CN102169150B - 基于矩阵开关的并行测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公布了基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。本发明将串行测试系统中的n次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试系统，具体是指一种基于矩阵开关的并行测试系统。
背景技术
在现代电子、电器的制造、测试等行业，以及在电器制造、科研等领域中，都需要测试各种元件或模块的工作性能。对于一个模块的多个测试项目，往往是在上一次测试完成之后换装再测试，换装的时间较长，而且，对于多个被测试模块而言，总是在上一个模块测试完成后才能测试，即在同一时间段内，只有一个测试仪器是处于工作状态，如何减少换装的次数以及提高测试仪器的使用率都是一项难题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于矩阵开关的并行测试系统，避免串行测试中过程，始终有测试设备处于停工状态，以便提高设备利用率。
本发明的目的通过下述技术方案实现：
本发明基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。将多个测试模块连接在矩阵开关上，通过矩阵开关实现被测件的测试项目的切换，而不需要重新连接测试线路，通过信号处理器来实现矩阵开关的各条通路的导通状态的切换，从而实现其测试过程以及测试项目切换的自动化，通过连接在信号处理器上的输出设备，实时监测被测件的检测状态以及测试结果。
所述矩阵开关包括由n个输入模块和n个输出模块构成n*n的矩阵，n为≥2的自然数。根据需要，可以选择矩阵开关的大小，即通道数的多少，实现n*n的开关矩阵。
所述输入模块具有n个输入接口和n个输出接口，输出模块具有n个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的n个输出接口分别于n个输出模块的输入接口连接。由一个输入模块和一个输出模块构成一个单元组，该单元组具有n个输入接口和一个输出接口。
一个输入模块包括n个单刀双掷开关和2个单刀n掷开关，2个单刀n掷开关的固定端口对接，n个单刀双掷开关与一个单刀n掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀n掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，n个单刀双掷开关作为输入模块的n个输入口。
一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀n掷开关、以及与该单刀n掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀n掷开关的n个选择端口作为输出模块的输入口。
单刀双掷开关的两种状态：COM-NC连通、COM-NO连通两种状态之间互锁，只有一种连通状态存在；每一个单元组中的n个单刀双掷开关在同一时间段内互锁，即只有一个单刀双掷开关处于COM-NO连通状态，其余的为COM-NC连通状态，输入模块和输出模块之间采用单刀n掷开关连接，对同一个输入，只有一路是导通的，对于同一个输出也只有一路是导通的。
所述n是4或6。根据不同的测试环境和测试过程，选择不同的矩阵大小，通过改变n值来实现对不同的测试过程的一次换装测试。
所述的信号处理器上设置有用于切换测试线路的拨码开关。进一步讲，通过拨码开关实现对矩阵开关的切换，以实现被测件与测试模块连接通道的切换，从而达到自动化测试的目的。
本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
1本发明基于矩阵开关的并行测试系统，将串行测试系统中的n次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；
2本发明基于矩阵开关的并行测试系统，通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；
3本发明基于矩阵开关的并行测试系统，可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。
附图说明
图1为本发明硬件连接示意图；
图2为本发明矩阵开关电路图；
图3为本发明矩阵开关控制电路图；
图4为本发明实施例与串行测试比较示意图。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步的详细说明，但本发明的实施方式不限于此。
实施例
如图1至3所示，本发明基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备和用于切换测试线路的拨码开关。所述矩阵开关包括由n个输入模块和n个输出模块构成n*n的矩阵，n为≥2的自然数。本实施例中n=4。.输入模块具有4个输入接口和4个输出接口，输出模块具有4个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的4个输出接口分别于4个输出模块的输入接口连接。由一个输入模块和一个输出模块构成一个单元组，该单元组具有4个输入接口和一个输出接口；一个输入模块包括4个单刀双掷开关和2个单刀4掷开关，2个单刀4掷开关的固定端口对接，4个单刀双掷开关与一个单刀4掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀4掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，4个单刀双掷开关作为输入模块的4个输入口；一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀4掷开关、以及与该单刀4掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀4掷开关的4个选择端口作为输出模块的输入口。
单刀双掷开关的两种状态：COM-NC连通、COM-NO连通两种状态之间互锁，只有一种连通状态存在；每一个单元组中的n个单刀双掷开关在同一时间段内互锁，即只有一个单刀双掷开关处于COM-NO连通状态，其余的为COM-NC连通状态，输入模块和输出模块之间采用单刀4掷开关连接，对同一个输入，只有一路是导通的，对于同一个输出也只有一路是导通的。通过拨码开关实现对矩阵开关的切换，以实现被测件与测试模块连接通道的切换，从而达到自动化测试的目的。将多个测试模块连接在矩阵开关上，通过矩阵开关实现被测件的测试项目的切换，而不需要重新连接测试线路，通过信号处理器来实现矩阵开关的各条通路的导通状态的切换，从而实现其测试过程以及测试项目切换的自动化，通过连接在信号处理器上的输出设备，实时监测被测件的检测状态以及测试结果。
现在，以最基本的TD和NW测试为例，说明本实用新型的优越性：TD测试时间5分钟，NW测试时间3分钟，换装时间0.5分钟。
如图4所示，对5个模块的串行测试，测试耗时42.5分钟；采用并行测试，测试耗时22.5分钟，节约时间为20分钟。
如上所述，便可以很好地实现本发明。
Claims (4)
1.基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备；所述的矩阵开关由n个输入模块和n个输出模块构成n*n的矩阵，n为≥2的自然数；所述输入模块具有n个输入接口和n个输出接口，输出模块具有n个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的n个输出接口分别于n个输出模块的输入接口连接；一个输入模块包括n个单刀双掷开关和2个单刀n掷开关，2个单刀n掷开关的固定端口对接，n个单刀双掷开关与一个单刀n掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀n掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，n个单刀双掷开关作为输入模块的n个输入口。
2.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀n掷开关、以及与该单刀n掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀n掷开关的n个选择端口作为输出模块的输入口。
3.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：所述n是4或6。
4.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：所述的信号处理器上设置有用于切换测试线路的拨码开关。
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