CN103427841A - 一种提高列并行单斜率adc转换速率的系统及方法 - Google Patents
一种提高列并行单斜率adc转换速率的系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103427841A CN103427841A CN2013102945190A CN201310294519A CN103427841A CN 103427841 A CN103427841 A CN 103427841A CN 2013102945190 A CN2013102945190 A CN 2013102945190A CN 201310294519 A CN201310294519 A CN 201310294519A CN 103427841 A CN103427841 A CN 103427841A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- row
- slope
- circuit
- slope adc
- bit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
本发明公开的一种提高列并行单斜率ADC转换速率的系统及方法,在确保了单斜率ADC结构简单,高信噪比的前提下,利用粗细量化的核心思想,将TDC合理的利用到传统的单斜率ADC中,通过高低位分别量化的方式,极大的提高了单斜率ADC的转换速率。同时本发明结构简单,可移植性强,整个TDC作为一个模块对已有的基于单斜率ADC的平面阵列模数转换电路进行添加,就可以提高原有单斜率ADC的精度。
Description
技术领域
本发明属于高精度大平面阵列模数转换技术领域,具体涉及一种提高列并行单斜率ADC转换速率的系统,本发明还涉及采用上述系统提高列并行单斜率ADC转换速率的方法。
背景技术
随着市场的需求,无论是图像传感器技术还是焦平面技术等平面阵列技术,其发展方向都主要集中在高速、高精度,高分辨率,也都是采用列并行处理方式。单斜率ADC具有结构简单、可扩展性高,固定噪声小等优点,很适合现代平面阵列技术发展的趋势。但是单斜率ADC转换速率比较低,完成一次转换需要2N个时钟周期,其中N为ADC的精度。随着精度的提高,转换时间呈指数增长,此外为了满足视频需要(帧频要求),大规模平面阵列(即高分辨率要求)等都要求ADC有较高的转换速率。
已有文献中针对单斜率ADC缺陷的改进方法主要有:
Multiple-ramp single-slope(MRSS)ADC,采用多斜坡电路产生高位斜坡和低位斜坡,所有列先进行一次高位量化,之后每一列根据其高位输出选择低位所在斜坡再进行低位量化。这种方法虽然可以提高单斜率ADC的转换速率,但是一方面数字控制模块非常复杂,另一方面多斜坡电路的精度要求非常高,面积非常大。
Multi-clock single-slope(MCSS)ADC,采用分段时钟的方式对比较器翻转时间进行进一步量化。但是一方面产生多分段时钟需要更高的主时钟频率,另一方面量化时间非常小,很容易产生误差。
发明内容
本发明的目的是提供一种提高列并行单斜率ADC转换速率的系统,解决了现有提高单斜率ADC转换速率方案中,斜坡电路精度要求高、占用面积大、数字控制结构复杂,时钟频率过高的缺点。
本发明的另一目的是提供采用上述系统提高列并行单斜率ADC转换速率的方法。
本发明所采用的技术方案是:一种提高列并行单斜率ADC转换速率的系统,包括两列或两列以上电路,每列电路包括依次连接的CDS双采样电路、预放大电路、高速动态锁存比较器,高速动态锁存比较器的输出端依次连接有N/2-bit计数器、寄存器,预放大电路还与电压-时间转换电路连接,两列或两列以上电路共用一个斜坡模块。
本发明所采用的另一技术方案是:一种提高列并行单斜率ADC转换速率的方法,具体按照以下步骤实施:
步骤1:首先,在CDS双采样电路中,逐行对大规模平面阵列中产生的模拟信号进行CDS双采样;然后,在预放大电路中,对双采样的电压信号进行预放大处理;接着,各列αx关断,通过βx连接到斜坡模块,每一列对该列处理完成的模拟信号Vin进行采样保持;
步骤2:进行第一阶段粗量化,得到P-bit高位量化数字结果;
步骤3:根据不同列比较器输出信号翻转时间的不同,打开该列TDC模块,开始第二阶段细量化,得到Q-bit低位量化数字结果;
本发明的特点还在于,
其中的步骤2具体按照以下步骤实施:高速动态锁存比较器开始第一阶段粗量化,N/2-bit计数器开始第一次计数,当斜坡电压信号Vramp降低到小于某一列或者某几列输入信号Vin时,这一列或者这几列的比较器输出信号发生翻转,N/2-bit计数器停止计数,将量化得到的P-bit高位数字信号存入寄存器中,此时其他列仍处于粗量化阶段。
其中的步骤3具体按照以下步骤实施:控制αx导通,βx关断,该列或某几列与斜坡模块断开,同时电压-时间转换电路、高速动态锁存比较器,N/2-bit计数器开始工作,电流源连接到模拟信号,输入信号根据电流源线性放电,此时ADC处于Q-bit低位比较阶段,当高速动态锁存比较器再次发生翻转时,计数器停止计数,数据暂存到寄存器中,此时该列或几列处于细量化阶段。
本发明的有益效果是:
本发明利用粗细量化的核心思想,将TDC(Time to Digital Converter)合理的利用到传统的单斜率ADC中,通过高低位分别量化的方式,极大的提高单斜率ADC的转换速率。同时本发明结构简单,可移植性强。在比较器失调电压满足精度要求的前提下,整个TDC作为一个模块来使用,可以提高原有单斜率ADC的精度。
本发明所采用的电路结构相对于传统的列并行单斜率ADC来说,各列只是增加了一个二级共源共栅电流源和一些模拟开关,仍然具有单斜率ADC结构简单,固定噪声小的优点。此外通过各列比较器的输出结果作为判断条件,大大减小了数字控制复杂性。
附图说明
图1是本发明系统的结构示意图;
图2是传统单斜率ADC结构示意图;
图3是本发明工作时序图;
图4是本发明中采用的二级共源共栅电流源示意图;
图5本发明采用的TDC结构示意图;
图6本发明采用的TDC工作时序图。
图中,1.CDS双采样电路,2.预放大电路,3.电压-时间转换电路,4.斜坡模块,5.高速动态锁存比较器,6.N/2-bit计数器,7.寄存器。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本发明进行详细说明。
本发明提高列并行单斜率ADC转换速率的系统的结构如图1所示,包括多列电路,每列电路包括依次连接的CDS双采样电路1、预放大电路2、高速动态锁存比较器5,高速动态锁存比较器5的输出端依次连接有N/2-bit计数器6、寄存器7,预放大电路2还与电压-时间转换电路3连接,多列电路共用一个斜坡模块4。
输入信号Vin首先进入CDS双采样电路1,之后,进入预放大电路2,然后一方面连接到高速动态锁存器5,另外一方面,通过α开关连接电压-时间转换电路3。所有列共用一个斜坡模块4,所有列高速动态锁存比较器5的一端输入通过一个简单的采样保持电路连接到斜坡模块4。高速动态锁存比较器5的输出端一方面连接到N/2-bit计数器6,另外一方面控制模拟开关α和β。通过N/2-bit计数器6得到数字信号存储在寄存器7中。
所有列共用一个斜坡模块4,每一列包括一个VTC(Voltage-to-TimeConverter)模块、一个高速动态锁存比较器、一个双采样电路、一个运算放大器以及2个REG。和传统的单斜率ADC(如图2)相比,只是增加了一个VTC模块、模拟开关以及一些数字单元。其中VTC是TDC的主要组成部分,如图5所示。
本发明提高列并行单斜率ADC转换速率的方法,如图3所示,具体按照以下步骤实施:
步骤1:首先,在CDS双采样电路1中,逐行对大规模平面阵列中产生的模拟信号进行CDS双采样;这样做是为了有效的降低读出电路的固定噪声。然后,在预放大电路2中,对双采样的电压信号进行预放大处理。接着,各列αx关断,通过βx连接到RAMP斜坡模块4,每一列对该列处理完成的模拟信号Vin进行采样保持。此时TDC模块中电流源与各个模块处于断开状态,所有列比较器与斜坡模块相连;
步骤2:然后,高速动态锁存比较器5开始第一阶段粗量化,N/2-bit计数器6开始第一次计数。当斜坡电压信号Vramp降低到小于某一列或者某几列输入信号Vin时,这一列或者这几列的比较器输出信号发生翻转,N/2-bit计数器6停止计数,将量化得到的P-bit高位数字信号存入寄存器7中。此时其他列仍处于粗量化阶段;
步骤3:接着,控制αx导通,βx关断,该列或某几列与斜坡模块4断开,同时TDC(由电压-时间转换电路3、高速动态锁存比较器5,N/2-bit计数器6共同构成)开始工作,电流源连接到模拟信号,如图5和图6所示。输入信号根据电流源线性放电,此时ADC处于Q-bit低位比较阶段。当比较器再次发生翻转时,计数器停止计数,数据暂存到寄存器7中。此时该列或几列处于细量化阶段。
步骤4:最后,将寄存器7暂存的数据进行拟合。由于第一次比较器比较阶段是当Vramp降低到小于输入信号时,比较器输出正端由0变为VDD,第二次是Vin下降到小于Vrampx,所以利用高速动态锁存比较器5负端进行N/2-bit计数器6第二次停止计数的判断。由于第一次量化结果和模拟电压信号相反,所以最后拟合时,对高位数据取反,再与低位量化结果移位求和。那么最终完成一行模拟信号到数字信号的转换时间其中fclk为计数器的时钟频率。相比于传统N-bit单斜率ADC来说,转换速率提高了倍,即倍,其中N=P+Q。当P=Q时,本发明提出的方法转换速率达到最大,提高了接近倍,同时处于列上的计数器面积也达到最小。随着精度需求的不断提高,本发明对单斜率ADC转换速率的提高也越来越明显。
所有列之间相互不影响,当某几列在进行细量化时,Vramp降低到小于其他某几列输入信号Vin时,这几列也进入第二阶段进行细量化。在精度要求为固定值时,p=q转换速率达到最大,并且随着精度要求的提高,效果也越来越明显。
整个发明的精度保证在于高线性度的TDC结构,所以VTC采用两级共源共栅结构,如图4所示。这种结构的优点是电流源具有很高的输出阻抗,这样可以保证TDC放电过程的高线性度。电流源镜像管之间的阈值失调会导致线性度下降,但只需要通过后续的数字修正就可以得到改善。其中α连接比较器的输出端和VTC模块中的电流源,当比较器第一次发生翻转时,开启VTC模块。
Claims (4)
1.一种提高列并行单斜率ADC转换速率的系统,其特征在于,包括两列或两列以上电路,每列电路包括依次连接的CDS双采样电路(1)、预放大电路(2)、高速动态锁存比较器(5),高速动态锁存比较器(5)的输出端依次连接有N/2-bit计数器(6)、寄存器(7),预放大电路(2)还与电压-时间转换电路(3)连接,两列或两列以上电路共用一个斜坡模块(4)。
2.一种提高列并行单斜率ADC转换速率的方法,其特征在于,采用一种提高列并行单斜率ADC转换速率的系统,其结构为:包括两列或两列以上电路,每列电路包括依次连接的CDS双采样电路(1)、预放大电路(2)、高速动态锁存比较器(5),高速动态锁存比较器(5)的输出端依次连接有N/2-bit计数器(6)、寄存器(7),预放大电路(2)还与电压-时间转换电路(3)连接,两列或两列以上电路共用一个斜坡模块(4);
具体按照以下步骤实施:
步骤1:首先,在CDS双采样电路(1)中,逐行对大规模平面阵列中产生的模拟信号进行CDS双采样;然后,在预放大电路(2)中,对双采样的电压信号进行预放大处理;接着,各列αx关断,通过βx连接到斜坡模块(4),每一列对该列处理完成的模拟信号Vin进行采样保持;
步骤2:进行第一阶段粗量化,得到P-bit高位量化数字结果;
步骤3:根据不同列比较器输出信号翻转时间的不同,打开该列TDC模块,开始第二阶段细量化,得到Q-bit低位量化数字结果;
3.根据权利要求2所述的提高列并行单斜率ADC转换速率的方法,其特征在于,所述的步骤2具体按照以下步骤实施:高速动态锁存比较器(5)开始第一阶段粗量化,N/2-bit计数器(6)开始第一次计数,当斜坡电压信号Vramp降低到小于某一列或者某几列输入信号Vin时,这一列或者这几列的比较器输出信号发生翻转,N/2-bit计数器(6)停止计数,将量化得到的P-bit高位数字信号存入寄存器(7)中,此时其他列仍处于粗量化阶段。
4.根据权利要求2所述的提高列并行单斜率ADC转换速率的方法,其特征在于,所述的步骤3具体按照以下步骤实施:控制αx导通,βx关断,该列或某几列与斜坡模块(4)断开,同时电压-时间转换电路(3)、高速动态锁存比较器(5),N/2-bit计数器(6)开始工作,电流源连接到模拟信号,输入信号根据电流源线性放电,此时ADC处于Q-bit低位比较阶段,当高速动态锁存比较器(5)再次发生翻转时,计数器停止计数,数据暂存到寄存器(7)中,此时该列或几列处于细量化阶段。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310294519.0A CN103427841B (zh) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 一种提高列并行单斜率adc转换速率的系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310294519.0A CN103427841B (zh) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 一种提高列并行单斜率adc转换速率的系统及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103427841A true CN103427841A (zh) | 2013-12-04 |
CN103427841B CN103427841B (zh) | 2016-10-05 |
Family
ID=49652095
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310294519.0A Active CN103427841B (zh) | 2013-07-12 | 2013-07-12 | 一种提高列并行单斜率adc转换速率的系统及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN103427841B (zh) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104135289A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-11-05 | 天津大学 | 校准列级多参考电压单斜adc的方法及装置 |
CN104539856A (zh) * | 2014-12-23 | 2015-04-22 | 天津大学 | 用于图像传感器的基于tdc的高速列级adc |
CN107135358A (zh) * | 2017-05-03 | 2017-09-05 | 北京思比科微电子技术股份有限公司 | 一种用于cmos图像传感器的高速rampadc |
CN108551344A (zh) * | 2018-03-29 | 2018-09-18 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 双采样模数转化电路 |
CN111405183A (zh) * | 2020-03-27 | 2020-07-10 | 西安理工大学 | 一种集成在图像传感器中提高细胞分辨率的系统与方法 |
CN112737587A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-04-30 | 西安理工大学 | 采用互补细斜坡的并行两步式单斜模数转换方法及电路 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102035555A (zh) * | 2010-12-29 | 2011-04-27 | 杭州矽力杰半导体技术有限公司 | 一种模数转换器、转换方法及应用其的数字电源控制器 |
US20120306674A1 (en) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | Hynix Semiconductor Inc. | Automatic offset adjustment for digital calibration of column parallel single-slope adcs for image sensors |
CN103066964A (zh) * | 2011-10-21 | 2013-04-24 | 索尼公司 | 比较器、ad转换器、固态成像装置以及相机系统 |
-
2013
- 2013-07-12 CN CN201310294519.0A patent/CN103427841B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102035555A (zh) * | 2010-12-29 | 2011-04-27 | 杭州矽力杰半导体技术有限公司 | 一种模数转换器、转换方法及应用其的数字电源控制器 |
US20120306674A1 (en) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | Hynix Semiconductor Inc. | Automatic offset adjustment for digital calibration of column parallel single-slope adcs for image sensors |
CN103066964A (zh) * | 2011-10-21 | 2013-04-24 | 索尼公司 | 比较器、ad转换器、固态成像装置以及相机系统 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104135289A (zh) * | 2014-06-30 | 2014-11-05 | 天津大学 | 校准列级多参考电压单斜adc的方法及装置 |
CN104135289B (zh) * | 2014-06-30 | 2017-06-20 | 天津大学 | 校准列级多参考电压单斜adc的方法及装置 |
CN104539856A (zh) * | 2014-12-23 | 2015-04-22 | 天津大学 | 用于图像传感器的基于tdc的高速列级adc |
CN107135358A (zh) * | 2017-05-03 | 2017-09-05 | 北京思比科微电子技术股份有限公司 | 一种用于cmos图像传感器的高速rampadc |
CN107135358B (zh) * | 2017-05-03 | 2019-11-19 | 北京思比科微电子技术股份有限公司 | 一种用于cmos图像传感器的高速rampadc |
CN108551344A (zh) * | 2018-03-29 | 2018-09-18 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 双采样模数转化电路 |
CN108551344B (zh) * | 2018-03-29 | 2022-04-01 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 双采样模数转化电路 |
CN111405183A (zh) * | 2020-03-27 | 2020-07-10 | 西安理工大学 | 一种集成在图像传感器中提高细胞分辨率的系统与方法 |
CN111405183B (zh) * | 2020-03-27 | 2021-11-16 | 西安理工大学 | 一种集成在图像传感器中提高细胞分辨率的系统与方法 |
CN112737587A (zh) * | 2020-12-07 | 2021-04-30 | 西安理工大学 | 采用互补细斜坡的并行两步式单斜模数转换方法及电路 |
CN112737587B (zh) * | 2020-12-07 | 2023-06-23 | 西安理工大学 | 采用互补细斜坡的并行两步式单斜模数转换方法及电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103427841B (zh) | 2016-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103427841A (zh) | 一种提高列并行单斜率adc转换速率的系统及方法 | |
US10075662B2 (en) | Solid-state image pickup device with plurality of converters | |
Park et al. | Low power CMOS image sensors using two step single slope ADC with bandwidth-limited comparators & voltage range extended ramp generator for battery-limited application | |
WO2013002957A2 (en) | Two-stage analog-to-digital converter using sar and tdc | |
CN107888191B (zh) | 逐次逼近模数转换器及其基于自适应预测区间的量化方法 | |
CN109639282B (zh) | 一种单端输入的低功耗同步寄存器型逐次逼近adc | |
CN103532553B (zh) | 基于循环时间数字转换器的时域adc | |
CN105049049A (zh) | 一种提高逐次逼近模数转换器dnl/inl的电容交换方法 | |
CN110401447B (zh) | 一种无运放mdac型时间域adc结构 | |
CN111327324B (zh) | 一种适用于逐次逼近型模数转换器的电容阵列结构 | |
CN110401444B (zh) | 异步时钟adc电路的亚稳态的检测消除电路 | |
Kung et al. | A low energy consumption 10-bit 100kS/s SAR ADC with timing control adaptive window | |
US20100309035A1 (en) | Method and apparatus to improve reference voltage accuracy | |
CN102075192A (zh) | 一种高速数字模拟转换电路及其工作方法 | |
CN111740741B (zh) | 一种流水线型adc电容失配校准电路及方法 | |
CN106130559A (zh) | 一种高精度列级模数转换器及其模数转换方法 | |
CN111263090A (zh) | 读出电路结构及其工作时序控制方法 | |
CN116346135A (zh) | 逐次逼近寄存器模数转换器 | |
CN115802185A (zh) | 两步锯齿状单斜adc | |
Cheng et al. | A 0.5-V 1.28-MS/s 10-bit SAR ADC with switching detect logic | |
US11509320B2 (en) | Signal converting apparatus and related method | |
CN112398472B (zh) | 一种用于图像传感器的误差量化10位单斜adc | |
CN114710155A (zh) | 用于sar型模数转换器的逻辑控制电路、sar型模数转换器 | |
CN110380729B (zh) | 基于预测和局部过采样的逐次逼近模数转换器量化方法 | |
Du et al. | A/D converter architectures for energy-efficient vision processor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |