CN103066981A - 多接触开关 - Google Patents

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Abstract

公开了多接触开关。这里公开的一种示例的多接触开关包括:双掷开关,其具有共同端子、第一投掷端子和第二投掷端子,共同端子耦接到参考;第一投掷电路,其耦接到第一投掷端子,第一投掷电路用于在共同端子与第一投掷端子或者第二投掷端子中的一个投掷端子基本上接触时向过程控制设备输出打开信号;以及第二投掷电路,其耦接到第二投掷端子,第二投掷电路用于在共同端子与第一投掷端子或者第二投掷端子中的另一投掷端子基本上接触时使第一投掷电路向过程控制设备输出闭合信号,其中打开信号或者闭合信号中的至少一个信号对应于参考。

Description

多接触开关
技术领域
本公开内容主要地涉及过程控制开关,并且更具体地涉及多接触开关。
背景技术
在过程控制系统中,阀和其它过程控制设备具有可以由液位检测器、压力开关、流量开关和/或其它过程变量开关控制的致动器。在一些例子中,开关具有两个状态(例如接通/关断、打开/闭合等)并且被校准以使开关响应于关联传感器或者检测器确定关联条件为真或者假而在状态之间切换。例如液位检测器可以被校准以使开关在器皿或者容器中的液面增加至阈值水平以上(或者减少至阈值水平以下)时进入接通状态。
发明内容
这里公开的一种示例的多接触开关包括:双掷开关,其具有共同端子、第一投掷端子和第二投掷端子,共同端子耦接到参考;第一投掷电路,其耦接到第一投掷端子,第一投掷电路用于在共同端子与第一投掷端子或者第二投掷端子中的一个投掷端子基本上接触时向过程控制设备输出打开信号;以及第二投掷电路,其耦接到第二投掷端子,第二投掷电路用于在共同端子与第一投掷端子或者第二投掷端子中的另一投掷端子基本上接触时使第一投掷电路向过程控制设备输出闭合信号,其中打开信号或者闭合信号中的至少一个信号对应于参考。
这里公开的另一示例的多接触开关包括:双掷开关,其具有共同端子、第一投掷端子和第二投掷端子,共同端子耦接到参考;第一投掷电路,其耦接到第一投掷端子,第一投掷电路用于在共同端子与第一投掷端子或者第二投掷端子中的一个投掷端子基本上接触时向过程控制设备输出打开信号;以及第二投掷电路,其耦接到第二投掷端子,第二接触端子用于在共同端子与第一投掷端子或者第二投掷端子中的另一投掷端子基本上接触时向过程控制设备输出闭合信号,其中打开信号或者闭合信号中的至少一个信号对应于参考。
一种公开的示例的方法包括:从开关接收第一输出信号,第一输出信号具有两个可能值中的第一个值;基于第一输出信号致动过程控制设备;从开关接收第二输出信号,第二输出信号具有两个可能值中的第二个值;确定接收第二输出信号是否对应于开关弹跳条件;当接收第二输出信号未对应于开关弹跳条件时,基于第二输出信号致动过程控制设备;并且当接收第二输出信号对应于开关弹跳条件时,防止过程控制设备的致动。
附图说明
图1描绘包括用于控制阀的多接触开关的示例的过程控制系统。
图2描绘包括用于控制阀的多接触开关的另一个示例的过程控制系统。
图3是用于控制过程控制设备的示例的多接触开关的示意图。
图4是用于控制过程控制设备的另一个示例的多接触开关的示意图。
图5是用于控制过程控制设备的另一个示例的多接触开关的示意图。
图6是包括用于控制过程控制设备的错误触发器的示例的多接触开关的示意图。
图7是代表示例的过程的流程图,该示例的过程可以用来实施图3-5的示例的控制器以基于来自多接触开关的输入来控制过程控制设备。
具体实施方式
开关可在状态改变出现时表现弹跳(例如,迅速地机械和电连接以及断开)。这样的弹跳可能使连接到开关的电子元件经历相似地迅速的改变,这些改变可能引起不良的检测准确性和/或在控制的过程控制设备和/或关联元件上造成迅速磨损。这里公开的示例的多接触开关已经减少了对机电弹跳的灵敏度而未遭受响应度的减少,这经常在已知解决方案中发现。
这里公开的一些示例的多接触开关包括:双掷开关,其具有共同接触、第一投掷接触和第二投掷接触,共同接触耦接到参考;第一接触电路,其耦接到第一投掷接触,第一接触电路用于在共同接触与第一投掷接触或者第二投掷接触中的一个投掷接触基本上接触(例如连续和/或弹跳接触)时向过程控制设备(例如致动器)输出打开信号;以及第二接触电路,其耦接到第二投掷接触,第二接触电路用于在共同接触与第一投掷接触或者第二投掷接触中的另一投掷接触基本上接触时使第一接触电路向过程控制设备输出闭合信号,其中打开信号或者闭合信号中的至少一个信号对应于参考。
这里公开的一些示例的多接触开关包括:双掷开关,其具有共同接触、第一投掷接触和第二投掷接触,共同接触耦接到参考;第一接触电路,其耦接到第一投掷接触,第一接触电路用于在共同接触与第一投掷接触或者第二投掷接触中的一个投掷接触基本上接触时向过程控制设备输出打开信号;以及第二接触电路,其耦接到第二投掷接触,第二接触电路用于在共同接触与第一投掷接触或者第二投掷接触中的另一投掷接触基本上接触时向过程控制设备输出闭合信号,其中打开信号或者闭合信号中的至少一个信号对应于参考。
这里公开的一些示例的方法包括:从开关接收第一输出信号,第一输出信号具有两个可能值中的第一个值;基于第一输出信号致动过程控制设备;从开关接收第二输出信号,第二输出信号具有两个可能值中的第二个值;确定接收第二输出信号是否对应于开关弹跳条件;当接收第二输出信号未对应于开关弹跳条件时,基于第二输出信号致动过程控制设备;并且当接收第二输出信号对应于开关弹跳条件时,防止过程控制设备的致动。
图1描绘包括用于控制过程控制设备的多接触开关102的示例的过程控制系统,该过程控制设备在这一例子中描绘为阀。图1的示例的过程控制系统100使用传感器如液位检测器108来监视器皿、容器或者液箱106中的液体104的水平面。示例的多接触开关102机械地耦接到液位检测器108以确定由液位检测器108的物理位置感测的液位110是否高于(或者低于)阈值水平面112。随着液位110增加或者减少,液位检测器108的物理位置分别上升和下降。示例的多接触开关102向微控制器114输出具有两个可能值的信号(例如打开/闭合、接通/关断等)。因此,来自多接触开关102的输出信号的值依赖于液位110(例如由液位检测器108的物理位置确定)是否高于(或者低于)阈值水平面112。
为了输出信号,图1的示例的多接触开关102包括双掷开关116、第一投掷电路118和第二投掷电路120。示例的双掷开关116在任何给定时间将共同接触连接到第一投掷电路118或者第二投掷电路120之一。基于双掷开关连接到将共同接触连接到示例的投掷电路118、120中的哪个投掷电路(例如液位110是否在阈值水平面112以上(或者以下)),示例的多接触开关102(例如第一投掷电路118或者第二投掷电路120)输出两个可能输出值之一。
图1的示例的微控制器114基于从示例的多接触开关102输出的信号使致动器122打开或者闭合阀124。在图1的例子中,示例的微控制器114在液位110高于阈值水平面112时使致动器122打开阀124。打开示例的阀124使液体104从液箱106经由出口流体通道126流出液箱106、由此降低液位110。反言之,示例的微控制器114在液位110在阈值水平面112以下时使致动器122闭合阀124。闭合示例的阀124停止液体104流出箱106。
图2描绘包括用于控制阀的多接触开关202的另一示例的过程控制系统200。如同图1的示例的多接触开关102,示例的多接触开关202包括在任何给定时间耦接到第一投掷电路204或者第二投掷电路206之一的双掷开关116。此外,示例的多接触开关向微控制器208输出来自第一投掷电路204的第一输出信号。然而,不同于示例的多接触开关102,图2的示例的多接触开关202也输出来自第二投掷电路206的第二输出信号。第一投掷电路204和第二投掷电路206基于示例的双掷开关116是否机电地耦接到第一投掷电路204或者第二投掷电路206来输出第一和第二输出信号。
图2的示例的微控制器208从多接触开关202接收第一和第二输出信号并且确定信号是否对应于第一状态(例如接通、打开等)、第二状态(例如关断、闭合等)或者无效状态(例如错误状态)。例如,如果第一输出信号是逻辑高信号并且第二输出信号是逻辑低信号,则微控制器208可以确定多接触开关202处于第一状态。反言之,如果第一输出信号是逻辑低信号并且第二输出信号是逻辑高信号,则微控制器208可以确定多接触开关202处于第二状态。如果第一和第二输出信号具有相同逻辑值(例如高或者低),则示例的微控制器208可以确定无效状态已经出现(例如双掷开关116未与投掷电路204、206中的任一投掷电路接触、电路问题已经出现等)。
图3是用于控制过程控制设备(例如阀124)的示例的多接触开关300的示意图。示例的多接触开关300可以用来实施图1的多接触开关102。如图3中所示,示例的多接触开关300包括双掷开关302、第一投掷电路304和第二投掷电路306。第一投掷电路304耦接到双掷开关302的第一端子308并且基于示例的双掷开关302的位置向微控制器(例如图1的微控制器114)输出第一或者第二信号。示例的第二投掷电路306耦接到示例的双掷开关302的第二端子310并且基于示例的双掷开关302的位置使第一投掷电路304输出第一或者第二信号。
图3的示例的双掷开关302包括第一和第二端子308、310以及共同端子312。在端子308、310之间切换共同端子312。示例的共同端子312一般在任何给定时间机电地耦接到第一或者第二端子308、310之一,而例外是示例的双掷开关302当在端子308、310之间切换时使用先断后通(break-before-make)方法。示例的共同端子312电耦接到参考信号(例如接地)。图3的示例的参考信号对应于输出信号如低、切断或者逻辑零信号之一。对照高、接通或者逻辑一信号是电压参考314。
示例的第一投掷电路304包括两输入非与(NAND)逻辑门316和上拉电阻器318。NAND门316的第一端子耦接到双掷开关302的第一端子308并且经由上拉电阻器318耦接到高参考314。类似地,示例的第二投掷电路306包括两输入非与(NAND)逻辑门320和上拉电阻器322。NAND门320的第一端子耦接到双掷开关302的第二端子310并且经由上拉电阻器322耦接到高参考314。NAND门320的输出被输入到NAND门316的第二端子。NAND门316的输出被输入到NAND门320的第二端子并且被用作示例的多接触开关300的输出。
在组合中,示例的第一和第二投掷电路304、306保证从图3的多接触开关300向微控制器114的输出未改变状态,除非共同接触312从耦接到端子308、310中的一个端子改变成耦接到端子308、310中的另一端子。例如,如果在共同端子312与端子308、310之一之间有机电弹跳(例如迅速的连接和断开),则第一和第二投掷电路304、306维持输出信号的状态。
下文描述图3的多接触开关300的操作的例子。在描述示例的操作时,共同端子312和它耦接到的参考(例如接地)将称为低信号,并且高参考314(例如电源信号)将称为高信号。使用低和高信号作为逻辑状态。在操作中,共同端子312可以在第一时间耦接到第二端子310。因而将NAND门320的第一端子拉至低信号、由此使NAND门320向NAND门316的第二输入端子输出高信号。经由上拉电阻器318将NAND门316的第一端子拉至高信号。由于向NAND门316的两个输入端子是高信号,所以NAND门向微控制器114的输出(以及多接触开关300向微控制器114的输出)是低信号。
在第一时间之后的第二时间,示例的双掷开关302可以切换共同端子312以连接到第一端子308。将第一端子308并且因此将NAND门316的第一端子拉至低信号从而使NAND门316的输出变成高信号。从NAND门316输出的高信号被输入NAND门320的第一端子。上拉电阻器322将NAND门320的第二端子拉至高信号。由于向NAND门320的两个输入端子是高信号,因此NAND门320的输出是低信号。这一低信号被输入至NAND门316的第二端子。
在第二时间之后的第三时间,示例的双掷开关302经历与第一端子308的弹跳以及迅速的机电连接和断开。在从共同端子312(例如低信号)暂时断开第一端子308之时,NAND门316的第一端子可以经由上拉电阻器318被上拉至高信号。然而,示例的NAND门316的输出未改变成低信号,因为向NAND门316的第二端子的输入保持于低信号。类似地,如果双掷开关302在上文讨论的第一时间经历与第二端子310的弹跳,则来自示例的NAND门320的输出未改变,因为向NAND门320的第一端子的输入尽管有弹跳却仍然保持于低信号。因此,图3的示例的多接触开关300被去除对弹跳的灵敏度或者不受弹跳影响而无需使多接触开关300的响应度减少的时间延迟和/或其它电路。
尽管示例的多接触开关300包括NAND门和上拉电阻器以及高和低信号,但是任何其它类型的逻辑门、信号电平和/或上拉和/或下拉电阻器可以用来获得相似功能。
图4是用于控制过程控制设备的另一示例的多接触开关400的示意图。示例的多接触开关400可以用来实施图1的多接触开关102。如图4中所示,示例的多接触开关400包括图3的示例的双掷开关302、第一投掷电路402和第二投掷电路404。如上文描述的那样,示例的双掷开关302包括第一和第二端子308、310以及电耦接到参考(例如低信号)的共同端子312。
图4的示例的第一投掷电路402包括反相器或者NOT逻辑门406和上拉电阻器408。类似地,示例的第二投掷电路404包括NOT逻辑门410和上拉电阻器412。示例的第一投掷电路402的输出(例如NOT门406的输出)被输入至微控制器(例如图1的示例的微控制器114)。双掷开关302的第一端子308耦接到示例的NOT门406的输入端子。经由上拉电阻器408将NOT门406的输出上拉至电源参考414(例如高信号)。双掷开关302的第二端子310耦接到示例的NOT门410的输入端子,该输入端子也耦接到NOT门406的输出。示例的NOT门410的输出也经由上拉电阻器412上拉至电源参考414并且耦接到NOT门406的输入端子。
下文描述图4的多接触开关400的操作的例子。在描述例子时,共同端子312和它耦接到的参考(例如接地)将称为低信号,并且高参考414(例如电源信号)将称为高信号。低和高信号对应于逻辑状态。在操作中,示例的共同端子312在第一时间耦接到第二端子310。因而多接触开关400的输出直接耦接到低信号。此外,向示例的NOT门410的输入是低信号从而使NOT门410的输出为高信号。从NOT门410输出的高信号被输入至NOT门406从而造成来自NOT门406的低输出与耦接到共同端子312一致。
在第一时间之后的第二时间,共同端子312从第二端子310去耦接并且耦接到第一端子308。在该时间,向示例的NOT门406的输入是低信号从而使NOT门406向示例的微控制器114输出来自多接触开关400的高信号。也向示例的NOT门410输入来自NOT门406的输出从而使NOT门410输出低信号。低信号直接耦接到第一端子308并且与连接到共同端子312一致。
在第二时间之后的第三时间,示例的双掷开关302经历与第一端子308的弹跳以及迅速的机电连接和断开。在第一端子308从共同端子312(例如低信号)暂时断开之时,向NOT门406的输入端子从共同端子312断开。然而,从示例的NOT门410输出的低信号维持向NOT门406输入的低信号,这使NOT门410维持向示例的微控制器114的高输出信号。类似地,如果双掷开关302在上文讨论的第一时间经历与第二端子308的弹跳,则来自示例的NOT门406的输出未改变,因为NOT门410的输入端子尽管有弹跳却由于来自NOT门406的输出而保持于低信号。因此,图4的示例的多接触开关400被去除对弹跳的灵敏度或者不受弹跳影响而无需使多接触开关400的响应度减少的时间延迟和/或其它电路。
尽管示例的多接触开关400包括NOT门和上拉电阻器以及高和低信号,但是任何其它类型的逻辑门、信号电平和/或上拉和/或下拉电阻器可以用来获得相似或者等效功能。
图5是用于控制过程控制设备的另一示例的多接触开关500的示意图。示例的多接触开关500可以用来实施图2的多接触开关202。如图5中所示,示例的多接触开关500包括图3的示例的双掷开关302以及第一投掷电路502和第二投掷电路504。第一投掷电路502耦接到双掷开关302的第一端子308并且基于示例的双掷开关302的位置向微控制器(例如图1的微控制器114)输出第一信号。示例的第二投掷电路504耦接到示例的双掷开关302的第二端子310并且基于双掷开关302的位置向微控制器114输出第二信号。
示例的第一投掷电路502包括用于将第一端子308和第一投掷电路502的输出上拉至高参考508的上拉电阻器506。类似地,第二投掷电路504包括用于将第二端子310和第二投掷电路504的输出上拉至高参考508的上拉电阻器510。在操作中,示例的双掷开关302将共同端子312连接到第一或者第二端子308、310之一。当第一端子308耦接到共同端子312时,第一投掷电路502向微控制器114输出低信号,并且第二投掷电路504向微控制器114输出高信号。反言之,当第二端子310耦接到共同端子312时,第一投掷电路502向微控制器114输出高信号,并且第二投掷电路504向微控制器114输出低信号。
示例的微控制器114基于来自第一和第二投掷电路502、504的输出的组合来确定多接触开关500的状态。例如,如果来自第一投掷电路502的输出是高信号并且来自第二投掷电路504的输出是低信号,则微控制器114确定多接触开关114处于第一状态。反言之,如果来自第一投掷电路502的输出是低信号并且来自第二投掷电路504的输出是高信号,则微控制器114确定多接触开关114处于第二状态。在图5的例子中,如果来自多接触开关500的两个输出是低信号,则微控制器114检测到错误,因为这样的条件可以对应于开关500的故障。如果微控制器114检测到来自多接触开关500的两个输出是高信号,则微控制器确定示例的多接触开关500可能经历弹跳和/或一些其它错误。响应于检测到两个输出是高信号,微控制器114对来自多接触开关500的输出采样多次以确定输出中的任一是否已经改变成低信号和/或确定输出之一是否已经停止弹跳。例如,如果微控制器114检测到来自示例的第二投掷电路504的输出信号的阈值数目的连续采样是低信号而来自第一投掷电路的输出信号保持高,则多接触开关500已经改变成第一状态。在一些例子中,如果某一数量的时间流逝(或者其它条件出现)而多接触开关500未实现第一状态或者第二状态,则微控制器114可以确定错误条件存在。
尽管示例的接触开关500包括上拉电阻器以及高和低信号,但是任何其它类型的信号电平、逻辑和/或上拉和/或下拉电阻器可以用来获得相似或者等效功能。此外,尽管图示了图3和图4的示例的多接触开关300、400为具有向微控制器114的单个输出信号,但是示例的开关300、400中的任一开关可以向微控制器114输出第二信号(例如来自相应第二投掷电路306、404)。在一些这样的例子中,微控制器114可以实施状态检测和/或错误检测方法,比如上文参照图5描述的示例的状态检测和/或错误检测方法。
图6是用于控制过程控制设备的另一示例的多接触开关600的示意图。图6的示例的多接触开关600包括双掷开关602、第一和第二投掷电路604、606以及错误触发器608。可以使用图3-5的示例的双掷开关302来实施图6的示例的双掷开关602。可以使用图3的示例的第一和第二投掷电路304、306、图4的示例的第一和第二投掷电路402、404、图5的示例的第一和第二投掷电路502、504和/或任何其它等效、相似和/或不同投掷电路配置来实施示例的第一和第二投掷电路604、606。因而示例的第一和第二投掷电路604、606可以或者可以未如图6中所示由连接投掷电路604、606的虚线互连。
示例的错误触发器608在外部错误条件出现时经由第一和第二投掷电路604、606触发微控制器114的错误检错。为了触发错误检测,错误触发器608可以使投掷电路604、606二者的输出为低信号或者高信号。外部错误条件包括并非示例的多接触开关600和/或微控制器114的内部故障引起的错误。示例的外部错误条件可以包括失去供给多接触开关600和/或微控制器114的外部功率源。在这样的例子中,错误触发器608如无间断电源(UPS)的控制器控制第一和第二投掷电路604、606向微控制器输出低信号(例如响应于检测到失去供应功率并且使用存储于UPS中的功率)。在例子中,UPS向多接触开关600、向微控制器114和/或向微控制器114控制的过程控制设备提供功率以将过程控制设备的状态改变成预定或者默认安全条件。示例的安全条件可以包括控制致动器122以闭合图1的示例的阀124。示例的微控制器114可以使用上文参照图5描述的示例的状态检测检测和/或错误检测方法以检测示例的多接触开关600中的状态和/或错误,包括示例的错误触发器608经由第一和第二投掷电路604、606触发的错误。
图7是代表示例的过程700的流程图,该示例的过程可以用来实施图1-6的示例的微控制器114以基于来自多接触开关的输入来控制过程控制设备。
图7的示例的过程700通过检测来自多接触开关(例如图1-6的多接触开关102、202、300、400、500和/或600)的输出信号(例如经由图1-6的微控制器114)来开始(块602)。例如微控制器114可以从图1-6的相应投掷电路118、120、204、206、304、306、402、404、502、504、604、606接收一个或者多个输出信号。示例的微控制器114确定输出信号是否对应于第一状态(块704)。如果输出信号对应于第一状态(块704),则示例的微控制器114基于第一状态致动过程控制设备(块706)。例如,微控制器706可以响应于第一状态使阀致动器打开阀。在致动过程控制设备(块706)之后,控制返回到块702以检测输出信号。
如果输出信号未对应于第一状态(块704),则示例的微控制器114确定输出信号是否对应于第二状态(块708)。如果输出信号对应于第二状态(块708),则示例的微控制器114基于第二状态致动过程控制设备(块710)。例如,微控制器114可以响应于第二状态使阀致动器闭合阀。在致动过程控制设备(块710)之后,控制返回到块702以检测输出信号。
如果输出信号未对应于第二状态(块708),则示例的微控制器114确定输出信号是否对应于错误(块712)。例如,如果输出信号与多接触开关的故障一致,则输出信号可以对应于错误。如果输出信号对应于错误(块712),则示例的微控制器114将过程控制设备致动成默认(例如预定)错误状态(块714)。在将过程控制设备致动成默认错误状态(块714)之后,图7的示例的过程700结束。
如果输出信号未对应于错误(块712),则示例的微控制器114确定是否检测到弹跳(块716)。例如,可以在输出信号中的不同输出信号对应于第一和第二状态中的不同状态时检测到弹跳。如果未检测到弹跳(块716),则控制返回到块702以检测输出信号。另一方面,如果检测到弹跳(块716),则示例的微控制器714对输出信号采样(块718)。例如,微控制器114可以对输出信号采样多次以获得连续采样。
示例的微控制器114然后确定阈值数目X的连续输出信号是否具有相同值(块720)。如果阈值数目X的连续输出信号具有相同值(块720),则示例的微控制器114确定弹跳已经结束并且返回到块704以确定输出信号的状态。如果尚未发现具有相同值的阈值数目的输出信号(块720),则示例的微控制器114确定是否已经达到时间限制(块722)。如果尚未达到时间限制(块722),则控制返回到块718以继续对输出信号采样。另一方面,如果已经达到时间限制(决722),则示例的微控制器114将过程控制设备致动成默认错误状态(块714)。图7的示例的过程700然后可以结束。
虽然这里已经描述某些示例的装置和方法,但是本专利的覆盖范围不限于此。恰好相反,本专利覆盖合理地落入本专利的权利要求范围内的所有装置和方法。

Claims (20)

1.一种多接触开关,包括:
双掷开关,其具有共同端子、第一投掷端子和第二投掷端子,所述共同端子耦接到参考;
第一投掷电路,其耦接到所述第一投掷端子,所述第一投掷电路用于在所述共同端子与所述第一投掷端子或者所述第二投掷端子中的一个投掷端子基本上接触时向过程控制设备输出打开信号;以及
第二投掷电路,其耦接到所述第二投掷端子,所述第二投掷电路用于在所述共同端子与所述第一投掷端子或者所述第二投掷端子中的另一投掷端子基本上接触时使所述第一投掷电路向所述过程控制设备输出闭合信号,其中所述打开信号或者所述闭合信号中的至少一个信号对应于所述参考。
2.如权利要求1所述的开关,其中,所述第一投掷电路和所述第二投掷电路用于响应于所述双掷开关的弹跳来维持所述打开信号或者所述闭合信号。
3.如权利要求2所述的开关,其中,所述第一投掷电路和所述第二投掷电路包括各自的逻辑门,其用于在所述双掷开关尚未将所述共同端子从接触所述第一投掷端子或者所述第二投掷端子中的一个投掷端子切换成所述第一投掷端子或者所述第二投掷端子中的另一投掷端子时维持所述第一投掷电路和所述第二投掷电路的各自的状态。
4.如权利要求1所述的开关,其中,所述第一投掷电路包括第一非与逻辑门和第一上拉电阻器,并且所述第二投掷电路包括第二非与逻辑门和第二上拉电阻器。
5.如权利要求4所述的开关,其中,所述第一非与门的输出端子耦接到所述第二非与门的输入端子,并且所述第二非与门的输出端子耦接到所述第一非与门的输入端子。
6.如权利要求1所述的开关,其中,所述第一投掷电路包括第一非逻辑门和第一上拉电阻器,并且所述第二投掷电路包括第二非逻辑门和第二上拉电阻器。
7.如权利要求6所述的开关,其中,所述第一非门的输出端子耦接到所述第二非门的输入端子,并且所述第二非门的输出端子耦接到所述第一非门的输入端子。
8.如权利要求1所述的开关,其中,所述第一投掷电路用于输出所述打开信号直至所述共同端子与所述第二投掷端子发生接触并且用于在所述共同端子与所述第二投掷端子发生接触时输出所述闭合信号。
9.一种多接触开关,包括:
双掷开关,其具有共同端子、第一投掷端子和第二投掷端子,所述共同端子耦接到参考;
第一投掷电路,其耦接到所述第一投掷端子,所述第一投掷电路用于在所述共同端子与所述第一投掷端子或者所述第二投掷端子中的一个投掷端子基本上接触时向过程控制设备输出打开信号;以及
第二投掷电路,其耦接到所述第二投掷端子,所述第二接触端子用于在所述共同端子与所述第一投掷端子或者所述第二投掷端子中的另一投掷端子基本上接触时向所述过程控制设备输出闭合信号,其中所述打开信号或者所述闭合信号中的至少一个信号对应于所述参考。
10.如权利要求9所述的开关,还包括控制器,其用于基于接收所述打开信号或者所述闭合信号致动所述过程控制设备。
11.如权利要求10所述的开关,其中,所述控制器用于响应于接收所述打开信号或者所述闭合信号来确定开关弹跳是否已经出现。
12.如权利要求11所述的开关,其中,所述控制器用于响应于确定所述开关弹跳已经出现来防止所述过程控制设备的致动。
13.如权利要求11所述的开关,其中,所述控制器用于通过对所述打开信号或者所述闭合信号采样至少阈值次数以确定所述采样是否具有相等值来确定所述开关弹跳是否已经出现。
14.如权利要求13所述的开关,其中,所述控制器用于在至少阈值数目的连续采样具有相等值时确定所述开关弹跳已经出现。
15.如权利要求9所述的开关,还包括错误触发器,其用于响应于检测到外部错误条件使所述第一投掷电路和所述第二投掷电路响输出与错误条件对应的信号。
16.如权利要求9所述的开关,其中,所述第一投掷电路包括第一上拉电阻器并且所述第二投掷电路包括第二上拉电阻器。
17.一种方法,包括:
从开关接收第一输出信号,所述第一输出信号具有两个可能值中的第一个值;
基于所述第一输出信号致动过程控制设备;
从所述开关接收第二输出信号,所述第二输出信号具有所述两个可能值中的第二个值;
确定接收所述第二输出信号是否对应于开关弹跳条件;
当接收所述第二输出信号未对应于所述开关弹跳条件时,基于所述第二输出信号致动所述过程控制设备;并且
当接收所述第二输出信号对应于所述开关弹跳条件时,防止所述过程控制设备的致动。
18.如权利要求17所述的方法,其中,确定所述第二输出信号是否对应于所述开关弹跳条件包括确定所述第二输出信号的至少阈值数目的连续采样是否具有相等值,其中所述第二输出信号在至少所述阈值数目的连续采样具有相等值时未对应于所述开关弹跳条件。
19.如权利要求18所述的方法,还包括响应于确定阈值长度的时间已经流逝而未确定所述阈值数目的连续采样具有相等值来检测错误条件。
20.如权利要求17所述的方法,还包括当所述第一输出信号和所述第二输出信号具有未与所述过程控制设备的致动状态关联的值时检测错误条件。
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