CN102945647B - 显示面板及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板及其检测方法，属于显示面板检测技术领域，其可解决现有技术中无法对显示面板的引线进行分区段检测的问题。显示面板包括设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，第一引线的输入端连接第一驱动芯片，第二引线的输入端连接第二驱动芯片。而显示面板引线检测方法包括：将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通，并在位于检测用第二引线输入端中的阻断点阻断检测用第二引线内的信号传输；从位于检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连的检测点采集检测信号，该检测点或检测点与第二引线的连接点比阻断点远离第二驱动芯片。本发明可用于液晶显示面板或有机发光二极管显示面板中。

Description

显示面板及其检测方法

技术领域

本发明属于显示面板检测技术领域，具体涉及一种显示面板及其检测方法。

背景技术

在液晶显示面板(LCD)、有机发光二极管显示面板(OLED)等显示面板中，有源驱动的应用越来越普遍，而有源驱动主要通过薄膜晶体管阵列(TFT)基板实现。

如图1所示，薄膜晶体管阵列基板9上设有多根相互交叉形成网格的栅极线(Gate Line)(图中未示出)和数据线2(Data Line)，栅极线和数据线2的每个交叉点限定一个薄膜晶体管，薄膜晶体管阵列基板9上还设有与栅极线平行的公共电极线1(COM Line)。其中，各引线(栅极线、数据线2、公共电极线1)在交叉点被绝缘层隔开，且每条引线的输入端11、21均与各自的驱动芯片19、29(Driver IC)相连，从而可分别传递各自的信号。薄膜晶体管阵列基板9的侧面连接柔性线路板7(FPC)，柔性线路板7远离薄膜晶体管阵列基板9的一侧连接印刷线路板8(PCB)，上述各驱动芯片19、29可分别设在柔性线路板7上(COF方式，Chip On Film Type)，也可设在薄膜晶体管阵列基板8上(COG方式，Chip On GlassType)。

在显示面板中，薄膜晶体管阵列基板9是与另一基板(如彩膜基板或有机发光二极管阵列基板等)组装在一起的，薄膜晶体管阵列基板9的显示区91(即引线1、2相互交叉而形成有薄膜晶体管阵列的区域)被另一基板挡住，而各引线输入端11、12则可暴露在外。

当显示面板出现显示不良时，可能是由各引线1、2的故障引起的，因此引线1、2的检测是显示面板检测的重要组成部分。现有的显示面板检测(以对公共电极线1的检测为例)主要采取以下方法：用检测探针(Pin)接触公共电极线的末端12(即远离公共电极驱动芯片19的一端，其超出显示区91外)，从而接收由公共电极驱动芯片19发出并经公共电极线1传递的驱动信号，通过分析该信号检测公共电极线1是否有故障。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：显示面板中薄膜晶体管阵列基板9已经与另一基板组装在一起，其显示区91被另一基板挡住，检测探针只能接触超出显示区91的公共电极线末端12，因此只能检测出整根公共电极线1是否有故障，但无法对公共电极线1进行分区段的检测，也就不能确定公共电极线1的故障出在什么位置，由此降低了不良解析的效率和准确性。

发明内容

本发明所要解决的技术问题包括，针对现有技术中无法对显示面板的引线进行分区段检测的问题，提供一种可对引线进行分区段检测的显示面板检测方法。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板检测方法，所述显示面板包括设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，第二引线的输入端连接第二驱动芯片；所述显示面板引线检测方法包括：

将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通，并在位于所述检测用第二引线输入端中的阻断点阻断检测用第二引线内的信号传输；

从位于所述检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连的检测点采集检测信号，所述检测点或检测点与第二引线的连接点比所述阻断点远离第二驱动芯片。

其中，“检测点或检测点与第二引线的连接点比阻断点远离第二驱动芯片”是指从各点在第二引线上的连接顺序来看，检测点(或连接点)在第二引线上的位置比阻断点离第二驱动芯片更远；而非指它们与第二驱动芯片间的空间位置关系。或者说，从第二驱动芯片发出的信号应当先到达阻断点后才能到达检测点，而来自显示区中的第二引线的检测信号应先到达检测点后才能到达阻断点；这是为了使阻断点既可阻断来自第二驱动芯片的干扰信号，又不会妨碍第二引线中检测信号的传递。

同时，以下叙述的“远离”的意义均与上述概念相同，都是指各点在引线上的顺序，而非空间位置关系。

本发明的显示面板检测方法中，先将待测第一引线与检测用第二引线导通，并切断由第二驱动芯片向检测用第二引线发出的信号，因此由第一驱动芯片发出并进入待测第一引线的信号会经过待测第一引线与检测用第二引线的交叉点传入检测用第二引线输入端，故可在第二引线输入端采集信号进行检测；也就是说，本发明实际上利用检测用第二引线来传递待测第一引线的信号，而由于每根第一引线都与多根第二引线在不同位置相交，因此只要选择不同的第二引线作为检测用第二引线，即可对第一引线的不同位置进行检测，从而实现了对引线的分区段检测，由此提高了不良解析的效率和准确性。

优选的是，所述显示面板还包括位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；所述检测用第二引线输入端至少部分位于所述印刷线路板上，所述阻断点为位于所述印刷线路板上的开关结构。

优选的是，所述显示面板还包括位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；所述检测点为位于所述印刷线路板上的触点。

优选的是，所述将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通包括：用激光将待测第一引线与检测用第二引线的交叉点焊接导通。

优选的是，在所述从检测点采集检测信号之前，还包括：

切断所述待测第一引线，所述切断的位置比待测第一引线与检测用第二引线的交叉点更远离待测第一引线输入端；

和/或

切断所述检测用第二引线，所述切断的位置比检测用第二引线与待测第一引线的交叉点更远离检测用第二引线输入端。

进一步优选的是，切断所述待测第一引线包括：用激光切断所述待测第一引线；和/或切断所述检测用第二引线包括：用激光切断所述检测用第二引线。

优选的是，所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；或所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；或所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；或所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。

本发明所要解决的技术问题还包括，针对现有技术中无法对显示面板的引线进行分区段检测的问题，提供一种可对引线进行分区段检测的显示面板。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，包括：

设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，所述第二引线的输入端连接第二驱动芯片；

位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；

其中，

至少部分所述第二引线为检测用第二引线，所述检测用第二引线的输入端至少部分位于所述印刷线路板上；

所述印刷线路板上的检测用第二引线输入端中设有用于阻断检测用第二引线中信号传输的开关结构；

所述印刷线路板上设有触点，所述触点位于检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连，且所述触点或触点与检测用第二引线的连接点比所述开关结构远离第二驱动芯片。

由于本发明的显示面板中具有检测用第二引线，而检测用第二引线的输入端部分位于印刷线路板上，且该检测用第二引线输入端中设有开关结构和触点，因此在用上述方法检测本显示面板时，可直接利用开关结构阻断引线中的信号传输，并利用触点进行检测，从而方便的实现对引线的分区段检测。

优选的是，所述显示面板还包括连接在所述薄膜晶体管阵列基板侧面的柔性线路板；所述第二驱动芯片位于所述柔性线路板上，所述印刷线路板连接在所述柔性线路板远离薄膜晶体管阵列基板的一侧。

优选的是，所述开关结构为0跳变电阻、划线电阻器、三极管、螺丝开关中的任意一种。

优选的是，所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；或所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；或所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；或所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。

优选的是，所述显示面板为液晶显示面板或有机发光二极管显示面板。

附图说明

图1为现有的显示面板的薄膜晶体管阵列基板的俯视结构示意图；

图2为本发明实施例2的显示面板检测方法在进行检测时的薄膜晶体管阵列基板的俯视结构示意图；

图3为本发明实施例2的显示面板检测方法在进行检测时的薄膜晶体管阵列基板的局部俯视结构示意图(部分引线未示出)；

图4为本发明实施例2的另一种显示面板检测方法在进行检测时的薄膜晶体管阵列基板的局部俯视结构示意图(部分引线未示出)；

图5为本发明的另一种显示面板检测方法在进行检测时的薄膜晶体管阵列基板的俯视结构示意图；

其中附图标记为：1、公共电极线；11、公共电极线输入端；12、公共电极线末端；13、待测公共电极线；131、待测公共电极线输入端；19、公共电极驱动芯片；2、数据线；21、数据线输入端；23、检测用数据线；231、检测用数据线输入端；29、数据驱动芯片；51、交叉点；52、阻断点；53、检测点；531、连接点；54、切断点；7、柔性线路板；8、印刷线路板；9、薄膜晶体管阵列基板；91、显示区。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种显示面板检测方法。其中显示面板包括设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，第二引线的输入端连接第二驱动芯片。

所述显示面板引线检测方法具体包括：

将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通，并在位于检测用第二引线输入端中的阻断点阻断检测用第二引线内的信号传输；

从位于检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连的检测点采集检测信号，所述检测点或检测点与第二引线的连接点比所述阻断点远离第二驱动芯片。

本实施例的显示面板检测方法中，先将待测第一引线与检测用第二引线导通，并切断由第二驱动芯片向检测用第二引线发出的信号，因此由第一驱动芯片发出并进入待测第一引线的信号会经过待测第一引线与检测用第二引线的交叉点传入检测用第二引线输入端，故可在第二引线输入端采集信号进行检测；也就是说，本实施例实际上利用检测用第二引线来传递待测第一引线的信号，而由于每根第一引线都与多根第二引线在不同位置相交，因此只要选择不同的第二引线作为检测用第二引线，即可对第一引线的不同位置进行检测，从而实现了对引线的分区段检测，由此提高了不良解析的效率和准确性。

实施例2：

本实施例提供一种显示面板，包括：

设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，所述第二引线的输入端连接第二驱动芯片；

位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板。

其中，

至少部分所述第二引线为检测用第二引线，所述检测用第二引线的输入端至少部分位于所述印刷线路板上；

所述印刷线路板上的检测用第二引线输入端中设有用于阻断检测用第二引线中信号传输的开关结构；

所述印刷线路板上设有触点，所述触点位于检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连，且所述触点或触点与检测用第二引线的连接点比所述开关结构远离第二驱动芯片。

由于本实施例的显示面板中具有检测用第二引线，而检测用第二引线的输入端部分位于印刷线路板上，且该检测用第二引线输入端中设有开关结构和触点，因此在用上述方法检测本显示面板时，可直接利用开关结构阻断引线中的信号传输，并利用触点进行检测，从而方便的实现对引线的分区段检测。

优选的是，所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；或所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；或所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；或所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。

优选的是，所述显示面板为液晶显示面板或有机发光二极管显示面板。

实施例3：

如图2至图4所示，本实施例提供一种显示面板及其检测方法。

其中，本实施的显示面板优选为液晶显示面板或有机发光二极管显示面板，其包括：薄膜晶体管阵列基板9；连接在薄膜晶体管阵列基板9侧面的柔性线路板7；连接在柔性线路板7远离薄膜晶体管阵列基板9一侧的印刷线路板8。本实施例中，以薄膜晶体管阵列基板9的左侧和右侧分别设有柔性线路板7和印刷线路板8为例子，当然，其他类型的柔性线路板7和印刷线路板8设置方法也是可行的(例如对于双向进线的方式，则薄膜晶体管阵列基板9的四面均设有柔性线路板7和印刷线路板8)。

薄膜晶体管阵列基板9上设有相互交叉而形成网格装的公共电极线1(即第一引线)和数据线2(即第二引线)，公共电极线输入端11连接公共电极驱动芯片19(即第一驱动芯片)，数据线输入端21连接数据驱动芯片29(第二驱动芯片)；公共电极驱动芯片19和数据驱动芯片29分别位于薄膜晶体管阵列基板9左侧和上侧的柔性线路板7上。其中，各引线输入端11、21是指引线1、2中超出显示区91外而用于与驱动芯片19、29相连的部分。

本实施例中，以各驱动芯片19、29均位于柔性线路板7上为例子；但显然，如果采取驱动芯片19、29直接位于薄膜晶体管阵列基板9上的方式也是可行的。根据型号不同，每个显示面板中可具有多个驱动芯片19、29，而每个驱动芯片可连接多根引线1、2(可多达数百根)，但为了清楚，附图中只示意性的示出了部分驱动芯片19、29和引线1、2。

数据线2中有部分为检测用数据线23。在对公共电极线1进行检测时，通过选择不同的检测用数据线23，即可对公共电极线1的不同位置进行分区段检测；因此，检测用数据线23的设置可根据检测的需要进行。例如，在与一个数据驱动芯片29相连的数据线2(通常有数十至上百根)中，可有一根或数根(本实施例中以两根为例)为检测用数据线23；这样一方面检测用数据线23在空间上的间隔距离不会很大，可以满足对公共电极线1进行分区段检测的要求，同时检测用数据线23的数量又不太多，故对布线设计、制备工艺、产品成本等不会产生过大影响。

如图2至图4所示，与其他数据线2不同，检测用数据线输入端231不是直接从数据驱动芯片29的进入薄膜晶体管阵列基板9，而是先进入印刷线路板8，之后从印刷线路板8中经柔性线路板7再返回薄膜晶体管阵列基板9中，也就是说，检测用数据线输入端231至少有一部分位于印刷线路板8上。

在检测用数据线输入端231位于印刷线路板8上的部分中，设有阻断点52，该阻断点52优选为开关结构，用于阻断检测用数据线23中的信号传输，以防止数据驱动芯片29的信号对检测产生影响。

优选的，开关结构为0跳变电阻、划线电阻器、三极管、螺丝开关中的任意一种。其中，0跳变电阻通常相当于一段导线，只要将其取下即可起到阻断信号的作用；而将划线电阻器的阻值可调，只要将其阻值调大，即可实质上阻断信号的传输(或者说使信号极其微小)；而三极管、螺丝开关都为公知形式的开关，在此不再详细描述。当然，该开关结构也可采用其他的已知形式，只要其能够阻断检测用数据线23中的数据传输即可。

同时，印刷线路板8上还设有检测点53，该检测点53用于检测信号的采集，其优选为触点(即一块面积较大的金属片)的形式，从而方便检测探针与其接触。

该触点用于与检测探针接触以采集信号，因此，其可如图3所示直接设在检测用数据线输入端231中，也可如图4所示通过接线与检测用数据线输入端231相连(其与检测用数据线输入端231的连接点531可位于柔性线路板7上)。显然，该触点的位置或触点与检测用数据线输入端231的连接点531的位置应比上述开关结构更远离数据驱动芯片29，也就是说，由数据驱动芯片29发出的信号，应当先经过开关结构后才能达到触点或触点与检测用数据线输入端231的连接点531，从而保证从检测点53采集的信号不受数据驱动芯片29发出的信号的影响。

其中，开关结构、触点之所以优选设在印刷线路板8上，是因为如果将它们设在薄膜晶体管阵列基板9上，则现有的已经成熟的薄膜晶体管阵列基板9结构和制备工艺都会发生变化，并由此带来成本的升高和效率的降低；而柔性线路板7因其特殊的性质，难以在其上有效的形成开关结构、触点等。

当然，本实施例的显示面板中还应包括与薄膜晶体管阵列基板9组装在一起的另一基板，且薄膜晶体管阵列基板9上还应设有与公共电极线1平行的栅极线，且栅极线也应连接栅极驱动芯片；但因这些结构和本实施例的检测方法没有直接关系，故均未在图中示出。

同时，本实施例的显示面板还可进行许多变化。例如，开关结构、触点等也可设在薄膜晶体管阵列基板9上；触点与检测用数据线输入端231的连接点531也可设在印刷线路板8或薄膜晶体管阵列基板9上等。

本实施的对上述显示面板进行检测的方法包括：

S01、将待测公共电极线13与检测用数据线23在二者的交叉点51导通；也就是说，使待测公共电极线13与检测用数据线23电连接，从而使待测公共电极线13中的信号可传入检测用数据线23中。

优选的，上述的导通具体为通过激光将待测公共电极线13与检测用数据线23的交叉点51焊接导通。之所以使用激光焊接方式，是因为激光可穿过与薄膜晶体管阵列基板9组装在一起的另一基板，故不用拆卸显示面板即可实现焊接。而使用激光将引线焊接在一起的技术是已知的，故在此不再详细描述。

S02、在位于检测用数据线输入端231中的阻断点52阻断检测用数据线23内的信号传输；也就是说，阻断由数据驱动芯片29发送给检测用数据线23的信号，以免其对检测产生影响。

优选的，阻断点52为上述的位于印刷线路板8上的开关结构，此时直接断开开关即可阻断检测用数据线23内的信号传输。

当然，如果阻断点52处没有开关结构，则也可通过针扎、激光切断等方式在阻断点52处将检测用数据线23断开。

S03、优选的，切断待测公共电极线13，切断的位置比待测公共电极线13与检测用数据线23的交叉点51更远离待测公共电极线输入端131；和/或切断检测用数据线23，切断的位置比检测用数据线23与待测公共电极线13的交叉点51更远离检测用数据线输入端231；也就是说，优选可在比待测公共电极线13与检测用数据线23的交叉点51(即导通点)更远离各自驱动芯片19、29的位置将待测公共电极线13与检测用数据线23切断。

显然，如果没有切断点54，则在进行检测时，引线13、23中不用进行信号传输的部分(即待测公共电极线13在交叉点51右侧部分和检测用数据线23在交叉点51下侧的部分)也会带电，而这部分引线13、23带电会对检测结果产生不良影响，为了减少这种影响，使检测信号更加准确，故优选在上述切断点54处切断引线13、23。当然，为了达到最好的避免引线13、23带电的效果，切断点54与交叉点51间的距离越近越好。

优选的，上述切断引线13、23的方式具体为用激光切断待测公共电极线13和/或检测用数据线23。使用激光将引线切断的技术是已知的，故在此不再详细描述。

显然，以上的S01、S02、S03步骤均是为了形成检测所需的结构，也就是它们均是进行检测前的准备步骤，因此它们并无必然的先后关系，本实施例中S01、S02、S03步骤的顺序只是作为一个具体例子，而这三步骤的实际执行顺序可以任意调换。

S04、从位于检测用数据线输入端231中或与检测用数据线输入端231相连的检测点53采集检测信号，检测点53或检测点53与数据线2的连接点531比阻断点52远离第二驱动芯片；此时，由公共电极驱动芯片19发出的信号会经由待测公共电极线13从交叉点51传入检测用数据线23，因此在检测用数据线输入端231即可采集到由公共电极驱动芯片19发出的信号，从而判断待测公共电极线13的状况，达到检测目的。

优选的，当印刷线路板8上具有上述触点时，可使检测探针与触点接触，从而接收检测信号。

当然，如果检测点53处没有触点，而直接用检测探针接触检测用数据线输入端231以采集信号，也是可行的。

显然，虽然本实施例中以通过数据线2对公共电极线1进行检测为例子，但本实施例的显示面板检测方法也可用于检测其他引线；例如，也可通过公共电极线1对数据线2进行检测；或者通过栅极线对数据线2进行检测；或者通过数据线2对栅极线进行检测等。由于这些不同的检测方法只是引线选择不同，而其实质相似，故在此不再逐一描述。

上述实施例的显示面板中，检测用数据线输入端231部分位于印刷线路板8上；但显然，对于现有的常规显示面板，也可采用上述实施例的方法进行检测；其检测方式如图5所示，直接将阻断点52和检测点53设置在柔性线路板7上(或薄膜晶体管阵列基板9上)，当然，由于柔性线路板7的性质，此时难以在阻断点52和检测点53形成开关结构和触点，但是仍可通过用针扎断阻断点52以及直接用检测探针接触检测点53的方式实现检测。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板检测方法，所述显示面板包括设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，第二引线的输入端连接第二驱动芯片，其特征在于，所述显示面板引线检测方法包括：

将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通，并在位于所述检测用第二引线输入端中的阻断点阻断检测用第二引线内的信号传输；

从位于所述检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连的检测点采集检测信号，所述检测点或检测点与第二引线的连接点比所述阻断点远离第二驱动芯片。

2.根据权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述显示面板还包括：位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；

所述检测用第二引线输入端至少部分位于所述印刷线路板上，所述阻断点为位于所述印刷线路板上的开关结构，

所述检测点为位于所述印刷线路板上的触点。

3.根据权利要求1或2所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述将待测第一引线与检测用第二引线在二者的交叉点导通包括：

用激光将待测第一引线与检测用第二引线的交叉点焊接导通。

4.根据权利要求1或2所述的显示面板检测方法，其特征在于，在从检测点采集检测信号之前，还包括：

切断所述待测第一引线，所述切断的位置比待测第一引线与检测用第二引线的交叉点更远离所述待测第一引线输入端；

和/或

切断所述检测用第二引线，所述切断的位置比检测用第二引线与待测第一引线的交叉点更远离所述检测用第二引线输入端。

5.根据权利要求4所述的显示面板检测方法，其特征在于，

切断所述待测第一引线包括：用激光切断所述待测第一引线；

和/或

切断所述检测用第二引线包括：用激光切断所述检测用第二引线。

6.根据权利要求1或2中任意一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，

所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；

或

所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。

7.一种显示面板，包括：

设有多根相互交叉的第一引线和第二引线的薄膜晶体管阵列基板，所述第一引线的输入端连接第一驱动芯片，所述第二引线的输入端连接第二驱动芯片；

位于所述薄膜晶体管阵列基板侧面的印刷线路板；

其特征在于，

至少部分所述第二引线为检测用第二引线，所述检测用第二引线的输入端至少部分位于所述印刷线路板上；

所述印刷线路板上的检测用第二引线输入端中设有用于阻断检测用第二引线中信号传输的开关结构；

所述印刷线路板上设有触点，所述触点位于检测用第二引线输入端中或与检测用第二引线输入端相连，且所述触点或触点与检测用第二引线的连接点比所述开关结构远离第二驱动芯片。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，还包括：连接在所述薄膜晶体管阵列基板侧面的柔性线路板；

所述第二驱动芯片位于所述柔性线路板上，所述印刷线路板连接在所述柔性线路板远离薄膜晶体管阵列基板的一侧。

9.根据权利要求7或8所述的显示面板，其特征在于，

所述开关结构为0跳变电阻、划线电阻器、三极管、螺丝开关中的任意一种。

10.根据权利要求7或8所述的显示面板，其特征在于，

所述第一引线为公共电极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为公共电极线；

或

所述第一引线为栅极线，所述第二引线为数据线；

或

所述第一引线为数据线，所述第二引线为栅极线。