
并且，在本实施方式的检查装置10中，以使作为被检查物的上述层叠体fa通过上述拍摄部11与上述光源部12之间的方式形成上述层叠体fa的移动路径，该移动路径构成为能够使通过拍摄部11与光源部12之间的上述层叠体fa成为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态。
并且，上述拍摄部11和上述光源部12以使将上述拍摄部11和上述光源部12相连的线段与通过拍摄部11与上述光源部12之间的上述层叠体fa相正交的方式配置。
即，上述层叠体fa的上述拍摄部11所拍摄的拍摄部位是通过以自上述拍摄部11起相对于层叠体表面构成垂线的方式描绘出的假想线(图2的X1)与该层叠体fa之间的交点且与层叠体fa的宽度方向平行的直线状的区域(图3的A)。
此外，此处，将拍摄部位例示为较细的直线状，但本实施方式中的拍摄部位并不限定于这样的形状。
即，根据构成上述拍摄部11的装置的不同，所拍摄的区域的宽度、形状等当然也不同，例如，在由上述线传感器拍摄装置构成上述拍摄部11的情况下，所拍摄的区域成为图3所示那样的细线状的区域，在由上述面传感器拍摄装置构成拍摄部11的情况下，所拍摄的区域的宽度形成为大于使用线传感器拍摄装置时的所拍摄的区域的宽度，但在本实施方式中，该区域的形状并没有特别限定。
上述光源部12以至少能够对该拍摄部位A的背侧以充分的照度实施光照射的方式配置于检查装置10。
在使用该检查装置10的层叠体fa的检查方法中，上述层叠体fa作为被检查物向上述检查装置10供给，在上述层叠体fa通过上述光源部12与上述拍摄部11之间时，自上述光源部12向上述层叠体fa的下表面侧照射光且自相反一侧利用上述拍摄部11对上述层叠体fa的被该光照射的部位进行拍摄而检测缺陷。
并且，通过使通过光源部12与拍摄部11之间的上述层叠体fa为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态，从而使位于该层叠体fa的上侧的上述拍摄部11位于比拍摄部位A的正上方靠上述移动方向D的上游侧的位置而检测上述缺陷。
此处，上述拍摄部11整体位于比上述拍摄部位A的正上方(图3的假想线X2)靠上述层叠体fa的移动方向上游侧BW的位置，上述拍摄部11没有任何一部分位于下游侧FW。
由此，即便在附着于构成拍摄部11的线传感器拍摄装置的外部的尘埃等下落到层叠体fa之上、或自该线传感器拍摄装置的内部产生微小异物且该微小异物下落到层叠体fa之上那样的情况下，也会增加使上述尘埃、微小异物等下落到比拍摄部位A靠上游侧的位置的可能性。
并且，该微小异物能够被拍摄部11拍摄而识别为缺陷。
因而，与以往的使层叠体水平移动且自正上方拍摄该层叠体那样的检查方法相比，本实施方式的检查方法能够降低没有检测到的缺陷被带入到作为最终产品的光学产品中的可能性。
此外，在将拍摄部11和光源部12调换那样的情况下，也能够同样发挥这样的效果。
即，在如下情况下也能够发挥上述效果：设成使通过光源部与拍摄部之间的上述层叠体为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态，使位于该层叠体的上侧的光源部位于比层叠体的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠上述移动方向的上游侧的位置而检测上述缺陷。
此外，为了获得的上述效果，使位于层叠体的上侧的拍摄部或光源部位于比层叠体的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠上述层叠体的移动方向上游侧的位置且使上述层叠体逐渐上升倾斜的做法尤其有效。
对此进行一下说明，即使使通过拍摄部与光源部之间的层叠体的移动路径为朝向移动方向去逐渐下降的倾斜状态、水平状态，通过使位于层叠体的上侧的拍摄部或光源部位于比上述拍摄部所拍摄的层叠体的拍摄部位的正上方靠上述层叠体的移动方向上游侧的位置，也能够降低没有检测到的缺陷被带入到作为最终产品的光学产品中的可能性。
另一方面，在使上述层叠体逐渐上升倾斜的情况下，通过将拍摄部和光源部配置为在与层叠体正交的方向上相对，从而将位于上述层叠体的上侧的拍摄部或光源部配置在比拍摄部位的正上方靠上述层叠体的移动方向的上游侧的位置。
因而，在使上述层叠体逐渐上升倾斜的情况下，易于将拍摄部、光源部配置为接近层叠体并将拍摄部、光源部配置于比拍摄部位的正上方靠上述层叠体的移动方向的上游侧的位置。
即，通过使层叠体逐渐上升倾斜，能够节省用于检查的空间。
此外，即使在使层叠体的移动方向为铅垂方向的情况下，也能够将拍摄部和光源部配置为接近层叠体，而不使该拍摄部、上述光源部位于拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方。
但是，使辊等抵接于去除了保护膜、离型膜后的上述层叠体而进行移动方向的转换的做法并不优选，尤其是很难使某些构件与粘合层的表面相接触。
因而，在使层叠体的移动方向为铅垂方向的情况下，将配置在检查装置前后的装置类沿铅垂方向配置的必要性增加，结果有可能使设备的高度变高。
若设备高度变高，存在使在将被检查物设置于检查装置或进行该检查装置的设定时的作业性降低的可能性。
与此相对，当使层叠体以水平状态或相对于水平方向倾斜的状态通过拍摄部与光源部之间时，能够抑制设备的高度变高的可能性。
即，通过以使层叠体的角度(仰角)为0°(水平状态)、大于－90°且小于0°(逐渐下降倾斜)或大于0°且小于90°(逐渐上升倾斜)的方式设定层叠体在拍摄部与光源部之间的移动路径，能够防止设备的高度增加到需要高度以上。
这样，为了抑制设备的高度，使在通过上述拍摄部与上述光源部之间时的层叠体的角度(仰角)为大于－90°且小于90°。
为了更显著地发挥抑制装置高度的效果，优选使通过上述拍摄部与上述光源部之间时的层叠体的角度(仰角)为大于0°且为70°以下，尤其优选使通过上述拍摄部与上述光源部之间时的层叠体的角度(仰角)为大于0°且为60°以下。
此外，在实施这样的检查方法之后，再次将上述带有粘合层的保护膜和离型膜粘合于检查后的层叠体fa而形成与原来相同的那样的膜层叠体，之后利用上述标记装置来标明缺陷部位而进行外形加工，之后将膜层叠体安装于光学产品来使用即可。
即，在本实施方式中，在实施检测上述光学构件的缺陷的工序之后，能够实施对该光学构件进行外形加工的工序来制造光学产品。
更具体而言，在光学产品的制造方法中，实施从被实施了本实施方式的光学构件的检查方法之后的膜层叠体中切出比膜层叠体小的片材的工序而制成偏振片，并且，能够将膜层叠体中的除了利用检查发现的缺陷部分以外的部分切出片材而成的偏振片连同其他构件一起安装而制造光学产品。
在上述偏振片的切出时，能够应用利用汤姆逊刀模(日文：トムソン刃型)、冲压机(日文：パンチングプレス)等进行的冲裁方法那样的以往公知的方法。
另外，在光学产品的制造方法中，能够通过使切出的上述偏振片进一步形成相位差层或对上述偏振片施加防眩处理或者使上述偏振片与反射膜相组合等而制成图像显示装置的结构构件。
此外，作为安装有上述偏振片的光学产品，可列举出例如液晶显示装置、有机EL(电致发光)显示装置、等离子体显示板等图像显示装置、触摸面板等输入装置。
在上述光学产品的制造方法中，如上所述那样实施检测工序和切出工序，在该检测工序中，将片状的光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给，一边使上述光学构件通过上述光源部与上述拍摄部之间，一边自上述光源部向该光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测上述光学构件的缺陷，在该切出工序中，自检测工序后的光学构件中切出比该光学构件小的片材。
并且，在该制造方法的检测上述光学构件的缺陷的上述工序中，使上述光学构件以水平状态或相对于水平方向倾斜的状态通过上述光源部与上述拍摄部之间且使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠上述光学构件的移动方向上游侧的位置而实施上述缺陷的检测。
并且，在该制造方法的切出上述片材的上述工序中，自光学构件的没有发现缺陷的部分切出上述片材。
对于如此制作的光学产品，由于作为偏振片的原料的膜层叠体的缺陷部位变少，因此，该膜层叠体应用于产品的利用率变高，在成本方面也具有优势。
另外，由于在本实施方式中制造的光学产品能够抑制安装具有没能利用检查识别出的缺陷的偏振片的可能性，因此，与以往相比，能够期待提高成品率且能够防止连同上述偏振片一起安装的相位差膜、反射膜的浪费、或用于安装的劳力和时间的浪费。
因而，与以往相比，能够提高光学产品的制造效率。
此外，在本实施方式中，举出了对将粘合层层叠于偏振膜而成的层叠体进行检查的情况的例子。
并且，从难以期待使通过拍摄部位之后附着的附着物自然地脱落和能够更显著地发挥本发明的效果的观点考虑，例示了光学构件为上述那样的层叠体且使该层叠体以上述粘合层位于上表面侧的方式通过上述光源部与上述拍摄部之间那样的形态，但以使该粘合层位于下表面侧的方式实施检查的情况也在本发明的光学构件的检查方法所意图的范围内。
另外，本发明的检查方法的检查对象并不限定于由偏振膜和粘合层构成的两层构造，针对偏振膜单层的情况、以及层叠有其他的光学膜等的情况实施的检查方法也在本发明所意图的范围内。
即，在本实施方式中，例示了将离型膜fy和保护膜fz这两者剥离而进行偏振膜的检查的情况，但是，例如，以不将保护膜fz剥离的方式进行检查那样的情况也在本发明所意图的范围内。
并且，在本发明的检查方法中，并不将光学构件所具有的光学膜限定为偏振膜。
例如，对于相位差膜、增光膜等实施本实施方式所示那样的检查的情况也在本发明所意图的范围内。
另外，对于将偏振膜、相位差膜、增光膜等中的多个膜层叠而成的层叠膜实施本实施方式所示那样的检查的情况也在本发明所意图的范围内。
另外，在上述例示中，将拍摄部和光学部配置为与光学构件的通过方向相正交，但也可以如下那样实施，即，以使将拍摄部和光学部相连的线段不与光学构件的通过方向成直角的方式配置拍摄部和光学部。
即，本发明能够在其效果没有显著降低的范围内对上述例示施加适当变更。
附图标记说明
10、检查装置；11、拍摄部；12、光学部；fa、层叠体(被检查物)；fx、光学膜；fy、保护膜(离型膜)；fz、保护膜。

Claims (4)

1.一种光学构件的检查方法，在该检查方法中，将片状的光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给，一边使上述光学构件通过上述光源部与上述拍摄部之间，一边自上述光源部向该光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测上述光学构件的缺陷，其特征在于，
使上述光学构件以相对于水平方向倾斜的状态通过上述光源部与上述拍摄部之间，
使通过上述光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件成为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态，
使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置，并且，以使将上述光源部和上述拍摄部相连的线段成为与上述光学构件的移动方向正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍摄部，
在上述拍摄部位的正上方不存在上述光源部和上述拍摄部的任一者的状态下，实施上述缺陷的检测。
2.根据权利要求1所述的光学构件的检查方法，其中，
上述光学构件是在最外表面具有粘合层且在该粘合层的背面侧上层叠有偏振膜的层叠体，使该光学构件以上述粘合层位于上表面侧的方式通过上述光源部与上述拍摄部之间。
3.一种光学产品的制造方法，在该制造方法中，从片状的光学构件中切出比该光学构件小的片材，使用该片材来制造光学产品，其中，
使用被实施了权利要求1或2所述的光学构件的检查方法的光学构件，并从经上述检查方法没有发现缺陷的部分中切出上述片材。
4.一种光学构件的检查装置，其用于检查片状的光学构件，该光学构件的检查装置具有光源部和拍摄部，自上述光源部向通过该光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件的一面侧照射光且自上述光学构件的另一面侧利用上述拍摄部对上述光学构件的被该光照射的部位进行拍摄而检测缺陷，其特征在于，
以使通过上述光源部与上述拍摄部之间的光学构件成为相对于水平方向倾斜的状态、使通过上述光源部与上述拍摄部之间的上述光学构件成为朝向移动方向去逐渐上升的倾斜状态的方式形成上述光学构件的移动路径，使上述光源部和上述拍摄部中的位于上述光学构件的上侧的一者位于比上述光学构件的上述拍摄部所拍摄的拍摄部位的正上方靠该光学构件的移动方向上游侧的位置，并且，以使将上述光源部和上述拍摄部相连的线段成为与上述移动路径正交的方向的方式配置上述光源部和上述拍摄部，
在上述拍摄部位的正上方不存在上述光源部和上述拍摄部的任一者。
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