CN106501978A - 一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置，该分析方法包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将第一母面板的不良拼接图像和第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。由于不良叠加图像的不良信息是从多个母面板汇总得到，能够体现大数据量的面板不良在母面板上的表现。

Description

一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置

技术领域

本发明涉及显示面板检测技术领域，尤其涉及一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置。

背景技术

随着智能化制造技术的发展，在显示面板的生产检查环节中自动光学检测(AOI)使用日益广泛。AOI采用无人化自动检测的方式，检测速度快、性能稳定、可调控性好，成为替代人工检测的主要的产品缺陷检测模式。

显示面板AOI是利用拍照设备对切割后的单一子显示面板进行拍摄，然后对拍摄的图像进行分析，找出单一子显示面板上的不良，并进行不良品拦截，并不能获取未切割前的母面板的不良整体形貌图，具体不良在母面板上的关联、贯穿情况等。

现今高世代线显示面板生产，针对母面板上不良发生的原因分析与及时的工艺、设备调整，对于产品良率提升，改善出货品质，遏制废品损失等方面具有巨大的促进作用。

现有的显示面板不良信息的分析方法是刷取子显示面板检测数据，统计出母面板上各子显示面板位置特定不良的发生率，粗略得出母面板哪些部位的特定不良发生比例高，进而追查工艺设备的对应问题点。

上述分析方法效率低下，须人工从大量数据中进行甄别筛选，同时对数据进行编辑整理，最终只能得到简略抽象的不良Mapping(地图)发生率图表，且无法准确定位不良具体位置，无法直观得出母面板不良整体形貌图，无法研究具体不良在母面板上的关联、贯穿情况等，对于及时准确的不良分析有很大的局限性。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置，能够对未切割前的母面板的不良信息进行全面的分析。

为解决上述技术问题，本发明提供一种显示面板不良信息的分析方法，包括：

获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；

将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

优选地，所述将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像的步骤之后还包括：

确定待解析的不良信息类型；

显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。

优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：

通过自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像。

优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：

确定待解析的第一子显示面板，所述第一子显示面板属于所述第一母面板；

从存储的所述已检测的子显示面板的不良检测图像中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像；

对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像，所述第一母面板的不良拼接图像对应的不良信息由所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良信息汇总得到。

优选地，存储的每一所述已检测的子显示面板的不良检测图像对应一唯一编号，所述编号中包含所述已检测的子显示面板所属的母面板的标识信息；

所述提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像的步骤包括：

根据所述第一子显示面板的编号，检索出与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的编号；

根据所述第一子显示面板和第二子显示面板的编号，提取所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良检测图像。

优选地，所述编号中还包含所述已检测的子显示面板在其所属的母面板中的位置信息；

所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的编号中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，确定所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置；

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，对所述第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像。

优选地，子显示面板的不良信息包括不良在子显示面板中的坐标信息，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤还包括：

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的不良信息的坐标，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工艺中的切割参数，将不良在所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的坐标信息转换为不良在所述第一母面板上的坐标信息。

优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：

利用自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

将属于同一母面板的各已检测的子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像；

存储母面板的不良拼接图像。

优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：

确定待解析的第一母面板；

从存储的母面板的不良拼接图像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接图像。

本发明还提供一种显示面板不良信息的分析装置，包括：

获取模块，用于获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；

叠加融合模块，用于将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

本发明的上述技术方案的有益效果如下：

本发明实施例中，将属于同一母面板的多个子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像，然后，将多个相关的母面板的不良拼接图像进行叠加，得到不良叠加图像，由于不良叠加图像对应的不良信息是由多个母面板的不良信息汇总得到，因而能够体现大数据量的面板不良在母面板上的表现。

本发明实施例的方法简单有效，可迅速直观得出母面板的不良相貌、不良位置、不良的贯穿性、不良的浓度等信息，大大提升了不良分析效率与准确性，从而可根据不良分析结果进行及时的工艺、设备调整，提升产品良率，改善出货品质，遏制废品损失。

附图说明

图1为本发明实施例一的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；

图2为本发明实施例二的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；

图3为本发明实施例三的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；

图4为本发明实施例四的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；

图5为本发明一实施例的子显示面板的编号示意图；

图6为本发明一实施例的子显示面板的不良检测图像的拼接方法示意图；

图7为本发明一实施例的不良在子显示面板上的坐标信息转换为不良在母面板上的坐标信息的示意图；

图8为本发明一实施例的多个母面板的拼接图像进行叠加融合的示意图；

图9为本发明一实施例的显示的不良叠加图像的示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非另作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也相应地改变。

请参考图1，图1为本发明实施例一的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图，该分析方法包括：

步骤11：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；

所谓母面板，是指未切割前的大面板，所谓子显示面板，是指由母面板切割后的小面板。

所述不良信息可以包括不良的类型、不良的数量和不良的坐标信息等。

所述子显示面板的不良检测图像可以是由自动光学检测系统检测得到的不良检测图像。

与所述第一子显示面板关联的第二母面板，个数可以为一个或多个，是与第一母面板产品型号相同的母面板，进一步地，还可以是具有与所述第一子显示面板相同类型的预定不良信息的母面板。

步骤12：将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

本发明实施例中，将属于同一母面板的多个子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像，然后，将多个相关的母面板的不良拼接图像进行叠加，得到不良叠加图像，由于不良叠加图像对应的不良信息是由多个母面板的不良信息汇总得到，因而能够体现大数据量的面板不良在母面板上的表现。

本发明实施例的方法简单有效，可迅速直观得出母面板的不良相貌、不良位置、不良的贯穿性、不良的浓度等信息，大大提升了不良分析效率与准确性，从而可根据不良分析结果进行及时的工艺、设备调整，提升产品良率，改善出货品质，遏制废品损失。

为方便观看，本发明实施例的方法还可以包括：显示加载有所述不良叠加图像对应的不良信息的相关内容的不良叠加图像。

所谓不良信息的相关内容，包括不良的类型，不良的位置信息以及不良的统计信息等内容，不良的统计信息包括不良的发生率等信息。

具体的，可以在显示的不良叠加图像上加载所有类型的不良信息的相关内容。

当然，也可以根据需要加载某些待解析的不良信息，而非加载所有类型的不良信息。因而，本发明实施例的方法还可以包括：确定待解析的不良信息类型；显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。从而使得显示的不良叠加图像中仅针对性地显示待解析的不良信息的相关内容，避免其他不需要的不良信息干扰视线。

本发明实施例中，可以通过自动光学检测系统对待检测的各子显示面板进行检测，得到各子显示面板的不良检测图像，然后将各子显示面板的不良检测图像存储起来，待进行显示面板不良信息分析时使用。

下面举例进行说明。

请参考图2，图2为本发明实施例二的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图，该分析方法包括：

不良检测阶段：

步骤21：通过自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

该不良检测图像包括检测到的子显示面板的不良信息；

该不良信息包括：不良的类型、不良的数量、不良在子显示面板上的坐标等。

步骤22：存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像。

不良分析阶段：

步骤23：确定待解析的第一子显示面板，所述第一子显示面板属于第一母面板；

所述待解析的第一子显示面板可以是具有高发类不良和/或特异性不良的子显示面板。

步骤24：从存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像；

所述第二子显示面板的数量可以一个或多个。所述第二子显示面板是第一母面板中除第一子显示面板之外的其他子显示面板。

步骤25：对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像，所述第一母面板的不良拼接图像对应的不良信息由所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良信息汇总得到；

步骤26：获取与所述第一子显示面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，所述第二母面板的不良拼接图像的获取过程与步骤24和步骤25过程类似，即提取第二母面板的各子显示面板的不良检测图像，然后进行拼接。

步骤27：将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

本发明实施例中，存储的每一所述已检测的子显示面板的不良检测图像对应一唯一编号，从而能够在进行显示面板的不良信息的分析时，通过子显示面板的唯一编号从存储的数据库中快速检索到待解析的子显示面板。同时，子显示面板的编号中还包括该子显示面板所属的母面板的标识信息，从而根据该编号中的母面板的标识信息，从存储的数据库中检索出与待解析的子显示面板属于同一母面板的其他子显示面板，从而进行子显示面板的不良检测图像的拼接，得到母面板的拼接图像。

请参考图5，图5为本发明一实施例的子显示面板的编号示意图，该实施例中，每一子显示面板的编号具有14位，其中：

1-11位为子显示面板的序列号(GLASS ID)。子显示面板的序列号中能够体现所属的母面板的标识。

第12位为子显示面板的类型，是single Panel(单个子显示面板)还是Q-panel，Q-panle指的是将一张母面板切成几小片，每片含几个小的single panel，这样的每一片就叫做Q-panel。

第13和第14位为子显示面板在母面板中的位置。其中，第13位是子显示面板所在的行(Panel Rows)，命名规则可以是A～Z行，0～9行。第14位是子显示面板所在的列(PanelColumns)，命名规则可以是A～Z列，0～9列。

本发明实施例中，在进行一子显示面板及与其同属一母面板的其他子显示面板的不良检测图像的提取时，可以根据该子显示面板的编号中的第1-12位，确定与其同属一母面板的其他子显示面板的编号，并根据各子显示面板的编号，提取各子显示面板的不良检测图像。

当然，在本发明的其他一些实施例中，子显示面板的编号也可以采用其他命名规则，在此不再一一说明。

也就是说，上述步骤24中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像可以具体包括：

步骤241：根据所述第一子显示面板的编号，检索出与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的编号；

步骤242：根据所述第一子显示面板和第二子显示面板的编号，提取所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良检测图像。

进一步优选地，所述子显示面板的编号中还可以包括所述已检测的子显示面板在其所属的母面板中的位置信息，从而可以根据该位置信息对同属一母面板的各子面板的不良检测图像进行拼接。

也就是说，上述步骤25中，对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像的步骤可以包括：

步骤251：根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的编号中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，确定所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置；

步骤252：根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，对所述第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像。

请参考图6，图6为本发明一实施例的子显示面板的不良检测图像的拼接方法示意图，从图6中可以看出，各子显示面板的编号(Panel ID)中携带其在所属母面板中的位置信息，如图6中的Panel ID表格中所示，AA(A Row，1Column)，AB(A Row，2Column)，CA(C Row，1Column)等，根据各子显示面板的编号中的位置信息，对各子面板的不良检测图像进行拼接，得到一完整的母面板的不良拼接图像，如图6箭头所指的右边视图所示。

本发明实施例中，子显示面板的不良信息包括该子显示面板的不良在该子显示面板上的坐标信息，在对属于同一母面板的各子显示面板的不良检测图像进行拼接时，需要将每一子显示面板的不良在该子显示面板上的坐标信息，转换为该不良在母面板中的坐标信息。

即，上述实施例中，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤还包括：根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的不良信息的坐标，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工艺中的切割参数，将不良在所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的坐标信息转换为不良在所述第一母面板上的坐标信息。

请参考图7，图7为本发明一实施例的不良在子显示面板上的坐标信息转换为不良在母面板上的坐标信息的示意图，从图7中可以看出，在将不良在子显示面板上的坐标信息(x，y)转换为不良在母面板上的坐标信息(x'，y')时，需要考虑子显示面板在母面板中的位置(即Map位置)，子显示面板的尺寸，母面板的尺寸，以及母面板在切割工艺中的切割参数(Dummy宽度)。

请参考图3，图3为本发明实施例四的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图，该分析方法包括：

不良检测阶段：

步骤31：采用自动光学检测系统对待测试的子显示面板进行测试，得到已测试的子显示面板的不良检测图像；

该不良检测图像中包括子显示面板的不良信息。

该不良信息包括：不良的类型、不良的数量以及不良在子显示面板上的坐标等。

步骤32：通过P-CIM(Probe CIM，计算机集成制造信息管理系统)系统将已测试的子显示面板的不良检测图像上传至File Server(文件服务器)相应的文件站点中存储。

每一存储的子显示面板的不良检测图像对应一编号(panel ID)，该panel ID中包括子显示面板所属的第一母面板的标识信息以及子显示面板在母面板中的位置信息。panel ID可以参见图5。

不良分析阶段：

步骤33：通过BO(数据信息报表)系统对File Server存储的各子显示面板的不良检测图像进行分析，获取高发类不良或特异性不良的第一子显示面板的panel ID。

步骤34：输入待解析的第一子显示面板的panel ID；

步骤35：在File Server中检索出与所述第一子显示面板关联的其他子显示面板的panel ID；

与待解析的子显示面板关联的其他子显示面板包括：与待解析的子显示面板属于同一母面板的第二子显示面板，以及与待解析的子显示面板所属的母面板产品型号相同，且具有类似高发类不良或特异性不良的子显示面板及其同属一母面板的其他子显示面板。

具体的，根据第一子显示面板的panel ID中携带的所属的母面板的标识信息，确定与第一子显示面板属于同一母面板的第二子显示面板的panel ID。

根据第一子显示面板的高发类不良或特异性不良，确定与待解析的子显示面板所属的母面板产品型号相同，且具有类似高发类不良或特异性不良的子显示面板及其同属一母面板的其他子显示面板。

步骤36：从File Server中提取与第一子显示面板以及与所述第一子显示面板关联的其他子显示面板的不良检测图像；

步骤37：根据panel ID中携带的子显示面板在母面板中的位置信息，对提取的属于同一母面板的各子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到多个母面板的不良拼接图像。

对各子显示面板的不良检测图像进行拼接时，需要对将不良在子显示面板中的坐标转换为在母面板中的坐标。

步骤38：对拼接得到的多个母面板的不良拼接图像进行叠加融合处理，得到一不良叠加图像。

步骤39：确定待解析的不良信息类型；

具体的，可以提供一选择界面，选择界面中显示出所有类型的不良信息，并提供勾选方式，以对待解析的不良信息进行勾选。

步骤310：显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。

也就是说，显示的不良叠加图像中，只标示出待解析的不良信息的相关内容，并不显示其他类型的不良信息，从而可针对特定不良信息进行查看，避免视觉干扰。

另外，步骤39和步骤310可以重复执行，即可以根据需要多次选择需要解析的不良信息。

上述实施例中，在不良检测阶段，通过自动光学检测系统获取各子显示面板的不良检测图像，然后将各子显示面板的不良检测图像存储起来，在不良分析阶段，再将各子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像。当然，在本发明的其他一些实施例中，也可以在不良检测阶段，就将各子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像，并存储母面板的不良拼接图像，在不良分析阶段，直接使用母面板的不良拼接图像进行分析。

下面举例进行说明。

请参考图4，图4为本发明实施例三的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图，该分析方法包括：

不良检测阶段：

步骤41：利用自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

该不良检测图像包括检测到的子显示面板的不良信息；

该不良信息包括：不良的类型、不良的数量、不良在子显示面板上的坐标等。

步骤42：将属于同一母面板的各已检测的子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像；

步骤43：存储母面板的不良拼接图像。

不良分析阶段：

步骤44：确定待解析的第一母面板；

步骤45：从存储的母面板的不良拼接图像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接图像；

步骤46：从存储的母面板的不良拼接图像中，提取与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像。

步骤47：将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

本发明实施例中，存储的每一母面板的不良拼接图像对应一唯一编号，从而能够在进行显示面板的不良信息的分析时，通过母面板的唯一编号从存储的数据库中快速检索到所需的母面板。

本发明实施中在不良检测阶段时，子显示面板的不良检测图像的拼接方法，可以参见实施例二的拼接方法，即每一子显示面板的不良检测图像也对应一唯一编号，从而根据该编号进行子显示面板的拼接。

上述实施例中，第一母面板和第二母面板的叠加融合方法可以参见图8所示的附图，从图8中可以看出，叠加融合后得到的不良叠加图像中汇总了第一母面板和第二母面板的不良信息。

获得的不良叠加图像中，由于包括多个母面板的不良信息，因而可以体现大数据量的面板不良在母面板上的不良相貌，并可准确定位各不良的位置坐标，另外，还可根据需要标识出不良的浓度信息，有效分析不良间的相关性、贯穿性等问题。

所谓浓度信息是不良在区域发生的比例。所谓贯穿性是指不良在母基板上的形貌连续出现在各个子显示面板区域，即不良的完整形貌贯穿多少个子显示面板。

请参考图9，图9为本发明一实施例的显示的不良叠加图像的示意图，从图9所示的不良叠加图像中标识出了：不良的类型(如P/T Gap、划伤)，不良的位置(图中的a,b,c,d)，不良的发生率，不良的贯穿性(图中贯穿四个子显示面板的虚线所示内容)。

图中，a标示某种Mura不良距离母面板的GP侧的距离；

b标示这两类Mura不良在GP方向上的间隔距离；

c标示Mura类不良距离GPO侧的距离；

d标示划伤不良在GPO侧终点位置与DPO侧的距离。

所述GP、GPO、DP、DPO侧均为液晶面板制造行业对母面板四边的定义称呼，以Glass电路信号源Mask与玻璃Mark为位置参照。

上述实施例中的显示面板可以为液晶显示面板。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种显示面板不良信息的分析装置，包括：

获取模块，用于获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；

叠加融合模块，用于将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

优选地，还包括：

选择模块，用于确定待解析的不良信息类型；

显示模块，用于显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。

优选地，还包括：

自动光学检测模块，用于对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

存储模块，用于存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像。

在本发明的一实施例中，所述获取模块具体用于：

确定待解析的第一子显示面板，所述第一子显示面板属于所述第一母面板；

从存储的所述已检测的子显示面板的不良检测图像中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像；

对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像，所述第一母面板的不良拼接图像对应的不良信息由所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良信息汇总得到。

优选地，存储的每一所述已检测的子显示面板的不良检测图像对应一唯一编号，所述编号中包含所述已检测的子显示面板所属的母面板的标识信息；

所述提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像的步骤包括：

根据所述第一子显示面板的编号，检索出与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的编号；

根据所述第一子显示面板和第二子显示面板的编号，提取所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良检测图像。

优选地，所述编号中还包含所述已检测的子显示面板在其所属的母面板中的位置信息；

所述获取模块用于：

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的编号中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，确定所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置；

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，对所述第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像。

优选地，子显示面板的不良信息包括不良在子显示面板中的坐标信息，所述获取模块还用于：

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的不良信息的坐标，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工艺中的切割参数，将不良在所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的坐标信息转换为不良在所述第一母面板上的坐标信息。

在本发明的另一实施例中，所述分析装置还包括：

检测模块，用于对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

拼接模块，用于将属于同一母面板的各已检测的子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像；

存储模块，用于存储母面板的不良拼接图像。

优选地，所述获取模块用于：

确定待解析的第一母面板；

从存储的母面板的不良拼接图像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接图像。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，包括：

获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；

将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

2.根据权利要求1所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像的步骤之后还包括：

确定待解析的不良信息类型；

显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。

3.根据权利要求1所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：

通过自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像。

4.根据权利要求3所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：

确定待解析的第一子显示面板，所述第一子显示面板属于所述第一母面板；

从存储的所述已检测的子显示面板的不良检测图像中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像；

对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像，所述第一母面板的不良拼接图像对应的不良信息由所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良信息汇总得到。

5.根据权利要求4所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，存储的每一所述已检测的子显示面板的不良检测图像对应一唯一编号，所述编号中包含所述已检测的子显示面板所属的母面板的标识信息；

所述提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像的步骤包括：

根据所述第一子显示面板的编号，检索出与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的编号；

根据所述第一子显示面板和第二子显示面板的编号，提取所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良检测图像。

6.根据权利要求5所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述编号中还包含所述已检测的子显示面板在其所属的母面板中的位置信息；

所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的编号中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，确定所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置；

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，对所述第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像。

7.根据权利要求6所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，子显示面板的不良信息包括不良在子显示面板中的坐标信息，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤还包括：

根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的不良信息的坐标，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工艺中的切割参数，将不良在所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的坐标信息转换为不良在所述第一母面板上的坐标信息。

8.根据权利要求1所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：

利用自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；

将属于同一母面板的各已检测的子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像；

存储母面板的不良拼接图像。

9.根据权利要求8所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：

确定待解析的第一母面板；

从存储的母面板的不良拼接图像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接图像。

10.一种显示面板不良信息的分析装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；

叠加融合模块，用于将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。