CN103797371A - 自动分析装置 - Google Patents

自动分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103797371A
CN103797371A CN201380001582.9A CN201380001582A CN103797371A CN 103797371 A CN103797371 A CN 103797371A CN 201380001582 A CN201380001582 A CN 201380001582A CN 103797371 A CN103797371 A CN 103797371A
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
cleaning
sample
dispensing probe
dispensing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201380001582.9A
Other languages
English (en)
Inventor
丸山玲子
金山省一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Medical Systems Corp filed Critical Toshiba Corp
Publication of CN103797371A publication Critical patent/CN103797371A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1004Cleaning sample transfer devices

Abstract

根据本实施方式的自动分析装置,包括:进行吸取试样并吐出到反应容器中的分注的分注探头;具有能够用第一清洗液清洗的第一清洗位置、和上述第一清洗位置下方的能够用第二清洗液清洗的第二清洗位置,清洗上述分注探头的清洗部;以及使上述分注探头停止在上述第一清洗位置和上述第二清洗位置中的至少一处的驱动机构。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明的实施方式涉及具有清洗分注试样的分注探头的功能的自动分析装置。
背景技术
自动分析装置以生化检查项目、免疫检查项目等为对象。自动分析装置用测光部光学地测定因从受检体采集的受检试样等的试样与各检查项目的试剂的混合液的反应而发生的吸光度、浊度的变化。由此,自动分析装置生成以试样中的检查项目成分的浓度、酶的活性等表示的分析数据。
该自动分析装置针对每个受检试样进行多个检查项目中的、根据检查而设定的检查项目的分析。然后,样品分注探头吸取试样容器中收存的各受检试样,吐出到反应容器中。另外,试剂分注探头吸取试剂容器中收存的试剂,吐出到反应容器中。另外,测光部测定吐出到反应容器内的受检试样和试剂的混合液的吸光度、浊度。然后,样品分注探头每次在试样的分注结束后进行清洗。另外,试剂分注探头每次在试剂的分注结束后进行清洗。
另外,作为由自动分析装置使用的试样容器,有收存从受检体采集的全血的采血管。有时将该采血管中收存的全血用远心分离机分离成由血清或血浆构成的上层的试样和包含血细胞成分等的下层的试样。自动分析装置分注上层的试样、下层的试样而进行各检查项目的分析。另外,在检查项目中有用上层试样要求高灵敏度的分析的项目。
现有技术文献
专利文献1:日本特开2011-257386号公报
发明内容
(发明要解决的问题)
但是,在进行了下层试样的分注之后吸取上层试样时、和在受检试样中设定要求高灵敏度的分析的检查项目时,有因样品分注探头外壁上附着的试样的污染使受检试样被设定的检查项目的分析数据变差的问题。
本发明的实施方式正是为了解决上述问题而提出的,其目的在于提供能够防止试样的污染造成的分析数据变差的自动分析装置。
(用来解决问题的方案)
为了实现上述目的,实施方式的自动分析装置包括:进行吸取试样并吐出到反应容器中的分注的分注探头;具有能够用第一清洗液清洗的第一清洗位置、和上述第一清洗位置下方的能够用第二清洗液清洗的第二清洗位置,清洗上述分注探头的清洗部;以及使上述分注探头停止在上述第一清洗位置和上述第二清洗位置中的至少一处的驱动机构。
(发明的效果)
根据本实施方式,可以提供能够防止试样的污染造成的分析数据变差的自动分析装置。
附图说明
图1是示出根据实施方式的自动分析装置的构成的框图。
图2是示出根据实施方式的分析部的构成的立体图。
图3是示出根据实施方式的受检试样的分注中使用的样品分注探头、样品分注臂、样品分注泵、液面检测器和试样容器的图。
图4是示出根据实施方式的样品分注探头停止的各位置的图。
图5是示出根据实施方式的清洗部的构成的一例的图。
图6是示出根据实施方式的清洗槽的构成的图。
图7是示出根据实施方式的在通常清洗位置停止了的样品分注探头的图。
图8是示出根据实施方式的在第一和第二清洗位置停止了的样品分注探头的图。
图9是示出根据实施方式的在特殊内壁清洗位置停止了的样品分注探头的图。
图10是示出根据实施方式的在第三清洗位置停止了的样品分注探头的图。
图11是示出根据实施方式的显示部上显示的特殊清洗条件设定画面的一例的图。
图12是示出根据实施方式的多个受检试样、各受检试样中设定的检查项目和清洗条件的一例的图。
(附图标记说明)
P1:通常清洗位置(第一清洗位置);P2:特殊清洗上停止位置;P3:特殊清洗上停止位置;P13:特殊内壁清洗位置;P21:第一浸渍位置;P22:第二浸渍位置;P31:第三清洗位置;P41:通常吸取位置(第一吸取位置);P42:特殊吸取位置(第二吸取位置);16:样品分注探头;25:分析控制部;26:驱动机构;27:驱动控制部;70:清洗部;72:清洗槽;721:第一清洗管;722:第二清洗管;723:第三清洗管
具体实施方式
以下,参照附图说明实施方式。
图1是示出了根据实施方式的自动分析装置的构成的框图。该自动分析装置100包括:分注各检查项目的标准试样、受检试样等的试样和各检查项目的分析中使用的试剂,测定该混合液,生成标准数据、受检数据的分析部24;以及驱动分析部24的各单元,进行分注动作、测定动作、清洗动作等的控制的分析控制部25。
另外,自动分析装置100包括:处理由分析部24生成的标准数据、受检数据,生成检量数据、分析数据的数据处理部30;把由数据处理部30生成的检量数据、分析数据印刷输出、显示输出的输出部40;进行各种命令信号的输入等的操作部50;以及对分析控制部25、数据处理部30和输出部40一并控制的系统控制部60。
图2是示出了分析部24的构成的立体图。该分析部24包括:收存标准试样、尿、全血、从全血用远心分离分离成上下层的试样、和分离后的上层的试样等的各受检试样的试样容器17;以及保持该试样容器17的样品盘5。另外,分析部24包括:收存与标准试样、受检试样的各试样中包含的检查项目的成分反应的1试剂系和2试剂系的第一试剂的试剂容器6;可旋转地保持该试剂容器6的试剂架1a;和把试剂架1a上保持的试剂容器6冷藏的试剂库1。
另外,分析部24包括:收存与2试剂系的第一试剂结对的第二试剂的试剂容器7;可旋转地保持该试剂容器7的试剂架2a;把试剂架2a上保持的试剂容器7冷藏的试剂库2;以及可旋转地保持配置在圆周上的多个反应容器3的反应盘4。
另外,分析部24包括:进行吸取样品盘5上保持的试样容器17内的各试样并向反应容器3内吐出的分注的样品分注探头16;在样品分注探头16中进行试样的吸取和吐出的样品分注泵16a;以及能够旋转和上下移动地保持样品分注探头16的样品分注臂10。另外,分析部24包括:每次在各试样的分注结束后清洗样品分注探头16的清洗部70;以及通过使保持在样品盘5上的试样容器17内的试样与样品分注探头16接触来检测该试样的液面检测器16b。
另外,分析部24包括:进行把试剂架1a上保持的试剂容器6内的第一试剂吸取并吐出到已吐出了试样的反应容器3内的分注的第一试剂分注探头14;能够旋转和上下移动地保持该第一试剂分注探头14的第一试剂分注臂8;清洗第一试剂分注探头14的清洗部80;以及搅拌吐出到反应容器3内的试样和第一试剂的混合液的第一搅拌器18。
另外,分析部24具有:进行吸取试剂架2a上保持的试剂容器7内的第二试剂,并吐出到已吐出了第一试剂的反应容器3内的分注的第二试剂分注探头15。分析部24包括:能够旋转和上下移动地保持该第二试剂分注探头15的第二试剂分注臂9;清洗第二试剂分注探头15的清洗部90;以及搅拌反应容器3内的试样、第一试剂和第二试剂的混合液的第二搅拌器19。另外,分析部24包括:向反应容器3内的混合液照射光并光学地测定的测光部13;以及清洗结束了用测光部13进行的测定的反应容器3内的反应容器清洗单元12。
另外,测光部13向反应容器3照射光,检测透过反应容器3内的包含标准试样、各受检试样的混合液的光。然后,测光部13基于检测到的检测信号,生成例如用来算出吸光度的标准数据、受检数据,把生成的标准数据、受检数据输出到数据处理部30。
分析控制部25包括:驱动分析部24的各单元的驱动机构26和控制该驱动机构26的驱动控制部27。然后,驱动机构26分别旋转驱动样品盘5、试剂架1a和试剂架2a。另外,驱动机构26旋转驱动反应盘4。另外,驱动机构26分别旋转和上下驱动样品分注臂10、第一试剂分注臂8和第二试剂分注臂9而移动样品分注探头16、第一试剂分注探头14和第二试剂分注探头15。另外,驱动机构26将反应容器清洗单元12上下驱动。另外,驱动机构26对样品分注泵16a进行吸取和吐出驱动。另外,驱动机构26对清洗部70、80、90进行清洗驱动。另外,驱动机构26对搅拌器18、19进行旋转和上下驱动。
图1所示的数据处理部30包括:处理从分析部24的测光部13输出的标准数据和受检数据并生成各检查项目的检量数据、分析数据的运算部31;以及保存由运算部31生成的标准数据、分析数据的数据存储部32。
运算部31基于对从测光部13输出的标准数据和该标准数据的标准试样预先设定了的标准值,针对每个检查项目生成表示标准值与标准数据的关系的检量数据。运算部31把生成的检量数据输出到输出部40和数据存储部32。数据存储部32保存检量数据。
另外,运算部31从数据存储部32读出与从测光部13输出的受检数据对应的检查项目的检量数据。然后,运算部31用读出的检量数据根据由测光部13输出的受检数据生成以浓度值、活性值表示的分析数据。然后,运算部31把生成的分析数据输出到输出部40,并且保存在数据存储部32中。
数据存储部32具有硬盘等的存储器件。数据存储部32针对每个检查项目保存从运算部31输出的检量数据。另外,数据存储部32针对每个受检试样保存从运算部31输出的各检查项目的分析数据。
输出部40包括:把从数据处理部30的运算部31输出的检量数据和分析数据印刷输出的印刷部41和显示输出的显示部42。另外,印刷部41具有打印机等。印刷部41根据预先设定了的格式把从运算部31输出的检量数据、分析数据印刷到打印用纸等上。
显示部42具有CRT(阴极射线管)、液晶屏等的监视器。显示部42显示从运算部31输出的检量数据、分析数据。另外,显示部42显示能够进行用自动分析装置100分析的检查项目的分析参数(例如,吐出到反应容器3内的试样量和试剂量、吸取试样容器17内的试样的吸取位置等)的设定的分析参数设定画面。另外,显示部42显示设定用来以与通常清洗条件不同的特殊清洗条件对样品分注探头16进行清洗的检查项目的特殊清洗条件设定画面。另外,显示部42显示用来针对每个受检试样设定进行检查的受检体的检查项目的检查项目设定画面。
操作部50具有键盘、鼠标、按钮、触摸屏等的输入器件。操作部50在显示部42上显示的分析参数设定画面上进行用来设定分析参数的输入。操作部50在显示部42上显示的特殊清洗条件设定画面上进行用来设定检查项目的输入。操作部50在显示部42上显示的检查项目设定画面上针对每个受检试样进行用来设定检查项目的输入。
系统控制部60包括CPU和存储电路。另外,系统控制部60基于用来自操作部50的输入设定的分析参数和检查项目等,把分析控制部25、数据处理部30和输出部40统合起来,控制整个系统。
下面,参照图2到图4说明分析部24中的试样的分注。
图3是示出了试样的分注中使用的样品分注探头16、样品分注臂10、样品分注泵16a、液面检测器16b和试样容器17的图。该样品分注探头16由沿上下方向延伸的管构成。样品分注探头16的上端部被样品分注臂10保持。样品分注探头16的管的上端经由充填了例如纯水等的压力传送介质的管道161与样品分注泵16a连接。另外,样品分注探头16与液面检测器16b电气连接。
试样容器17是例如采血管。采血管收存包含血清的上层试样以及包含红血球、白血球和血小板的下层试样。通过用远心分离机分离从受检体采集的受检试样即例如全血而得到上层试样。通过用远心分离机分离全血而得到下层试样。即,通过用远心分离器把采血管中收存的全血远心分离,把全血分离成上层试样和下层试样。这样,通过用采血管作为试样容器17,能够节省从采血管移换到其它容器的工夫。
液面检测器16b具有例如静电电容传感器。液面检测器16b从试样容器17内的上层试样与样品分注探头16的接触造成的静电电容的变化检测该试样。然后,液面检测器16b把检测到的检测信号输出到分析控制部25的驱动控制部27。
驱动机构26在上死点的高度旋转驱动样品分注臂10。驱动机构26像图4所示的那样,使样品分注探头16在虚线所示的圆形的轨道上朝箭头R1方向和与R1方向相反方向的箭头R2方向移动。然后,驱动机构26使样品分注探头16停止在通常清洗位置(第一清洗位置)P1、特殊清洗上停止位置P2和特殊清洗上停止位置P3处。通常清洗位置P1位于能够用清洗部70以通常清洗条件清洗样品分注探头16的轨道上。特殊清洗上停止位置P2是用来使位于上述轨道上的通常清洗位置P1附近的一侧的样品分注探头16朝以特殊清洗条件进行清洗的特殊清洗位置(第二清洗位置)移动的位置。特殊清洗上停止位置P3是用来使位于上述轨道上的通常清洗位置P1附近的另一侧的样品分注探头16朝特殊清洗位置移动的位置。另外,驱动机构26使样品分注探头16停止在试样位置P4处,试样位置P4位于在轨道上的停止样品盘5上保持的试样容器17上方。另外,驱动机构26使样品分注探头16在反应位置P5处,反应位置P5位于轨道上的反应容器3上方。
这样,通过在样品分注探头16的轨道上设置通常清洗位置P1,能够使结束了各试样的分注的反应位置P5的样品分注探头16在短时间内移动到通常清洗位置P1。
另外,驱动机构26基于各检查项目的分析参数中包含的吸取位置的信息,向下驱动样品分注臂10。然后,驱动机构26把样品分注探头16从试样位置P4向下方向移动,停止在下端部进入了试样容器17内的试样中的位置处。
然后,像图3(a)所示的那样,驱动机构26使样品分注探头16停止在从与试样容器17内的上层试样接触的位置向下方离开第一距离D1的通常吸取位置(第一吸取位置)P41处。然后,通过样品分注泵16a的吸取驱动,样品分注探头16吸取上层试样。
这样,通过使样品分注探头16停止在通常吸取位置P41处,能够防止样品分注探头16外壁的除第一距离D1以外的吸取中不需要的部分与试样接触,抑制样品分注探头16外壁的试样造成的污染。
另外,像图3(b)所示的那样,驱动机构26使样品分注探头16停止在处于通常吸取位置P41的下方的、从试样位置P4(试样容器的上表面)向下方离开第二距离的特殊吸取位置(第二吸取位置)P42。然后,通过对样品分注泵16a进行吸取驱动,样品分注探头16吸取下层试样。
这样,在用在试样容器17中分离成上下层的试样中的位于下层的下层试样进行分析的检查项目的吸取中,驱动机构26能够使样品分注探头16停止在能够吸取下层试样的特殊吸取位置P42处。
下面,参照图2到图7,说明清洗部70的构成和样品分注探头16的清洗。
图5是示出了清洗部70的构成的一例的图。该清洗部70由贮存用来清洗样品分注探头16的第一到第三清洗液的罐71、用罐71中贮存的第一到第三清洗液进行样品分注探头16的清洗的清洗槽72、以及把罐71中贮存的第一到第三清洗液供给到清洗槽72和样品分注探头16的供给部73构成。
罐71包括:贮存第一清洗液的第一罐711、贮存第二清洗液的第二罐712、和贮存第三清洗液的第三罐713。另外,第一罐711贮存样品分注探头16的通常清洗中使用的第一清洗液(例如纯水等)。另外,第二罐712贮存在用第一和第三清洗液清洗不充分且能够得到比第一和第三清洗液高的清洗力时使用的第二清洗液(例如碱性清洗液等)。另外,第三罐713贮存在用第一和第二清洗液清洗不充分且能够得到比第一和第二清洗液高的清洗力时使用的第三清洗液(例如酸性清洗液等)。
图6是示出了清洗槽72的构成的图。另外,图6(a)是清洗槽72的侧面图。图6(b)是从与剖面平行的方向看图6(a)所示的清洗槽72的A-A剖面时的剖面图。该清洗槽72由用来用第一清洗液清洗样品分注探头16的外壁的两个第一清洗管721、以及用来用第二或第三清洗液清洗样品分注探头16的外壁和内壁的第二清洗管722构成。
另外,清洗槽72由用来用第一清洗液清洗样品分注探头16的外壁的第三清洗管723、排出清洗中使用的各第一到第三清洗液的排出管724、支撑第一到第三清洗管721到723和排出管724的清洗槽本体725构成。
第一清洗管721像图7所示的那样,在清洗槽本体725的上端部附近,从例如水平方向相互对置着设置。另外,第一清洗管721把从供给部73供给的第一清洗液从两侧朝着停止在通常清洗位置P1的样品分注探头16吐出。通过该吐出,第一清洗管721清洗包含在通常吸取位置P41处与试样接触过的外壁的部分。另外,由供给部73经由管道161把第一清洗液从管道161的另一端供给到样品分注探头16内。用从管道161的一端吐出的第一清洗液在样品分注探头16中清洗与试样接触过的内壁。
这样,清洗部70通过从第一清洗管721吐出第一清洗液,能够用第一清洗液进行停止在通常吸取位置P41处时被试样污染了的样品分注探头16的外壁清洗。另外,清洗部70通过从另一端把第一清洗液供给到样品分注探头16内并从一端吐出,能够用第一清洗液进行被在通常吸取位置P41处吸取的试样污染了的样品分注探头16的内壁清洗。
第二和第三清洗管722、723配置在第一清洗管721的下方。为了以特殊清洗条件清洗样品分注探头16而设置第二和第三清洗管722、723。另外,第二清洗管722设置在特殊清洗上停止位置P2下方的清洗槽本体725内的底部。另外,第三清洗管723设置在特殊清洗上停止位置P3下方的清洗槽本体725内的底部。
使从供给部73供给的第二或第三清洗液从下端流入第二清洗管722。使流入的第二或第三清洗液朝第二清洗管722的上方流动而从上端流出。由此,在第二清洗管722中充满新鲜的第二或第三清洗液。另外,使从供给部73供给的第一清洗液从下端流入第三清洗管723。使流入的第一清洗液在第三清洗管723内部朝上方流动而从上端流出。由此,在第三清洗管723中充满新鲜的第一清洗液。
在此,驱动机构26使在特殊吸取位置P42处吸取试样并向反应容器3内吐出的样品分注探头16从特殊清洗上停止位置P2向下移动。然后,像图8(a)所示的那样,驱动机构26使具有包含在图3(a)的通常吸取位置P41处与试样接触过的外壁的部分的样品分注探头16停止在第一浸渍位置P21处。第一浸渍位置P21就是使具有包含在通常吸取位置P41处与试样接触过的外壁的部分的样品分注探头16浸渍到第二清洗管722内的第二或第三清洗液中的特殊清洗位置。由此,清洗部70进行样品分注探头16的外壁清洗。另外,清洗部70通过对样品分注泵16a进行吸取驱动,把第二或第三清洗液吸取到第一浸渍位置P21的样品分注探头16中。由此,清洗部70清洗样品分注探头16的内壁。
然后,驱动机构26使吸取了第二或第三清洗液的样品分注探头16移动,停止在通常清洗位置P1处。然后,清洗部70在通常清洗位置P1处用第一清洗液进行附着了第二或第三清洗液的样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
这样,清洗部70用新鲜的第二或第三清洗液充满第二清洗管722内,使样品分注探头16停止在第一浸渍位置P21处。由此,清洗部70能够用第二或第三清洗液进行停止在通常吸取位置P41处时被试样污染了的样品分注探头16的外壁清洗。另外,清洗部70把第二或第三清洗液吸取到样品分注探头16内。由此,清洗部70能够用第二或第三清洗液进行在吸取时被试样污染了的样品分注探头16的内壁清洗。进而,清洗部70向在通常清洗位置P1处停止的样品分注探头16供给第一清洗液。由此,清洗部70能够洗掉样品分注探头16上附着的第二或第三清洗液。
另外,驱动机构26使在特殊吸取位置P42处吸取试样并向反应容器3内吐出的样品分注探头16从特殊清洗上停止位置P2向下移动。然后,像图8(b)所示的那样,驱动机构26使包含在图3(b)的特殊吸取位置P42处与受检试样接触过的外壁的样品分注探头16停止在第二浸渍位置P22处。第二浸渍位置P22就是把包含在特殊吸取位置P42处与受检试样接触过的外壁的样品分注探头16中的、从一端(前端)朝上方直到第二距离D2的部分浸渍到第二清洗管722内的第二或第三清洗液中的特殊清洗位置。由此,清洗部70进行样品分注探头16的外壁清洗。另外,清洗部70通过对样品分注泵16a进行吸取驱动,在第二浸渍位置P22处吸取第二或第三清洗液。由此,清洗部70进行样品分注探头16的与受检试样接触过的内壁的清洗。
这样,清洗部70用新鲜的第二或第三清洗液充满第二清洗管722内,使样品分注探头16停止在第二浸渍位置P22处。由此,清洗部70能够用第二或第三清洗液进行在停止在特殊吸取位置P42处时被受检试样污染了的样品分注探头16的外壁清洗。另外,清洗部70把第二或第三清洗液吸取到样品分注探头16内。由此,清洗部70能够用第二或第三清洗液进行在吸取时被试样污染了的样品分注探头16的内壁清洗。
另外,驱动机构26使在第二浸渍位置P22处吸取了第二或第三清洗液的样品分注探头16,像图9所示的那样,移动到通常清洗位置P1与例如特殊清洗上停止位置P3之间的特殊内壁清洗位置P13并停止。然后,清洗部70在特殊内壁清洗位置P13处从供给部73向样品分注探头16供给第一清洗液。由此,清洗部70进行附着了第二或第三清洗液的样品分注探头16的内壁清洗。另外,驱动机构26使把在特殊吸取位置P42处吸取的受检试样吐出到反应容器3内之后的样品分注探头16停止在特殊内壁清洗位置P13处。然后,清洗部70从供给部73向样品分注探头16供给第一清洗液。由此,清洗部70清洗样品分注探头16的与受检试样接触过的内壁。
这样,清洗部70向在特殊内壁清洗位置P13处停止的样品分注探头16供给第一清洗液。由此,清洗部70能够洗掉当在第二浸渍位置P22处吸取时附着在样品分注探头16内壁上的第二或第三清洗液。另外,清洗部70能够进行在特殊吸取位置P42处吸取时被受检试样污染了的样品分注探头16的内壁清洗。
另外,驱动机构26使在特殊内壁清洗位置P13处用第一清洗液清洗了内壁的样品分注探头16从特殊清洗上停止位置P3向下方移动。然后,像图10所示的那样,驱动机构26使包含在第二浸渍位置P22处与第二或第三清洗液接触过的外壁的样品分注探头16、或包含在特殊吸取位置P42处与受检试样接触过的外壁的样品分注探头16停止在第三清洗位置P31处。第三清洗位置P31就是把上述样品分注探头16的从一端(前端)朝上方直到第三距离D3的部分浸渍到第三清洗管723内的第一清洗液中的清洗位置。由此,清洗部70进行样品分注探头16的外壁清洗。
这样,清洗部70用新鲜的第一清洗液充满第三清洗管723内,使样品分注探头16停止在第三清洗位置P31处。由此,清洗部70能够洗掉在停止在第二浸渍位置P22处时在样品分注探头16外壁上附着的第二或第三清洗液。另外,清洗部70能够用第一清洗液进行在停止在特殊吸取位置P42处时被受检试样污染了的样品分注探头16的外壁清洗。
排出管724设置在清洗槽本体725的下端部,把从第一清洗管721吐出的第一清洗液、从第二清洗管722流出的第二或第三清洗液、和从第三清洗管723流出的第一清洗液向清洗槽本体725外排出。
清洗槽本体725保持第一到第三清洗管721到723和排出管724。为了防止从第一清洗管721吐出的第一清洗液、从第二清洗管722流出的第二或第三清洗液、和从第三清洗管723流出的第一清洗液的泄漏、飞溅,并导向排出管724而设置清洗槽本体725。另外,清洗槽本体725具有两个缺口725a,以使得在试样位置P4与反应位置P5间移动的样品分注探头166能够通过清洗槽72。
图5所示的供给部73包括:用来吸取并向清洗槽72的第一或第三清洗管721、723供给罐71的第一罐711中贮存的第一清洗液的泵731;用来吸取并向样品分注探头16供给第一罐711的第一清洗液的泵732;以及用来吸取并向第二清洗管722供给第二或第三罐712、713中贮存的第二或第三清洗液的泵733。
另外,供给部73包括:在泵731与清洗槽72之间配置的、被分析控制部25的驱动控制部27驱动控制的三方电磁阀734;在三方电磁阀734与清洗槽72之间配置的、使来自三方电磁阀734的清洗液分支并向清洗槽72的两个第一清洗管721供给的分支管735;以及在第二和第三罐712,713与泵733之间配置的、被驱动控制部27驱动控制的三方电磁阀736。
另外,在停止在通常清洗位置P1的样品分注探头16的外壁清洗中,三方电磁阀734使泵731和第一清洗管721之间打开,并且使泵731和第三清洗管723之间闭合。然后,泵731吸取第一罐711的第一清洗液。泵731向第一清洗管721供给已吸取的第一清洗液。通过该供给来从第一清洗管721吐出第一清洗液。另外,在样品分注探头16的内壁清洗中,泵732吸取第一罐711的第一清洗液。泵732向样品分注探头16供给已吸取的第一清洗液。通过该供给来从样品分注探头16吐出第一清洗液。
另外,在停止在第一浸渍位置P21和第二浸渍位置P22处的样品分注探头16的外壁清洗中,三方电磁阀736使泵733和第二罐712之间打开,并且使泵733和第三罐713之间闭合。然后,泵733吸取第二罐712内的第二清洗液。泵733向第二清洗管722供给已吸取的第二清洗液。通过该供给来向第二清洗管722中充满第二清洗液。另外,在样品分注探头16的内壁清洗中,通过样品分注泵16a进行吸取动作来把第二清洗管722内的第二清洗液吸取到样品分注探头16内。
另外,在停止在第一浸渍位置P21和第二浸渍位置P22处的样品分注探头16的外壁清洗中,三方电磁阀736使泵733和第三罐713之间打开,并且使泵733和第二罐712之间闭合。然后,泵733吸取第三罐713内的第三清洗液。泵733向第二清洗管722供给已吸取的第三清洗液。通过该供给来向第二清洗管722中充满第三清洗液。另外,在样品分注探头16的内壁清洗中,通过样品分注泵16a进行吸取动作来把第二清洗管722内的第三清洗液吸取到样品分注探头16内。
另外,在停止在特殊内壁清洗位置P13处的样品分注探头16的内壁清洗中,泵732吸取第一罐711内的第一清洗液。泵732向样品分注探头16供给已吸取的第一清洗液。通过该供给来从样品分注探头16吐出第一清洗液。
另外,在停止在第三清洗位置P31处的样品分注探头16的外壁清洗中,三方电磁阀734使泵731和第三清洗管723之间打开,并且使泵731和第一清洗管721之间闭合。然后,泵731吸取第一罐711内的第一清洗液。泵731向第三清洗管723供给已吸取的第一清洗液。通过该供给来向第三清洗管723中充满第一清洗液。
另外,作为一变形例,清洗部70也可以具有与多个清洗液对应的多个清洗管。例如,清洗部70具有:吐出第一清洗液的多个第一清洗管721、贮存第二清洗液的第二清洗管722、贮存第一清洗液的第三清洗管723、以及贮存第三清洗液的图中未示出的第四清洗管。在本变形例中,在图6(b)、图9示出的清洗槽72的剖面图中,第二清洗管722贮存第二清洗液。而且,附加在图6(b)、图9示出的清洗槽72的剖面图中未示出的第四清洗管。
第四清洗管具有与例如第二清洗管722、第三清洗管723同样的结构。在本变形例中,在图5中,经由泵733向第二清洗管722供给贮存在第二罐712中的第二清洗液。另外,经由图中未示出的泵向图中未示出的第四清洗管供给贮存在第三罐713中的第三清洗液。另外,在本变形例中,不需要三方电磁阀736。
以下,参照图1到图12说明进行多个受检试样的分注时的样品分注探头16的清洗动作的一例。
在显示部42上显示分析参数设定画面。操作部50进行用来设定可以由自动分析装置100分析的检查项目A1到An的输入。然后,操作部50输入特殊吸取位置P42,作为检查项目A2的吸取位置。操作部50输入通常吸取位置P41,作为检查项目A1和检查项目A3到An的吸取位置。在输入了各检查项目A1到An的分析参数之后,显示部42显示特殊清洗条件设定画面。
图11是示出了显示部42上显示的特殊清洗条件设定画面的一例的图。该特殊清洗条件设定画面43具有:“清洗位置”栏、“清洗液的种类”栏和“时间”栏。“清洗位置”栏是设定在第二浸渍位置P22或第三清洗位置P31处需要样品分注探头16的外壁清洗时的检查项目的栏。“清洗液的种类”栏是设定在用第一清洗液则清洗力不足而受影响的检查项目的栏。另外,“时间”栏是设定需要比通常清洗的清洗时间(第一时间)长的清洗时间(第二时间)的检查项目的栏。然后,操作部50进行用来设定与各栏对应的检查项目的输入。
在“清洗位置”栏中设定特殊吸取位置P42。具体地,在“清洗位置”栏中设定需要用下层试样进行分析的例如糖化血红蛋白(glycated hemoglobin)等的检查项目A2。通过该设定,在检查项目A2分析用的分注结束且进行下一次分注之前,清洗部70进行在第二浸渍位置P22处使用了第二或第三清洗液的样品分注探头16的外壁清洗、或在第三清洗位置P31处使用了第一清洗液的样品分注探头16的外壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过使在特殊吸取位置P42处停止过的样品分注探头16停止在第二浸渍位置P22或第三清洗位置P31处,能够进行被受检试样污染了的样品分注探头16的在通常清洗条件的位置处不可清洗的外壁部分的清洗。
“清洗液的种类”栏由“第二清洗液”和“第三清洗液”栏构成。另外,在“第二清洗液”栏中设定例如C型肝炎病毒(HCV)等的检查项目A1。检查项目A1,指连续分注两个受检试样时,由于用分注在后的受检试样(后试样)进行分析而受经由样品分注探头16分注在前的受检试样(前试样)的影响的检查项目中的、由于在前试样的分注结束之后用第二清洗液清洗样品分注探头16而要求高灵敏度的分析且容易受前试样中包含的成分的影响的检查项目。通过该设定,清洗部70在后试样中设定检查项目A1时,在前试样的分注结束之后、后试样的分注开始之前,在第一或第二浸渍位置P21、P22处用第二清洗液进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过在设定了检查项目A1的受检试样的分注开始之前,使样品分注探头16停止在第一或第二浸渍位置P21、P22处,能够用具有比使用了第一清洗液的通常清洗条件更大的清洗力的第二清洗液,进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
在“第三清洗液”栏中设定能够减小前试样的影响的例如检查项目A6。检查项目A6是,例如,连续分注两个受检试样时,由于用后试样进行分析而经由样品分注探头16受前试样的影响的检查项目中的、在前试样的分注结束之后用第三清洗液清洗样品分注探头16的检查项目。
通过该设定,在后试样中设定了检查项目A6时,清洗部70在前试样的分注结束之后、后试样的分注开始之前,在第一或第二浸渍位置P21、P22处用第三清洗液进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过在设定了检查项目A6的受检试样的分注开始之前,使样品分注探头16停止在第一或第二浸渍位置P21、P22处,能够用具有比使用了第一清洗液的通常清洗条件更大的清洗力的第三清洗液,进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
在“时间”栏中,在前试样的分注结束之后,加上作为比作为通常清洗条件的时间(通常时间(第一时间)T0)长的特殊清洗条件的时间(特殊时间(第二时间)T1)来设定样品分注探头16清洗的检查项目。即,该检查项目是,连续分注两个受检试样时,由于用后试样进行分析而经由样品分注探头16受前试样的影响的检查项目中的、能够减小前试样的影响的例如检查项目A1。
通过该设定,在后试样中设定了检查项目A1时,清洗部70在前试样的分注结束之后、后试样的分注开始之前,在第一浸渍位置P21、第二浸渍位置P22、第三清洗位置P31中的任一个清洗位置,从使样品分注探头16停止开始直到经过特殊时间T1来进行外壁清洗。另外,在后试样中未设定检查项目A1时,清洗部70在前试样的分注结束后、试样的分注开始之前,从使样品分注探头16停止在第一浸渍位置P21、第二浸渍位置P22、第三清洗位置P31中的任一个清洗位置处开始直到经过通常时间T0为止来进行外壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过使样品分注探头16在第一浸渍位置P21、第二浸渍位置P22、第三清洗位置P31中的任一个清洗位置处停止特殊时间T1,能够在任一个清洗位置以比停止通常时间T0的清洗更强的方式进行样品分注探头16的外壁、内壁的清洗。
图12是示出了在多个受检试样、各受检试样中被设定的检查项目和清洗条件的一例的图。在该受检试样B1到B5中设定了例如检查项目A1到A4。然后,在受检试样B1中设定检查项目A1、A2。在受检试样B2中设定了检查项目A2。另外,在受检试样B3中设定了检查项目A1。在受检试样B4中设定了检查项目A1、A2。另外,在受检试样B5中设定了检查项目A3、A4。然后,按照受检试样B1、受检试样B2、受检试样B3、受检试样B4、受检试样B5的顺序进行分注。清洗部70在每当各受检试样B1到B5的分注结束时,基于图11的特殊清洗条件设定画面43的各栏中设定的清洗条件进行样品分注探头16的清洗。
在此,第1,分注作为检查项目A1分析用的受检试样B1。然后,第2,分注作为检查项目A2分析用的受检试样B1。在受检试样B1的分注结束之后,第3,分注作为检查项目A2分析用的受检试样B2。在受检试样B2的分注结束之后,第4,分注作为检查项目A1分析用的受检试样B3。在受检试样B3的分注结束之后,第5,分注作为检查项目A1分析用的受检试样B4。然后,第6,分注作为检查项目A2分析用的受检试样B4。在受检试样B4的分注结束之后,第7,分注作为检查项目A3分析用的检受检试样B5。然后,第8,分注作为检查项目A4分析用的受检试样B5。
另外,受检试样B1的最后的分注是“清洗位置”栏中设定的检查项目A2分析用。“清洗液的种类”和“时间”栏中设定的检查项目A1、A4、A6以外的项目被设定在受检试样B2中。因此,在受检试样B1的分注结束之后、受检试样B2的分注开始之前,使样品分注探头16停止在特殊内壁清洗位置P13处,用第一清洗液执行内壁清洗。然后,使样品分注探头16在第三清洗位置P31处停止通常时间T0,执行使用了第一清洗液的外壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过基于用来以特殊清洗条件设定画面43中设定的特殊清洗条件进行清洗的检查项目A2的信息,使在特殊吸取位置P42停止过的样品分注探头16在第三清洗位置P31处停止通常时间T0,能够进行被受检试样B1污染了的样品分注探头16的在通常清洗条件的位置处不可清洗的外壁部分的清洗。由此,本自动分析装置100能够防止受检试样B1对受检试样B2的污染造成的不良影响,能够防止使用了受检试样B2的检查项目A2的分析数据变差。
受检试样B2的最后的分注是“清洗位置”栏中设定的检查项目A2分析用。“第二清洗液”和“时间”栏中设定的检查项目A1被设定在受检试样B3中。因此,在受检试样B2的分注结束之后、受检试样B3的分注开始之前,使样品分注探头16在第二浸渍位置P22处停止特殊时间T1,用第二清洗液执行外壁和内壁清洗。然后,使样品分注探头16停止在特殊内壁清洗位置P13处,用第一清洗液执行内壁清洗。进而,使样品分注探头16停止在第三清洗位置P31处,用第一清洗液执行外壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过基于用来以特殊清洗条件设定画面43中设定的特殊清洗条件进行清洗的检查项目A1、A2的信息,使在特殊吸取位置P42停止过的样品分注探头16在第二浸渍位置P22处停止特殊时间T1,能够用具有比用第一清洗液停止通常时间T0的通常清洗条件更强的清洗力的第二清洗液,进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。由此,本自动分析装置100能够防止从受检试样B2对受检试样B3的污染造成的不良影响,能够防止使用了受检试样B3的检查项目A1的分析数据变差。
受检试样B3的最后的分注是“清洗位置”栏中设定的检查项目A2以外的项目。“第二清洗液”和“时间”栏中设定的检查项目A1被设定在受检试样B4中。因此,在受检试样B3的分注结束之后、受检试样B4的分注开始之前,使样品分注探头16在第一浸渍位置P21处停止特殊时间T1,用第二清洗液执行外壁和内壁清洗。然后,使样品分注探头16停止在通常清洗位置P1处,用第一清洗液执行外壁和内壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过基于用来以特殊清洗条件设定画面43中设定的特殊清洗条件进行清洗的检查项目A1的信息,使在通常吸取位置P41停止过的样品分注探头16在第一浸渍位置P21处停止特殊时间T1,能够用具有比用第一清洗液停止通常时间T0的通常清洗条件更强的清洗力的第二清洗液,进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。由此,本自动分析装置100能够防止受检试样B3对受检试样B4的污染造成的不良影响,能够防止使用了受检试样B4的各检查项目A1、A2的分析数据变差。
受检试样B4的最后的分注是“清洗位置”栏中设定的检查项目A2分析用。“清洗液的种类”和“时间”栏中设定的检查项目A1、A6以外的项目被设定在受检试样B5中。因此,在受检试样B4的分注结束之后、受检试样B5的分注开始之前,使样品分注探头16停止在特殊内壁清洗位置P13处,用第一清洗液执行内壁清洗。然后,在第三清洗位置P31处停止通常时间T0,用第一清洗液执行外壁清洗。
这样,如果使用本自动分析装置100,则通过基于用来以特殊清洗条件设定画面43中设定的特殊清洗条件进行清洗的检查项目A2的信息,使在特殊吸取位置P42停止过的样品分注探头16在第三清洗位置P31处停止通常时间T0,能够进行被受检试样B4污染了的样品分注探头16的在通常清洗条件的位置处不可清洗的外壁部分的清洗。由此,能够防止受检试样B4对受检试样B5的污染造成的不良影响,能够防止使用了受检试样B5的检查项目A3、A4的分析数据变差。
受检试样B5的最后的分注是“清洗位置”栏中设定的检查项目A2以外的项目分析用时,在受检试样B5的分注结束之后,以通常清洗条件执行清洗。然后,使样品分注探头16在通常清洗位置P1处停止通常时间T0,用第一清洗液执行外壁和内壁清洗。这样,如果使用本自动分析装置100,则在进行通常的清洗时,能够停止在能够在短时间内移动的通常吸取位置P41处来进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
根据以上所述的本实施例,能够基于特殊清洗条件设定画面43中设定的检查项目的信息,进行样品分注探头16的清洗。另外,通过基于“清洗位置”栏中设定的检查项目,在设定了该检查项目的前试样的分注结束之后、后试样的分注开始之前,使样品分注探头16停止在第二浸渍位置P22或第三清洗位置P31处,能够进行被前试样污染了的样品分注探头16的在通常清洗条件的位置处不可清洗的外壁部分的清洗。
另外,根据本实施例,通过基于“第二清洗液”栏中设定的检查项目,在设定了该检查项目的后试样的分注开始之前,使样品分注探头16停止在第一或第二浸渍位置P21、P22处,能够用具有比使用了第一清洗液的通常清洗条件更强的清洗力的第二清洗液进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
进而,根据本实施例,通过基于“第三清洗液”栏中设定的检查项目,在设定了该检查项目的后试样的分注开始之前,使样品分注探头16停止在第一或第二浸渍位置P21、P22处,能够用具有比使用了第一清洗液的通常清洗条件更强的清洗力的第三清洗液进行样品分注探头16的外壁和内壁清洗。
还有,根据本实施例,通过基于“时间”栏中设定的检查项目,在设定了该检查项目的后试样的分注开始之前,使样品分注探头16在第一浸渍位置P21、第二浸渍位置P22、第三清洗位置P31中的任一个清洗位置处停止特殊时间T1,能够比在任一个清洗位置停止通常时间T0的清洗更强地进行样品分注探头16的外壁、内壁的清洗。
根据以上,如果使用本自动分析装置100,则能够防止前试样对后试样的污染造成的不良影响,能够防止使用了后试样的检查项目的分析数据的变差。
虽然说明了本发明的几个实施方式,但这些实施方式都是作为例子提出的,并非用来限定本发明的范围。这些新的实施方式可以以其它的各种方式实施,在不脱离发明的主要构思的范围内,可以进行各种省略、改写、变更。这些实施方式及其变形都包含在发明的范围和主要构思内,且包含在权利要求书记载的发明及其等价的范围内。

Claims (9)

1.一种自动分析装置,其特征在于,包括:
分注探头,吸取试样并进行吐出到反应容器中的分注;
清洗部,具有能够用第一清洗液清洗的第一清洗位置、和上述第一清洗位置下方的能够用第二清洗液清洗的第二清洗位置,清洗上述分注探头;以及
使上述分注探头停止在上述第一清洗位置和上述第二清洗位置中的至少一处的驱动机构。
2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于:
上述清洗部还具有:位于上述第一清洗位置下方的、能够用上述第一清洗液清洗的第三清洗位置;
上述驱动机构使上述分注探头停止在能够吸取上述试样的第一吸取位置或上述第一吸取位置下方的第二吸取位置,使在上述第一吸取位置停止过的上述分注探头停止在上述第一清洗位置处,使在上述第二吸取位置停止过的上述分注探头停止在上述第二清洗位置或上述第三清洗位置处。
3.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于:
还包括:设定用来使上述分注探头停止在上述第二吸取位置处来进行吸取的检查项目的操作部;
上述驱动机构在与上述检查项目对应的试样的分注结束之后,使上述分注探头停止在上述第二清洗位置或上述第三清洗位置处。
4.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于:
还包括:设定用来将上述分注探头用上述第二清洗液进行清洗的检查项目的操作部;
上述驱动机构在与上述检查项目对应的试样的分注开始之前,使上述分注探头停止在上述第二清洗位置处。
5.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于:
还包括:设定用来使上述分注探头停止比在上述第一清洗位置处停止的第一时间长的第二时间来进行清洗的检查项目的操作部;
上述驱动机构在与上述检查项目对应的试样的分注结束之后,使上述分注探头在上述第二时间内停止在上述第二清洗位置和上述第三清洗位置中的至少一个位置处。
6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于:
还包括:通过上述试样与上述分注探头的接触来检测收存在试样容器中的试样的检测器;
上述第一吸取位置是从由上述检测器检测到的位置向下方离开第一距离的位置;
上述第二吸取位置是从由上述试样容器的上表面向下方离开第二距离的位置。
7.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于:
上述第一清洗位置是通过上述驱动机构在上述反应容器上方的位置与试样容器的上方的位置之间移动的上述分注探头的轨道上或上述轨道的延长线上的位置;
上述清洗部具有:
第一清洗管,朝着停止在上述第一清洗位置处的上述分注探头吐出上述第一清洗液;
第二清洗管,贮存用来清洗停止在上述第二清洗位置处的上述分注探头的上述第二清洗液;以及
第三清洗管,贮存用来清洗停止在上述第三清洗位置处的上述分注探头的上述第一清洗液。
8.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于:
上述清洗部在上述第二清洗位置处用第三清洗液清洗上述分注探头,具有与上述第一清洗液、上述第二清洗液、上述第三清洗液对应的多个清洗管。
9.如权利要求6所述的自动分析装置,其特征在于:
上述第二清洗位置具有:使上述分注探头在上述第二清洗液中以大于等于上述第一距离且小于上述第二距离的深度进行浸渍的第一浸渍位置和以超过上述第二距离的深度进行浸渍的第二浸渍位置。
CN201380001582.9A 2012-09-11 2013-09-05 自动分析装置 Pending CN103797371A (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012-199810 2012-09-11
JP2012199810A JP6009872B2 (ja) 2012-09-11 2012-09-11 自動分析装置
PCT/JP2013/073997 WO2014042079A1 (ja) 2012-09-11 2013-09-05 自動分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103797371A true CN103797371A (zh) 2014-05-14

Family

ID=50278192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201380001582.9A Pending CN103797371A (zh) 2012-09-11 2013-09-05 自动分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9513305B2 (zh)
JP (1) JP6009872B2 (zh)
CN (1) CN103797371A (zh)
WO (1) WO2014042079A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105445433A (zh) * 2015-12-31 2016-03-30 华南理工大学 一种水产养殖水质检测装置
CN105606837A (zh) * 2015-12-17 2016-05-25 苏州长光华医生物医学工程有限公司 一种自适应液面探测采样系统及其控制方法
CN112213507A (zh) * 2019-07-11 2021-01-12 日本电子株式会社 自动分析装置和自动分析装置的控制方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3088904A1 (de) * 2015-04-27 2016-11-02 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Verfahren zur überprüfung der funktionsfähigkeit einer waschstation für pipettiernadeln
EP3133401A1 (de) * 2015-08-18 2017-02-22 Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH Verfahren zur reinigung einer pipettiernadel in einem automatischen analysegerät
JP6879313B2 (ja) * 2016-05-11 2021-06-02 シーメンス・ヘルスケア・ダイアグノスティックス・インコーポレーテッドSiemens Healthcare Diagnostics Inc. 分析機器のプローブ洗浄ステーション
CN112470008A (zh) * 2017-10-17 2021-03-09 株式会社日立高新技术 自动分析装置及探针的清洗方法
JP7467309B2 (ja) 2020-10-08 2024-04-15 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 自動分析装置及び洗浄方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01209372A (ja) * 1988-02-18 1989-08-23 Toshiba Corp 自動化学分析装置の洗浄装置
JPH10267939A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 洗浄槽
JP2945747B2 (ja) * 1990-11-02 1999-09-06 オリンパス光学工業株式会社 自動分析装置用洗浄装置
JP2000046844A (ja) * 1998-07-31 2000-02-18 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JP2010060522A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Toshiba Corp 自動分析装置
CN102288773A (zh) * 2010-05-10 2011-12-21 株式会社东芝 自动分析装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009222474A (ja) * 2008-03-14 2009-10-01 Panasonic Corp 微量液体供給装置および微量液体供給方法
US9086395B2 (en) * 2010-05-28 2015-07-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Automatic analysis apparatus
CN103348251B (zh) * 2011-01-31 2014-12-17 株式会社日立高新技术 自动分析装置
EP2877297A1 (en) * 2012-07-25 2015-06-03 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Apparatus, systems, and methods to clean probes in clinical analyzers

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01209372A (ja) * 1988-02-18 1989-08-23 Toshiba Corp 自動化学分析装置の洗浄装置
JP2945747B2 (ja) * 1990-11-02 1999-09-06 オリンパス光学工業株式会社 自動分析装置用洗浄装置
JPH10267939A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 洗浄槽
JP2000046844A (ja) * 1998-07-31 2000-02-18 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JP2010060522A (ja) * 2008-09-05 2010-03-18 Toshiba Corp 自動分析装置
CN102288773A (zh) * 2010-05-10 2011-12-21 株式会社东芝 自动分析装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105606837A (zh) * 2015-12-17 2016-05-25 苏州长光华医生物医学工程有限公司 一种自适应液面探测采样系统及其控制方法
CN105445433A (zh) * 2015-12-31 2016-03-30 华南理工大学 一种水产养殖水质检测装置
CN105445433B (zh) * 2015-12-31 2017-06-06 华南理工大学 一种水产养殖水质检测装置
CN112213507A (zh) * 2019-07-11 2021-01-12 日本电子株式会社 自动分析装置和自动分析装置的控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2014042079A1 (ja) 2014-03-20
JP2014055807A (ja) 2014-03-27
US20140186234A1 (en) 2014-07-03
JP6009872B2 (ja) 2016-10-19
US9513305B2 (en) 2016-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103797371A (zh) 自动分析装置
CN102650644B (zh) 自动分析装置
CN102288773B (zh) 自动分析装置
EP2293083B1 (en) Automatic analyzer
CN102313816A (zh) 自动分析装置
JP2011232249A (ja) 自動分析装置
WO2018230125A1 (ja) 試験キット、試験方法、分注装置
JP6462256B2 (ja) 自動分析装置
JP2015161559A (ja) 臨床検査装置
JP5374092B2 (ja) 自動分析装置および血液サンプル分析方法
JP5606843B2 (ja) 自動分析装置
JP6121743B2 (ja) 自動分析装置
US20220203352A1 (en) Reaction vessel and automatic analyzing device
JP2014066730A (ja) 自動分析装置
JP5931540B2 (ja) 自動分析装置及び検査システム
JP2010286324A (ja) 分注装置、自動分析装置、および分注方法
JP2011106828A (ja) 分注装置、自動分析装置及び分注方法
JP6355960B2 (ja) 臨床検査装置及び容器の洗浄方法
JP2013246055A (ja) 自動分析装置
JP2013148360A (ja) 自動分析装置、分注機構および分注方法
JP4221337B2 (ja) 自動分析装置
JP7366852B2 (ja) 検査装置
JP2011047838A (ja) 自動分析装置
JP6479580B2 (ja) 自動分析装置
JP2010223638A (ja) 分注装置、自動分析装置及び分注装置の分注監視方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20160705

Address after: Japan Tochigi

Applicant after: Toshiba Medical System Co., Ltd.

Address before: Tokyo, Japan, Japan

Applicant before: Toshiba Corp

Applicant before: Toshiba Medical System Co., Ltd.

RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20140514

RJ01 Rejection of invention patent application after publication