CN109493769A - 测试方法、装置和存储介质 - Google Patents
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- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 38
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 52
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 claims description 35
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 32
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 9
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 claims description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 8
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 39
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 3
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000004321 preservation Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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Abstract
本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，该方法包括：控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，源极电压为第二电压，以将像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度；控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，第二亮度的亮度值与第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值。本发明提供的测试方法使得面板中的缺陷在横向和纵向方向上都显示为亮线，便于检出，提高了检出效率。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示器制造技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置和存储介质。
背景技术
液晶显示器是一种平面、超薄的显示设备。液晶显示器的功耗很低，并且具有高画质、体积小、重量轻的特点，因此倍受大家青睐，成为显示器的主流。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，而一般薄膜晶体管液晶显示器的制作可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程、彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程和液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)制备过程。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶面板进行测试，确认液晶面板是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。
现有技术中，一般采用降低液晶面板每个像素块的栅极电压，检测液晶面板中的S-G Leak(源极-栅极亮线)缺陷。
由于S-G Leak缺陷在面板的纵向和横向方向上均存在缺陷；但现有技术中的方式液晶面板纵向方向上的缺陷呈现为亮线，在横向方向上的缺陷呈现为黑线；在液晶面板呈现黑色的情况下，横向方向上的黑线缺陷不易被检出。
发明内容
本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，使得面板中的缺陷在横向和纵向方向上都显示为亮线，便于检出，提高了检出效率。
本发明的第一方面提供一种测试方法，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：
控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段为第二电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述第二电压的电压值正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压；
控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为所述第三电压，并控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；所述第五预设时间段为所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段的加和；所述第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，所述第二亮度的亮度值与所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；所述第三电压为所述晶体管开关的关断电压，所述第五电压不为0V；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；
控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第一开关周期内为0V。
可选的，所述方法还包括：
控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。
可选的，所述方法还包括：
控制每个所述晶体管开关的源极电压在第二开关周期的第五预设时间段内为第六电压，所述第六电压和所述第五电压的大小相等且方向相反，所述第一开关周期和所述第二开关周期为相邻的开关周期；
控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第二开关周期的所述第一预设时间段内为第一电压，在所述第二预设时间段内为第三电压，在所述第三预设时间段内为第四电压，在所述第四预设时间段内为所述第三电压；
控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第二开关周期内为0V。
可选的，所述第四电压为可变电压，控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第三预设时间段内为第四电压，包括：
控制所述第四电压的电压值从第一电压值变为第二电压值，所述第一电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，所述第二电压值大于所述第一电压值。
可选的，所述第一预设时间段为像素块完全放电的时间。
可选的，所述第一预设时间段为500微秒。
本发明的第二方面提供测试装置，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：
第一亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段为第二电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述第二电压的电压值正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压；
第二亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为所述第三电压，并控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；所述第五预设时间段为所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段的加和；所述第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，所述第二亮度的亮度值与所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；所述第三电压为所述晶体管开关的关断电压，所述第五电压不为0V；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第一开关周期内为0V。
可选的，所述装置还包括：第三亮度控制模块；
所述第三亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。
可选的，所述第三亮度控制模块，还用于控制每个所述晶体管开关的源极电压在第二开关周期的第五预设时间段内为第六电压，所述第六电压和所述第五电压的大小相等且方向相反，所述第一开关周期和所述第二开关周期为相邻的开关周期。
所述第一亮度控制模块，还用于控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第二开关周期的所述第一预设时间段内为第一电压，在所述第二预设时间段内为第三电压，在所述第三预设时间段内为第四电压，在所述第四预设时间段内为所述第三电压；控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第二开关周期内为0V。
可选的，所述第四电压为可变电压。
可选的，所述第二亮度控制模块，具体用于控制所述第四电压的电压值从第一电压值变为第二电压值，所述第一电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，所述第二电压值大于所述第一电压值。
可选的，所述第一预设时间段为像素块完全放电的时间。
可选的，所述第一预设时间段为500微秒。
本发明的第三方面提供一种测试装置，包括：至少一个处理器和存储器；
所述存储器存储计算机执行指令；
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述测试装置执行上述的测试方法。
本发明的第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现上述的测试方法。
本发明提供一种测试方法、装置和存储介质，该方法包括：控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，源极电压为第二电压，以将像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度；控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，第二亮度的亮度值与第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值。本发明提供的测试方法使得面板中的缺陷在横向和纵向方向上都显示为亮线，便于检出，提高了检出效率。
附图说明
图1为晶体管开关的连接示意图；
图2为现有技术中的点灯测试的效果示意图；
图3为本发明提供的测试方法的流程示意图一；
图4为本发明提供的测试方法对应的信号波形示意图一；
图5为本发明提供的测试方法的效果示意图一；
图6为本发明提供的测试方法的流程示意图二；
图7为本发明提供的测试方法对应的信号波形示意图二；
图8为本发明提供的测试方法的效果示意图二；
图9为本发明提供的测试装置的结构示意图一；
图10为本发明提供的测试装置的结构示意图二；
图11为本发明提供的测试装置的结构示意图三。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明的实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
薄膜晶体管液晶显示器(thin film transistor-liquid crystal display)是在硅上进行微电子精细加工的技术，移植到在大面积玻璃上进行薄膜晶体管阵列的加工，再将该阵列基板与另一彩色滤色膜的基板，利用已成熟的LCD技术，形成一个液晶盒相结合，再经过后工序如偏光片贴覆等过程，最后形成的液晶显示器。其中主要采用TFT晶体管开关。
其中，阵列基板上包含有多个像素块，每个像素块对应一个晶体管开关，晶体管开关是用来控制每一个像素的器件，相当于在每一个像素点块设计了一个场效应开关管。多个晶体管开关构成一个液晶面板，由于每一个像素块都有对应的晶体管开关进行控制，因此，薄膜晶体管液晶显示器能够实现真彩色和高分辨率。
薄膜晶体管液晶显示器是由两层玻璃基板夹住液晶组成的，形成一个平行板电容器，通过嵌入在下玻璃板上的晶体管开关对这个电容器和内置的存储电容充电，来维持每幅图像所需要的电压直到下一幅图像更新。
图1为晶体管开关的连接示意图，如图1所示，晶体管开关是一个三端器件，其功能就是一个开关管。在薄膜晶体管液晶显示器的玻璃基板上制作半导体层，在两端有与之相连接的源极S和漏极D，并通过栅极G绝缘膜与半导体相对应，利用施加于栅极的电压来控制源、漏电极间的电流。其工作原理是：要对像素块A充电，就要把像素块A对应的晶体管开关导通，对漏极D对应的信号线施加目标电压，使栅极G对应的数据线的数据信号加到像素块A上。当像素电极(即漏极D和公共电极COM)被充分充电后，即使开关断开，电容中的电荷也得到保存，存储在液晶电容中，像素电极间的液晶分子可持续有电场作用，使得像素块持续显示亮度。其中，数据线的作用是对信号线施加目标电压，由于加在液晶上的电压可以存储，因此液晶层能稳定的工作。
液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶面板进行测试，确认液晶面板是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。
现有技术中，一般采用降低液晶面板每个像素块的栅极电压，检测液晶面板中的S-G Leak(源极-栅极亮线)缺陷。图2为现有技术中的点灯测试的效果示意图，如图2所示，由于S-G Leak缺陷在面板的纵向和横向方向上均存在缺陷；但降低液晶面板每个像素块的栅极电压的方式，使得液晶面板纵向方向上的缺陷呈现为亮线，在横向方向上的缺陷呈现为黑线；在液晶面板呈现黑色的情况下，横向方向上的黑线缺陷不易被检出，使得检查结果的准确率低。
示例性的，如图2所示，图2中示例性的将测试面板的颜色示为白色，实际中的测试面板的颜色为具有灰阶的颜色；且将S-G Leak缺陷中纵向方向上的Source线示为黑色，实际中的Source线为亮线，将横向方向上的Gate线示为灰线，实际中为黑线。图2中的示意的目的是为了表述现有技术中的S-G Leak缺陷中横向方向上的Gate线不便于检出，与测试面板的颜色相近。
下述实施例中提供的技术方案就是为了解决现有技术中操作人员对横向方向上的黑线缺陷检出较为困难的问题，基本的思路是：将像素块对应的晶体管开关打开后关断，由于缺陷在纵向方向上的亮线受关断电压的影响呈现为亮线，信号发生器在晶体管开关关后控制源极电压为一能使横向的缺陷点亮的电压，使得缺陷在横向方向上也呈现为亮线，便于操作人员的检出。
图3为本发明提供的测试方法的流程示意图一，本实施例中测试方法的执行主体为测试装置，具体的，该测试装置为信号发生器。如图3所示，本实施例提供的测试方法可以包括：
S301，控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第一预设时间段内为第二电压，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，第一亮度的亮度值与第二电压的电压值正相关，第一电压为晶体管开关的导通电压。
本实施例中的测试方法应用于测试面板中，该测试面板可以为液晶面板。其中，每个测试面板包括多个像素块，每个像素块对应一个晶体管开关，本实施例中通过控制每个晶体管三端的电压，来控制每个像素块的亮度。值得注意的是，控制每个晶体管的方式是相同的，下述实施例中以信号发生器控制一个晶体管进行说明。本实施例中以像素块的一个帧中的信号控制进行说明。且本实施例中以一个开关周期，即一帧作为示例进行说明，具体为第一开关周期。
其中，晶体管开关的打开和关断的周期为像素块的一帧，下述实施例中，信号发生器控制晶体管开关的栅极电压的方式在像素块的每一帧中是相同的。图4为本发明提供的测试方法对应的信号波形示意图一，如图4所示，具体的，信号发生器控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，本实施例中的第一电压为晶体管开关的导通电压Vgh，这个过程是使得晶体管开关打开，且使得像素块正常的放电过程。
本实施例中，信号发生器控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期内为第二电压，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，第一亮度的亮度值与第二电压的电压值正相关。
可选的，也可使得信号发生器控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期内为0V，使得每个晶体管开关对应的像素块在导通时显示为黑色，即亮度值为0。
S302，控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，并控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压。
本实施例中的S302与S301是同时执行的，没有先后顺序的区分。具体的，S302与S301均是在像素块的一帧中做出的操作。
本实施例中，信号发生器控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压。具体的，第三电压为晶体管开关的关断电压Vgl，即信号发生器在将晶体管开关对应的像素块导通后，将其关断。
其中，第一预设时间段、第二预设时间段、第三预设时间段，以及，第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段，第一预设时间段、第二预设时间段、第三预设时间段，以及，第四预设时间段之和为晶体管开关的一个开关周期。即信号发生器在第一开关周期内依次控制每个晶体管开关的栅极电压为导通电压Vgh、关断电压Vgl、能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的第四电压和关断电压Vgl。本实施例中信号发生器在每个开关周期对每个晶体管开关的栅极电压的控制方法是相同的，具体与信号发生器在第一开关周期对每个晶体管开关的栅极电压的控制方法相同。本实施例对第二预设时间段、、第三预设时间段，以及第四预设时间段的具体时长不做限制。
其中，信号发生器控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压。具体的，第五预设时间段为第二预设时间段、第三预设时间段，以及，第四预设时间段的加和。即信号发生器在第一开关周期内除了第一预设时间段的其他时间段，控制每个晶体管开关的源极电压为第五电压，该第五电压不为0V，具体的，该第五电压为能使液晶面板中的液晶分子发生偏转的电压，如+Vs，且信号发生器控制每个晶体管开关公共电压在第一开关周期内为0V。
本实施例中，第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值Vg，本实施例中，由于S-G Leak缺陷中的Source线受到晶体管开关的关断电压影响，会呈现为亮线；而S-G Leak缺陷中的Gate线因为第四电压的存在，则会导致S-G Leak缺陷中的Gate线呈现为第二亮度，其中的第二亮度的亮度值与第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值。
示例性的，图5为本发明提供的测试方法的效果示意图一，如图5所示，本实施例中的测试方式使得S-G Leak缺陷中的横向方向上的Gate线呈现为亮线；具体的，图5中示例性的将测试面板的颜色示为白色，实际中的测试面板的颜色为第一亮度；且将S-G Leak缺陷中的横向方向上的Gate线和纵向方向上的Source线示为黑色，实际中横向方向上的Gate线和纵向方向上的Source线显示为第二亮度。
具体的，由于测试面板中像素块中没有缺陷的部分的第一亮度小于S-G Leak缺陷的第二亮度，便于使得操作人员检出缺陷；进一步的，S-G Leak缺陷中的横向方向以及纵向方向上的缺陷均呈现为第二亮度的亮线，使得操作人员能够检出S-G Leak缺陷中的所有缺陷。
本实施例提供一种测试方法、装置和存储介质，该方法包括：控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，源极电压为第二电压，以将像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度；控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，第二亮度的亮度值与第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值。本发明提供的测试方法使得面板中的缺陷在横向和纵向方向上都显示为亮线，便于检出，提高了检出效率。
在上述实施例的基础上，下面结合图6对本发明提供的测试方法进行进一步说明，图6为本发明提供的测试方法的流程示意图二，如图6所示，本实施例提供的测试方法可以包括：
S601，控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，在第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，并控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压，控制每个晶体管开关的公共线电压在第一开关周期内为0V。
本实施例中的第四电压为可变电压，具体的，调节第四电压的电压值的大小可以调节S-G Leak缺陷中的Gate线的长短。
其中，信号发生器控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第三预设时间段内为第四电压的具体过程为：信号发生器控制第四电压的电压值从第一电压值变为第二电压值，其中，第一电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，第二电压值大于第一电压值。本实施例中的第二电压值可以是经验值，本实施例对第二电压值的大小不做具体限制。
示例性的，如图5所示，当第四电压的电压值为第一电压值时，S-G Leak缺陷中的Gate线为第一长度。图8为本发明提供的测试方法的效果示意图二，随着第四电压的电压值的增大，S-G Leak缺陷中的Gate线向两侧逐渐增长，且还出现了图5中未出现过的S-G Leak缺陷中的Gate线。在第四电压的电压值的增大的过程中，操作人员能够识别出S-G Leak缺陷的位置，如图8所示的S-G Leak缺陷中的Source线和Gate线交差的位置A和位置B处。
S602，控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，第三亮度的亮度值为0。
为了使得操作人员能够更加清楚的分辨出S-G Leak缺陷，本实施例中，信号发生器控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第一预设时间段内为0V。以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，第三亮度的亮度值为0。
其中，由于晶体管开关的栅极电压在第一预设时间段内为第一电压，没有缺陷的像素块处于正常导通的放电状态，且像素块显示的亮度与晶体管开关的源极电压的大小正相关，本实施例中控制晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第一预设时间段内为0V，使得每个晶体管开关对应的像素块显示为黑点，即亮度值为0。
本实施例中，由于正常导通的像素块呈现为黑色，而S-G Leak缺陷呈现为第二亮度，操作人员在检出时需要在黑色的面板上寻找S-G Leak缺陷，使得S-G Leak缺陷便于检出，提高了检出效率。
S603，控制每个晶体管开关的栅极电压在第二开关周期的第一预设时间段内为第一电压，在第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压；控制每个晶体管开关的公共线电压在第二开关周期内为0V。
图7为本发明提供的测试方法对应的信号波形示意图二，如图7所示，本实施例中以像素块的相邻两帧的信号控制方法进行说明。其中，在第一开关周期内和第二开关周期内，信号发生器控制每个晶体管开关的栅极电压在每个晶体管开关的栅极电压在第二开关周期的第一预设时间段内为第一电压，在第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压。其中，第一开关周期和第二开关周期为相邻的开关周期。
其中，本实施例中的第一预设时间段为像素块完全放电的时间。可选的，第一预设时间段为500微秒。本实施例中像素块的一帧时间为16667微秒，信号发生器控制每个晶体管开关的栅极电压在像素块的一帧的前500微秒为第一电压。本实施例中的该过程使得每个像素块对应的晶体管开关打开，并处于正常放电状态。
进一步的，在第一开关周期内和第二开关周期内，信号发生器控制每个晶体管开关的公共线电压在第二开关周期内为0V。
S604，控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压，并控制晶体管开关的源极电压在第二开关周期的第五预设时间段内为第六电压，第六电压和第五电压的大小相等且方向相反，第一开关周期和第二开关周期为相邻的开关周期。
如图7所示，第一开关周期和第二开关周期为相邻的开关周期。在第一开关周期内，信号发生器控制晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压，如+Vs，使得测试面板中的液晶分子朝向第一方向发生偏转。
进一步的，本实施例中，信号发生器发生器在与第一开关周期相邻的第二开关周期的第五预设时间段内，控制每个晶体管开关的源极电压为第六电压，其中第六电压和第五电压的大小相等且方向相反，如第六电压为-Vs，使得测试面板中的液晶分子朝向第二方向发生偏转，具体的，第二方向可以与第一方向相对于法线方向对称。本实施例中，为了使得测试面板中的液晶分子不发生极化现象，在像素块相邻的两帧内控制源极电压的方向相反，以保证液晶分子顺利发生一定角度的偏移。
本实施例中的S602与S601是同时执行的，没有先后顺序的区分；且S604与S603也是同时执行的，没有先后顺序的区分。
本实施例中，第四电压为可变电压，信号发生器控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第三预设时间段内为第四电压具体为：控制第四电压的电压值从第一电压值变为第二电压值，第一电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，第二电压值大于第一电压值。在第四电压的电压值的增大的过程中，操作人员能够识别出S-G Leak缺陷的位置。
图9为本发明提供的测试装置的结构示意图一，该测试装置为信号发生器，如图9所示，该测试装置900包括：第一亮度控制模块901和第二亮度控制模块902。
第一亮度控制模块901，用于控制每个晶体管开关的栅极电压在晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第一预设时间段内为第二电压，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，第一亮度的亮度值与第二电压的电压值正相关，第一电压为晶体管开关的导通电压。
第二亮度控制模块902，用于控制每个晶体管开关的栅极电压在第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压，并控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；第五预设时间段为第二预设时间段、第三预设时间段，以及，第四预设时间段的加和；第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，第二亮度的亮度值与第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；第三电压为晶体管开关的关断电压，第五电压不为0V；第一预设时间段、第二预设时间段、第三预设时间段，以及，第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；第一预设时间段、第二预设时间段、第三预设时间段，以及，第四预设时间段之和为晶体管开关的一个开关周期；控制每个晶体管开关的公共线电压在第一开关周期内为0V。
本实施例提供的测试装置与上述测试方法实现的原理和技术效果类似，在此不作赘述。
可选的，图10为本发明提供的测试装置的结构示意图二，如图10所示，该测试装置900还包括：第三亮度控制模块903。
第三亮度控制模块903，用于控制每个晶体管开关的源极电压在第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，第三亮度的亮度值为0。
可选的，第三亮度控制模块903，还用于控制每个晶体管开关的源极电压在第二开关周期的第五预设时间段内为第六电压，第六电压和第五电压的大小相等且方向相反，第一开关周期和第二开关周期为相邻的开关周期。
第一亮度控制模块901，还用于控制每个晶体管开关的栅极电压在第二开关周期的第一预设时间段内为第一电压，在第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为第三电压；控制每个晶体管开关的公共线电压在第二开关周期内为0V。
可选的，第四电压为可变电压。
可选的，第二亮度控制模块902，具体用于控制第四电压的电压值从第一电压值变为第二电压值，第一电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，第二电压值大于第一电压值。
可选的，第一预设时间段为像素块完全放电的时间。
可选的，第一预设时间段为500微秒。
图11为本发明提供的测试装置的结构示意图三，如图11所示，该测试装置1100包括：存储器1101和至少一个处理器1102。
存储器1101，用于存储程序指令。
处理器1102，用于在程序指令被执行时实现本实施例中的测试方法，具体实现原理可参见上述实施例，本实施例此处不再赘述。
该测试装置1100还可以包括及输入/输出接口1103。
输入/输出接口1103可以包括独立的输出接口和输入接口，也可以为集成输入和输出的集成接口。其中，输出接口用于输出数据，输入接口用于获取输入的数据，上述输出的数据为上述方法实施例中输出的统称，输入的数据为上述方法实施例中输入的统称。
本发明还提供一种可读存储介质，可读存储介质中存储有执行指令，当测试装置的至少一个处理器执行该执行指令时，当计算机执行指令被处理器执行时，实现上述实施例中的测试方法。
本发明还提供一种程序产品，该程序产品包括执行指令，该执行指令存储在可读存储介质中。测试装置的至少一个处理器可以从可读存储介质读取该执行指令，至少一个处理器执行该执行指令使得测试装置实施上述的各种实施方式提供的测试方法。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(英文：processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(英文：Read-Only Memory，简称：ROM)、随机存取存储器(英文：Random Access Memory，简称：RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
在上述网络设备或者终端设备的实施例中，应理解，处理器可以是中央处理单元(英文：Central Processing Unit，简称：CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(英文：Digital Signal Processor，简称：DSP)、专用集成电路(英文：ApplicationSpecific Integrated Circuit，简称：ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本申请所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成，或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种测试方法，其特征在于，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，包括：
控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为第二电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述第二电压的电压值正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压；
控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为所述第三电压，并控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压，控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第一开关周期内为0V；所述第五预设时间段为所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段的加和；所述第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，所述第二亮度的亮度值与所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；所述第三电压为所述晶体管开关的关断电压，所述第五电压不为0V；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
控制每个所述晶体管开关的源极电压在第二开关周期的第五预设时间段内为第六电压，所述第六电压和所述第五电压的大小相等且方向相反，所述第一开关周期和所述第二开关周期为相邻的开关周期；
控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第二开关周期的所述第一预设时间段内为第一电压，在所述第二预设时间段内为第三电压，在所述第三预设时间段内为第四电压，在所述第四预设时间段内为所述第三电压；
控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第二开关周期内为0V。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第四电压为可变电压，控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第三预设时间段内为第四电压，包括：
控制所述第四电压的电压值从第一电压值变为第二电压值，所述第一电压值为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的最小的电压值，所述第二电压值大于所述第一电压值。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间段为像素块完全放电的时间。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一预设时间段为500微秒。
7.一种测试装置，其特征在于，应用于测试面板，所述测试面板包括多个像素块，每个所述像素块对应一个晶体管开关，所述测试装置包括：
第一亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述晶体管开关的第一开关周期的第一预设时间段内为第一电压，控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段为第二电压，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第一亮度，所述第一亮度的亮度值与所述第二电压的电压值正相关，所述第一电压为所述晶体管开关的导通电压；
第二亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的栅极电压在所述第一开关周期的第二预设时间段内为第三电压，在第三预设时间段内为第四电压，在第四预设时间段内为所述第三电压，并控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第五预设时间段内为第五电压；所述第五预设时间段为所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段的加和；所述第四电压为能够使得像素块的横向缺陷呈现第二亮度的电压值，所述第二亮度的亮度值与所述第一亮度的亮度值的差值大于亮度阈值；所述第三电压为所述晶体管开关的关断电压，所述第五电压不为0V；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段是按照时间的早晚顺序依次进行的时间段；所述第一预设时间段、所述第二预设时间段、所述第三预设时间段，以及，所述第四预设时间段之和为所述晶体管开关的一个开关周期；控制每个所述晶体管开关的公共线电压在所述第一开关周期内为0V。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第三亮度控制模块；
所述第三亮度控制模块，用于控制每个所述晶体管开关的源极电压在所述第一开关周期的第一预设时间段内为0V，以将每个所述晶体管开关对应的像素块在导通时的显示亮度调整为第三亮度，所述第三亮度的亮度值为0。
9.一种测试装置，其特征在于，其特征在于，包括：至少一个处理器和存储器；
所述存储器存储计算机执行指令；
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述测试装置执行权利要求1-6任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现权利要求1-6任一项所述的方法。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201811340252.3A CN109493769B (zh) | 2018-11-12 | 2018-11-12 | 测试方法、装置和存储介质 |
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| CN109493769A true CN109493769A (zh) | 2019-03-19 |
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Family
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| Country | Link |
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