CN101750554A - 一种阵列基板检测电路及检测方法 - Google Patents
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Claims (9)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2008102398342A CN101750554B (zh) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 一种阵列基板检测电路及检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2008102398342A CN101750554B (zh) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 一种阵列基板检测电路及检测方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101750554A true CN101750554A (zh) | 2010-06-23 |
CN101750554B CN101750554B (zh) | 2011-11-09 |
Family
ID=42477834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2008102398342A Expired - Fee Related CN101750554B (zh) | 2008-12-12 | 2008-12-12 | 一种阵列基板检测电路及检测方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101750554B (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113092978A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-09 | 苏州通富超威半导体有限公司 | 用于电子元器件短路失效定位的测试构件及测试方法 |
WO2021233078A1 (zh) * | 2020-05-20 | 2021-11-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板母板及其检测方法、阵列基板、显示装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101295717B (zh) * | 2007-04-25 | 2010-07-14 | 北京京东方光电科技有限公司 | 薄膜晶体管面板及其制造方法 |
-
2008
- 2008-12-12 CN CN2008102398342A patent/CN101750554B/zh not_active Expired - Fee Related
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CN106291186A (zh) * | 2016-08-10 | 2017-01-04 | 西安与或电子科技有限公司 | 一种基于开关模块的多点测试装置 |
CN106571114B (zh) * | 2016-10-28 | 2020-04-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试电路及其工作方法 |
CN106571114A (zh) * | 2016-10-28 | 2017-04-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 测试电路及其工作方法 |
CN106501978B (zh) * | 2017-01-04 | 2019-04-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置 |
CN106501978A (zh) * | 2017-01-04 | 2017-03-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置 |
CN108983461A (zh) * | 2018-08-22 | 2018-12-11 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板及液晶模组 |
CN108983461B (zh) * | 2018-08-22 | 2021-04-27 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板及液晶模组 |
CN109637405A (zh) * | 2018-12-05 | 2019-04-16 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板的测试方法、装置及存储介质 |
WO2020113678A1 (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-11 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板的测试方法、装置及存储介质 |
CN109637405B (zh) * | 2018-12-05 | 2021-04-06 | 惠科股份有限公司 | 阵列基板的测试方法、装置及存储介质 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN101750554B (zh) | 2011-11-09 |
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C10 | Entry into substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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