CN104332467A - 硅控整流器esd保护结构 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种硅控整流器ESD保护结构,包括:一硅控整流器其接地端通过并联的MOS管和第一电阻接地,所述MOS管栅极通过第二电阻接地;所述硅控整流器包括:位于P型阱顶端被P型阱隔离开的第一P+扩散区和第一N+扩散区,位于N型阱顶端被N型阱隔离开的第二P+扩散区和第二N+扩散区;第一P+扩散区和第一N+扩散区相连形成所述所述硅控整流器的接地端,第二P+扩散区和第二N+扩散区相连形成所述所述硅控整流器的静电端。本发明的硅控整流器ESD保护结构能提高硅控整流器开启后过低的骤回电压,能避免瞬态闩锁效应的发生。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路领域,特别是涉及一种硅控整流器ESD保护结构。
背景技术
静电是一种客观的自然现象,产生的方式多种,如接触、摩擦、电器间感应等。静电的特点是长时间积聚、高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。静电在至少两个领域造成严重危害。摩擦起电和人体静电是电子工业中的两大危害,常常造成电子电器产品运行不稳定,甚至损坏。ESD是20世纪中期以来形成的以研究静电的产生、危害及静电防护等的学科,国际上习惯将用于静电防护的器材统称为ESD。
硅控整流器(SCR)具有触发电压可调ESD保护能力强和面积小的优点。在实际应用中,硅控整流器比金属-氧化物-半导体场效应管有着更强的静电泄放能力,在同等条件下,硅控整流器的静电泄放能力是MOSFET的5~7倍。不过硅控整流器开启后位置电压(骤回电压)比较低,被意外出发后闩锁的风险较大,因此不能单独被选作ESD保护器件,特别是不能作为电源和地之间的ESD保护器件。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种能调节静电保护触发电压,能提高硅控整流器开启后过低的骤回电压,能避免瞬态闩锁效应的发生的硅控整流器ESD保护结构。
为解决上述技术问题,本发明的硅控整流器,包括:
一硅控整流器其接地端通过并联的MOS管和第一电阻接地,所述MOS管栅极通过第二电阻接地;
所述硅控整流器包括:位于P型阱顶端被P型阱隔离开的第一P+扩散区和第一N+扩散区,位于N型阱顶端被N型阱隔离开的第二P+扩散区和第二N+扩散区;第一P+扩散区和第一N+扩散区相连形成所述所述硅控整流器的接地端,第二P+扩散区和第二N+扩散区相连形成所述所述硅控整流器的静电端。
其中,所述MOS管为NMOS管,该NMOS管源极连接地,漏极连接所述硅控整流器的接地端,栅极通过第二电阻接地。
其中,所述MOS管为PMOS管,该PMOS管漏极连接地,源极连接所述硅控整流器的接地端,栅极通过第二电阻接所述硅控整流器的接地端。
其中,所述硅控整流器其接地端通过MOS管串接地,所述MOS管串与第一电阻形成并联,所述MOS管串各MOS管的栅极相连并通过第二电阻接地。
其中,所述MOS管串由至少两个源漏串联的NMOS管组成;
所述NMOS管串的第一个NMOS管的漏极连接所述硅控整流器的接地端,所述NMOS管串的第一个NMOS管的源极连接其他NMOS管的漏极;
所述NMOS管串的最后一个NMOS管的漏极连接其他NMOS管的源极,所述NMOS管串的最后一个NMOS管的源极连接地。
其中,所述MOS管串由至少两个源漏串联的PMOS管组成;
所述PMOS管串的第一个PMOS管的源极连接所述硅控整流器的接地端,所述PMOS管串的第一个PMOS管的漏极连接其他PMOS管的源极;
所述PMOS管串的最后一个PMOS管的源极连接其他PMOS管的漏极,所述PMOS管串的最后一个PMOS管的漏极连接地。
当本发明硅控整流器静电端有ESD静电时,硅控整流器接地端因为通过第一电阻和地相连处于0电位。随着静电端电压升高,会使得硅控整流器开启进入导通态,静电电流通过硅控整流器和第一电阻流向地端,此时在第一电阻上的电压降会抬升硅控整流器接地端电位,使MOS管的寄生BJT(三极管)开启,至此整个结构开始泄放ESD电流。本发明的触发电压基本上由硅控整流器决定,而开启后的维持电压等于硅控整流器本身维持电压和其所串联的MOS结构的维持电压之和。本发明的硅控整流器ESD保护结构能作为电源和地之间的ESD保护器件。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
图1是本发明硅控整流器的结构示意图。
图2图1硅控整流器的等效电路图。
图3是本发明ESD保护结构第一实施例示意图。
图4是本发明ESD保护结构第二实施例示意图。
图5是本发明ESD保护结构第三实施例示意图。
图6是本发明ESD保护结构第四实施例示意图。
附图标记说明
1 是P型阱
2 是N型阱
3 是第一P+扩散区
4 是第一N+扩散区
5 是第二P+扩散区
6 是第二N+扩散区
N1 是NMOS管
Rpw、Rnw 是等效电阻
Vbp、Vbn 是等效电压
LVSCR 是硅控整流器
R1 是第一电阻
Rg 是第二电阻
A 是硅控整流器接地端
B 是硅控整流器静电端
C 是地
具体实施方式
如图3所示,本发明ESD保护结构第一实施例,包括:
一硅控整流器其接地端通过并联的NMOS管N1和第一电阻R1接地,所述NMOS管N1栅极通过第二电阻接地,所述NMOS管N1源极连接地,所述NMOS管N1漏极连接所述硅控整流器的接地端,栅极通过第二电阻Rg接地;
如图1所示,所述硅控整流器包括:位于P型阱1顶端被P型阱1隔离开的第一P+扩散区3和第一N+扩散区4,位于N型阱2顶端被N型阱2隔离开的第二P+扩散区5和第二N+扩散区6;第一P+扩散区3和第一N+扩散区4相连形成所述所述硅控整流器的接地端A,第二P+扩散区5和第二N+扩散区6相连形成所述所述硅控整流器的静电端B。
如图4所示,本发明ESD保护结构第二实施例,其与本发明第一实施例的区别是:所述硅控整流器其接地端通过MOS管串接地,所述MOS管串与第一电阻R1形成并联,所述MOS管串各MOS管的栅极相连并通过第二电阻Rg接地,此实施例中所述NMOS管串由两个源漏串联的NMOS管组成;
所述NMOS管串的第一个NMOS管的漏极连接所述硅控整流器的接地端A,所述NMOS管串的第一个NMOS管的源极连接第二NMOS管的漏极;
所述NMOS管串的第二NMOS管的漏极连接第一NMOS管的源极,所述NMOS管串的第二NMOS管的源极连接地。
如图5所示,本发明ESD保护结构第三实施例,其与本发明第一实施例的区别是:所述MOS管是PMOS管P1,该PMOS管P1漏极连接地,源极连接所述硅控整流器的接地端A,栅极通过第二电阻Rg接所述硅控整流器的接地端A。
如图6所示,本发明ESD保护结构第四实施例,其与本发明第三实施例的区别是:
所述硅控整流器其接地端通过PMOS管串接地,所述PMOS管串与第一电阻R1形成并联,所述PMOS管串各PMOS管的栅极相连并通过第二电阻Rg接所述硅控整流器的接地端A,此实施例中所述NMOS管串由两个源漏串联的PMOS管组成;
所述PMOS管串的第一个PMOS管的源极连接所述硅控整流器的接地端A,所述PMOS管串的第一个PMOS管的漏极连接第二PMOS管的源极;
所述PMOS管串的第二PMOS管的源极连接第一PMOS管的漏极,所述PMOS管串的第二PMOS管的漏极连接地。
以上通过具体实施方式和实施例对本发明进行了详细的说明,但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下,本领域的技术人员还可做出许多变形和改进,这些也应视为本发明的保护范围。
Claims (6)
1.一种硅控整流器ESD保护结构,其特征是,包括:
一硅控整流器其接地端通过并联的MOS管和第一电阻接地,所述MOS管栅极通过第二电阻接地;
所述硅控整流器包括:位于P型阱顶端被P型阱隔离开的第一P+扩散区和第一N+扩散区,位于N型阱顶端被N型阱隔离开的第二P+扩散区和第二N+扩散区;第一P+扩散区和第一N+扩散区相连形成所述所述硅控整流器的接地端,第二P+扩散区和第二N+扩散区相连形成所述所述硅控整流器的静电端。
2.如权利要求1所述硅控整流器ESD保护结构,其特征是:所述MOS管为NMOS管,该NMOS管源极连接地,漏极连接所述硅控整流器的接地端,栅极通过第二电阻接地。
3.如权利要求1所述硅控整流器ESD保护结构,其特征是:所述MOS管为PMOS管,该PMOS管漏极连接地,源极连接所述硅控整流器的接地端,栅极通过第二电阻接所述硅控整流器的接地端。
4.如权利要求1所述硅控整流器ESD保护结构,其特征是:所述硅控整流器其接地端通过MOS管串接地,所述MOS管串与第一电阻形成并联,所述MOS管串各MOS管的栅极相连并通过第二电阻接地。
5.如权利要求4所述硅控整流器ESD保护结构,其特征是:所述MOS管串由至少两个源漏串联的NMOS管组成;
所述NMOS管串的第一个NMOS管的漏极连接所述硅控整流器的接地端,所述NMOS管串的第一个NMOS管的源极连接其他NMOS管的漏极;
所述NMOS管串的最后一个NMOS管的漏极连接其他NMOS管的源极,所述NMOS管串的最后一个NMOS管的源极连接地。
6.如权利要求5所述硅控整流器ESD保护结构,其特征是:所述MOS管串由至少两个源漏串联的PMOS管组成;
所述PMOS管串的第一个PMOS管的源极连接所述硅控整流器的接地端,所述PMOS管串的第一个PMOS管的漏极连接其他PMOS管的源极;
所述PMOS管串的最后一个PMOS管的源极连接其他PMOS管的漏极,所述PMOS管串的最后一个PMOS管的漏极连接地。
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