CN103181033A - 具有触头锁定构件和测试止挡件的电插头元件 - Google Patents

Abstract

本发明涉及插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，该插头元件具有插塞部分(2)和触头锁定构件（8），所述插塞部分构造成能够在所述插头元件(1,1',1'',1''',1'''')的插塞方向（Z）上与配合的插头元件（100）组装并且具有用于电插接触头的至少一个插孔(5)，所述触头锁定构件(8)至少在其固定位置（S）中至少部分地伸入到所述插孔(5)中。在插头元件(1,1',1'',1''',1'''')的最小可能的外部尺寸的情况下，为能够简单地感知已经达到固定位置（S），根据本发明使得触头锁定构件(8)在固定位置（S）中释放测试路径（P），测试构件（3,200）能够沿着测试路径（P）移动经过测试止挡件(18)。

Description

具有触头锁定构件和测试止挡件的电插头元件

技术领域

本发明涉及用于密封及未密封的电插接连接器的插头元件，该插头元件具有插塞部分和触头锁定构件，所述插塞部分构造成能够在插头元件的插塞方向上与配合的插头元件组装并且具有用于电插接触头的至少一个插孔，所述触头锁定构件至少在其固定位置中至少部分地伸入插孔。

背景技术

根据现有技术已知带有触头锁定构件的插头元件。触头锁定构件通常称为第二触头锁定装置且在固定位置中与位于插孔中的电触头元件交迭，并且机械地固定所述元件以防止其从插孔中被拔出。对于触头元件的第一机械固定主要是由在元件自身上形成的闩锁弹簧执行，该弹簧被闩锁到插孔中的凸起上。

通过现有技术中已知的插头元件，通常难以确定触头锁定构件是否正确地转换到固定位置。起初，误插入的电触头元件能够阻止触头锁定构件转换到固定位置，因为其阻碍在触头锁定构件前方延伸的固定位置。然而，如果然后试图通过增大所施加的力而将触头锁定构件转换到固定位置，其和/或触头元件可发生变形，并且至少从外侧给人以已经达到固定位置的印象。

如果插头元件被接收在包围的壳体中，并且在其中密封元件可能布置在包围的壳体和插头元件的导体插孔部分之间且由此仅可困难地接触到插塞部分的情况中，该问题更严重。此后，仅能够利用附加的辅助工具来检查固定位置，辅助工具例如被引入包围的壳体和插头元件之间的空间，以感测触头锁定构件的位置。在引入辅助工具时增大的力消耗可同样导致触头锁定构件的变形以及检查固定位置时的错误结论。

发明内容

考虑到在根据现有技术已知的插头元件的情况中所述的问题，本发明基于这样的目的：提供一种插头元件，其中能够简单且可靠地检查触头锁定构件的固定位置。

根据本发明，该目的通过以下方式实现：在固定位置中触头锁定构件释放测试路径，并且作为辅助装置的测试构件能够沿着测试路径被引导经过测试止挡件。

通过该方案，有利的是测试止挡件能够独立于致动测试构件所消耗的力而阻挡测试构件，并且因此能够发出未正确到达固定位置的信号。此外，限定的测试路径能够有助于将测试构件适当地引导到测试止挡件上或经过测试止挡件。由此，测试构件的可能导致触头锁定构件变形或者测试止挡件变形的非受控运动能够被阻止。

根据本发明的方案能够通过下面的其它实施例来实施或进一步改进，这些实施例中的每一个本身均是有利的：

根据根据本发明的插头元件的第一有利实施例，能够实现将测试止挡件形成在触头锁定构件上的设置。通过首先将电触头元件固定在插孔中以及其次协助检查它们的适当布置，触头锁定构件可执行双重功能。

测试止挡件至少在触头锁定构件的固定位置中能够指向插塞方向并且测试路径能够平行于插塞方向延伸。由此，测试构件能够与插塞方向相反地被引入，例如被引导经过插头元件的插塞面或者通过所述元件进入插头元件或者进入插头元件和包围的壳体之间的间隙。如果处于与配合的插头元件组装的最终插入状态下的插头元件的全部区域由包围的壳体覆盖和/或密封直到插塞面，则这特别有助于检查固定位置。

测试路径可以至少部分地由触头锁定构件上的测试凹部形成。测试凹部可以帮助使插头元件的外部尺寸最小化，因为凹部形成的测试路径不会导致插头元件的外部尺寸的加宽。此外，通过至少部分地限定测试路径，触头锁定构件可实现附加功能。由此，触头锁定构件能够简单地限定测试路径，具体地通过将测试凹部布置为可以例如平行于插塞方向延伸的狭槽。

触头锁定构件能够机械地将电触头元件固定在它们的相应插孔中，其中在插塞方向的大致横向上延伸的至少一个固定元件能够形成在触头锁定构件上，该元件至少在固定位置中伸出通过插塞部分上的测试凹槽或固定凹槽并进入插孔，固定凹槽至少部分地在插塞方向的横向上延伸并且延伸到至少一个插孔中，或者与通向插孔的通道相交。这样的固定凹槽特别地在提供有成排布置的多个触头插孔时是特别有利的。由此通过伸出到固定凹槽内的固定元件，触头锁定构件同时能够帮助检查该多个触头元件被适当地布置在它们的相应插孔中。

固定元件和固定凹槽能够构造成作为闩锁装置和配合的闩锁装置彼此协作。由此，固定构件例如在到达固定位置时能够闩锁在配合的插头元件上。这能够有助于识别出已经适当地到达了固定位置，因为接合操作能够以视觉和听觉方式发出已经到达固定位置的信号。

触头锁定构件能够至少部分地侧向地被铰接到插塞部分并且在插塞方向的大致横向上可移动。由此，触头锁定构件能够首先被不可拆除地连接到插塞部分。其次，将触头锁定构件铰接到插塞部分或者插头元件能够有助于限定用于将触头锁定构件由预固定位置转换到固定位置中的运动的预定路径。由此，能够阻止触头锁定构件的可能导致触头锁定构件在转换到固定位置时的倾斜或者变形的不受控运动。

测试构件可以构造为可弹性移动的舌片。由此，如果其未适当地转换到固定位置和/或被闩锁在固定位置，则测试构件能够自动地弹性恢复到预固定位置。这样的弹性功能易于实现，具体地通过将测试构件与插头元件形成为单件并且在预固定位置中预张紧。由此，插头元件和测试构件可以例如形成为注塑成形塑料件的单件，其初始状态是测试构件位于预固定位置，其在脱出预固定位置时必须通过一定的力消耗转换到固定位置。这里测试构件作为舌片的构造并不是绝对必要的，但是有利的，因为插头元件的外部尺寸由此能够被最小化，并且能够在插塞部分和测试构件之间形成限定的弹力。

测试构件可以侧向地被紧固到插头元件的插塞面的区域中，并且测试构件的自由端能够指向插塞方向的大致相反方向。由此，如果插头元件被以插塞面首先引入包围的壳体和/或引入配合的插头元件的插头插孔，则测试构件能够自动地从预固定位置转换到固定位置。测试构件在预固定位置中能够相对于插塞方向倾斜地延伸并且由此形成斜坡形，如果配合的插头元件或包围的壳体的内部轮廓要求触头锁定构件转换到固定位置用于引入插头元件，则测试构件沿着该斜坡形被推压或施力以从预固定位置进入到固定位置。

因此，被不适当地插入其插孔中的至少一个触头元件阻挡在预固定位置中的测试构件，并能够阻挡插头元件引入到包围的壳体或配合的插头元件中，并且由此发出插头元件错误插入的信号。由此，根据本发明的插头元件的装配方法的操作步骤能够被减少或简缩，因为在一个操作步骤中，插头元件被插入包围的壳体或者配合的插头元件中，并且同时能够检查触头元件在它们的相应插孔中的正确布置。

下面使用参考附图的若干实施例更为详细地举例说明本发明。实施例仅表示其中如上所述的各个特征能够彼此独立地实现和略去的可能构造。在实施例的说明中，为简单起见，相同的特征和元件被设置为相同的附图标记。

附图说明

图1示出了根据本发明的插头元件的示意性透视图；

图2示出了根据本发明的插头元件的另一实施例的示意性透视图；

图3示出了图2中所示的插头元件的示意性顶视图；

图4示出了从右方观察的图2和3中所示的插头元件的示意性侧视图；

图5示出了图2至4中所示的插头元件的示意性前视图；

图6示出了从左方观察的图2至5中所示的插头元件的示意性侧视图；

图7示出了根据本发明的插头元件和配合的插头元件的另一实施例的示意性透视图；

图8示出了图7中所示的插头元件和沿着测试路径被引导直到测试止挡件的测试构件的示意性透视图；

图9示出了沿着图8中所示的插头元件的测试凹部的示意性透视截面图；

图10示出了根据本发明的插头元件的另一实施例的示意性透视图；和

图11示出了根据本发明的插头元件的另一实施例的示意性透视图。

具体实施方式

首先，参考图1中示出的插头元件1的示意性透视图说明根据本发明的插头元件1的实施例。插头元件1包括插塞部分2和导体插孔部分3。插塞部分2构造成被引入配合的插头元件（这里尚未示出）和/或包围的壳体（未示出）。导体插孔部分3构造成将电导体（未示出）引入插头元件1。

插塞部分2包括指向插头元件1的插塞方向Z的插塞面4，插头元件1构造成沿着插塞面4可插入包围的壳体和/或配合的插头元件。插头元件1的触头插孔5经由插塞面4中的通向触头插孔5的开口6可接触到。触头插孔5或者开口6布置成在插头元件1的横向X上延伸的两排6a、6b。排5a、5b布置成在插头元件1的横向Y上彼此邻近。

触头插孔5或者其开口6设有记号7，该记号便于将触头元件或者配合的触头元件（这里尚未示出）与相应的触头插孔5关联。

舌片状触头锁定构件8侧向地被紧固到插头元件1。触头锁定构件8的根部9被布置在插塞面4的前缘10的区域中。从根部9，触头锁定构件8沿着插头元件1的外侧大致与插塞方向Z相反地延伸。最初，将触头锁定构件8的根部9连接到致动部分12的弹性部分11邻接根部9。触头锁定构件8的固定元件13邻接致动部分12。固定元件13为在插塞方向Z的横向上延伸的或者平行于侧向方向X的条杆的形式，该条杆从触头锁定构件8的与插塞方向Z相反地指向的端部大致沿着布置在插头元件1的壁中的测试开口14的方向的横向Y延伸。

测试开口为沿着壁在横向X上延伸并且侧向地与排5a的触头插孔5相交的固定凹槽14。在固定元件13上的闩锁凸起形式的闩锁装置15构造成与固定凹槽14中的闩锁凹部形式的配合的闩锁装置16协作。

测试路径P沿着凹槽状的测试凹部17延伸，测试凹部17沿着插头元件1以平行于插塞方向Z的多个部分17a-c延伸。测试凹部17的第一部分17a用作引入部分并且与插塞面5上的侧边缘10和触头锁定构件8的根部9向下相交至一定深度，用于在插塞方向Z的相反方向上可接触的测试构件（这里尚未示出）的引入开口以此深度形成在插塞面上。第一部分17a在插塞方向Z的相反方向上与测试凹部17的第二部分17b邻接，其构造为将致动部分12划分成第一致动部分12a和第二致动部分12b的开口。在开口的指向插塞方向Z的相反方向的端部中，这与固定元件13向下延伸同样远，由此形成在插塞方向Z的横向上延伸的测试止挡件18。

与插塞方向Z相反地在测试止挡件18之上，测试凹部17延续到第三部分17c，第三部分17c限定释放路径P’，释放路径P’表示测试路径P的延续，并且如果所述测试构件已经通过测试止挡件18或者固定元件13则沿着测试路径P引入到测试凹部17中的该测试构件达到释放路径P’。测试止挡件18形成在固定元件13的一部分上，该一部分作为一种类型的接合部（land）将触头锁定构件8的被测试凹部17分开的两个部分8a、8b连接在一起。在测试止挡件处，测试路径P延续在释放路径P’中。

测试凹部17的第三部分17c在插塞方向Z上穿透导体插孔部分3的轴环3a，这意味着从插塞面4引入到测试凹部17中的测试构件能够在插塞方向Z的相反方向上移动超过导体插孔部分3。这有助于从导体插孔部分3上方检查测试构件是否已经经过测试止挡件18。

此外，插头元件1设有导向元件19，导向元件19平行于插塞方向Z延伸并且具有在插头元件的壁中形成的凹槽形式，这便于将插头元件1精确地引入到包围的壳体或者配合的插头元件中，并且由此阻止配合的插头元件中的插针触头形式的电配合的触头元件由于相对于插塞方向Z倾斜地移动或歪斜的插头元件而受损。

此外，插头元件1具有编码装置20，编码装置20包括编码元件20a和编码引导部20b，编码元件20a为在插塞方向Z上指向的非对称几何结构形式，编码引导部20b为接合部的形式。

在图1所示的状态中，插头元件1或者其触头锁定构件8在预固定位置V中，其中固定元件13不接合触头插孔5。一旦触头插孔5被适当地与电触头元件配合，则通过施加在横向Y上的致动力F，能够将触头锁定构件8从预固定位置V转换到固定位置S（这里尚未示出）中，其中固定元件13接合在测试开口14中并且闩锁装置15被闩锁在配合的闩锁装置16中。

在固定位置S中，测试凹部17的各部分17a-c在插塞方向Z上平齐，从而测试构件能够被推动通过测试凹部17的第一部分17a、沿着其第二部分17b超过测试止挡件18而进入测试凹部17的第三部分17c，并且由此能够指示固定位置S的正确到达。

图2示出了根据本发明的插头元件1’的另一实施例。和图1所示的插头元件1不同，插头元件1’具有较少数目的用于电触头元件的插孔5。此外，插头元件1’与插头元件1的不同还在于测试凹部17仅由第一部分17a和第二部分17b形成。第一部分17a设计为进入区域，该进入区域到达测试凹部17的第二部分17b，第二部分17b构造为触头锁定构件8中的开口。狭槽状测试凹部17限定的测试路径P引导至测试止挡件18。在图2所示的插头元件1’的实施例中，未设置由测试凹部17的第三部分17c限定的测试路径P的、具有释放路径P’形式的延续部分。

图3示出了图2中所示的插头元件1’的示意性顶视图。这里，具体地触头锁定构件8上的测试止挡件18指向插塞方向Z变得清楚。

图4是从右方观察的插头元件1’的示意性侧视图，其给出了沿着固定凹槽14的图。固定凹槽14构造成与固定元件13是互补的。一旦触头锁定构件8通过平行于横向方向Y的致动力F而朝向固定凹槽14移动，则闩锁装置15移动到固定凹槽14中并填充固定凹槽14，只要不存在以下情况：已被误插入触头插孔5中的触头元件与固定凹槽交迭，使得触头锁定构件8从预固定位置V向固定位置S的转换受到阻止。

固定位置S的范围在图4中利用以虚线示出的固定构件8来指示。一旦触头锁定构件8已经到达固定位置S，则其位于插塞部分2的表面中的凹口14'中从而其与表面平齐，并且插入部分2的外部尺寸并不因触头锁定构件8而扩大。

此外，在图4中能够看到，由于触头锁定构件8的致动部分12相对于插塞方向Z的倾斜趋向，在触头锁定构件处于预固定位置V的情况中，在插塞方向Z上的插入力通常产生在致动力F的方向上的力分量，这导致触头锁定构件移动到固定位置S中，只要其不被误插入插头元件1’的触头元件阻挡。由此，在插头元件1’插入包围的壳体或者配合的插头元件期间，触头锁定构件8同时能够被致动并且检查插头元件在其相应插孔5中的正确安置。

图5是图3和4中所示的插头元件1’的前视图，其中具体地清楚的是，测试止挡件18之上的测试路径P不以限定方式延续。由此，在到达固定位置S之后在插塞方向Z的相反方向上沿着测试凹部17被引导的测试构件能够滑动超过测试止挡件18。

图6是从左方观察的图3至5中所示的插头元件1’的示意性侧视图。这里，再一次清楚示出了，包括有固定元件13的触头锁定构件8在处于预固定位置V中时如何在横向Y上伸出超过插塞部分2的侧边缘21。

图7是根据本发明的插头元件1’的另一实施例的示意性透视图。此外，图7包括根据本发明的配合的插头元件100的示意性透视图。插头元件1’和配合的插头元件100布置为在插塞方向Z上配合在一起。

和图1中所示的插头元件1不同，插头元件1''具有更多数目的触头插孔5。就功能而言，包括测试凹部17和测试止挡件18的触头锁定构件8的构造类似于图1中所示的触头锁定构件8的构造。

配合的插头元件100包括具有插塞开口102的插头插孔101，插塞开口102指向插塞方向Z的相反方向。构造为与测试凹部17互补的导向元件103布置在插头插孔101中。由此导向元件103可用作插头插孔101中的测试元件。导向元件103可沿着测试凹部在插塞方向Z的相反方向上滑动并且形成在插塞方向Z的相反方向上指向的测试抵接部104，只要触头锁定构件8未转换到固定位置S，测试抵接部104就抵靠测试止挡件18并且阻止插头元件1完全插入到插头插孔101中。

此外，平行于插塞方向Z延伸的极化元件105和编码元件106布置在插头插孔101中。导向元件103以及极化元件105和编码元件106帮助尽可能正确地平行于插塞方向Z将插头元件1''引入到插头插孔101中，以防止布置在插头插孔101中的插针触头形式的配合的触头元件107在插入时弯曲。

图8示出了插头元件1''，包括有被引入测试凹部17中的测试构件200。测试构件200为具有长方形横截面的销的形式，并且在其与插塞方向Z相反地指向的上侧上形成测试抵接部204。如果测试构件200被沿着测试路径P引导，则测试抵接部204抵靠测试止挡件18，只要触头锁定构件8未从图8中所示的预固定位置V转换到固定位置S。

图9示出了包括有图8中所示的测试构件200的插头元件1''在一个截面上的透视截面图，该截面在沿着测试路径P的插塞方向Z上且平行于横向方向Y地伸展。这里清楚示出了通道14’被定位在触头插孔5和固定凹槽或者测试开口14之间，触头元件伸入到该通道中，只要它们未被误插入触头插孔5。由于通过通道开口22伸入固定凹槽14，误插入的触头元件使得固定元件13不能够完全进入固定凹槽14。由此，只要触头锁定构件处于预固定位置V，沿着测试路径P被引导的测试构件200以其测试抵接部104抵靠测试止挡件18，从而发出插头元件1''故障或误装配的信号。

图10示出根据本发明的插头元件1'''的另一实施例。在插头元件1'''中，测试凹部17形成为触头锁定构件8的侧边缘上的简单凹口。测试止挡件18形成在凹口的上端上。

图11示出了根据本发明的插头元件1''''的另一实施例的示意性透视图。和插头元件1'、1''和1'''不同，在插头元件1''''的情况中，触头锁定构件8被紧固到插塞部分2的上端，使得其从其根部9在插塞方向Z上延伸。

固定元件13的在插塞方向Z上指向的表面形成测试止挡件18。测试路径P沿第一部分17a延伸，第一部分17a形成为插头元件1''''的表面中的导向凹槽，该导向凹槽引导测试构件200直到测试止挡件18，只要触头锁定构件8处在预固定位置V中。一旦触头锁定构件8处于固定位置S，则测试凹部17的第一部分17a引导测试构件200跨过沉入固定凹槽14中的测试止挡件18而进入测试凹部的第二部分17b，第二部分17b由平行于插塞方向Z延伸并形成在触头锁定构件8中的狭槽形成。第二部分17b将测试构件200沿着释放路径P'引导到释放止挡件18'上。如果测试构件200抵靠释放止挡件18'，则测试构件或者被覆盖的测试路径P和释放路径P’的相应穿过深度发出已经到达固定位置S的信号。

在本发明构思的情况中，所述实施例的变形是可以的。由此，插头元件1、1'、1''、1'''、1''''能够设有任意构造的插塞部分2、导体插孔部分3和插塞面4，以便形成与相关需求相对应的插接连接器。触头插孔5在各情况中可以形成为与要被接收的插接触头相对应，其可构造为插针触头。

触头锁定构件8可以具有任意的形式，只要其固定元件能够接合在插孔5中，从而其能够固定位于其上的触头元件并且能够发出已经到达固定位置S的信号。测试路径P和释放路径P’可以任意方式形成为开口、凹部、凹槽和狭槽的形式，以将测试构件200或者导向元件103可靠地供给到测试止挡件18和释放止挡件18'。由此，触头锁定构件8可分为任意数量的第一部分8a和第二部分8b，以确保对触头的固定和对固定位置S的检查。此外，插头元件可设有任意数目的导向元件19和编码装置20以及轴环3a，只要它们根据相应的需求构造而成。

配合的插头元件100可根据相应的需求具有构造成与插头元件互补的插头插孔101，具有相应的插塞开口以及导向元件3、测试抵接部104、极化元件105和编码元件106。显而易见地，任何的配合的触头元件107在其形式和数目方面与接收在插头元件中的触头元件协作。

最后，测试构件200可具有对应相应需求的形式并且具有以任意方式形成的测试抵接部204，通过测试抵接部204抵靠测试止挡件18和/或释放止挡件18'，能够发出预固定位置V或者固定位置S的信号。测试构件200可以通过导向元件103形成或者如此构造成并具有与相应的需求对应的测试抵接部104、204。

Claims (10)

1.用于电子插接连接器的插头元件(1,1',1'',1''',1''''),具有插塞部分(2)和触头锁定构件（8），所述插塞部分构造成能够在所述插头元件(1,1',1'',1''',1'''')的插塞方向（Z）上与配合的插头元件（100）组装并且具有用于电插接触头的至少一个插孔(5)，所述触头锁定构件(8)至少在其固定位置（S）中至少部分地伸入到所述插孔(5)中，

其特征在于，

所述触头锁定构件(8)在所述固定位置（S）中释放测试路径（P），测试构件（3,200）沿着所述所述测试路径（P）能够被引导经过测试止挡件（18）。

2.根据权利要求1所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述测试止挡件(18)形成在所述触头锁定构件(8)上。

3.根据权利要求1或2所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述测试止挡件(18)至少在所述触头锁定构件(8)的预固定位置中指向所述插塞方向（Z）并且所述测试路径（P）平行于所述插塞方向（Z）延伸。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述测试路径（P）至少部分地由所述触头锁定构件(8)上的测试凹部（17）形成。

5.根据权利要求4所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述测试凹部(17)是狭槽。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，大致在所述插塞方向（Z）的横向方向上延伸的至少一个固定元件(13)形成在所述触头锁定构件(8)上，该元件至少在所述固定位置（S）中通过所述插塞部分上的固定凹槽(14)伸入所述固定凹槽中，所述固定凹槽(14)至少部分地在所述插塞方向（Z）的横向方向上延伸并延伸到至少两个插孔(5)中。

7.根据权利要求6所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述固定元件(13)和所述固定凹槽(14)构造成作为闩锁装置（15）和配合的闩锁装置（16）彼此协作。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述触头锁定构件(8)至少部分地、在所述插塞方向（Z）的大致横向方向上可移动地侧向地铰接到所述插塞部分(2)。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述触头锁定构件(8)构造为可弹性移动的舌片。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的插头元件(1,1',1'',1''',1'''')，其特征在于，所述触头锁定构件(8)在所述插头元件(1,1',1'',1''',1'''')的插塞面(4)的区域中被侧向地紧固在所述插头元件(1,1',1'',1''',1'''')上，并且所述触头锁定构件(8)的自由端大致与所述插塞方向（Z）相反地指向。

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