CN104060231A - TaN-Ag硬质薄膜及制备方法 - Google Patents

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喻利花
许俊华
黄婷
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Abstract

本发明公开了一种TaN-Ag硬质薄膜及其制备方法,TaN-Ag硬质薄膜是以高纯Ta靶和Ag靶为靶材,采用多靶共焦射频反应溅射法沉积在硬质合金或陶瓷基体上得到的,薄膜分子式为TaN-Ag,厚度在1-3μm;沉积时,真空度优于3.0×10-3Pa,以氩气起弧,氮气为反应气体,溅射气压0.3Pa、氩氮流量比10:(2-5);Ta靶功率为150-250W,Ag靶功率为0-40W且大于0。所得硬质涂层综合具备了高硬度,良好的耐磨性等优良特点。

Description

TaN-Ag硬质薄膜及制备方法
技术领域
本发明涉及一种涂层及其制备方法,特别是一种TaN-Ag硬质纳米结构薄膜及制备方法,属于陶瓷涂层技术领域。
背景技术
为了满足现代工业的快速发展,尤其是干式加工、高速切削加工等加工方式的出现,不仅要求切削刀具上的涂层具有高硬度、优异的高温抗氧化性能,而且更需要涂层具有优良的耐摩磨性能。传统的刀具涂层虽然具有较高硬度,但它们的耐磨性能不太理想,无法满足要求。氮化钽(TaN)薄膜具有高熔点、高硬度、良好的生物相容性等优异性能,可广泛用于集成电路构件、医学领域等中。溅射法制备的TaN薄膜硬度高达到22GPa,但其摩擦系数较高,约为0.7,与现代加工技术所要求的高硬度耐磨涂层如TiN相比,TaN薄膜耐磨性能较差,因而市场上没有发现二元的TaN薄膜用作切削刀具的保护涂层。
发明内容
为了克服现有TaN硬质纳米结构摩擦磨损性能不理想的缺点,本发明的目的是提供一种TaN-Ag硬质纳米结构薄膜,兼具高硬度和良好的摩擦磨损性能,可作为高速、干式切削的纳米结构硬质薄膜。
本发明的另一个目的是提供一种TaN-Ag硬质纳米结构薄膜的制备方法,具有较高生产效率。
本发明是通过以下技术方案实现上述目的的:
一种TaN-Ag硬质纳米结构薄膜,是以高纯Ta靶和Ag靶为靶材,采用多靶共焦射频反应溅射法沉积在硬质合金或陶瓷基体上得到,薄膜分子式为TaN-Ag,厚度在1-3μm,Ag含量为0-10at.%且大于0;
一种TaN-Ag硬质纳米结构薄膜的制备方法,其特征在于,是以高纯Ta靶和Ag靶为靶材,采用双靶共焦射频反应溅射沉积在硬质合金或陶瓷基体上;在基体上预先沉积纯Ta作为过渡层。
沉积时,真空度优于3.0×10-3Pa,以氩气起弧,氮气为反应气体,溅射气压0.3Pa、氩氮流量比10:(2-5);
Ta靶功率为150-250W,Ag靶功率为0-40W。
当Ag含量为0.86at.%时,复合膜的硬度达到最大值,为29GPa;
当Ag含量为6.4at.%时,室温摩擦系数低至0.52;
对Ag含量为6.4at.%的TaAgN复合膜进行高温干切削实验(室温至750℃),在750℃时摩擦系数最低,为0.39。
根据薄膜的主要成分,将该薄膜命名为TaN-Ag,该薄膜具有高硬度和良好的摩擦磨损性能。
附图说明:
图1为本发明TaN-Ag薄膜中Ag含量与Ag靶功率的变化关系曲线。由图可知,Ag含量随靶功率的增加而增加;
图2为本发明TaN-Ag复合膜的XRD图谱,加入Ag元素后,加入Ag元素后,TaN-Ag复合膜和TaN薄膜的微结构相近,都是由面心立方结构的TaN相和底心斜方的Ta4N相组成,TaN-Ag复合膜中没有出现Ag的衍射峰。
图3为本发明TaN-Ag复合膜硬度与Ag含量的变化关系。复合膜的硬度随Ag含量的增加先升高后降低。当Ag含量为0.86at.%时,硬度最高为29GPa;当Ag含量高于0.86at.%时,薄膜的显微硬度逐渐下降;可知加入少量Ag元素后,薄膜的硬度提高很多,可以用作高硬材料;
图4为本发明室温下TaN-Ag复合膜的摩擦系数与Ag含量的变化关系。可见,TaN-Ag复合膜的平均摩擦系数随Ag含量的增加先保持稳定后减小;当Ag含量为6.4at.%时,平均摩擦系数达到最小值,为0.52;
图5为本发明TaN-Ag复合膜干切削实验下平均摩擦系数随摩擦温度变化关系。可见,随温度升高,复合膜的平均摩擦系数逐渐降低,750℃时,摩擦系数为0.39。
具体实施方式
以下将结合实施例具体说明本发明的制备方法,具体如下:
TaN-Ag复合膜的制备是在JGP-450高真空多靶磁控溅射设备上完成的,该磁控溅射仪有三个溅射靶,分别安装在三个水冷支架上,三个不锈钢挡板分别安装在三个靶前面,通过电脑自动控制。纯Ta靶(99.99%)和Ag(99.99%)靶分别安装在独立的射频阴极上,靶材直径为75mm。将高速钢等硬质合金或陶瓷基体表面作镜面抛光处理,向真空室内充入纯度均为99.999%的Ar、N2混合气体,通过在高速钢等硬质合金或陶瓷的基体上采用纯Ta靶和Ag靶进行双靶共焦射频反应溅射方法沉积生成TaN-Ag硬质纳米结构薄膜。沉积TaN-Ag薄膜之前,通过挡板隔离基片与离子区,首先用Ar离子对靶材进行溅射10-15分钟,以去除靶材表面的杂质,避免杂质带入薄膜中。在基体上沉积100nm的纯Ta作为过渡层,以增强膜基结合力。溅射时间为2.5h,薄膜厚度为2-3μm。
其中,选用衬底为单晶硅片的薄膜进行成分、相结构和硬度进行研究;选用衬底为不锈钢的复合膜进行摩擦磨损性能的研究。衬底分别在丙酮和无水乙醇超声波中各清洗10-15min,以清除基体表面的油污与灰尘,快速烘干后装入真空室可旋转的基片架上。靶材到基片的距离约为11cm。真空室本底真空优于3.0×10-4Pa后通入纯度为99.999%的氩气起弧。工作气压保持在0.3Pa,同时Ar、N2流量比保持10:3,Ta靶功率固定为200W,制备一系列不同Ag靶功率(0-40W)的TaN-Ag薄膜。
实施例1-6考察了所得薄膜的硬度以及干切削实验下,室温平均摩擦系数随着Ag靶功率、Ag含量的变化情况,见表1:
表1
实施例7-11对Ag含量为6.4at.%的薄膜进行不同温度下的摩擦实验,结果见表2:
表2
以上仅列举了Ta靶功率固定为200W,Ag靶功率为0-40W,Ag含量为0-10at.%的情况,其中Ag含量为0at.%仅作为对比参照实例,在实际操作中,可操作功率是Ta靶功率150-250W,Ag靶功率为0-40W,沉积过程的溅射气压0.3Pa、氩氮流量比10:(2-5)。

Claims (5)

1.一种TaN-Ag硬质薄膜,其特征在于是以高纯Ta靶和Ag靶为靶材,采用多靶共焦射频反应溅射法沉积在硬质合金或陶瓷基体上得到,薄膜分子式为TaN-Ag,厚度在1-3μm;
Ag含量为0-10at.%且大于0;
在0-0.86at.%范围内,薄膜的硬度随Ag含量的增加而升高,0.86at.%-10at.%范围内,薄膜的硬度随Ag含量的增加而降低,当Ag含量高于0.86at.%时硬度最高为29GPa;
平均摩擦系数随Ag含量的增加先保持稳定后减小;当Ag含量为6.4at.%时,平均摩擦系数达到最小值;当Ag含量为6.4at.%时的复合膜的平均摩擦系数随温度升高而降低,750℃时,摩擦系数最低为0.39。
2.一种TaN-Ag硬质薄膜的制备方法,其特征在于,是以高纯Ta靶和Ag靶为靶材,采用双靶共焦射频反应溅射沉积在硬质合金或陶瓷基体上;在基体上预先沉积纯Ta作为过渡层;
沉积时,真空度优于3.0×10-3Pa,以氩气起弧,氮气为反应气体,溅射气压0.3Pa、氩氮流量比10:(2-5);Ta靶功率为150-250W,Ag靶功率为0-40W且大于0。
3.根据权利要求1所述的TaN-Ag硬质薄膜的制备方法,其特征在于Ta靶功率为200W,Ag靶功率为0-40W且大于0。
4.根据权利要求1所述的TaN-Ag硬质薄膜的制备方法,其特征在于Ta靶功率为200W,Ag靶功率为20W-30W。
5.根据权利要求1所述的TaN-Ag硬质薄膜的制备方法,其特征在于Ta靶功率为200W,Ag靶功率为25W。
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