CN102386982B - 一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置及方法，所述装置包括信号源、功率计、测试设备和输出模块，所述方法包括：信号源发射上行测试信号；功率计根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗；测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗；输出模块将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述移动终端生产射频测试系统的上行链路线损输出。该计量装置及方法避免了由金机金板自身误差带来的隐患，采用稳定的信号源，精度更高的功率计测试信号源的内部损耗，使系统误差计量更加准确，进一步提高了移动终端生产射频测试系统的精度、稳定性及可靠性。

Description

一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置和方法

技术领域

本发明涉及移动终端生产测试领域，具体涉及一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置和方法。

背景技术

随着无线通信发达越来越快，对移动终端射频性能的要求也越来越高，除了在产品研发阶段各器件的匹配调整、硬件线路的最优化调节之外，最主要的是在移动终端生产测试时通过一个校调工位来保证移动终端射频性能。生产测试会对校调工位的射频做一个综合测试，校调工位对射频器件的一致性、贴片、温度等方面导致的差异做补偿，使射频性能达到通信行业的标准。校调工位和综合测试是移动终端生产射频测试系统最关键的组成部分，如图1所示，移动终端生产测试系统包括测试设备、待测件、PC机及连接线缆，测试设备一般用综测仪，有的厂家也用信号源加频谱仪的方式，连接线缆有串口数据通信线缆，仪表控制通信线缆(GPIB总线、PXI总线或网线)及射频信号通讯线缆三种。

测试系统可靠性的关键因素有两方面，一方面是芯片的校调及测试算法，另一方面是测试系统的系统误差。芯片校调及测试算法一般都是根据芯片的规则及移动终端业界的测量方面而定，系统误差在测试系统中以线损的方式出现，在通讯通路上区分为上行链路线损和下行链路线损两部分。

目前的生产测试系统误差计量一般将一个特制的主板或终端(以下称为金机金板)作为基准来计量测试系统的线损，该金机金板的最大功率是预先测量出来的，系统误差一般通过线缆厂家的推荐值估算，测量设备(包括综测仪或频谱仪)可以测出金机金板发出信号的功率与金板设定的发射信号功率的差值，即系统的上行链路线损，作为测试系统的测试误差，现有的方法将测试系统的下行链路线损设置为与该上行链路线损一致。

在实际应用中上述计量系统误差方法表现出来的缺点是：

1.金机金板在制作时本身就存在一定的制作误差问题，系统线损采用的是一个估算值，并不准确；

2.金机金板本身在测量时，每次发射信号的功率都会存在一点差别，有波动，一致性不好；

3.测量设备本身有线路衰减，且实际情况中测试系统的上下行链路线损是不一致的，而现有的方法为了方便将两者设置为一致，忽略了上下行链路线损的不一致性。

综上，现有的移动终端生产射频测试系统误差的计量方法在系统精度上不准确，由于金机金板发射信号时就存在误差，使得测量设备不能准确地测出射频线路衰减以及测量设备本身的内部损耗，最终无法准确地计量测试系统的误差，面对目前市场上对移动终端射频性能越来越高的要求，这会影响产品的质量及可靠性。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置及方法，提高移动终端生产射频测试系统的精度、稳定性及可靠性。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置，包括测试设备、输出模块，其特征在于：还包括信号源和功率计，其中，

所述信号源用于发射上行测试信号；

所述功率计与所述信号源相连，用于根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗；

所述测试设备与所述信号源相连，用于测量所述上行测试信号的线路损耗；

所述输出模块分别与所述功率计和所述测试设备相连，用于读取所述功率计的测量值和所述测试设备的测量值，将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述测试系统的上行链路线损输出。

进一步地，所述上行测试信号包括连续波(CW)脉冲信号。

进一步地，所述功率计用于测量信号源的内部损耗，包括：

所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

进一步地，所述测试设备用于测量所述上行测试信号的线路损耗，包括：

所述测试设备获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发射的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

进一步地，所述测试设备还包括发射模块，用于发射下行测试信号；

所述功率计还与所述测试设备相连，用于测量所述下行测试信号的线路损耗；

所述输出模块，还用于读取所述功率计的测量值，将所述功率计测量得到的所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出。

进一步地，所述下行测试信号包括连续波(CW)脉冲信号。

进一步地，所述功率计用于测量所述下行测试信号的线路损耗，包括：

所述功率计获取所述测试设备设定的该下行测试信号功率为F，测量所述测试设备发射的该下行测试信号的实际功率值为G，将F-G作为所述下行测试信号的线路损耗。

进一步地，所述功率计与所述信号源相连的方式为直连，所述测试设备与所述信号源通过射频线相连。

为了解决上述技术问题，本发明还提供了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量方法，包括：

信号源发射上行测试信号；

功率计根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗；

测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗；

将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述移动终端生产射频测试系统的上行链路线损输出。

进一步地，所述上行测试信号包括连续波(CW)脉冲信号。

进一步地，所述功率计测量信号源的内部损耗的方式包括：

所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

进一步地，所述测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗的方式包括：

所述测试设备获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发射的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

进一步地，所述方法还包括：

所述测试设备发射下行测试信号；

所述功率计测量所述下行测试信号的线路损耗，将所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出。

进一步地，所述下行测试信号包括连续波(CW)脉冲信号。

进一步地，所述功率计测量所述下行测试信号的线路损耗的方式包括：

所述功率计获取所述测试设备设定的该下行测试信号功率为F，测量所述测试设备发射的该下行测试信号的实际功率值为G，为将F-G作为所述下行测试信号的线路损耗。

与现有技术相比，本发明提供的移动终端生产射频测试系统误差的计量装置及方法避免了由金机金板自身误差带来的隐患，采用稳定的信号源，提高了移动终端生产射频测试系统的稳定性及可靠性，利用精度更高的功率计测试信号源的内部损耗，提高了移动终端生产射频测试系统的精度；并且还能够计量测试系统的下行链路线损，使系统误差计量更加准确，进一步提高了移动终端生产射频测试系统的精度。

附图说明

图1是现有的移动终端生产射频测试系统结构图；

图2是实施例中移动终端生产射频测试系统误差的计量装置结构图；

图3是实施例中移动终端生产射频测试系统误差的上行链路线损计量流程图；

图4是实施例中移动终端生产射频测试系统误差的下行链路线损计量流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

实施例：

如图2所示，本实施例提供了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置，除了测试设备、输出模块(例如PC机)之外，还包括信号源和功率计，其中，

所述信号源用于发射上行测试信号；

其中，信号源是一个信号发生器，其发射的上行测试信号可以为连续波(CW)脉冲信号，该脉冲信号是稳定的，即每次信号的发射功率、参数等都能保持一致，但并不排除其他稳定的测试信号。本实施例中用稳定的信号源代替现有技术中相对不稳定的金机金板的发射信号，提高了计量装置的稳定性及可靠性。

所述功率计与信号源相连，用于根据所述上行测试信号测量信号源的内部损耗；

其中，作为一种优选的方式，所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

此外，所述功率计还与所述测试设备相连，用于测量下行测试信号的线路损耗。

所述测试设备与信号源相连，用于测量所述上行测试信号的线路损耗；

其中，所述测试设备可以采用综测仪或“频谱仪+信号源”的方式，作为一种优选的方式，本实施例以测试设备是综测仪为例，该综测仪获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发出的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

此外，如图2所示，本实施例中的测试设备还包括发射模块，以“频谱仪+信号源”的方式为例，发射模块即为信号源，用于发射下行测试信号；

在本实施例中，为了提高计量装置的稳定性及可靠性，该下行测试信号与上行测试信号一样采用连续波(CW)脉冲信号，但并不排除其他稳定简单的测试信号。

其中，所述功率计用于测量所述下行测试信号的线路损耗，包括：

所述功率计获取所述测试设备设定的该下行测试信号功率为F，测量所述测试设备发射的该下行测试信号的实际功率值为G，将F-G作为所述下行测试信号的线路损耗。

所述输出模块(如PC机)分别与功率计和测试设备相连，用于读取功率计的测量值和测试设备的测量值，将所述测试设备测量得到的上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的信号源的内部损耗的差值作为所述测试系统的上行链路线损输出，即(A-D)-(A-B)＝B-D；并将功率计测量得到的所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出，即F-G。

其中，所述上行链路线损即为上行测试信号在射频线上的线路损耗与测试设备本身内部的损耗之和，实际上，这也是现有的测试系统所要测量的上行链路线损的含义，但是相对于现有技术，本实施例还考虑到了信号源发射信号本身存在的误差，从而提高了移动终端生产射频测试系统的精度。

此外，所述功率计与所述信号源相连的方式为直连，所述测试设备与所述信号源通过射频线相连。

此外，如图3所示，本实施例还提供了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量方法，用来计量上行链路线损，包括以下步骤：

S101：信号源发射上行测试信号；

在本实施例中，上行测试信号可以采用连续波(CW)脉冲信号，但并不排除其他稳定简单的测试信号。本实施例用稳定的信号源代替相对不稳定的金机金板的发射信号，每次信号的发射功率、参数等都是一样的，提高了计量装置的稳定性及可靠性。

S102：功率计测量信号源的内部损耗；

其中，采用精度相对较高的功率计作为基准来计量测试系统的线损，所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

S103：测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗；

其中，测试设备通常采用综测仪或频谱仪+信号源的方式，本实施例以测试设备是综测仪为例，该综测仪获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发出的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

S104：将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述测试系统的上行链路线损输出。

至此，该测试系统误差的上行链路线损计量流程结束。

此外，本实施例中的测试设备还包括发射模块，可以发射下行测试信号，如图4所示，本实施例还提供了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量方法，用于计量下行链路线损，包括以下步骤：

S201：所述测试设备发射下行测试信号；

在本实施例中，为了提高了计量装置的稳定性及可靠性，该下行测试信号与上行测试信号一样采用连续波(CW)脉冲信号，但并不排除其他稳定简单的测试信号。

S202：功率计测量所述下行测试信号的线路损耗；

其中，所述功率计获取所述测试设备设定的该下行测试信号功率为F，测量所述测试设备发射的该下行测试信号的实际功率值为G，将F-G作为所述下行测试信号的线路损耗。

S203：将所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出。

至此，该测试系统误差的下行链路线损计量流程结束。

从上述实施例可以看出，相对于现有技术，上述实施例中的本发明提供的移动终端生产射频测试系统误差的计量装置及方法避免了由金机金板自身误差带来的隐患，用稳定的信号源代替现有技术中相对不稳定的金机金板的发射信号，提高了移动终端生产射频测试系统的稳定性及可靠性，利用精度更高的功率计测试信号源的内部损耗，使得测量设备能够准确地测出射频线路衰减以及测量设备本身的内部损耗，最终无法准确地计量测试系统的误差，提高了移动终端生产射频测试系统的精度；并且还能够计量测试系统的下行链路线损，使系统误差计量更加准确，克服了现有技术中忽略上下行链路线损的不一致性的缺陷，进一步提高了移动终端生产射频测试系统的精度。

本领域普通技术人员可以理解上述方法中的全部或部分步骤可通过程序来指令相关硬件完成，所述程序可以存储于计算机可读存储介质中，如只读存储器、磁盘或光盘等。可选地，上述实施例的全部或部分步骤也可以使用一个或多个集成电路来实现。相应地，上述实施例中的各模块/单元可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。本发明不限制于任何特定形式的硬件和软件的结合。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。根据本发明的发明内容，还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置，包括测试设备、输出模块，其特征在于：还包括信号源和功率计，其中，

所述信号源用于发射上行测试信号；

所述功率计与所述信号源相连，用于根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗；

所述测试设备与所述信号源相连，用于测量所述上行测试信号的线路损耗；

所述输出模块分别与所述功率计和所述测试设备相连，用于读取所述功率计的测量值和所述测试设备的测量值，将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述测试系统的上行链路线损输出；

所述功率计与所述信号源相连的方式为直连，所述测试设备与所述信号源通过射频线相连。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于：

所述上行测试信号包括连续波CW脉冲信号。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于：

所述功率计用于测量信号源的内部损耗，包括：

所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于：

所述测试设备用于测量所述上行测试信号的线路损耗，包括：

所述测试设备获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发射的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于：

所述测试设备还包括发射模块，用于发射下行测试信号；

所述功率计还与所述测试设备相连，用于测量所述下行测试信号的线路损耗；

所述输出模块，还用于读取所述功率计的测量值，将所述功率计测量得到的所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于：

所述下行测试信号包括连续波CW脉冲信号。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于：

所述功率计用于测量所述下行测试信号的线路损耗，包括：

所述功率计获取所述测试设备设定的该下行测试信号功率为F，测量所述测试设备发射的该下行测试信号的实际功率值为G，将F-G作为所述下行测试信号的线路损耗。

8.一种移动终端生产射频测试系统误差的计量方法，包括：

信号源发射上行测试信号；

功率计根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗；

测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗；

将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述移动终端生产射频测试系统的上行链路线损输出。

9.如权利要求8所述的计量方法，其特征在于：

所述上行测试信号包括连续波CW脉冲信号。

10.如权利要求8所述的计量方法，其特征在于：

所述功率计测量信号源的内部损耗的方式包括：

所述功率计获取所述信号源设定的该上行测试信号功率为A，以及，测量所述信号源发射的该上行测试信号的实际功率值为B，将A-B作为所述信号源的内部损耗。

11.如权利要求8所述的计量方法，其特征在于：

所述测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗的方式包括：

所述测试设备获取所述信号源设定的所述上行测试信号的功率为A，以及，测量所述信号源发射的所述上行测试信号的实际功率值为D，将A-D作为所述上行测试信号的线路损耗。

12.如权利要求8所述的计量方法，其特征在于，

所述方法还包括：

所述测试设备发射下行测试信号；

所述功率计测量所述下行测试信号的线路损耗，将所述下行测试信号的线路损耗作为所述测试系统的下行链路线损输出。

13.如权利要求12所述的计量方法，其特征在于：

所述下行测试信号包括连续波CW脉冲信号。

14.如权利要求13所述的计量方法，其特征在于：

所述功率计测量所述下行测试信号的线路损耗的方式包括：

所述功率计获取所述测试设备设定的该下行测试信号功率为F，测量所述测试设备发射的该下行测试信号的实际功率值为G，为将F-G作为所述下行测试信号的线路损耗。