具体实施方式
图1显示本发明一实施例的振荡器100的示意图。请参照图1,振荡器100包括阻抗单元110、电容单元120、反向器130以及反向器140。其中,阻抗单元110串接于参考端点P1与参考端点P2之间。电容单元120耦接在参考端点P1与输出端点O1之间,并且电容单元120具有多个电容C1~C4。其中,多个电容C1~C4的一端依据控制信号CTRL1~CTRL4切换于参考端点P1与参考接地端GND之间。反向器130的输入端耦接至参考端点P1,并且反向器130的输出端耦接至参考端点P2。反向器140的输入端耦接反向器130的输出端,也就是参考端点P2,并且反向器140的输出端耦接至输出端点O1。在本实施例中,振荡器100还包括反向器150,用以将振荡器100所产生的输出信号加以缓冲,然后输出一缓冲驱动信号BDS,并且反向器150将缓冲驱动信号BDS传送至下一级的电路。
依据图1的振荡器100的电路组态,可整理出振荡器100的输出信号的频率如下列方程式1:
其中f为振荡器100的输出信号的频率;Cselect为参考端点P1耦接与输出端点O1间的等效电容值;Vth为反向器130及140的临界电压;Ctotal为所有电容单元120的电容的电容值总和;R为参考端点P1及P2间的等效电阻。
如方程式1所示,振荡器100的输出信号的频率f与反向器130及140的临界电压Vth相关。其中,反向器130与140通常各别由N型晶体管与P型晶体管所构成。更进一步,可通过反向器130及140的N型晶体管与P型晶体管的制程参数,推导出反向器130及140的临界电压Vth如下列方程式2:
其中,Up为反向器130及140中的P型晶体管的通道载子的迁移率;Wp/Lp为反向器130及140的P型晶体管的通道宽长比;Un为反向器130及140中的N型晶体管的通道载子的迁移率;Wn/Ln为反向器130及140的N型晶体管的通道宽长比;Cox为N型晶体管及P型晶体管中的栅极氧化层(gateoxide)的电容值;Vthn为N型晶体管的临界电压,并且Vthp为P型晶体管的临界电压。
如方程式2所示,可以设定反向器130及140的P型晶体管的通道宽长比Wp/Lp为5,并且反向器130及140的N型晶体管的通道宽长比Wn/Ln为44.4。换句话说,反向器130及140中的N型晶体管与P型晶体管的布局面积的比值约略为8倍。通过前述N型晶体管及P型电晶通道宽长比的施实方法,本实施例的振荡器100的输出信号的频率f,不易受到振荡器100的操作电压Vdd的飘移,而有太大的变化。
在实际操作方面,请一并参照图1与图2,以做更进一步地说明。图2显示本发明一实施例的振荡器100的参考端点P1的波形图。在进入上升周期T1时,反向器130于参考端点P2输出具有操作电压Vdd的高电压准位并且反相器140于输出端点O1反应出具有与参考接地端GND相同的低电压准位。此时,反向器130通过阻抗单元110对电容单元120充电。藉此,于上升周期T1时,参考端点P1的电压变化呈现上升的充电的曲线。当电容单元120耦接的参考端点P1被充电至大于反向器130的临界电压Vth时,反向器130的输出则会依据参考端点P1而转态,则反向器130于参考端点P2输出具有参考接地端GND的低电压准位,并且反向器140于输出端点O1输出具有操作电压Vdd的高电压准位。于此同时,参考端点P1感应到输出端点O1的电压提升至高电压准位Vrc1,并且进入下降周期T2。
于下降周期T2时,由于反相器130的输出如接地端GND的低电压准位至参考端点P2,则电容单元120通过阻抗单元110放电。藉此,参考端点P1的电压变化则呈现下降的放电曲线,并且参考端点P1的电压放电至小于反向器130的临界电压Vth时,反向器130及140的输出再度转态,使得参考端点P2及输出端点O1分别具有操作电压Vdd的高电压准位与参考接地端GND的低电压准位。此外,参考端点P1感应到输出端点O1的电压,则下拉至低电压准位Vrc2。接着,则又会再进入上升周期T1。通过对参考端点P1不断地充放电,上升周期T1与下降周期T2会不断的轮替,进而于输出端点O1输出周期性的信号。
藉由改变电容单元120的等效电容值,可改变在参考端点P1上电压的充放电至反向器130及140的临界电压Vth的时间,进而改变振荡器100的输出信号的频率。电容单元120还包括多个开关SW1~SW4,分别耦接在电容C1~C4与参考端点P1之间。开关SW1~SW4具有第一端、第二端、第三端及控制端,其中开关SW1~SW4的第一端各别耦接电容C1~C4的一端,开关SW1~SW4的第二端共同耦接参考端点P1,并且开关SW1~SW4的第三端共同耦接参考接地端GND。此外,开关SW1~SW4的控制端各别接收控制信号CTRL1~CTRL4,并且分别依据控制信号CTRL1~CTRL4来分别决定将耦接电容C1~C4的一端(也就是连接开关SW1~SW4的第一端)耦接至参考端点P1或是参考接地端GND。例如,若开关SW1接收到高电压准位的控制信号CTRL1,则开关SW1将电容C1的一端耦接至参考端点P1,反之若开关SW1接收到低电压准位的控制信号CTRL1,则开关SW1将电容C1的一端耦接至参考接地端GND。
在此,开关SW1~SW4的切换状态是可以分别依据控制信号CTRL1~CTRL4被独立设定的。并且本实施例中所提及的电容C1~C4的数量仅只是一个范例,并不用以限制本发明。
值得注意的是,上述控制信号CTRL1~CTRL4与开关SW1~SW4的切换方式,可以由使用者定义。故控制信号CTRL1~CTRL4与开关SW1~SW4的切换方式亦可定义为,当控制信号CTRL1~CTRL4为低电压准位时,将电容C1~C4的一端耦接至参考端点P1,而当控制信号CTRL1~CTRL4为高电压准位时,将电容C1~C4的一端耦接至参考接地端GND,惟本发明的开关的切换状态与控制信号的关系不限于上述。
由于电容单元120中的开关SW1~SW4接收控制信号CTRL1~CTRL4而切换,因此在另一实施例中,振荡器100还包括控制器160,耦接电容单元120并且用以分别产生控制信号CTRL1~CTRL4分别至开关SW1~SW4的控制端。在本发明一实施例中,控制器160可通过参考开关信息的方式,来决定每个开关SW1~SW4所接收的控制信号CTRL1~CTRL4的电压准位。举例来说,控制器160参考开关信息为数值1时,则开关SW1所接收的控制信号CTRL1为高电压准位,则开关SW2~SW4所分别接收的控制信号CTRL2~CTRL4为低电压准位,并据以将电容C1耦接至例如参考端点P1,而将电容C2~C4耦接至例如参考接地端GND。再举一个例子来说,开关信息为数值3时,则开关SW1及SW2分别接收到的控制信号CTRL1~CTRL2为高电压准位,而开关SW3~SW4所分别接收到的控制信号CTRL3~CTRL4为低电压准位。另外,在本实施例中,可以设定电容C1~C4的电容值间的比为等比数列,例如,电容C3的电容值为电容C2的2倍,而电容C2的电容值亦为电容C1的2倍。
其中,上述的开关信息可以依据振荡器100所要产生的输出信号的振荡频率来决定。
图3显示本发明一实施例的阻抗单元110的示意图。请一并参照图1与图3,为了解决集成电路中,电阻容易随着温度不同,进而造成振荡器100的输出信号的频率不稳定的现象,本实施例的阻抗单元110包括正温度系数电阻RP与负温度系数电阻RN。其中,正温度系数电阻RP由半导体制程中的N形井区(N-well)所组成,而负温度系数电阻RN由半导体制程中的多晶硅(poly)所构成。在本发明一实施例中,通过分别设置正温度系数电阻RP以及负温度系数电阻RN来提供振荡器100所需的等效电阻值,就可以有效的降低如现有的振荡器中所设置的电阻,因环境温度的改变所造成的漂移,而影响到振荡器产生的输出信号的频率的可能性。
图4显示本发明一实施例的振荡器100的操作电压与输出信号的频率的关系图,并且图5显示本发明一实施例的温度与振荡器100的与输出信号的频率的关系图。如图4所示,操作电压Vdd在1.1V至1.3V间飘动时,振荡器100的输出信号的频率维持在129kHz左右。另一方面,如图5所示,当温度变化从摄氏-40度至110度时,振荡器100的输出信号的频率从128kHz,最高偏移至129.5kHz左右,输出信号的频率的偏移幅度小于2kHz。如图4及图5所示,本发明实施例的振荡器100降低了其输出信号的频率与温度及操作电压的关联程度。
综上所述,本发明提供一种振荡器,其包括阻抗单元及电容单元。阻抗单元中的多个电容分别接受并依据控制信号,耦接至参考端点或是参考接地端。藉此,决定电容单元的等效电容值,并达到调整振荡器输出信号的频率的功能。再者,通过阻抗单元中的正温度系数电阻与负温度系数电阻,使振荡器的输出信号的频率不会随着温度变化而有过大的偏移。更进一步,本发明亦针对反向器的N型晶体管与P型晶体管的通道宽长比进行调整,降低了振荡器的输出信号的频率随着操作电压的变化所改变的程度。
虽然本发明已以实施例揭示如上,然其并非用以限定本发明,任何所属技术领域的普通技术人员,当可作些许更动与润饰,而不脱离本发明的精神和范围。