CN103021841A - 一种去除SixNy残留物的处理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种去除SixNy残留物的处理方法,具体步骤如下:(1)将氢氧化钠、H2O2水溶液加热升温;(2)将硅片放入上述溶液中浸泡;(3)水洗;(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,然后烘干即可。本发明能够处理氢氟酸溶液不能完全去除SixNy膜的异常片,对其进行处理后可重新制绒,工艺简单,无需增加额外的设备,对硅片性能无影响,提高生产线的良率。
Description
技术领域
本发明涉及一种太阳能电池硅片处理方法,具体地说是一种去除硅片上SixNy残留物的处理方法。
背景技术
随着市场品质要求日益增高,对电池片外观的要求越来越严格。其中在镀膜过程中会形成很多的不良半成品片,例如发红片、彩虹片、色差片、脏片等,这些异常片会造成产线的良率下降以及客户抱怨的增多,所以处理这些不良半成品片在所难免。
高浓度的氢氟酸对于SixNy膜具有很好的去除作用,但是受清洗时间、溶液浓度、清洁度影响,硅片表面残留物可能不能完全去除,此时就不能重新制绒以免造成污染。
发明内容
发明目的:是针对现有技术存在的不足,提供一种能够彻底去除硅片上SixNy残留物的处理方法。
技术方案:为实现上述目的,本发明提供了一种去除SixNy残留物的处理方法,该方法的具体步骤如下:
(1)将质量百分比为1%-1.2%的氢氧化钠NaOH、体积比3.0%-3.6% H2O2溶液混合,加热升温到63℃-67℃;
(2)将硅片放入上述溶液中浸泡3 min-4min;
(3)将浸泡后的硅片放入在水中浸泡40s-60s;
(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,硅片慢提拉速度用时间评估,时间为20-40s,然后烘干即可。
本发明利用NaOH与H2O2混合液能将不能完全去除SixNy膜的异常片恢复到制绒前状态,保证此硅片的品质与正常硅片基本一致。
本发明中所述H2O2的目的是去除有机物,NaOH与Si反应起粗抛作用,去除表面损伤以及表面残留物,并且增强H2O2氧化能力;
Si+2NaOH+H2O==Na2SiO3+2H2
而氢气不断从溶液中溢出,使反应不断进行,生成溶于水硅酸钠,经过此反应不会对硅片性能有任何影响。
有益效果:本发明所述的去除SixNy残留物的处理方法,具有以下优点:
本发明能够处理氢氟酸溶液不能完全去除SixNy膜的异常片,对其进行处理后可重新制绒,工艺简单,无需增加额外的设备,对硅片性能无影响,提高生产线的良率。
附图说明
图1为本发明的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本发明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。
如图1所示的一种去除SixNy残留物的处理方法,具体步骤如下:
(1)将质量百分比为1.1%的氢氧化钠、体积比为3.3%的H2O2水混合液,加热温度到65℃;
(2)将硅片放入上述溶液中浸泡3 min;
(3)将浸泡后的硅片放入在水中浸泡3.5min;
(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,50S将硅片从水中完全提拉离水面,然后烘干即可。
Claims (2)
1.一种去除SixNy残留物的处理方法,其特征在于:具体步骤如下:
(1)将质量百分比为1%-1.2%的氢氧化钠NaOH、体积比3.0%-3.6% H2O2溶液混合,加热升温到63℃-67℃;
(2)将硅片放入上述溶液中浸泡3 min-4min;
(3)将浸泡后的硅片放入在水中浸泡40s-60s;
(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,硅片慢提拉速度用时间评估,时间为20-40s,然后烘干即可。
2.根据权利要求1所述的一种去除SixNy残留物的处理方法,其特征在于:具体步骤如下:
(1)将质量百分比为1.1%的氢氧化钠、体积比为3.3%的H2O2水混合液,加热温度到65℃;
(2)将硅片放入上述溶液中浸泡3 min;
(3)将浸泡后的硅片放入在水中浸泡3.5min;
(4)将水中浸泡的硅片慢慢提拉,50S将硅片从水中完全提拉离水面,然后烘干即可。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
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