CN102955865B - 芯片物理版图的黑盒逻辑验证方法 - Google Patents
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201110239037.6A CN102955865B (zh) | 2011-08-19 | 2011-08-19 | 芯片物理版图的黑盒逻辑验证方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201110239037.6A CN102955865B (zh) | 2011-08-19 | 2011-08-19 | 芯片物理版图的黑盒逻辑验证方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102955865A CN102955865A (zh) | 2013-03-06 |
CN102955865B true CN102955865B (zh) | 2015-02-04 |
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ID=47764671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201110239037.6A Active CN102955865B (zh) | 2011-08-19 | 2011-08-19 | 芯片物理版图的黑盒逻辑验证方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102955865B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104424056B (zh) * | 2013-08-19 | 2017-12-05 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 版图数据的层次检查方法 |
CN106815384A (zh) * | 2015-12-02 | 2017-06-09 | 北京华大九天软件有限公司 | 一种lef库与gds库障碍图层对比检查的方法 |
CN112257382B (zh) * | 2020-10-29 | 2023-07-21 | 海光信息技术股份有限公司 | 用于芯片设计的物理验证方法、系统、设备以及存储介质 |
CN117391038B (zh) * | 2023-10-23 | 2024-05-14 | 北京市合芯数字科技有限公司 | 芯片版图的金属栈空间信息划分方法及芯片 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101162476A (zh) * | 2006-10-13 | 2008-04-16 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 实现黑盒子lvs的方法 |
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Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4492398B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2010-06-30 | 日本電気株式会社 | 集積回路のレイアウト設計システム及びプログラム |
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JP5293572B2 (ja) * | 2009-11-17 | 2013-09-18 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 設計検証装置、設計検証方法及び設計検証プログラム |
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2011
- 2011-08-19 CN CN201110239037.6A patent/CN102955865B/zh active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Title |
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JP特开2009-146054A 2009.07.02 * |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102955865A (zh) | 2013-03-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
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C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
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