CN103137050A - 线路和分用器的缺陷检测方法、缺陷检测装置和显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明的实施例涉及一种线路和分用器的缺陷的检测方法、缺陷检测装置和包括该缺陷检测装置的显示面板。分用器可以将多条数据线连接到对应的多条线路。缺陷检测装置包括提供有相应的DC电压的DC线路、连接到DC线路并被构造为根据第一栅极信号将相应的DC电压发送到多条数据线中的对应的第一数据线的第一开关、以及连接到第一DC线路至第三DC线路并被构造为根据第二栅极信号将各DC电压中的一个DC电压发送到所条数据线中的对应的第二数据线的第二开关。因此，可以检测线路和分用器的缺陷。

Description

线路和分用器的缺陷检测方法、缺陷检测装置和显示面板
技术领域
一个或多个实施例涉及一种用于检测包括在显示装置中的线路和/或分用器的缺陷的方法和装置、以及包括缺陷检测装置的显示面板。
背景技术
红色、绿色和蓝色(RGB)-DC电压和栅极信号被用来检查有源矩阵方法的显示面板。
在这样的显示面板中，与栅极信号同步地向多个红色像素提供红色(R)DC电压，与栅极信号同步地向多个绿色像素提供绿色(G)DC电压，与栅极信号同步地向多个蓝色像素提供蓝色(B)DC电压。
红色像素、绿色像素和蓝色像素因R DC电压、G DC电压和B DC电压而发光，并在发光状态下检查mura斑，其中mura斑是黑/白点、线缺陷、等等。
在这样的检查操作期间，位于显示面板和数据驱动电路之间的分用器处于截止状态。因此，可能没有检测形成分用器的薄膜晶体管(TFT)的缺陷以及分用器和数据驱动电路之间的线路的缺陷。
在本背景技术部分中公开的上述信息仅用于增加对本发明的背景的理解，因此，其可以包含不构成作为本国的本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
为了解决现有技术中的例如可能没有检测形成分用器的薄膜晶体管(TFT)以及分用器和数据驱动电路之间的线路的缺陷等问题和/或其他问题，一个或多个实施例提供一种检测线路和分用器的缺陷的方法和装置。
一个或多个实施例提供一种用于检测线路和/或分用器中的缺陷的方法和装置以及包括该装置的显示面板。
一个或多个实施例提供一种使用分用器的缺陷检测装置，分用器将多条数据线中的对应的数据线连接到多条线路，所述缺陷检测装置包括：第一DC线路至第三DC线路，向第一DC线路至第三DC线路提供第一DC电压至第三DC电压；多个第一开关，所述多个第一开关连接到第一DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第一栅极信号而将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第一数据线；多个第二开关，所述多个第二开关连接到第一DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第二栅极信号而将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第二数据线。
分用器可以包括：多个第一TFT，所述多个第一TFT连接所述多条线路中的多条第一线路和所述多条数据线中的对应的数据线；多个第二TFT，所述多个第二TFT连接所述多条线路中的多条第二线路和所述多条数据线中的对应的数据线，其中，当所述缺陷检测装置检测多条线路中的短路缺陷时，所述多个第一开关和所述多个第二开关处于导通状态，且仅所述多个第一TFT或所述多个第二TFT中的一个TFT处于导通状态。
当所述多个第一TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第一TFT连接，当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。
当所述多个第二TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第二TFT连接，当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。
分用器可以包括：多个第一TFT，所述多个第一TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线；多个第二TFT，所述多个第二TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线；当所述缺陷检测装置检测所述多个第一TFT和所述多个第二TFT中的缺陷时，所述多个第一TFT和所述第二TFT处于导通状态，且仅所述多个第一开关或所述多个第二开关之一处于导通状态。
当所述多个第一开关处于导通状态、且所述多个第一TFT和所述多个第二TFT处于导通状态时，对应地连接到处于导通状态的所述多个第一开关的第一数据线通过所述多个第一TFT和/或所述多个第二TFT中的对应的TFT而连接到所述多条第二数据线中的对应的第二数据线。
当所述多个第一TFT和所述多个第二TFT中的至少一个TFT有缺陷时，所述多条第二数据线中的对应的第二数据线不接收和/或发送第一DC电压至第三DC电压中的对应的DC电压。
当所述多个第二开关处于导通状态、且所述多个第一TFT和所述多个第二TFT处于导通状态时，对应地连接到处于导通状态的所述多个第二开关的第二数据线通过所述多个第一TFT和/或所述多个第二TFT中的对应的TFT而连接到所述多条第一数据线中的对应的第一数据线。
当所述多个第一TFT和所述多个第二TFT中的至少一个TFT有缺陷时，所述多条第一数据线中的对应的第一数据线不接收和/或发送第一DC电压至第三DC电压中的对应的DC电压。
所述多个第一开关中的每个第一开关可以包括被构造为接收第一栅极信号的栅电极、连接到第一DC线路至第三DC线路中的对应的DC线路的第一电极、以及连接到所述多条第一数据线中的对应的数据线的第二电极。
所述多个第二开关中的每个第二开关可以包括被构造为接收第二栅极信号的栅电极、连接到第一DC线路至第三DC线路中的对应的DC线路的第一电极、以及连接到所述多条第二数据线中的对应的数据线的第二电极。
一个或多个实施例提供一种用于通过第一TFT和第二TFT连接到与第一像素阵列对应的第一数据线以及与第二像素阵列对应的第二数据线的线路的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括下述步骤：将第一DC电压提供到第一数据线和第二数据线；仅导通第一TFT和第二TFT中的一个TFT；根据连接到第一TFT和第二TFT中的导通的TFT的第一像素阵列或第二像素阵列的发光状态来检测缺陷。
当第一TFT导通时，检测缺陷的步骤可以包括：当第一像素阵列处于产生相对于预定的亮度来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。
检测缺陷的步骤可以包括：当第一像素阵列处于产生相对于灰度级范围中的中间灰度级来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。
当第二TFT导通时，检测缺陷的步骤可以包括：当第二像素阵列处于产生相对于预定的亮度来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。
一个或多个实施例提供一种用于包括连接到与第一开关和第一像素阵列连接的第一数据线的第一TFT和连接到与第二开关和第二像素阵列连接的第二数据线的第二TFT的分用器的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括下述步骤：仅导通第一开关和第二开关之一；导通第一TFT和第二TFT；根据第一像素阵列和第二像素阵列的发光状态来检测第一TFT和/或第二TFT中的缺陷。
检测缺陷的步骤可以包括：当第一像素阵列的发光状态和第二像素阵列的发光状态不同时，检测第一TFT和/或第二TFT中的缺陷。
当第一开关导通时，检测缺陷的步骤可以包括：
当第一像素阵列显示黑色且第二像素阵列以预定的亮度进行显示时，将第一TFT和第二TFT中的至少一个TFT检测为是有缺陷的。
当第二开关导通时，检测缺陷的步骤可以包括：当第二像素阵列显示黑色且第一像素阵列以预定的亮度进行显示时，将第一TFT和第二TFT中的至少一个TFT检测为是有缺陷的。
一个或多个实施例提供一种显示面板，所述显示面板包括：多条数据线；多个像素，所述多个像素分别连接到所述多条数据线；分用器，分用器将多条数据线连接到对应的多条线路；缺陷检测装置，缺陷检测装置被构造为检测多条线路和/或分用器中的缺陷，缺陷检测装置包括：多个第一开关，所述多个第一开关被构造为根据第一栅极信号将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到多条数据线中的对应的多条第一数据线，多个第二开关，所述多个第二开关被构造为根据第二栅极信号将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到多条数据线中的对应的多条第二数据线。
附图说明
通过参照附图对示例性实施例进行详细描述，多种特征对于本领域普通技术人员将变得清楚，在附图中：
图1示出了根据示例性实施例的包括缺陷检测装置的显示装置的示意图；
图2示出了图1的显示装置的像素的示例性实施例的示意图；
图3示出了在缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图4示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图5示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图6示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图7示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图8示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图9示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图；
图10示出了在另一缺陷状态下的图1的缺陷检测装置和分用器的示意图。
具体实施方式
在下面的具体实施方式部分中，仅通过举例说明的方式对本发明的特定的示例性实施例进行了示出和描述。如本领域技术人员应认识到的，描述的实施例可以以各种不同的方式进行修改，所有这些均不脱离本发明的精神或范围。因此，附图和描述在本质上应被认为是在进行举例说明而非限制性的。贯穿本说明书，相同的标号指示相同的元件。
贯穿本说明书和权利要求书，当将元件描述为“结合”到另一元件时，该元件可以“直接结合”到另一元件，或者通过第三元件“电结合”到另一元件。另外，除非明确地进行了相反地描述，否则词语“包括”和其变型将被理解为暗示包括陈述的元件但不排除任何其他的元件。
将参照附图来描述缺陷检测方法、缺陷检测装置、以及包括缺陷检测装置的显示装置的示例性实施例。
图1示出了包括缺陷检测装置100、分用器200、和/或显示单元300的显示装置的示例性实施例的示意图。
显示单元300可以包括多条扫描线S1-Sn、多条数据线D1-Dm、以及形成在多条扫描线S1-Sn和多条数据线D1-Dm的交叉区域处的多个像素PX_R、PX_G、PX_B。
缺陷检测装置100可以连接到多条数据线D1-Dm，并可以根据多个(例如，两个)测试栅极信号将红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV发送到多条数据线D1-Dm。
缺陷检测装置100可以包括多条(例如，两条)栅极线TG1和TG2、红色DC线路DC_R、绿色DC线路DC_G、蓝色DC线路DC_B、多个第一控制开关T11-T1a、以及多个第二控制开关T21-T2b。
参照图1，第一栅极线TG1可以连接到多个第一控制开关T11-T1a的栅电极，第二栅极线TG2可以连接到多个第二控制开关T21-T2b的栅电极。
第一栅极信号可以通过第一栅极线TG1被发送到多个第一控制开关T11-T1a的栅电极。第二栅极信号可以通过第二栅极线TG2被发送到多个第二控制开关T21-T2b的栅电极。
可以通过P沟道晶体管来实现多个第一控制开关T11-T1a和多个第二控制开关T21-T2b。在这样的实施例中，第一栅极信号和第二栅极信号的启用电平是低电平，停用电平是高电平。
多个第一控制开关T11-T1a均可以包括连接到红色DC线路DC_R、绿色DC线路DC_G和蓝色DC线路DC_B中的对应的一条DC线路的源电极，并可以包括连接到多条数据线D1-Dm中的对应的数据线的漏电极。
多个第二控制开关T21-T2b均可以包括连接到红色DC线路DC_R、绿色DC线路DC_G和蓝色DC线路DC_B中的对应的一条DC线路的源电极，并可以包括连接到多条数据线D1-Dm中的对应的数据线的漏电极。
在一个或多个实施例中，当通过缺陷检测装置100来确定线路L1-Lk中的缺陷时，第一栅极信号和第二栅极信号均处于启用电平。在一个或多个实施例中，当通过缺陷检测装置100来确定分用器200中的缺陷时，仅第一栅极信号和第二栅极信号之一处于启用电平。
在显示单元300中，多条扫描线S1-Sn可以被布置为沿行方向延伸，一行的多个像素PX_R、PX_G和PX_B可以连接到相同的扫描线。多条数据线D1-Dm可以被布置为沿列方向延伸，一列的多个像素PX_R、PX_G和PX_B可以连接到相同的数据线。
多个像素PX_R、PX_G和PX_B中的每个像素可以包括驱动电路和发光元件。多个像素PX_R、PX_G和PX_B的每个驱动电路可以因通过对应的扫描线发送的扫描信号而写入通过对应的数据线发送的数据信号，可以产生根据写入的数据信号的驱动电流，并可以将其提供到各发光元件中。
图2示出了图1的显示装置的像素PXij的示例性实施例的示意图。像素PXij可以对应于显示单元300的多个像素PX_R、PX_G和PX_B中的一个像素、一些像素或所有的像素。在图2中示出的像素PXij是连接到第i扫描线Si和第j数据线Dj的像素。示例性实施例不限于此。
如在图2中所示出的，像素PXij可以包括开关晶体管TS、驱动晶体管TD、电容器C、以及有机发光装置(OLED)。
开关晶体管TS可以包括连接到扫描线Si的栅电极、连接到数据线Dj的第一电极、以及连接到驱动晶体管TD的栅电极的第二电极。
驱动晶体管TD可以包括连接到第一电压源ELVDD的源电极、连接到有机发光装置(OLED)的阳极的漏电极、以及连接到开关晶体挂TS的栅电极。
电容器C可以连接在驱动晶体管TD的栅电极和源电极之间，OLED的阴极连接到第二电压源ELVSS。
当通过扫描线Si发送的扫描信号为低电平时，开关晶体管TS导通，电容器C被通过数据线Dj发送的数据信号充电。
对于下一次的扫描，电容器C恒定地保持驱动晶体管TD的栅极电压，根据驱动晶体管TD的栅极-源极电压差来产生驱动晶体管TD的驱动电流。有机发光装置(OLED)可以根据驱动电流而发光。
分用器200可以连接在多条线路L1-Lk和多条数据线D1-Dm之间。多条线路L1-Lk连接到多个焊盘PD1-PDk，通过多条线路L1-Lk将输入到多个焊盘PD1-PDk的多个数据信号发送到分用器200。
分用器200可以通过多个TFT，将通过多条线路L1-Lk发送的多个数据信号发送到多条对应的数据线。分用器200可以包括多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm、多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1、第一控制线CLA、以及第二控制线CLB。
第一控制线CLA连接到多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm的栅电极。用于控制多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm的第一控制信号CON1通过第一控制线CLA被发送到第一TFT TA1、TA3、......、TAm的栅电极。
第二控制线CLB连接到多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1的栅电极。用于控制多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1的第二控制信号CON2通过第二控制线CLB被发送到多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1的栅电极。
在多个焊盘PD1-PDk连接到数据驱动电路(未示出)的一个或多个实施例中，可以从数据驱动电路将多个数据信号输入到多个焊盘PD1-PDk。
在一个或多个实施例中，如果多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信号CON1而导通，则多条数据线D1、D3、......、Dm可以发送对应的数据信号，如果多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1因第二控制信号CON2而导通，则多条数据线D2、D4、......、Dm-1可以发送对应的数据信号。
在一个或多个实施例中，可以确定的是，如果多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm、多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1、以及多个焊盘PD1-PDk没有连接到数据驱动电路，则在线路L1-Lk中的一条或多条线路中存在缺陷和/或在分用器200中存在缺陷。
当检测多条线路L1-Lk中的缺陷时，多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm和多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1中仅一组TFT可以处于导通状态。当检测多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm和多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1中的缺陷时，两组TFT均可以处于导通状态。
接下来，将参照图3至图6来描述检测线缺陷的方法的示例性实施例。为了更好地进行理解并简化描述，在图3-图6中仅示出九(9)个像素以作为多个像素的示例。
为了检测线缺陷，多条扫描线S1-Sn发送具有用于导通相应的开关晶体管TS的电平的多个扫描信号。当检测线缺陷时，根据检测条件来确定红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV。
例如，如果线路短接到第二电压源ELVSS，则连接到短接的线路的像素阵列以很高的亮度发光。可选择地，如果线路短接到第一电压源ELVDD，则连接到短接的线路的像素阵列不发光。因此，可以使用红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV的电平等级来区分连接到普通的线路的像素阵列和连接于短接到第一电压源ELVDD或第二电压源ELVSS的线路的像素阵列。
在一个或多个实施例中，红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV可以被确定为电平与对应于灰度级范围中的中间灰度级的数据电压的电平相同。
图3示出了在缺陷状态(例如，线路L1短接到第一电压源ELVDD)下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。
如图3中所示，多个第一开关T11-T1a和多个第二开关T21-T2b因第一栅极信号和第二栅极信号而全部处于导通状态，多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信号CON1而处于导通状态。因此，多条线路L1-Lk通过导通的多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm而连接到多条数据线D1-Dm。
在图3的示例性实施例中，通过对应的第一开关(或第二开关)而向多条数据线D1-Dm提供红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV中的对应的DC电压，多个焊盘PD1-PDk没有连接到数据驱动电路，因而处于浮置状态。因此，通过多条数据线D1-Dm发送的红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV被发送到多个像素PX_R、PX_G、PX_B，多个像素PX_R、PX_G、PX_B根据红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV而发光。
此时，如果在多条线路L1-Lk中产生短路的线路，则连接到短路的线路的数据线因短路的线路而短路，多个像素PX_R、PX_G、PX_B中的连接到短路的数据线的对应的像素以与连接到未短路的线路的像素的亮度不同的亮度进行发光。
例如，如图3中所示，假设线路1短接到第一电压源ELVDD。在线路L1和第一电压源ELVDD之间可以存在有一定的电阻。
线路L1通过导通的第一TFT TA1而连接到数据线D1。因此，向数据线路D1提供与第一电压源ELVDD的电压相似的高电平的电压。因此，通过在图2中示出的开关晶体管TS向驱动晶体管TD的栅电极提供高电平的电压。
因此，连接到数据线D1的多个像素PX_R以非常低的亮度发光。即，与数据线D1对应地出现暗线。如上所述，可以将电连接到与该像素列连接的数据线D1的线路检测为短路的线路。
在图3的示例性实施例中，线路L1短接到第一电压源ELVDD，在一个或多个实施例中，一条或多条线路可能短接到其他的组件，例如，线路L1-Lk可能短接到第二电压源ELVSS。
图4示出了在另一缺陷状态(即，线路L1短接到第二电源电压ELVSS)下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。更具体地讲，图4示出了线路L1短接到电压ELVSS的状态。因此，向数据线D1提供与第二电压源ELVSS的电压相似的低电平的电压。因此，通过相应的开关晶体管TS向驱动晶体管TD的栅电极提供低电平的电压。
因此，连接到数据线D1的多个像素PX_R以非常高的亮度发光。即，与数据线D1对应地出现亮线。如上所述，作为亮度水平的结果，例如，可以将电连接到与像素列连接的对应的数据线(例如，在当前的实施例中为数据线D1)的线路检测为是短路的。
如上所述，在一个或多个实施例中，可以将与多个像素列中的显示相对暗的线或相对量的线的像素列对应的线路确定为是短路的。此外，在图4的条件和示例性实施例中，当线路L2短路时，连接到数据线D5的像素列将显示为暗线或亮线，当线路L3短路时，连接到数据线D3的像素列将显示为暗线或亮线，当线路L4短路时，连接到数据线D7的像素列将显示为暗线或亮线。
在图3和图4的示例性实施例中，对多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm处于导通状态的情况进行了描述，然而，在一个或多个实施例中，多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1而非多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm可以处于导通状态。
图5示出了在另一缺陷状态下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。总的来说，下面对不同的示例性缺陷状态之间的区别进行描述。如图5中所示，当多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1处于导通状态时，仅与短路的线路(例如，短接到第一电压源ELVDD的线路L1)对应的像素阵列的操作与上面描述的处于普通状态(即，未短接状态)下的像素有所不同。在图5中，假设线路L1短接到电压ELVDD。在线路L1和电压ELVDD之间可能存在着电阻。
线路L1通过导通的第二TFT TB4而连接到数据线D4。因此，向数据线D4提供与第一电压源ELVDD的电压相似的高电平的电压。因此，通过在图2中示出的相应的开关晶体管TS向相应的驱动晶体管TD的栅电极提供高电平的电压。
因此，连接到数据线D4的多个像素PX_R以非常低的亮度发光。即，与数据线D4对应地出现暗线。如上所述，可以将电连接到与显示为暗线的像素列连接的数据线D1的线路检测为短路。
图6示出了在另一缺陷状态(例如，产生了短路的线路)下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。更具体地讲，图6示出了线路L1短接到电压ELVSS的状态。如图6中所示，多个第一开关T11-T1a和多个第二开关T21-T2b因第一栅极信号和第二栅极信号而全部处于导通状态，多个第二TFT TB1、TB3、......、TBm因第二控制信号CON2而处于导通状态。
因此，向数据线D4提供与电压ELVSS相似的低电平的电压。因此，通过开关晶体管TS向驱动晶体管TD的栅电极提供低电平的电压。
因此，连接到数据线D4的多个像素PX_R以非常高的亮度发光。即，与数据线D4对应地出现亮线。如上所述，可以将电连接到与显示为亮线的像素列连接的数据线的线路检测为是短路的。
通过这样的方法，可以将与多个像素列中的显示暗线或亮线的像素列对应的像素列对应的线路检测为是短路的。当线路L2短路，则连接到数据线D2的像素列显示为亮线(即，相对亮的线)或暗线(即，相对暗的线)，当线路L3短路时，连接到数据线D6的像素列显示为亮线或暗线，当线路L4短路时，连接到数据线D10(未示出)的像素列显示为亮线或暗线。
接下来，将参照图7至图10来描述分用器200的缺陷检测方法的示例性实施例。
与图3-图6相同，为了便于进行描述和进行理解，图7-图10示例性地示出了九(9)个像素列。
此外，为了检测分用器的缺陷，向多条扫描线S1-Sn发送具有用于导通开关晶体管TS的电平的多个扫描信号。当检测分用器的缺陷时，可以将红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV的电平确定为能够检测在分用器中产生的有缺陷的TFT的适当的电压。
图7示出了在另一缺陷状态(例如，产生了短路的线路)下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。
如图7中所示，仅多个第一开关T11-T1a和多个第二开关T21-T2b中的一组的开关因第一栅极信号TGS1和第二栅极信号而处于导通状态。
在图7的示例性实施例中，多个第二开关T21-T2b因第二栅极信号导通，多个第一开关T11-T1a因第一栅极信号而处于截止状态。
此外，多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信号CON1而处于导通状态，多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1因第二控制信号CON2而处于导通状态。
因此，红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV通过导通的多个第二开关T21-T2b、多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm、以及多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1而连接到多条数据线D1-Dm。
即，向显示单元300的所有的红色像素PX_R、绿色像素PX_G和蓝色像素PX_B提供对应的红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV。
在示例性实施例中，用于检测分用器300的缺陷的红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV可以被确定为与没有光从对应的像素发出时的电压对应的电压。
详细地讲，形成了包括第二开关T21、数据线D4、第二TFT TB4、第一TFT TA1和数据线D1的路径，将红色DC电压RDV提供到与数据线D1和数据线D4连接的红色像素PX_R。形成了包括第二开关T22、数据线D5、第一TFT TA5、第二TFT TB2和数据线D2的路径，将绿色DC电压GDV提供到与数据线D2和数据线D5连接的多个绿色像素PX_G。形成了包括第二开关T23、数据线D6、第二TFT TB6、第一TFT TA3和数据线D3的路径，将蓝色DC电压BDV提供到与数据线D3和数据线D6连接的多个蓝色像素PX_B。
通过这样的方法，如果向所有的像素提供对应的DC电压，则整个显示单元300显示黑色。然而，当在形成分用器200的多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm和多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1中产生有缺陷的TFT时，没有向包括有缺陷的TFT的路径的数据线提供对应的DC电压。
图8示出了在另一缺陷状态(例如，产生了有缺陷的TFT)下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。例如，假设在第二TFT TB6和第一TFT TA3中的至少一个TFT是有缺陷的。
当第二TFT TB6是有缺陷的，则没有向数据线D3提供蓝色DC电压BDV。因此，连接到数据线D3的多个像素PX_B没有显示黑色，并以预定的亮度发光。即，产生了亮线。当有缺陷的TFT是第一TFT TA3而非第二TFT TB6时，连接到数据线D3的像素列显示亮线。即，连接到该数据线的第一TFT和第二TFT中的至少一个TFT是有缺陷的。
通过这样的方法，可以根据亮线产生的位置来检测第一TFT或第二TFT的缺陷。
然而，实施例不限于此，导通的开关可以是多个第一开关T11-T1a而非多个第二开关T21-T2b。
图9示出了在另一缺陷状态下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。
如图9中所示，假设多个第二开关T21-T2b因第二栅极信号而截止，多个第一开关T11-T1a因第一栅极信号而导通。
此外，多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信号CON1而处于导通状态，多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1因第二控制信号CON2而处于导通状态。
因此，红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV通过导通的多个第一开关T11-T1a、多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm、以及多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1连接到多条数据线D1-Dm。
即，可向显示单元300的所有的红色像素PX_R、绿色像素PX_G和蓝色像素PX_B提供对应的红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV，用于检测分用器300的缺陷的红色DC电压RDV、绿色DC电压GDV和蓝色DC电压BDV可以被确定为可以使像素发光的电压。
详细地说，形成了包括第一开关T11、数据线D1、第一TFT TA1、第二TFT TB4和数据线D4的路径，将红色DC电压RDV提供到与数据线D1和数据线D4连接的多个红色像素PX_R。形成了包括第一开关T12、数据线D2、第二TFT TB2、第一TFT TA5和数据线D5的路径，将绿色DC电压GDV提供到与数据线D2和数据线D5连接的多个绿色像素PX_G。形成了包括第一开关T13、数据线D3、第一TFT TA3、第二TFT TB6和数据线D6的路径，将蓝色DC电压BDV提供到与数据线D3和数据线D6连接的多个蓝色像素PX_G。
如果向所有的像素提供对应的DC电压，则整个显示单元300显示黑色。然而，当在多个第一TFT TA1、TA3、......、TAm和多个第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1中产生了有缺陷的TFT时，没有向包括有缺陷的TFT的数据线提供对应的DC电压。
图10示出了在另一缺陷状态下的图1的分用器200和缺陷检测装置100的示意图。例如，与图8中相同，假设第二TFT TB6和第一TFT TA3中的至少一个TFT有缺陷。
当第二TFT TB6有缺陷时，则没有向数据线D6提供蓝色DC电压BDV。因此，连接到数据线D6的多个像素PX_B没有显示黑色，而是以预定的亮度进行发光。即，产生了亮线。当有缺陷的TFT是第一TFT TA3而非第二TFTTB6时，则连接到数据线D6的像素列仍显示亮线。即，连接到该数据线的第一TFT和第二TFT中的至少一个TFT是有缺陷的。
通过这样的方法，可以根据亮线产生的位置来检测第一TFT或第二TFT中的缺陷。
附图标记说明
缺陷检测装置100
数据线D1-Dm
红色DC电压RDV
绿色DC电压GDV
蓝色DC电压BDV
栅极线TG1和TG2
红色DC线路DC_R
绿色DC线路DC_G
蓝色DC线路DC_B
第一控制开关T11-T1a
显示单元300
第二控制开关T21-T2b
扫描线S1-Sn
像素PX_R、PX_G、PX_B
开关晶体管TS
驱动晶体管TD
电容器C
有机发光元件OLED
第一TFT TA1、TA3、......、TAm
第二TFT TB2、TB4、......、TBm-1
第一控制线CLA
第二控制线CLB
线路L1-Lk
焊盘PD1-PDk
已经在此对示例性实施例进行了描述，虽然采用了特定性的术语，但是它们仅被用作且仅意在被解释为是一般性的和举例说明性的术语而不是处于限制的目的的数据。因此，本领域技术人员应该理解的是，在不脱离如在权利要求中阐述的本发明的精神和范围的情况下，可以在形式和细节方面进行各种改变。

Claims (20)

1.一种使用分用器的缺陷检测装置，分用器将多条数据线中的对应的数据线连接到多条线路，所述缺陷检测装置包括：
第一DC线路至第三DC线路，向第一DC线路至第三DC线路提供第一DC电压至第三DC电压；
多个第一开关，所述多个第一开关连接到第一DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第一栅极信号而将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第一数据线；
多个第二开关，所述多个第二开关连接到第一DC线路至第三DC线路，并被构造为根据第二栅极信号而将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到所述多条数据线中的多条第二数据线。
2.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其中，分用器包括：
多个第一TFT，所述多个第一TFT连接所述多条线路中的多条第一线路和所述多条数据线中的对应的数据线；
多个第二TFT，所述多个第二TFT连接所述多条线路中的多条第二线路和所述多条数据线中的对应的数据线，
其中：
所述缺陷检测装置被构造为在当所述多个第一开关和所述多个第二开关处于导通状态、且仅所述多个第一TFT或所述多个第二TFT中的一个TFT处于导通状态时的状态下，检测所述多条线路中的短路缺陷。
3.如权利要求2所述的缺陷检测装置，其中：
当所述多个第一TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第一TFT连接，
当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。
4.如权利要求2所述的缺陷检测装置，其中：
当所述多个第二TFT处于导通状态时，所述多条线路和所述多条数据线中的对应的线路和数据线分别通过所述多个第二TFT连接，
当所述多条线路中的一条线路短路时，经所述多条数据线中的对应的数据线连接到该短路的线路的多个像素根据因短路的线路而导致的短路电压而发光。
5.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其中，分用器包括：
多个第一TFT，所述多个第一TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线；
多个第二TFT，所述多个第二TFT连接多条线路和所述多条数据线中的对应的数据线；
所述缺陷检测装置被构造为在当所述多个第一TFT和所述多个第二TFT处于导通状态、且仅所述多个第一开关或所述多个第二开关中的一个开关处于导通状态时的状态下，检测所述所述多个第一TFT和所述多个第二TFT中的短路缺陷。
6.如权利要求5所述的缺陷检测装置，其中：
当所述多个第一开关处于导通状态、且所述多个第一TFT和所述多个第二TFT处于导通状态时，对应地连接到处于导通状态的所述多个第一开关的第一数据线通过所述多个第一TFT和/或所述多个第二TFT中的对应的TFT而连接到所述多条第二数据线中的对应的第二数据线。
7.如权利要求6所述的缺陷检测装置，其中：
当所述多个第一TFT和所述多个第二TFT中的至少一个TFT有缺陷时，所述多条第二数据线中的对应的第二数据线不接收和/或发送第一DC电压至第三DC电压中的DC电压中的对应的DC电压。
8.如权利要求5所述的缺陷检测装置，其中：
当所述多个第二开关处于导通状态、且所述多个第一TFT和所述多个第二TFT处于导通状态时，对应地连接到处于导通状态的所述多个第二开关的第二数据线通过所述多个第一TFT和/或所述多个第二TFT中的对应的TFT而连接到所述多条第一数据线中的对应的第一数据线。
9.如权利要求8所述的缺陷检测装置，其中：
当所述多个第一TFT和所述多个第二TFT中的至少一个TFT有缺陷时，所述多条第一数据线中的对应的第一数据线不接收和/或发送第一DC电压至第三DC电压中的DC电压中的对应的DC电压。
10.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其中：
所述多个第一开关中的每个第一开关包括被构造为接收第一栅极信号的栅电极、连接到第一DC线路至第三DC线路中的对应的DC线路的第一电极、以及连接到所述多条第一数据线中的对应的数据线的第二电极。
11.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其中：
所述多个第二开关中的每个第二开关包括被构造为接收第二栅极信号的栅电极、连接到第一DC线路至第三DC线路中的对应的DC线路的第一电极、以及连接到所述多条第二数据线中的对应的数据线的第二电极。
12.一种用于通过第一TFT和第二TFT连接到与第一像素阵列对应的第一数据线以及与第二像素阵列对应的第二数据线的线路的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括下述步骤：
将第一DC电压提供到第一数据线和第二数据线；
仅导通第一TFT和第二TFT中的一个TFT；
根据连接到第一TFT和第二TFT中的导通的TFT的第一像素阵列或第二像素阵列的发光状态来检测缺陷。
13.如权利要求12所述的缺陷检测方法，其中，当第一TFT导通时，检测缺陷的步骤包括：
当第一像素阵列处于产生相对于预定的亮度来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。
14.如权利要求13所述的缺陷检测方法，其中，检测缺陷的步骤包括：
当第一像素阵列处于产生相对于灰度级范围中的中间灰度级来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。
15.如权利要求12所述的缺陷检测方法，其中，当第二TFT导通时，检测缺陷的步骤包括：
当第二像素阵列处于产生相对于预定的亮度来说是暗线或亮线的发光状态时，将该线路检测为是有缺陷的。
16.一种用于包括连接到与第一开关和第一像素阵列连接的第一数据线的第一TFT和连接到与第二开关和第二像素阵列连接的第二TFT的分用器的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括下述步骤：
仅导通第一开关和第二开关中的一个；
导通第一TFT和第二TFT；
根据第一像素阵列和第二像素阵列的发光状态来检测第一TFT和/或第二TFT中的缺陷。
17.如权利要求16所述的缺陷检测方法，其中，检测缺陷的步骤包括：
当第一像素阵列的发光状态和第二像素阵列的发光状态不同时，检测第一TFT和/或第二TFT中的缺陷。
18.如权利要求17所述的缺陷检测方法，其中，当第一开关导通时，检测缺陷的步骤包括：
当第一像素阵列显示黑色且第二像素阵列以预定的亮度进行显示时，将第一TFT和第二TFT中的至少一个TFT检测为是有缺陷的。
19.如权利要求17所述的缺陷检测方法，其中，当第二开关导通时，检测缺陷的步骤包括：
当第二像素阵列显示黑色且第一像素阵列以预定的亮度进行显示时，将第一TFT和第二TFT中的至少一个TFT检测为是有缺陷的。
20.一种显示面板，所述显示面板包括：
多条数据线；
多个像素，所述多个像素分别连接到所述多条数据线；
分用器，分用器将多条数据线连接到对应的多条线路；
缺陷检测装置，缺陷检测装置被构造为检测多条线路和/或分用器中的缺陷，缺陷检测装置包括：多个第一开关，所述多个第一开关被构造为根据第一栅极信号将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到多条数据线中的对应的多条第一数据线；多个第二开关，所述多个第二开关被构造为根据第二栅极信号将第一DC电压至第三DC电压中的一个DC电压发送到多条数据线中的对应的多条第二数据线。
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