CN102655069A - 等离子体显示面板用的前面板 - Google Patents

Abstract

本发明提供对于降低PDP的放电起始电压有用的PDP用的前面板。本发明提供一种等离子体显示面板用的前面板，其为下述层叠体以该层叠体的放电电极与透明基板的表面相接的方式配置在该透明基板上而成，所述层叠体为含有被覆放电电极的电介质层和形成于该电介质层上的电介质保护层的层叠体，其特征在于，在电介质保护层表面散布有以摩尔比99.5∶0.5～40∶60范围的量含有Mg和选自Ca及Sr中的碱土类金属元素的碱土类金属氧化物粉末。

Description

等离子体显示面板用的前面板

技术领域

本发明涉及层叠体和将该层叠体配置于透明基板之上而成的等离子体显示面板用的前面板。本发明还涉及散布于等离子体显示面板用的前面板的电介质保护层上、对于实现等离子体显示面板的放电起始电压的降低有效的电子发射材料。

背景技术

等离子体显示面板（以下称作PDP）一般包含作为图像显示面的前面板和夹持填充有放电气体的放电空间而对向配置的背面板。前面板包含前面透明基板、形成于前面透明基板上的一对放电电极、被覆放电电极的电介质层、以及形成于电介质层表面的电介质保护层。背面板包含背面透明基板、形成于背面透明基板上的寻址电极、被覆背面透明基板和寻址电极且分隔放电空间的隔板、以及配置于隔板表面的由红、绿、蓝的荧光体形成的荧光体层。电介质保护层的材料中利用耐溅射性高、二次电子发射效率较高的MgO。作为改善PDP特性的方法，已知有在前面板的电介质保护层上配置金属氧化物粉末的方法。

专利文献1中作为实现高分辨率、具备高辉度的显示性能且低耗电的PDP的方法，记载了在电介质层上形成由含有Al的MgO所构成的基底膜的同时、以在整个前面分布的方式使由金属氧化物构成的多个结晶粒子凝集而成的凝集粒子多个附着在该基底膜上来构成前面板的电介质保护层的方法。该文献中记载了使用MgO的单晶粒子作为金属氧化物的例子。该文献中由于即便使用由Sr、Ca、Ba、Al等金属的氧化物所得的结晶粒子也可获得相同的效果，因而作为种粒子并不限定于MgO。

专利文献2中作为降低PDP的驱动电压的方法，记载了使用含有选自Ca、Sr、Ba中的一种以上和以及Sb和O的化合物来作为电子发射材料。该文献中，作为使用了上述化合物的PDP的具体例子，记载了用该化合物形成电介质保护层的例子、以及将上述化合物以粒子的形态配置于电介质保护层上的例子。根据该文献，通过使Sb₂O₃或Sb₂O₅或这两者与二次电子发射效率高、但化学不稳定的CaO、SrO、BaO反应，制成含有Ca、Sr、Ba中的任一种以上以及Sb和O的化合物，可以在不降低二次电子发射效率的情况下提高化学稳定性。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2009-129617号公报

专利文献2：日本特开2010-33807号公报。

发明内容

发明要解决的技术问题

本发明的目的在于提供对于降低PDP的放电电压、特别是放电起始电压有用的PDP用的前面板。本发明的目的还在于提供虽含有二次电子发射效率高的CaO或SrO但同时还化学稳定，通过使其散布在PDP前面板的电介质保护层上可降低放电起始电压的电子发射材料。

用于解决技术问题的方法

本发明人发现以摩尔比99.5∶0.5~40∶60的范围含有Mg和Ca和/或Sr的碱土类金属氧化物粉末虽含有CaO或SrO，但同时还以在用作PDP的电子发射材料方面无实用上问题的水平在化学上稳定，且与MgO单体相比，使PDP的放电起始电压降低的效果更大。而且，进一步进行研究的结果发现，通过在上述碱土类金属氧化物粉末的表面形成氟化物区域，化学稳定性进一步提高，从而完成了本发明。

因此，本发明提供一种层叠体，其为含有被覆放电电极的电介质层、和形成于该电介质层上的电介质保护层的层叠体，其特征在于，在电介质保护层表面散布有以摩尔比99.5∶0.5~40∶60的范围的量含有Mg和选自Ca和Sr中的碱土类金属元素的碱土类金属氧化物粉末。

本发明的层叠体的优选方式如下所述。

（1）碱土类金属氧化物粉末以摩尔比99.5∶0.5~80∶20的范围的量含有Mg和上述碱土类金属元素。

（2）碱土类金属氧化物粉末在电介质保护层表面以下述条件散布：投影于电介质保护层表面的碱土类金属氧化物粉末的面积相对于电介质保护层表面的总面积为1~30%的范围。

（3）在碱土类金属氧化物粉末的表面形成有碱土类金属的氟化物区域。

（4）上述氟化物区域以下述方式形成：将碱土类金属氧化物粉末的质量设为100质量份时，作为氟量达到0.01~8.0质量份的范围。

本发明还提供等离子体显示面板用的前面板，其以下述条件含有透明基板和上述本发明的层叠体：该层叠体的放电电极配置于该透明基板之上。

本发明还提供用于配置于含有碱土类金属氧化物粉末的等离子体显示面板的电子发射材料，其中，所述碱土类金属氧化物粉末以摩尔比99.5∶0.5~40∶60的范围的量含有Mg和选自Ca及Sr中的碱土类金属元素。

本发明的电子发射材料的优选方式如下所述。

（1）碱土类金属氧化物粉末以摩尔比99.5∶0.5~80∶20的范围的量含有Mg和上述碱土类金属元素。

（2）在碱土类金属氧化物粉末的表面形成有碱土类金属的氟化物区域。

（3）氟化物区域以下述方式形成：将碱土类金属氧化物粉末的质量设为100质量份时，作为氟量达到0.01~8.0质量份的范围。

本发明人还发现表面形成了氟化物区域的碱土类金属氧化物粉末虽含有CaO或SrO，但同时还以在用作PDP的电子发射材料方面无实用上问题的水平在化学上稳定，且与MgO单体相比，使PDP的放电起始电压降低的效果更大。因而，本发明还提供用于配置于含有碱土类金属氧化物粉末的等离子体显示面板的电子发射材料，所述碱土类金属氧化物粉末为含有选自Ca和Sr中的碱土类金属的碱土类金属氧化物粉末、且在表面形成有碱土类金属的氟化物区域。

发明效果

通过使用本发明的PDP用前面板，PDP的放电起始电压降低。另外，当将本发明的PDP用电子发射材料配置于与PDP的放电空间相接的部位（例如：电解质保护层之上）时，PDP的放电起始电压降低。

附图说明

图1为具备本发明的前面板的一例PDP的截面图。

具体实施方式

本发明中，作为PDP电子发射材料使用的碱土类金属氧化物粉末含有Mg和选自Ca及Sr中的Mg以外的碱土类金属元素。即，碱土类金属氧化物粉末含有MgO和CaO、MgO和SrO、或MgO、CaO和SrO。碱土类金属氧化物粉末的Mg与Mg以外的碱土类金属元素的含量以摩尔比（Mg∶Ca和/或Sr）计为99.5∶0.5~40∶60的范围、优选为99.5∶0.5~60∶40的范围、特别优选为99.5∶0.5~80∶20的范围。

上述碱土类金属氧化物粉末优选平均粒径为10~1000nm的范围、更优选为100~800nm的范围。

上述碱土类金属氧化物粉末优选在表面形成有氟化物区域。氟化物区域优选由CaF₂和/或SrF₂形成。氟化物区域优选以下述方式形成：将碱土类金属氧化物粉末的质量设为100质量份时，作为氟量达到0.01~8.0质量份（更优选0.1~8.0质量份）的范围。氟化物区域可如下形成：将碱土类金属氧化物粉末和氟化铵粉末混合，在300~600℃的温度下对所得粉末混合物加热，使氟化铵粉末热分解，使由氟化铵粉末的热分解而生成的热分解气体与碱土类金属氧化物粉末的表面接触，从而来形成。氟化物区域优选形成在碱土类金属氧化物粉末的整个表面。氟化物区域形成于碱土类金属氧化物粉末的表面可以通过利用碱土类金属氧化物粉末的X射线衍射图案及TEM（透射型电子显微镜）的观察来确认。

上述碱土类金属氧化物粉末可如下制造：将MaO源与CaO源和/或SrO源混合，在1000~1500℃的温度下对所得混合物进行加热，从而制造。MaO源、CaO源及SrO源可以使用氧化物、氢氧化物、碳酸盐（包括碱性碳酸盐）、硝酸盐、草酸盐及醋酸盐。

MgO耐溅射性高，可在PDP中作为电介质保护层的材料来利用。因而，含Mg的碱土类金属氧化物粉末的耐溅射性高，通过使其散布于PDP用前面板的电介质保护层上，可以长期稳定地降低PDP的放电起始电压。另外，含Mg的碱土类金属氧化物粉末与由MgO形成的电介质保护层的亲和性高，可以使其长期稳定地散布于电介质保护层表面。

接着，参照附图说明本发明的PDP用前面板。

图1为具备本发明PDP用前面板的PDP的截面图。图1中，PDP（交流型PDP）包含前面板10和夹持填充有放电气体的放电空间20而对向配置的背面板30。

前面板10包含透明基板11、形成于透明基板上的一对放电电极14a、14b（分别包含透明电极12a、12b和汇流电极13a、13b）、被覆放电电极14a、14b的电介质层15、形成于电介质层上的电介质保护层16、和散布于电介质保护层16表面的所述碱土类金属氧化物粉末17。予以说明，在直流型PDP的情形中，一对放电电极在透明基板11上分别形成于前面板和背面板。

作为透明基板11的例子可举出玻璃基板。作为透明电极12a、12b的材料的例子，可举出ITO、ZnO及SnO₂。作为汇流电极13a、13b的材料的例子，可举出Ag、Al、Cr/Cu/Cr的层叠金属材料。

电介质层15通常由低熔点玻璃组合物形成。作为低熔点玻璃组合物的例子，可举出以氧化锌、三氧化二硼和二氧化硅的混合物（ZnO-B₂O₃-SiO₂）为主成分的玻璃组合物，以氧化铅、三氧化二硼和二氧化硅的混合物（PbO-B₂O₃-SiO₂）为主成分的玻璃组合物，以氧化铅、三氧化二硼、二氧化硅和氧化铝的混合物（PbO-B₂O₃-SiO₂-Al₂O₃）为主成分的玻璃组合物，以氧化铅、氧化锌、三氧化二硼和二氧化硅的混合物（PbO-ZnO-B₂O₃-SiO₂）为主成分的玻璃组合物。电介质层15的厚度优选为10~50μm的范围。

电介质保护层16优选由MgO形成。包含MgO的电介质保护层优选利用电子束蒸镀法成形。电介质保护层16的厚度优选为0.01~50μm的范围、特别优选为0.1~10μm的范围。

碱土类金属氧化物粉末17可以以一次粒子的形态散布于电介质保护层16的表面，还可以作为凝集粒子（二次粒子）散布。作为凝集粒子存在时，凝集粒子的平均大小优选为0.5~10μm的范围。散布于电介质保护层16的表面的碱土类金属氧化物粉末的量优选为使碱土类金属氧化物粉末在电介质保护层表面所占的占有率、即投影于电介质保护层表面的碱土类金属氧化物粉末的面积相对于电介质保护层表面的总面积所占的比例达到1~30%的范围的量、更优选为达到5~15%的范围的量。碱土类金属氧化物粉末的投影面积可以由利用扫描型电子显微镜获得的电介质保护层的放大照片来测定。

作为使碱土类金属氧化物粉末17散布于电介质保护层16表面的方法，可以使用将碱土类金属氧化物粉末的分散液涂布在电介质保护层上后进行干燥的方法。作为分散液的溶剂的例子，可以举出乙醇、丙醇、异丙醇、丁醇、异丁醇、仲丁醇、叔丁醇等醇类，丙酮、甲乙酮、甲基丙基酮等酮类。

放电空间20中填充有放电气体。作为放电气体，通常使用Xe和Ne的混合气体。

背面板30包含透明基板31、形成于透明基板31上的寻址电极32、被覆寻址电极32的电介质层33、分隔放电空间20的隔板34、形成于电介质层33和隔板34的表面的荧光体层35。

作为透明基板31的例子可举出玻璃基板。作为寻址电极32的材料的例子，可举出Ag、Al、Cr/Cu/Cr的层叠金属材料。电介质层33及隔板34通常由低熔点玻璃组合物构成。低熔点玻璃组合物的例子与上述相同。荧光体层35通常由红色发光荧光体、绿色发光荧光体及蓝色发光荧光体中的任一种荧光体形成。

予以说明，还可代替含有Mg以及Ca和/或Sr的碱土类金属氧化物粉末而使用表面形成有氟化物区域的CaO粉末、SrO粉末或CaO与SrO的复合体粉末。

实施例

[实施例1]

在纯水200g中投入醋酸锶粉末（纯度：99质量%）2.69g，进行搅拌使其溶解，制备醋酸锶水溶液。在所得醋酸锶水溶液中投入氧化镁粉末（纯度：99.98质量%）50g，搅拌混合15分钟获得浆料。使用喷雾干燥器在145℃的温度下将所得浆料喷雾干燥，获得干燥粉末。将所得干燥粉末投入到氧化铝坩埚中盖上盖子，在1200℃的温度下烧成3小时，获得以摩尔比为99∶1的比例含有Mg和Sr的、由式（Mg_0.99, Sr_0.01）O所示的碱土类金属氧化物粉末。对所得碱土类金属氧化物粉末测定平均粒径和恒温恒湿环境下的质量增加率。另外，制作使碱土类金属氧化物粉末散布于电介质保护层表面的PDP用前面板，测定碱土类金属氧化物粉末在前面板的电介质保护层表面所占的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。予以说明，碱土类金属氧化物粉末的平均粒径、恒温恒湿环境下的质量增加率以及PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压如下测定。

[平均粒径的测定方法]

利用BET法测定试样粉末的比表面积，由所得比表面积计算比表面积径，将其作为平均粒径。比表面积径的计算方法记载于《粉体-理論と応用-》（丸善株式会社、昭和54年5月12日发行）的p. 453-454。

[恒温恒湿环境下的质量增加率的测定方法]

（1）在1000℃的温度下对试样粉末（质量：W₁）加热1小时，测定加热后的质量（W₂）。

（2）将另外准备的试样粉末静置在温度调整为30℃、相对湿度调整为80%的恒温恒湿槽内14小时，测定静置后的质量（W₃）。接着，在1000℃的温度下对静置于恒温恒湿槽后的试样粉末加热1小时，测定加热后的质量（W₄）。

（3）利用下式计算恒温恒湿环境下的质量增加率。

质量增加率（质量%）=100×（W₃- W₄）/ W₃-100×（W₁- W₂）/ W₁

［PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率及放电起始电压］

（1）试样粉末分散液的制备

将试样粉末静置于调整至温度30℃、相对湿度80%的恒温恒湿槽中14小时。将静置后的试样粉末分散于异丙醇中，制备浓度1质量%的碱土类金属氧化物分散液。

（2）PDP用前面板的制作

在硼硅酸玻璃基板（纵横的长度50mm、厚度0.55mm）上形成10组相互以0.1mm间隔平行地配置的一对放电电极，接着在该放电电极的表面涂布低熔点玻璃组合物，形成电介质层（厚度：10μm）后，利用电子束蒸镀法在电介质层上形成氧化镁制电介质保护层（厚度：1μm）。制作包含玻璃基板、形成于玻璃基板上的一对放电电极、被覆放电电极的电介质层、以及形成于电介质层表面的电介质保护层的层叠体。接着，在层叠体的电介质保护层上利用喷枪将上述（1）中制备的试样粉末分散液喷雾后，放入箱形电炉中在500℃的温度下烧成30分钟，从而使试样粉末散布于电介质保护层上，制作PDP用前面板。

（3）碱土类金属氧化物粉末的占有率的测定

拍摄上述（2）中制作的PDP用前面板的电介质保护层表面的放大照片，测定拍摄于放大照片上的整个电介质保护层的面积（S₁）和碱土类金属氧化物粉末的投影面积（S₂），由下式进行计算。

碱土类金属氧化物粉末的占有率（%）＝100×S₂/S₁

（4）放电起始电压的测定

将上述（2）中制作的PDP用前面板设置在不锈钢制真空室内，在将真空室内减压至10Pa以下后，密封Ne气95体积%＋Xe气5体积%的混合气体，达到60kPa的压力。接着，对PDP用前面板的电极施加电压，提高该施加电压，利用示波器读取放电部全部点亮时的电压值，将其作为放电起始电压。

［实施例2］

混合实施例1中所得的碱土类金属氧化物粉末［（Mg_0.99，Sr_0.01）O粉末］10g和氟化铵粉末（纯度：99.99质量%）0.05g，将所得粉末混合物投入到氧化铝坩埚中盖上盖子，在500℃的温度下加热处理3小时。对加热处理后的碱土类金属氧化物粉末测定X射线衍射图案时，检测到了SrF₂的衍射峰，同时通过利用TEM进行观察，确认在该粉末的表面形成有SrF₂区域。对于加热处理后的碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。另外利用下述方法对加热处理后的碱土类金属氧化物粉末测定氟含量。将其结果示于表1。

［氟含量的测定方法］

利用镧-茜素氨羧络合剂吸光光度法进行测定。

［实施例3］

除了使氟化铵粉末的量变为0.1g以外，与实施例2同样地对碱土类金属氧化物粉末进行加热处理。对加热处理后的碱土类金属氧化物粉末测定X射线衍射图案时，检测到了SrF₂的衍射峰，同时通过利用TEM进行观察，确认在该粉末的表面形成有SrF₂区域。对于加热处理后的碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径、氟含量和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［实施例4］

除了使醋酸锶粉末的量变为14.02g以外，与实施例1同样地获得以摩尔比为95∶5的比例含有Mg和Sr的、由式（Mg_0.95, Sr_0.05）O所示的碱土类金属氧化物粉末。对于所得碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［实施例5］

混合实施例4中所得的碱土类金属氧化物粉末［（Mg_0.95，Sr_0.05）O粉末］10g和氟化铵粉末0.44g，将所得粉末混合物投入到氧化铝坩埚中盖上盖子，在500℃的温度下加热处理3小时。对加热处理后的（Mg_0.95，Sr_0.05）O粉末测定X射线衍射图案时，检测到了SrF₂的衍射峰，同时通过利用TEM进行观察，确认在该粉末的表面形成有SrF₂区域。对于加热处理后的碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径、氟含量和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［实施例6］

在纯水200g中投入醋酸钙粉末（纯度：99质量%）6.98g和醋酸锶粉末（纯度：99质量%）8.50g进行搅拌使其溶解，制备醋酸钙和醋酸锶的混合水溶液。在所得混合水溶液中投入氧化镁粉末（纯度：99.98质量%）50g，搅拌15分钟获得浆料。使用喷雾干燥器在145℃的温度下将所得浆料喷雾干燥，获得干燥粉末。将所得干燥粉末投入到烧成容器中盖上盖子，在1200℃的温度下烧成3小时，获得以摩尔比为94∶3∶3的比例含有Mg、Ca和Sr的、由式（Mg_0.94，Ca_0.03，Sr_0.03）O所示的碱土类金属氧化物粉末。对于所得碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［实施例7］

混合实施例6中所得的碱土类金属氧化物粉末［（Mg_0.94，Ca_0.03，Sr_0.03）O粉末］10g和氟化铵粉末0.5g，将所得粉末混合物投入到氧化铝坩埚中盖上盖子，在500℃的温度下加热处理3小时。对加热处理后的碱土类金属氧化物粉末测定X射线衍射图案时，检测到了CaF₂和SrF₂的衍射峰，同时通过利用TEM进行观察，确认在该粉末的表面形成有CaF₂区域和SrF₂区域。对于加热处理后的碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径、氟含量和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［实施例8］

除了使氟化铵粉末的量变为1.0g以外，与实施例7同样地进行加热处理。对加热处理后的碱土类金属氧化物粉末测定X射线衍射图案时，检测到了CaF₂和SrF₂的衍射峰，同时通过利用TEM进行观察，确认在该粉末的表面形成有CaF₂区域和SrF₂区域。对于加热处理后的碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径、氟含量和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［实施例9］

在纯水200g中投入醋酸钙粉末（纯度：99质量%）2.21g进行搅拌使其溶解，制备醋酸钙水溶液。在所得醋酸钙水溶液中投入氧化镁粉末（纯度：99.98质量%）50g，搅拌15分钟获得浆料。使用喷雾干燥器在145℃的温度下将所得浆料喷雾干燥，获得干燥粉末。将所得干燥粉末投入到氧化铝坩埚中盖上盖子，在1200℃的温度下烧成3小时，获得以摩尔比为99∶1的比例含有Mg和Ca的、由式（Mg_0.99，Ca_0.01）O所示的碱土类金属氧化物粉末。将所得碱土类金属氧化物粉末10g和氟化铵粉末0.10g混合，将所得粉末混合物投入到氧化铝坩埚中盖上盖子，在500℃的温度下加热处理3小时。对加热处理后的碱土类金属氧化物粉末测定X射线衍射图案时，检测到了CaF₂的衍射峰，同时通过利用TEM进行观察，确认在该粉末的表面形成有CaF₂区域。对于加热处理后的碱土类金属氧化物粉末，利用上述方法测定平均粒径、氟含量和恒温恒湿环境下的质量增加率，以及在电介质保护层上散布有该粉末的PDP用前面板的碱土类金属氧化物粉末的占有率和放电起始电压。将其结果示于表1。

［比较例1］

制作在电介质保护层上散布有氧化镁粉末（平均粒径：190nm）的PDP用前面板，利用上述方法测定氧化镁粉末的占有率及其放电起始电压。将其结果示于表1。

表1

由表1的结果可知，在电介质保护层上散布有本发明的碱土类金属氧化物粉末的PDP用前面板（实施例1～9）的放电起始电压显示低于在电介质保护层上散布有MgO粉末的PDP用前面板（比较例1）的值。

符号说明

10　前面板

11　透明基板

12a、12b　透明电极

13a、13b　汇流电极

14a、14b　放电电极

15　电介质层

16　电介质保护层

17　碱土类金属氧化物粉末

20　放电空间

30　背面板

31　透明基板

32　寻址电极

33　电介质层

34　隔板

35　荧光体层

Claims (11)

1.一种层叠体，其为含有被覆放电电极的电介质层和形成于该电介质层上的电介质保护层的层叠体，其特征在于，在电介质保护层表面散布有以摩尔比99.5∶0.5～40∶60的范围的量含有Mg和选自Ca及Sr中的碱土类金属元素的碱土类金属氧化物粉末。

2.根据权利要求1所述的层叠体，其中碱土类金属氧化物粉末以摩尔比99.5∶0.5～80∶20的范围的量含有Mg和上述碱土类金属元素。

3.根据权利要求1所述的层叠体，其中碱土类金属氧化物粉末以下述条件散布在电介质保护层表面：投影于电介质保护层表面的碱土类金属氧化物粉末的面积相对于电介质保护层表面的总面积为1~30%的范围。

4.根据权利要求1所述的层叠体，其中在碱土类金属氧化物粉末的表面形成有碱土类金属的氟化物区域。

5.根据权利要求4所述的层叠体，其中氟化物区域以下述方式形成：将碱土类金属氧化物粉末的质量设为100质量份时，作为氟量达到0.01～8.0质量份的范围。

6.一种等离子体显示面板用的前面板，其以下述条件含有透明基板和权利要求1所述的层叠体：该层叠体的放电电极配置于该透明基板之上。

7.一种用于配置于含有碱土类金属氧化物粉末的等离子体显示面板的电子发射材料，所述碱土类金属氧化物粉末以摩尔比99.5∶0.5～40∶60的范围的量含有Mg和选自Ca及Sr中的碱土类金属元素。

8.根据权利要求7所述的电子发射材料，其中碱土类金属氧化物粉末以摩尔比99.5∶0.5～80∶20的范围的量含有Mg和上述碱土类金属元素。

9.根据权利要求7所述的电子发射材料，在碱土类金属氧化物粉末的表面形成有碱土类金属的氟化物区域。

10.根据权利要求9所述的电子发射材料，氟化物区域以下述方式形成：将碱土类金属氧化物粉末的质量设为100质量份时，作为氟量达到0.01～8.0质量份的范围。

11.一种用于配置于含有碱土类金属氧化物粉末的等离子体显示面板的电子发射材料，所述碱土类金属氧化物粉末为含有选自Ca及Sr中的碱土类金属的碱土类金属氧化物粉末，且在表面上形成有碱土类金属的氟化物区域。

Images