CN104048952A - 光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种能够简便、快速、准确测量玻璃中二氧化硅含量的方法,该方法包括以下步骤:1)取玻璃粉样品于容器中,加入由硼砂和无水碳酸钠组成的混合熔剂;2)加热熔融至透明状,冷却;3)加入盐酸溶解,至溶液呈酸性,用水稀释,得到样品溶液;4)配制硅的标准系列溶液;5)等离子发射光谱仪测定标准系列溶液,然后测定样品溶液,仪器自动计算样品溶液中硅元素的含量;6)按公式计算得出二氧化硅含量。本发明采用ICP-AES法测试玻璃中的SiO2,简便、快速,减少了分析程序,提高了分析效率,减小了人为分析误差,能显著提高测量的重复性和准确度;可有效避免铝、钛对测试的干扰;可同时测量低含量的硅,且快速、准确。
Description
技术领域
本发明涉及一种玻璃含量的测量方法,特别是涉及一种光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法。
背景技术
目前二氧化硅含量的测试方法有盐酸二次脱水重量法、盐酸一次脱水-滤液比色法、动物胶凝聚重量法、氟硅酸钾容量法、比色法等。
盐酸二次脱水重量法是:试样用碳酸钠熔解,盐酸脱水,过滤不溶性二氧化硅,将沉淀灼烧至恒重,加氢氟酸蒸发,再灼烧至恒重,由氢氟酸处理前后二次重量之差计算二氧化硅的含量,由于硅胶部分以凝胶析出,部分以水溶胶留在溶液中必须进行二次脱水处理。该方法一向被认为是比较可靠的方法,但由于在分析过程中需要不断高温加热,反复灼烧恒重,分析的劳动强度大,硅胶一部分以水凝胶出现,另一部分以水溶胶出现,虽经二次脱水,其精度也有一定影响。
盐酸一次脱水-滤液比色法是:试样用碳酸钠熔解,盐酸脱水,过滤不溶性二氧化硅,将沉淀灼烧至恒重,加氢氟酸蒸发,再灼烧至恒重,由氢氟酸处理前后二次重量之差,计算二氧化硅的含量,但二氧化硅一次脱水不完全,还会有少量可溶性硅酸残留在溶液中,将残留在滤液中的二氧化硅进行比色测定,再由二者之和计算试样中二氧化硅的含量。该方法比盐酸二次脱水重量法准确度和分析速度高,但分析手段仍较繁琐。
凝聚重量-分光光度法是:试样用碳酸钠熔融,盐酸溶解,加入聚环氧乙烷使硅酸凝聚沉淀,过滤,将沉淀灼烧恒重,加氢氟酸蒸发,再灼烧恒重。氢氟酸处理前后两次称量之差即为沉淀中二氧化硅的量。再用硅钼兰比色法测定残留在滤液中二氧化硅的量,两者之和即为试样中二氧化硅的含量。该法使用聚环氧乙烷使硅胶凝聚其准确度较高,操作相对简便,与盐酸二次脱水重量法相比较,速度快一些,但精度要差一些。
以上方法盐酸二次脱水重量法准确度较高,但对于锆钛含量较高的样品在重量法的条件下形成硅酸的同时,生成其它沉淀,夹杂在硅酸沉淀中,不能用重量法来测定,并且这些方法测定速度慢,操作繁琐,分析周期长,生产效率低。
氟硅酸钾容量法是:试样用碱熔融,以水浸取熔块,经酸化后,控制适当酸度,在过量钾离子与氟离子的作用下,硅酸定量生成氟硅酸钾沉淀。沉淀在沸水中水解成HF,以NaOH标准溶液滴定,由消耗NaOH标准溶液的体积计算二氧化硅的含量。该方法简单、快捷,但该方法的测定条件要求较高,影响因素多。钛和铝含量较高时,对二氧化硅的测定有影响,因为氟铝酸钠(钾)、氟钛酸钠(钾)与氟硅酸钾沉淀混合在一起,在水解时也会类似氟硅酸钾一样水解生成HF,从而造成了结果的偏高。
当试样中SiO2含量在2%以下时,宜用比色法测定。比色法有硅钼黄和硅钼蓝两种。硅钼黄法可以测出比硅钼蓝法含量较高的SiO2,而后者的灵敏度却远比前者要高。因此在一般分析中,对少量硅的测定都采用硅钼蓝比色法。该方法对溶液的酸度、温度以及共存离子等因素都有严格要求,否则将影响测试结果,使用有一定的局限性。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种能够简便、快速、准确测量光学玻璃中二氧化硅含量的方法。
本发明解决技术问题所采用的技术方案是:光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,该方法包括以下步骤:
1)取玻璃粉样品于容器中,加入由硼砂和无水碳酸钠组成的混合熔剂;
2)加热熔融至透明状,冷却;
3)加入盐酸溶解,至溶液呈酸性,用水稀释,得到样品溶液;
4)取硅的标准溶液稀释,配制硅的标准系列溶液,按照同样条件加入上述步骤中混合熔剂,控制钠盐及盐酸的加入量与玻璃粉样品所用的量一致,制得标准系列溶液,保证标准系列溶液中钠盐及酸度与样品溶液相同;
5)等离子发射光谱仪测定上述步骤4)配制的标准系列溶液,仪器自动建立校准曲线,然后测定步骤3)得到的样品溶液,仪器自动计算样品溶液中硅元素的含量;
6)按下述公式计算得出二氧化硅含量:
(SiO2)%=2.1392*C*A*10-6/m*100%
其中:C为ICP-AES法测出的硅含量,(ug/mL);
A为玻璃粉样品的稀释倍数;
m为玻璃粉样品质量,g。
进一步的,步骤1)所述玻璃粉样品的重量份为0.2~0.4。
进一步的,步骤1)所述混合熔剂的重量份为1.5~3。
进一步的,步骤1)所述混合熔剂是由硼砂和无水碳酸钠按重量比例为1:1~2配置。
进一步的,步骤1)所述容器采用铂坩埚或铂金蒸发皿。
进一步的,步骤1)所述混合熔剂中的硼砂事先除去结晶水。
进一步的,所述步骤2)是:先低温加热,逐渐升高温度至950~1100℃,熔融至透明状,继续熔融10~15min,摇动容器,使熔融物均匀附于容器底部,冷却。
进一步的,步骤3)所述盐酸的浓度为6~12mol/L。
本发明的有益效果:采用ICP-AES法测试玻璃中的SiO2,简便、快速,减少了分析程序,提高了分析效率,减小了人为分析误差,能显著提高测量的重复性和准确度;可有效避免铝、钛对测试的干扰;可同时测量低含量的硅,且快速、准确。
具体实施方式
本发明的测量方法包括以下步骤:
1)称取0.2~0.4重量份的玻璃粉样品于容器中,加入1.5~3重量份的混合熔剂,该混合熔剂是由硼砂和无水碳酸钠按重量比例为1:1~2配置,盖上容器盖;
2)先低温加热,逐渐升高温度至950~1100℃,熔融至透明状,继续熔融10~15min,摇动容器,使熔融物均匀附于容器底部,冷却;
3)加入盐酸溶解熔块至溶液呈酸性,转移至容量瓶中,用水稀释至刻度,得到样品溶液;
4)取硅的标准溶液(1.000mg/mL,国家标准GSB04-1716-2004)适量稀释,配制硅的标准系列溶液,按照同样条件加入上述步骤1)中的混合熔剂,并控制钠盐及盐酸的加入量与玻璃粉样品所用的量一致,制得标准系列溶液,保证标准系列溶液中钠盐及酸度与样品溶液相同;
5)在等离子发射光谱仪最佳工作条件下,测定上述步骤4)配制的标准系列溶液,仪器自动建立校准曲线,然后测定步骤3)得到的样品溶液,仪器自动计算样品溶液中硅元素的含量;
6)按下述公式计算得出二氧化硅含量:
(SiO2)%=2.1392*C*A*10-6/m*100%
其中:C为ICP-AES法测出的硅含量,(ug/mL);
A为玻璃粉样品的稀释倍数;
m为玻璃粉样品质量,g。
本发明用ICP-AES法测试玻璃中的二氧化硅含量,相对于容量法、比色法,可有效避免干扰元素,显著提高测试的重复性和准确度;相对于重量法,用ICP-AES法测试,简便、快速,减少了沉淀、过滤等过程,溶完样即可用仪器测试,减少了分析程序,提高了分析效率,减小了人为分析误差。
本发明采用ICP-AES法测试玻璃中的SiO2,通过方法可靠性验证试验可知,试验相对偏差小于0.5%,加标回收率达到95%以上。
上述容器可以采用铂坩埚或铂金蒸发皿。上述混合熔剂中的硼砂最好事先除去结晶水。上述盐酸的浓度最好为6~12mol/L。
实施例1:
1)称取0.3g(精确至0.0001g)烘干的玻璃粉样品于铂坩埚中,加入混合熔剂:1g硼砂(须事先除去结晶水)和1g无水碳酸钠,与玻璃粉样品混匀,盖上坩锅盖;
2)先低温加热,逐渐升高温度至1000℃熔融至透明状,继续熔融15min,摇动坩锅,使熔融物均匀附于坩锅底部,冷却;
3)加入浓度为6mol/L的盐酸溶解熔块至溶液呈酸性,转移至250ml容量瓶中稀释至刻度,摇匀,得到样品溶液;
4)取硅的标准溶液(1.000mg/mL,国家标准GSB04-1716-2004)适量稀释,配制硅的标准系列溶液,按照同样条件加入上述步骤1)中的无水碳酸钠、硼砂、盐酸,控制钠盐及盐酸的加入量与玻璃粉样品所用的量一致,制得标准系列溶液,保证标准溶液中钠盐及酸度与样品溶液相同;
5)在等离子发射光谱仪最佳工作条件下,测定上述步骤4)配制的标准系列溶液,仪器自动建立校准曲线,然后测定步骤3)得到的样品溶液,仪器自动计算样品中硅元素的含量;
6)按下述公式计算得出二氧化硅含量:
(SiO2)%=2.1392*C*A*10-6/m*100%
其中:C为ICP-AES法测出的硅含量,(ug/mL)
A为样品的稀释倍数
m为样品质量,g。
7)方法可靠性试验
对玻璃粉样品重复测定六次,测定结果见下表。
8)加标对比实验
准确称取两份质量相等的玻璃粉样品,其中一份加入10ug/mL硅的标准溶液,按上述步骤测定两份样品中的二氧化硅含量,加标回收结果见下表。
实施例2:
1)称取0.4g(精确至0.0001g)于105℃烘干的玻璃粉样品于铂坩埚中,加入混合熔剂:1g硼砂(须事先除去结晶水)和2g无水碳酸钠,与玻璃粉样品混匀,盖上坩锅盖;
2)先低温加热,逐渐升高温度至1100℃,熔融至透明状,继续熔融10 min,摇动坩锅,使熔融物均匀附于坩锅底部,冷却;
3)加入浓度为8mol/L的盐酸溶解熔块至溶液呈酸性,转移至250mL容量瓶中,定容至刻度线,得到样品溶液;
4)取硅的标准溶液(1.000mg/mL,国家标准GSB04-1716-2004)适量稀释,配制硅的标准系列溶液,按照同样条件加入上述步骤中的无水碳酸钠、硼砂、盐酸,控制钠盐及盐酸的加入量与玻璃粉样品所用的量一致,制得标准溶液,保证标准溶液中钠盐及酸度与样品溶液相同;
5)在等离子发射光谱仪最佳工作条件下,测定上述步骤4)配制的标准系列溶液,仪器自动建立校准曲线,然后测定步骤3)得到的样品溶液,仪器自动计算样品中硅元素的含量;
6)按下述公式计算得出二氧化硅含量:
(SiO2)%=2.1392*C*A*10-6/m*100%
其中:C为ICP-AES法测出的硅含量,(ug/mL);
A为样品的稀释倍数;
m为样品质量,g。
7)方法可靠性试验
对样品重复测定六次,测定结果见下表。
8)加标对比实验
准确称取两份质量相等的玻璃粉样品,其中一份加入20ug/mL硅的标准溶液,按上述步骤测定两份样品中的二氧化硅含量,加标回收结果见下表。
实施例3:
1)称取0.2g(精确至0.0001g)烘干的玻璃粉样品于铂坩埚中。加入混合熔剂:1g硼砂(须事先除去结晶水)和2g无水碳酸钠,与玻璃粉样品混匀,盖上坩锅盖;
2)先低温加热,逐渐升高温度至1000℃,熔融至透明状,继续熔融15min,摇动坩锅,使熔融物均匀附于坩锅底部,冷却;
3)加入浓度为10mol/L的盐酸溶解熔块至溶液呈酸性,转移至250mL容量瓶中,定容至刻度线,得到样品溶液;
4)取硅的标准贮备液(1.000mg/mL,国家标准GSB04-1716-2004)适量稀释,配制硅的标准系列溶液,按照同样条件加入上述步骤中的无水碳酸钠、硼砂、盐酸,控制钠盐及盐酸的加入量与玻璃粉样品所用的量一致,制得标准溶液,保证标准溶液中钠盐及酸度与样品溶液相同;
5)在等离子发射光谱仪最佳工作条件下,测定上述步骤4)配制的标准系列溶液,仪器自动建立校准曲线,然后测定步骤3)得到的样品溶液,仪器自动计算样品中硅元素的含量;
6)按下述公式计算得出二氧化硅含量:
(SiO2)%=2.1392*C*A*10-6/m*100%
其中:C为ICP-AES法测出的硅含量,(ug/mL);
A为样品的稀释倍数;
m为样品质量,g。
7)方法可靠性试验
对样品重复测定六次,测定结果见下表。
8)加标对比实验
准确称取两份质量相等的玻璃粉样品,其中一份加入10ug/mL硅的标准贮备液,按上述步骤测定两份样品中的二氧化硅含量,加标回收结果见下表。
Claims (8)
1.光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
1)取玻璃粉样品于容器中,加入由硼砂和无水碳酸钠组成的混合熔剂;
2)加热熔融至透明状,冷却;
3)加入盐酸溶解,至溶液呈酸性,用水稀释,得到样品溶液;
4)取硅的标准溶液稀释,配制硅的标准系列溶液,按照同样条件加入上述步骤中混合熔剂,控制钠盐及盐酸的加入量与玻璃粉样品所用的量一致,制得标准系列溶液,保证标准系列溶液中钠盐及酸度与样品溶液相同;
5)等离子发射光谱仪测定上述步骤4)配制的标准系列溶液,仪器自动建立校准曲线,然后测定步骤3)得到的样品溶液,仪器自动计算样品溶液中硅元素的含量;
6)按下述公式计算得出二氧化硅含量:
(SiO2)%=2.1392*C*A*10-6/m*100%
其中:C为ICP-AES法测出的硅含量,(ug/mL);
A为玻璃粉样品的稀释倍数;
m为玻璃粉样品质量,g。
2.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,步骤1)所述玻璃粉样品的重量份为0.2~0.4。
3.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,步骤1)所述混合熔剂的重量份为1.5~3。
4.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,步骤1)所述混合熔剂是由硼砂和无水碳酸钠按重量比例为1:1~2配置。
5.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,步骤1)所述容器采用铂坩埚或铂金蒸发皿。
6.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,步骤1)所述混合熔剂中的硼砂事先除去结晶水。
7.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,所述步骤2)是:先低温加热,逐渐升高温度至950~1100℃,熔融至透明状,继续熔融10~15min,摇动容器,使熔融物均匀附于容器底部,冷却。
8.如权利要求1所述的光学玻璃中二氧化硅含量的测量方法,其特征在于,步骤3)所述盐酸的浓度为6~12mol/L。
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