CN103493073A

CN103493073A - 用于自动rfid质量控制的系统和方法

Info

Publication number: CN103493073A
Application number: CN201280020292.4A
Authority: CN
Inventors: C·马库斯; E·A·阿米乔
Original assignee: Avery Dennison Corp
Current assignee: Avery Dennison Corp
Priority date: 2011-04-26
Filing date: 2012-04-12
Publication date: 2014-01-01
Also published as: US9569714B2; EP2702535A1; CN109284806A; WO2012148686A1; US20120274448A1

Abstract

本发明描述用于自动RFID质量控制过程的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造批次RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较，以及基于性能测试的结果确定该批次RFID标签通过状态或失败状态。该系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑，其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较，以及确定该批次RFID内嵌物是否符合规格。

Description

用于自动RFID质量控制的系统和方法

相关申请的交叉引用

本申请要求于2011年4月26日提交的美国专利申请No.13/093,933的权益，该申请以其整体通过引用并入本文。

背景技术

射频识别（RFID）标签用来跟踪、识别和定位商品已在近年来显著增长。RFID标签允许制造商、批发商和零售商等利用RFID标签管理产品和存货，迅速确定生产、制造、批发或零售需要以及有效进货和出货。RFID标签自身可以提供任何期望产品数据并可以用各种方式中的任何一种扫描或读取。

在制造过程之后，RFID标签可以经历若干封装过程中的一种。例如，某些类型RFID标签可以封装成卷以方便整体运输到客户。然而在运输之前，RFID标签可以经历质量控制过程，其中确定RFID标签的具体卷是否在产率和连续缺陷方面符合客户规格。例如，客户可以要求每卷RFID标签具有98%的工作标签产率，并且不多于5个连续标签有缺陷。为确定一卷RFID标签是否符合客户需求，每卷可以通过经历校订过程来检查。该过程通常在RFID标签卷离开制造印刷机之后发生。通常从生产线取出内嵌物的卷并且视觉检查，并且然后在卷准备好运输之前从片材切除缺陷内嵌物。该过程相对于制造过程的其他步骤可以是耗时的和劳动力密集的，在运输之前导致瓶颈。

由于RFID制造技术改善，因此产率百分比提高并且连续缺陷标签的数目减小。在许多情况中，多于90%的RFID卷符合客户需求。因此期望绕过校订过程以使制造过程流水线化、使瓶颈最小化并降低成本。

发明内容

根据至少一个示例性实施方式，提供用于自动RFID质量控制的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造一批RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较，以及基于性能测试的结果确定该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。该方法可以进一步包括记录性能测试的结果、连续监控记录的结果，以及指示RFID制造印刷机的每条生产线（lane）的该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑，其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较，以及确定该批RFID内嵌物是否符合规格。控制逻辑可以进一步适于记录性能测试的结果、连续监控性能测试的结果，以及指示该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态。系统可以进一步包括用于输入质量控制规格的界面、用于显示性能测试记录结果的界面，以及用于指示RFID制造印刷机的每条生产线的该批RFID内嵌物的通过状态或失败状态的界面。

附图说明

由示例性实施方式的以下详细描述，本发明的有利实施方式的优点将是显而易见的。以下详细描述应连同附图考虑，其中：

图1示出用于自动RFID质量控制的示例性方法。

图2a示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性配置界面。

图2b示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性数据显示界面。

图2c示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性状态指示器界面。

具体实施方式

本发明的方面在针对本发明具体实施方式的以下描述和相关附图中公开。可以在不背离本发明的精神或保护范围的情况下设计可选实施方式。另外，本发明的示例性实施方式的众所周知的元件将不详细描述或被省略以便不模糊本发明的相关细节。进一步地，为促进理解说明，在此使用的若干术语的讨论如下。

如在此使用，单词“示例性”意思是“用作例子、实例或说明”。在此描述的实施方式不是限制而仅是示例性。应理解在此描述的实施方式不必解释为比其他实施方式优选或有利。此外，术语“本发明的实施方式”、“实施方式”或“发明”不需要本发明的全部实施方式包括讨论的特征、优点或操作模式。此外，RFID标签可以制造为各种布置或群集，例如卷、张或任何其他布置。应理解“批次”RFID内嵌物如在此使用可以指代RFID内嵌物的任何期望布置或群集。

进一步地，在此描述的许多实施方式按照由例如计算装置的元件执行的动作顺序进行描述。本领域技术人员应认识到在此描述的动作的各种顺序可以由专用电路（例如专用集成电路（ASIC））和/或由程序指令进行，该程序指令由至少一个处理器执行。另外，在此描述的动作顺序可以在任何形式的计算机可读存储介质内完全实施，以使执行动作顺序使得处理器能够执行在此描述的功能性。因此，本发明的各种方面可以用数个不同形式实施，这些形式中的全部都考虑在所要求主题的保护范围内。另外，对于在此描述实施方式中的每个，任何这样实施方式的对应形式可以描述为例如“经配置执行所描述动作的计算机”。

根据至少一个示例性实施方式，公开了用于自动RFID质量控制的系统和方法。自动RFID质量控制系统和方法可以允许操作员结论性地确定哪一批次RFID内嵌物符合客户规格，而不必使每批经受校订过程。自动RFID质量控制系统和方法可以集成到现有RFID制造设备并集成到其操作和控制系统。例如，现有RFID印刷机与任何关联计算机逻辑和软件可以经修改从而结合自动RFID质量控制系统和方法的特征和步骤。由于RFID印刷机可以包括多个RFID制造生产线，因此自动RFID质量控制系统可以经配置同时管理多条RFID制造生产线。

图1示出用于RFID质量控制的示例性过程。在步骤102并在开始RFID制造过程之前，RFID印刷机可以由操作员配置以便包括期望规格用于待制造的特别批次RFID内嵌物。本发明进一步考虑RFID印刷机可以由操作员配置从而在RFID内嵌物制造之后包括一批内嵌物的规格。在RFID制造印刷机的配置期间，操作员可以进一步输入期望质量规格用于特别批次RFID内嵌物。例如，操作员可以输入RFID内嵌物批次的产率需求和缺陷密度需求。作为进一步的例子，这样的需求可以是98%产率需求和5个连续有缺陷标签的最大缺陷密度；然而可以输入用于这些规格的任何期望值。操作员也可以输入任何其他必要的配置信息并起动RFID制造印刷机。

图2a示出用于自动RFID质量控制的系统的示例性配置界面200。配置界面200可以包括用于在特别RFID印刷机上启用和停用自动RFID质量控制系统的微件(widget)202。配置界面200可以进一步包括用于输入从质量检查点到重绕点的RFID内嵌物总数的字段204。这创造动态移位寄存器，其补偿(offset)检查结果从而确保结果代表已行进越过重绕点并且包含在重绕卷中的内嵌物。可以提供字段204用于RFID印刷机中的每条生产线。配置界面200可以进一步包括将触发失败条件的标准206。失败标准206可以包括可能在连续顺序的内嵌物中出现的有缺陷内嵌物的最大数目。例如，系统可以经配置允许不多于5个连续有缺陷标签，或在一连串10个标签中不多于5个有缺陷标签。这些值可以输入到配置界面200的字段208和210。失败标准206也可以包括可以输入到配置界面200的字段212的产率需求。在一些实施方式中，可以提供失败标准206用于RFID制造印刷机中的每条生产线。此外，根据需要可以考虑额外的质量规格和失败标准并包括在界面200中。也可以提供用于保存输入的质量规格和失败标准的微件214。

回到图1，在步骤104，RFID印刷机可用于制造过程。在制造过程后，在步骤106，可以测试RFID内嵌物以便确定内嵌物是否可操作。例如，RFID内嵌物由询问器天线或使得系统能够如在此描述的运作的在本领域中已知的询问器天线的任何布置来扫描。RFID内嵌物也可以由RFID读取器扫描从而确定功能性。询问器天线可以在RFID内嵌物上执行RF性能测试，并且可以确定该批RFID内嵌物中每个内嵌物的状态。在步骤108，可以然后记录每个RFID内嵌物的操作状态与任何其他期望信息，并且得到的数据可以输入到数据库或任何其他期望数据存储和组织系统。RF性能测试可以在印刷机的操作期间连续执行。相似地，RF性能测试的结果可以在印刷机的操作期间连续处理并分析。系统可以因此维持扫描的RFID内嵌物总数、可操作内嵌物的量以及有缺陷内嵌物的量的记录。可以维持这样的记录用于RFID制造印刷机中每条生产线。此外，记录数据可以例如在操作员可见的监控显示器上实施显示并更新。另外，有缺陷RFID内嵌物可以由系统标记，使得它们可以随后容易识别。

图2b示出用于显示记录数据的示例性显示界面220。界面220可以将记录数据列表用于RFID制造印刷机的每条生产线。显示的数据可以包括生产线标识符222、生产线状态224、每条生产线待制造的标签总数226、每条生产线有缺陷标签的数目228、每条生产线的总产率230、以及每条生产线的接头数目232。根据需要也可以考虑额外的数据并显示。这样的数据可以包括例如每条生产线连续坏标签的数目，以及每条生产线连续坏标签组的数目。

回到图1，在步骤110，自动RFID质量控制系统可以连续监控记录的数据用于在其上利用系统的RFID制造印刷机中的每条生产线，并可以将记录数据与在过程开始时输入到系统的质量规格进行连续比较。在步骤112，系统可以然后确定具体批次RFID内嵌物是否符合质量规格。系统可以然后在步骤114或步骤116向操作员指示该批是否符合质量规格。为此，系统可以进一步包括“通过”状态指示器和“失败”状态指示器用于RFID制造印刷机中的每条生产线。例如，每条生产线可以包括绿色LED以指示“通过”状态并包括红色LED以指示“失败”状态。可选地，可以利用在本领域中已知的任何其他指示器，例如照明标志、显示器、音频信号或其任何组合。

图2c示出用于自动RFID质量控制系统的状态指示器界面240的示例性实施方式。状态指示器界面240可以包括通过指示器242和失败指示器244。可以提供指示器242、244用于RFID制造印刷机中的每条生产线。

如果不符合质量规格中的一个则可以配置系统将生产线状态从“通过”改变成“失败”。例如，利用在上面陈述的实例规格，如果在具体生产线中大于2%的RFID内嵌物不可操作，或如果发现至少5个连续RFID内嵌物不可操作，则系统可以指示失败状态。为评估可操作RFID内嵌物的百分比产率，待制造的内嵌物的总数可以在配置期间输入到系统，或系统可以在接收制造过程已终止的指示之后执行产率评估。

也可以提供复位微件246以便允许操作员将RFID制造印刷机的一条或全部生产线的状态复位。复位微件246也可以允许操作员将记录数据保存到系统数据库。

再次返回图1，因为系统允许操作员结论性地确定批次RFID内嵌物是否符合客户规格，具有“通过”状态的该批内嵌物可以进展到步骤116，并且封装以便直接运输离开RFID制造印刷机。具有“失败”状态的批次RFID内嵌物可以导引到可以是校订过程的步骤118，借此有缺陷内嵌物从该批次移除。例如，确定为不符合客户规格的干RFID内嵌物卷可以导引到校订设备，该校订设备可以解开卷、识别有缺陷内嵌物并执行拼接程序，借此有缺陷内嵌物从卷移除。作为进一步例子，湿内嵌物可以被导引通过自动校订设备，借此有缺陷内嵌物被标记、移除和用可操作内嵌物替换。在校订过程之后，该批RFID内嵌物可以被导引到步骤116以便运输。

在此描述的用于自动RFID质量控制的系统和方法可以因此通过除去由使每批RFID内嵌物经受校订过程的必需性引起的瓶颈，促进更快速的RFID生产。在此描述的系统和方法可以允许操作员结论性地确定哪些批次符合客户规格，而不必使每批RFID内嵌物都经历校订过程。由于借助于现代制造技术，批次RFID内嵌物的绝大多数实际上符合客户规格，允许这样的批次绕过校订过程可以使RFID制造过程显著节省每单位的时间、成本和人工。

本发明进一步考虑用于自动RFID控制的系统和方法不限于基于性能测试的结果确定RFID装置是否被给予通过或失败状态。例如本发明的方法和系统可以用来基于下述区分RFID：基于客户使用和区分的天线类型和大小、装置大小、与RFID一起使用的某些组件的利用。

本发明也考虑由本发明提供的系统和方法不限于RFID装置，但也可以区分在RFID装置中使用的RFID组件例如天线和芯片的功能性和缺陷。根据本发明的用于自动质量控制的方法，基于性能测试的结果，向芯片提供该批次芯片的通过或失败状态。

前面描述和附图图解本发明的原理、优选实施方式和操作模式。然而，本发明不应解释为限于在上面讨论的特别实施方式。本领域技术人员认识到在上面讨论的实施方式的另外变化。

因此，上述实施方式应该被视为示例性的而不是限制性的。因此，应当理解，本领域技术人员可以进行这些实施方式的改变而不偏离如本发明权利要求书所限定的发明范围。

Claims

1.用于具有一条或多条生产线的RFID制造印刷机的自动RFID质量控制的方法，包括：

用质量控制规格配置所述RFID制造印刷机；

制造批次RFID内嵌物；

在所述批次RFID内嵌物中的每个RFID内嵌物上执行性能测试；

将所述性能测试的结果与所述质量控制规格比较；以及

基于所述性能测试的结果确定所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括记录所述性能测试的结果。

3.根据权利要求2所述的方法，进一步包括连续监控所述记录的结果。

4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

指示所述RFID制造印刷机的每条生产线的所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括直接封装具有通过状态的批次RFID内嵌物。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

将具有失败状态的批次RFID内嵌物送到校订过程；

移出有缺陷内嵌物；以及

封装所述批次RFID内嵌物。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述质量控制规格包括产率要求。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述质量控制规格包括连续缺陷限制。

9.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：基于所述性能测试的结果，为具有失败状态的这些内嵌物替换可操作RFID内嵌物。

10.一种用于自动RFID质量控制的系统，包括：

具有至少一条生产线的RFID制造印刷机；

至少一个询问器天线；以及

用于所述RFID制造印刷机的可编程控制逻辑；

其中所述可编程控制逻辑适于在由所述制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试，将所述性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格进行比较，并且确定所述批次RFID内嵌物是否符合所述质量控制规格。

11.根据权利要求9所述的系统，进一步包括用于输入质量控制规格的界面。

12.根据权利要求9所述的系统，其中所述可编程控制逻辑进一步适于记录所述性能测试的结果。

13.根据权利要求11所述的系统，进一步包括用于显示所述性能测试的记录结果的界面。

14.根据权利要求9所述的系统，其中所述可编程控制逻辑进一步适于连续监控所述性能测试的结果。

15.根据权利要求9所述的系统，其中所述可编程控制逻辑进一步适于指示所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。

16.根据权利要求14所述的系统，进一步包括用于指示所述RFID制造印刷机的每条生产线的批次RFID内嵌物的所述通过状态或失败状态的界面。

17.根据权利要求9所述的系统，其中所述质量控制规格包括产率要求。

18.根据权利要求9所述的系统，其中所述质量控制规格包括连续缺陷限制。