CN103365757A - 时钟检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种时钟检测方法及装置，所述时钟检测方法，应用于微控制器MCU，所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述方法包括：获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。在本申请中，既可以实现对MCU时钟的准确性的判断，同时，本申请MCU不需要对基准时钟的信号进行实时获取，因此无需占用较多的MCU工作资源。

Description

时钟检测方法及装置

技术领域

本发明涉及计算机及通信技术领域，特别是涉及一种时钟检测方法及装置。

背景技术

在工业控制系统中，微控制器（MCU，Micro Control Unit）中的时钟是控制逻辑输入输出和各个通讯设备之间通讯的基础，MCU的时钟信号质量差或MCU的时钟信号丢失，都会导致控制过程发生偏差甚至使整个控制系统崩溃。因此，通过对MCU的时钟检测确保时钟信号的正确性，对于工业控制系统是至关重要的。

现有的MCU时钟检测方法是采用计数器的方式，如图1所示，两个计数器的输入端分别接入基准时钟信号，计数器101的异步复位接口接入被测时钟信号，计数器103的异步复位接口通过反相器105接入被测时钟的反向信号。

当被测时钟信号存在时，两个计数器将不停的被交替清零，图1中与门输出的检测结果不会为高电平，而当被测时钟信号丢失时，由于必有一个计数器不会被清零，该计数器将一直计数为高电平，从而，通过从两个计数结果检测器获得的计数器的计数检测结果会出现高电平，由此便可以判断被测时钟信号是否丢失。

可见，上述方案中需要对基准时钟的信号进行实时获取，由此占用大量的MCU工作资源。同时，上述方案中，只能通过判断检测结果是否为高电平得到MCU的被检测时钟信号是否存在，并不能对MCU时钟信号的准确性进行判定。

因此，亟需一种能够对MCU时钟的准确性进行判定的检测方案。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种时钟检测方法及装置，实现对时钟信号的准确性进行判定，技术方案如下：

一种时钟检测方法，应用于微控制器MCU，所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述方法包括：

获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

其中，所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

其中，所述依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果，包括：

判断所述差值是否在预设的时差范围内，如果是，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息，否则，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

其中，所述获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值，包括：

发送检测指令给所述可编程器件，触发所述可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

获取所述参考计数值。

其中，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送检测指令到可编程器件，包括：

发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

其中，在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，所述方法还包括：

响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

其中，所述确定与所述参考计数值相对应的参考时间长，包括：

获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

一种时钟检测装置，应用于具有连接单元的微控制器MCU，所述连接单元，用于所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述装置包括：

参考计数值获取单元，用于获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

参考时间长确定单元，用于确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

差值获取单元，用于获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

检测结果生成单元，用于依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

其中，所述连接单元为通信连接单元，所述通信连接单元，用于所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

其中，所述差值获取单元，包括：

判断单元，判断所述差值是否在预设的时差范围内；

第一获取单元，用于当所述差值在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息；

第二获取单元，用于当所述差值不在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

其中，所述参考计数值获取单元，包括：

发送单元，用于发送检测指令给所述可编程器件；

触发单元，用于触发所述可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

获取单元，用于获取所述参考计数值。

其中，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送单元，包括：

第一发送子单元，用于发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

第二发送子单元，用于发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

其中，所述装置还包括：

响应单元，用于在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

其中，所述参考时间长确定单元，包括：

时间周期获取单元，用于获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

确定单元，用于确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

本发明实施例所提供的技术方案，应用于微控制器MCU中，由所述MCU预先设置所述检测时间长，通过获取所述检测时间长内的基准时钟的参考时间长，由此得到检测时间长与参考时间长的差值，进而依据该差值得到MCU的时钟检测结果。在本申请中，既可以实现对MCU时钟的准确性的判断，同时，本申请MCU不需要对基准时钟的信号进行实时获取，因此无需占用较多的MCU工作资源。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中一种时钟检测装置结构示意图；

图2为本发明实施例所提供的一种时钟检测方法的第一种流程示意图；

图3为本发明实施例所提供的一种时钟检测方法的第二种流程示意图；

图4为本发明实施例所提供的一种时钟检测方法的第三种流程示意图；

图5为本发明实施例所提供的一种时钟检测方法的第四种流程示意图；

图6为本发明实施例所提供的一种时钟检测装置的第一种结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了解决现有技术中不能对MCU时钟准确性的判断且占用大量MCU工作资源的问题，本发明实施例提供一种时钟检测方法及装置，以实现对时钟信号质量的检测。

下面首先对本发明实施例提供的一种时钟检测方法进行介绍。

需要说明的是，该方法应用于微控制器中，且该微控制器与包含有基准时钟的可编程器件相连接。

具体的，可编程器件内部实现一个分频器、一个具有特定计数容量的计数器以及部分寄存器空间，该分频器用于对基准时钟源信号分频以得到频率为1MHZ的基准时钟；该计数器用于当可编程器件接收到时钟检测命令时，对基准时钟信号的高电平或上升沿计数，当计数器中的计数溢出时，可编程器件发起检测故障报警；寄存器能够锁存计数器的计数值，并实现计数器的计数清0。

一种时钟检测方法，如图2所示，可以包括：

步骤S201：获取所述基准时钟的时钟信号在预设检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

在实际应用中，该预设检测时间长是根据待检测时钟信号的时钟精度设定的，不同的待检测时钟精度，对应的预设检测时间长是可以不同的。时钟精度越高，该预设检测时间长相对的越长。

具体的，该预设检测时间长是通过MCU内部的计数器对被测时钟信号的高电平或上升沿计数实现，当然不局限于此。

实际应用中，该时钟检测方法是由MCU主动发起，MCU可以自行选择在合适的时刻发起对不同时钟精度进行检测，如，可以在MCU启动时发起对被检测时钟信号质量的检测。

进一步的，该获取所述基准时钟的时钟信号在预设检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值，如图3所示，可以包括：

步骤S301：发送检测指令给所述可编程器件，触发可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

具体的，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送检测指令到可编程器件，可以包括：

发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

MCU向可编程器件发送第一指令后，触发可编程器件中的计数器在所述第一指令中的开始时间点计数，继而等待预设检测时间长结束时刻的到来，在确定预设检测时间长结束时刻到来时，向可编程器件发送第二指令，以在所述第二指令中的结束时间点关闭可编程器件中的计数器，从而使该计数器停止计数。

需要说明的是，由于预设检测时间长是MCU中的计数器通过对被测时钟信号计数而来，在计数的过程中，若被测测时钟信号丢失，则该计数器停止计数，也即MCU将不会发送第二指令，此时，由于没有触发可编程器件中的计数器计数停止的信号，该可编程器件中的计数器将一直对基准时钟信号计数，直到其计满溢出并报警。

如上所述，由于可编程器件内部实现一具有特定计数容量的计数器，当该计数器中计数值溢出时，可编程器件发起检测故障报警，结束该时钟检测方法，因此，在发送第一指令之后，发送第二指令之前，当可编程器件溢出时，MCU响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，以结束该时钟检测方法。

步骤S302：获取所述参考计数值。

可编程器件中的计数器在依据接收到的第二指令停止计数后，锁存当前计数器的参考计数值到寄存器中，以便MCU以并行总线的外部通信方式获取该参考计数值。

步骤S202：确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

MCU通过发送检测指令，即第一指令与第二指令，触发控制可编程器件，获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值后，确定与所述参考计数值相对应的参考时间长。

具体的，所述确定与所述参考计数值相对应的参考时间长，如图4所示，可以包括：

步骤S401：获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

步骤S402：确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

在实际应用中，由于基准时钟是可编程器件中的分频器对时钟源进行分频得来，故通常先根据基准时钟的频率得到与之相对应的时间周期，然后将参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

例如，分频之后的基准时钟频率为1MHZ，则与之对应的时间周期为（1/1M）s，当获取的参考时钟计数值为N时，则确定的与参考计数值相对应的参考时间长为（N/1M）s。

步骤S203：获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

步骤S204：依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

在确定出与参考计数值相对应的参考时间长后，获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值。

具体的，在保证该差值为正数的前提下，该差值既可以通过参考时间长减去检测时间长获得，也可以是检测时间长减去参考时间长获得。

例如，当预设检测时间长为1μs时，MCU获取的参考时钟计数值为1.02M个高电平时，相应的参考时间为1.02μs，则该差值是通过参考时间长减去预设检测时间长获得，为0.02μs，当预设检测时间长为1.1μs时，则该差值是通过预设检测时间长减去参考时间长获得，为0.08μs。

进一步的，依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果，可以包括：

判断所述差值是否在预设的时差范围内，如果是，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息，否则，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

如上所述，当该差值为0.02μs，预设的时差范围为0.05μs时，由于该差值在预设的时差范围内，此时，MCU生成表明其时钟正常的第一信息的检测结果；若当该差值为0.02μs，预设的时差范围为0.01μs时，由于该差值不在预设的时差范围内，此时，MCU生成表明其时钟异常的第二信息的检测结果。

本发明实施例所提供的技术方案，应用于微控制器MCU中，由所述MCU预先设置所述检测时间长，通过获取所述检测时间长内的基准时钟的参考时间长，由此得到检测时间长与参考时间长的差值，进而依据该差值得到MCU的时钟检测结果。在本申请中，既可以实现对MCU时钟的准确性的判断，同时，本申请MCU不需要对基准时钟的信号进行实时获取，因此无需占用较多的MCU工作资源。

具体的，为了清楚的阐释该时钟检测方法的工作过程，下面详细对该时钟检测方法的工作过程进行介绍。

需要说明的是，该方法应用于微控制器，为了提高微控制器与可编程器件的数据通信速度，所述微控制器与包含有基准时钟的可编程器件通过并行总线的方式相连接。

如图5所示，一种时钟检测方法，可以包括：

步骤S501：发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

步骤S502：发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

MCU向可编程器件发送第一指令后，触发可编程器件中的计数器在所述第一指令中的开始时间点计数，继而等待预设检测时间长结束时刻的到来，在确定预设检测时间长结束时刻到来时，向可编程器件发送第二指令，以在所述第二指令中的结束时间点关闭可编程器件中的计数器，从而使该计数器停止计数。

需要说明的是，由于预设检测时间长是MCU中的计数器通过对被测时钟信号计数而来，在计数的过程中，若被测测时钟信号丢失，则该计数器停止计数，也即MCU将不会发送第二指令，此时，由于没有触发可编程器件中的计数器计数停止的信号，该可编程器件中的计数器将一直对基准时钟信号计数，直到其计满溢出报警。

步骤S503：获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

步骤S504：确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长；

在实际应用中，由于基准时钟是可编程器件中的分频器对时钟源进行分频得来，故通常先根据基准时钟的频率得到与之相对应的时间周期，然后将参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

例如，分频之后的基准时钟频率为1MHZ，则与之对应的时间周期为（1/1M）s，当获取的参考时钟计数值为N时，则确定的与参考计数值相对应的参考时间长为（N/1M）s。

步骤S505：获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

在确定出与参考计数值相对应的参考时间长后，获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值。

具体的，在保证该差值为正数的前提下，该差值既可以通过参考时间长减去检测时间长获得，也可以是检测时间长减去参考时间长获得。

例如，当预设检测时间长为1μs时，MCU获取的参考时钟计数值为1.02M个高电平时，相应的参考时间为1.02μs，则该差值是通过参考时间长减去预设检测时间长获得，为0.02μs，当预设检测时间长为1.1μs时，则该差值是通过预设检测时间长减去参考时间长获得，为0.08μs。

步骤S506：判断所述差值是否在预设的时差范围内，如果是，执行步骤S507，否则，则执行步骤S508；

步骤S507：生成表明所述MCU时钟正常的第一信息；

步骤S508：生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

如上所述，当该差值为0.02μs，预设的时差范围为0.05μs时，由于该差值在预设的时差范围内，此时，MCU生成表明其时钟正常的第一信息的检测结果；若当该差值为0.02μs，预设的时差范围为0.01μs时，由于该差值不在预设的时差范围内，此时，MCU生成表明其时钟异常的第二信息的检测结果。

本发明实施例所提供的技术方案，应用于采用通信方式与可编程器件相连接的微控制器MCU中，所述MCU预先设置所述检测时间长，通过发送第一指令、第二指令得到参考计数值，并通过获取所述检测时间长内的基准时钟的参考时间长，由此得到检测时间长与参考时间长的差值，进而依据该差值得到MCU的时钟检测结果。在本申请中，既可以实现对MCU时钟的准确性的判断，同时，本申请MCU不需要对基准时钟的信号进行实时获取，因此无需占用较多的MCU工作资源。

在该方法执行的过程中，当被测时钟信号丢失时，为了能够判断出此时被测时钟信号已丢失，也即MCU能够对可编程器件中的计数器溢出做出相应，从而结束该时钟检测方法，进一步的，在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，所述方法还包括：

步骤S509：响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

相应于上述的方法实施例，本发明实施例还提供一种时钟检测装置。

需要说明的是，所述时钟检测装置应用于具有连接单元的微控制器MCU，所述连接单元，用于所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接。

一种时钟检测装置，如图6所以，可以包括：

参考计数值获取单元610，用于获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

参考时间长确定单元620，用于确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

差值获取单元630，用于获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

检测结果生成单元640，用于依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

进一步的，为了提高MCU与可编程器件的数据通信速度，所述连接单元为通信连接单元，所述通信连接单元，用于所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

具体的：

所述差值获取单元，包括：

判断单元，判断所述差值是否在预设的时差范围内；

第一获取单元，用于当所述差值在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息；

第二获取单元，用于当所述差值不在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

所述参考计数值获取单元，包括：

发送单元，用于发送检测指令给所述可编程器件；

触发单元，用于触发所述可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

获取单元，用于获取所述参考计数值。

进一步的，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送单元，包括：

第一发送子单元，用于发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

第二发送子单元，用于发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

为了实现在被测时钟信号丢失时，仍能够对该被测时钟信号做出判断，优选的，所述装置还包括：

响应单元，用于在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

所述参考时间长确定单元，包括：

时间周期获取单元，用于获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

确定单元，用于确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

本发明实施例所提供的技术方案，应用于微控制器MCU中，由所述MCU预先设置所述检测时间长，通过参考时间长确定单元620获取所述检测时间长内的基准时钟的参考时间长，通过差值获取单元630得到检测时间长与参考时间长的差值，并通过检测结果生成单元640依据该差值得到MCU的时钟检测结果。在本申请中，既可以实现对MCU时钟的准确性的判断，同时，本申请MCU不需要对基准时钟的信号进行实时获取，因此无需占用较多的MCU工作资源。

对于装置或系统实施例而言，由于其基本相应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置或系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，在没有超过本申请的精神和范围内，可以通过其他的方式实现。当前的实施例只是一种示范性的例子，不应该作为限制，所给出的具体内容不应该限制本申请的目的。例如，所述单元或子单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或多个子单元结合一起。另外，多个单元可以或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。

另外，所描述系统，装置和方法以及不同实施例的示意图，在不超出本申请的范围内，可以与其它系统，模块，技术或方法结合或集成。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (14)

1.一种时钟检测方法，其特征在于，应用于微控制器MCU，所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述方法包括：

获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果，包括：

判断所述差值是否在预设的时差范围内，如果是，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息，否则，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值，包括：

发送检测指令给所述可编程器件，触发所述可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

获取所述参考计数值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送检测指令到可编程器件，包括：

发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，所述方法还包括：

响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述参考计数值相对应的参考时间长，包括：

获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

8.一种时钟检测装置，其特征在于，应用于具有连接单元的微控制器MCU，所述连接单元，用于所述MCU与包含有基准时钟的可编程器件相连接，所述装置包括：

参考计数值获取单元，用于获取所述基准时钟的时钟信号在预设的检测时间长内的高电平或上升沿的参考计数值；

参考时间长确定单元，用于确定与所述参考计数值相对应的参考时间长；

差值获取单元，用于获取所述参考时间长与所述检测时间长的差值；

检测结果生成单元，用于依据所述差值，生成所述MCU的时钟检测结果。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述连接单元为通信连接单元，所述通信连接单元，用于所述MCU与所述可编程器件通过并行总线相连接。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述差值获取单元，包括：

判断单元，判断所述差值是否在预设的时差范围内；

第一获取单元，用于当所述差值在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟正常的第一信息；

第二获取单元，用于当所述差值不在预设的时差范围内时，生成表明所述MCU时钟异常的第二信息。

11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述参考计数值获取单元，包括：

发送单元，用于发送检测指令给所述可编程器件；

触发单元，用于触发所述可编程器件依据所述检测指令在所述检测时间长内记录所述基准时钟的时钟信号的高电平或上升沿的参考计数值；

获取单元，用于获取所述参考计数值。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述检测指令包括第一指令和第二指令，所述发送单元，包括：

第一发送子单元，用于发送第一指令，触发可编程器件在所述第一指令中的开始时间点计数；

第二发送子单元，用于发送第二指令，触发可编程器件在所述第二指令中的结束时间点停止计数得到参考计数值。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

响应单元，用于在所述发送第一指令之后，在所述发送第二指令之前，响应于所述可编程器件的计数器溢出指令，结束所述时钟检测方法。

14.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述参考时间长确定单元，包括：

时间周期获取单元，用于获取与所述基准时钟相对应的时间周期；

确定单元，用于确定所述参考计数值与时间周期的乘积作为参考时间长。

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