CN104634803B - 下照式x射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法。本发明直接将液体水玻璃称入铂金坩埚中加入熔剂、氧化剂和脱模剂后烘干、熔融制片后,然后用下照式x射线荧光光谱分析测定水玻璃多元素。本专利方法不仅使水玻璃的测定变得简单、快捷、准确;而且信息量大,方法大量用于产品分析和高端水玻璃产品研制,均取得良好效果。
Description
技术领域
本发明涉及一种光谱分析技术领域,具体涉及一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃化学成分的方法。
背景技术
液体水玻璃是含水的多硅酸钠,为粘稠状液体,在建筑上常用作接合剂或胶粘剂,也是生产耐酸水泥的重要原料之一,液体水玻璃也是焊接材料生产的重要粘接剂和电弧稳定剂,其质量直接关系到产品性能的好坏。对液体水玻璃化学成分的检测目前一般都是采用化工行业标准HG/T2830-2009《工业硅酸钾钠》,采用重量法测定K2O、酸碱中和滴定法测定SiO2及Na2O、比浊法测定S。其中,水玻璃测定大都采用容量法测钾钠合量,用差减法减去四苯硼钠重量法测得的K2O,得到Na2O的含量;SiO2则采用氟化取代滴定容量法进行测定。仅仅测三个元素就如此耗时且过程繁杂,测定的元素也有限,不能满足水玻璃在线分析和科研要求,尤其是现有方法的信息量太小,不能对水玻璃产品质量作出更加全面的分析;因而制约了对水玻璃产品的评价和认。而目前广泛使用的下照式x射线荧光光谱仪又不能直接对液体水玻璃进行测定,因为x射线光管在待测试样测量面的下方,稍有不慎,液体滴落会烧毁x射线光管。
高端焊接材料对不同技术指标的水玻璃质量要求苛刻。具有上百年历史、世界著名的一流焊材品牌企业:日本神刚、美国林肯、德国伯乐蒂森、瑞士奥林康等大都选购某国外名牌优质水玻璃,它在焊接材料的抗吸潮、低烟尘等方面的焊接工艺表现尤为独特优异。而国产水玻璃产品单一且品质不佳,主要表现在:浑浊、有悬浮物、易分层、颜色深及杂质高、性能稳定性差,不能满足特种高端焊接材料研发和生产需要。因此,发明水玻璃国内外质量差异的检测方法就显得迫切而重要。
发明内容
[要解决的技术问题]
本发明的目的是解决上述现有技术的问题,提供一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃化学成分的方法。该方法简单、快捷,并且信息量大,准确。
[技术方案]
为了达到上述的技术效果,本发明采取以下技术方案:
本发明直接将液体水玻璃称入铂金坩埚中加入熔剂、氧化剂和脱模剂后烘干、熔融制片后,然后用下照式x射线荧光光谱分析测定水玻璃多元素。
一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法,它包括以下步骤:
A,样品的制备
首先,称取液体水玻璃于铂金坩埚内,然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6:5:0.5~1:0.015~0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂;然后在低温电炉上烤干水分后,在温度为690~720℃的条件下预氧化2~4min;接着升温至1050~1070℃,熔融6~8min,混匀,冷却,得到所述样品;
B,样品的测定
用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤A中,所述熔剂是一种混合熔剂,其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤A中,所述氧化剂为硝酸铵;所述脱模剂为溴化锂。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤A中,所述熔融的过程中,需摇动坩埚,将气泡赶尽。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤B中,所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA,铍窗厚度为75μm。
下面将详细地说明本发明。
一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法,它包括以下步骤:
A,样品的制备
首先,称取液体水玻璃于铂金坩埚内,然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6:5:0.5~1:0.015~0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂;然后在低温电炉上烤干水分后,在温度为690~720℃的条件下预氧化2~4min;接着升温至1050~1070℃,熔融6~8min,混匀,冷却,得到所述样品;
B,样品的测定
用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
由于本发明后期需要与标准样品进行比对,因此,在样品的制备上需要和标准样品保持一致,以消除制备过程中产生的误差,避免影响结果的比对。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤A中,所述熔剂是一种混合熔剂,其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤A中,所述氧化剂为硝酸铵;所述脱模剂为溴化锂。
因为考虑到本发明测定的是水玻璃里面的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2化合物,因此,在混合熔剂、氧化剂和脱模剂的选择上避免选择铝、钙、镁、铁、钾、钠、硅的化合物,避免对真正测试的化合物产生影响。其中,K2O、Na2O、SiO2化合物为水玻璃的主含量化合物,其余的化合物在水玻璃中的含量较少。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤A中,所述熔融的过程中,需摇动坩埚,将气泡赶尽。
在使用X射线荧光光谱仪测定时,气泡对X荧光强度有一定的影响,因此应尽量避免气泡的产生。
根据本发明更进一步的技术方案,在步骤B中,所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA,铍窗厚度为75μm。
一般来说,上照式最大的优点在于分析粉末压片、疏松粉末和液体样品时,样品破损不会损坏X射线管,但上照式结构装样、卸样比较麻烦,需要一套复杂的机械进样装置,上照式荧光分析仪样品到X射线管的距离每次都需要定位,如果出现误差的话对分析结果产生很大的影响;下照式不需要复杂的进样装置,样品到X射线管的距离固定,下照式结果更加有利于空间的利用,并且下照式的检测准确度更高,但下照式结构最大的问题在于破损的样品会污染X射线管,造成较大的损害。因此,本发明通过改进液体水玻璃为固体玻璃,避免液体水玻璃在测定过程中污染X射线管。
[有益效果]
本发明与现有技术相比,具有以下的有益效果:
1,本专利的测定方法使水玻璃的测定变得简单、快捷、准确;
2,本发明测定方法获得的信息量大,并且本方法大量用于产品分析和高端水玻璃产品研制,均取得良好效果;
3,本发明的测定方法对下照式X射线荧光光谱仪的损害小,污染小。
具体实施方式
下面结合本发明的实施例对本发明作进一步的阐述和说明。
在测定水玻璃样品前,需要对水玻璃标准样品进行定值:依据化工行业标准HG/T2830-2009《工业硅酸钾钠》和国家标准GB/T4209-2008《工业硅酸钠》,对各类型液体水玻璃样品中K2O、Na2O、SiO2、S含量进行化学分析定值,只有当各检测项目的测量结果均满足以上标准方法中的相应规定,才能将该液体水玻璃样品作为标准样品。
本发明测定的标准样品组分元素含量范围如表1所示。
表1 标准样品组分元素含量范围
本发明使用的仪器为:Axios mAX X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科)、SST陶瓷超尖锐x射线光管、SuperQ5.0k软件;TNBDRYL~02电加热熔样机(河南洛阳特耐实验设备有限公司,熔样最高温度1100℃)。
下面表2为本发明使用的下照式X射线荧光光谱仪的待测元素测量条件。
表2 下照式X射线荧光光谱仪的待测元素测量条件
实施例1:
A,样品的制备
直接将0.6000g水玻璃液体称入熔片专用的铂金坩埚中,加混合熔剂5.0000g(Li2B4O7:LiBO2:LiF=4.5:1:0.4)、氧化剂0.50克NH4NO3、脱模剂LiBr:15毫克。低温电炉上烤干水分后,在700℃预氧化2分钟,升温至1050℃,熔融及摇动6分钟。其间摇动坩埚,将气泡赶尽,使熔融物混匀,然后冷却,取出样片,备用。
B,样品的测定
用下照式x射线荧光光谱分析测定Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
同时,将步骤A得到的样品用国标法即HG/T2830-2009法测定主要含量的元素——K2O、Na2O、SiO2含量;用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定次要含量的元素——Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3含量。
本实施例的测定结果与国标法的测定结果对比结果如表3所示。
表3 本实施例1的水玻璃样品国标法与本方法测定的结果对比表
从表3中可以看出,本发明的方法测定水玻璃中主含量时,其结果与国标法的结果吻合。而水玻璃中低含量的杂质元素Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3的测定结果与电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)的结果基本吻合。
实施例2
A,样品的制备
直接将0.6000g水玻璃液体称入熔片专用的铂金坩埚中,加混合熔剂5.0000g(Li2B4O7:LiBO2:LiF=4.5:1:0.4)、氧化剂1.00克NH4NO3、脱模剂LiBr:20毫克。低温电炉上烤干水分后,在700℃预氧化2分钟,升温至1050℃,熔融及摇动6分钟。其间摇动坩埚,将气泡赶尽,使熔融物混匀,然后冷却,取出样片,备用。
B,样品的测定
用下照式x射线荧光光谱分析测定Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
实施例3
A,样品的制备
直接将0.6000g水玻璃液体称入熔片专用的铂金坩埚中,加混合熔剂5.0000g(Li2B4O7:LiBO2:LiF=4.5:1:0.4)、氧化剂0.70克NH4NO3、脱模剂LiBr:17毫克。低温电炉上烤干水分后,在700℃预氧化2分钟,升温至1050℃,熔融及摇动6分钟。其间摇动坩埚,将气泡赶尽,使熔融物混匀,然后冷却,取出样片,备用。
B,样品的测定
用下照式x射线荧光光谱分析测定Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
尽管这里参照本发明的解释性实施例对本发明进行了描述,上述实施例仅为本发明较佳的实施方式,本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,应该理解,本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式,这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。
Claims (3)
1.一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法,其特征在于它包括以下步骤:
A,样品的制备
首先,称取液体水玻璃于铂金坩埚内,然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6:5:0.5~1:0.015~0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂;然后在低温电炉上烤干水分后,在温度为690~720℃的条件下预氧化2~4min;接着升温至1050~1070℃,熔融6~8min,混匀,冷却,得到所述样品;
B,样品的测定
用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量;
在步骤A中,所述熔剂是一种混合溶剂,其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成;
在步骤B中,所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA,铍窗厚度为75μm。
2.根据权利要求1所述的下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法,其特征在于在步骤A中,所述氧化剂为硝酸铵;所述脱模剂为溴化锂。
3.根据权利要求1所述的下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法,其特征在于在步骤A中,所述熔融的过程中,需摇动坩埚,将气泡赶尽。
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