CN201935972U - 基于矩阵开关的并行测试系统 - Google Patents

基于矩阵开关的并行测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN201935972U
CN201935972U CN2010206878106U CN201020687810U CN201935972U CN 201935972 U CN201935972 U CN 201935972U CN 2010206878106 U CN2010206878106 U CN 2010206878106U CN 201020687810 U CN201020687810 U CN 201020687810U CN 201935972 U CN201935972 U CN 201935972U
Authority
CN
China
Prior art keywords
switch
matrix switch
test system
pole
module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
CN2010206878106U
Other languages
English (en)
Inventor
龚祖杰
贺达
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTS Technology Chengdu Co Ltd
Original Assignee
NTS Technology Chengdu Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NTS Technology Chengdu Co Ltd filed Critical NTS Technology Chengdu Co Ltd
Priority to CN2010206878106U priority Critical patent/CN201935972U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN201935972U publication Critical patent/CN201935972U/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

本实用新型公布了基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。本实用新型将串行测试系统中的n次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。

Description

基于矩阵开关的并行测试系统
技术领域
本实用新型涉及一种测试系统，具体是指一种基于矩阵开关的并行测试系统。
背景技术
在现代电子、电器的制造、测试等行业，以及在电器制造、科研等领域中，都需要测试各种元件或模块的工作性能。对于一个模块的多个测试项目，往往是在上一次测试完成之后换装再测试，换装的时间较长，而且，对于多个被测试模块而言，总是在上一个模块测试完成后才能测试，即在同一时间段内，只有一个测试仪器是处于工作状态，如何减少换装的次数以及提高测试仪器的使用率都是一项难题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种基于矩阵开关的并行测试系统，避免串行测试中过程，始终有测试设备处于停工状态，以便提高设备利用率。
本实用新型的目的通过下述技术方案实现：
本实用新型基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。将多个测试模块连接在矩阵开关上，通过矩阵开关实现被测件的测试项目的切换，而不需要重新连接测试线路，通过信号处理器来实现矩阵开关的各条通路的导通状态的切换，从而实现其测试过程以及测试项目切换的自动化，通过连接在信号处理器上的输出设备，实时监测被测件的检测状态以及测试结果。
所述矩阵开关包括由n个输入模块和n个输出模块构成n*n的矩阵，n为≥2的自然数。根据需要，可以选择矩阵开关的大小，即通道数的多少，实现n*n的开关矩阵。
所述输入模块具有n个输入接口和n个输出接口，输出模块具有n个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的n个输出接口分别于n个输出模块的输入接口连接。由一个输入模块和一个输出模块构成一个单元组，该单元组具有n个输入接口和一个输出接口。
一个输入模块包括n个单刀双掷开关和2个单刀n掷开关，2个单刀n掷开关的固定端口对接，n个单刀双掷开关与一个单刀n掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀n掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，n个单刀双掷开关作为输入模块的n个输入口。
一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀n掷开关、以及与该单刀n掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀n掷开关的n个选择端口作为输出模块的输入口。
单刀双掷开关的两种状态：COM-NC连通、COM-NO连通两种状态之间互锁，只有一种连通状态存在；每一个单元组中的n个单刀双掷开关在同一时间段内互锁，即只有一个单刀双掷开关处于COM-NO连通状态，其余的为COM-NC连通状态，输入模块和输出模块之间采用单刀n掷开关连接，对同一个输入，只有一路是导通的，对于同一个输出也只有一路是导通的。
所述n是4或6。根据不同的测试环境和测试过程，选择不同的矩阵大小，通过改变n值来实现对不同的测试过程的一次换装测试。
所述的信号处理器上设置有用于切换测试线路的拨码开关。进一步讲，通过拨码开关实现对矩阵开关的切换，以实现被测件与测试模块连接通道的切换，从而达到自动化测试的目的。
本实用新型与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
1本实用新型基于矩阵开关的并行测试系统，将串行测试系统中的n次换装改变为一次换装，减少了换装次数，减少了测试时间；
2本实用新型基于矩阵开关的并行测试系统，通过矩阵开关的线路切换能够实现多对多的选择开关任意切换，减少了传统的多对多选择方式中的接线；
3本实用新型基于矩阵开关的并行测试系统，可以根据需求进行扩展，组成通道数量更多的矩阵，满足对更多通道的需求。
附图说明
图1为本实用新型硬件连接示意图；
图2为本实用新型矩阵开关电路图；
图3为本实用新型矩阵开关控制电路图；
图4为本实用新型实施例与串行测试比较示意图。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型作进一步的详细说明，但本实用新型的实施方式不限于此。
实施例
如图1至3所示，本实用新型基于矩阵开关的并行测试系统，包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备和用于切换测试线路的拨码开关。所述矩阵开关包括由n个输入模块和n个输出模块构成n*n的矩阵，n为≥2的自然数。本实施例中n=4。.输入模块具有4个输入接口和4个输出接口，输出模块具有4个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的4个输出接口分别于4个输出模块的输入接口连接。由一个输入模块和一个输出模块构成一个单元组，该单元组具有4个输入接口和一个输出接口；一个输入模块包括4个单刀双掷开关和2个单刀4掷开关，2个单刀4掷开关的固定端口对接，4个单刀双掷开关与一个单刀4掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀4掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，4个单刀双掷开关作为输入模块的4个输入口；一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀4掷开关、以及与该单刀4掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀4掷开关的4个选择端口作为输出模块的输入口。
单刀双掷开关的两种状态：COM-NC连通、COM-NO连通两种状态之间互锁，只有一种连通状态存在；每一个单元组中的n个单刀双掷开关在同一时间段内互锁，即只有一个单刀双掷开关处于COM-NO连通状态，其余的为COM-NC连通状态，输入模块和输出模块之间采用单刀4掷开关连接，对同一个输入，只有一路是导通的，对于同一个输出也只有一路是导通的。通过拨码开关实现对矩阵开关的切换，以实现被测件与测试模块连接通道的切换，从而达到自动化测试的目的。将多个测试模块连接在矩阵开关上，通过矩阵开关实现被测件的测试项目的切换，而不需要重新连接测试线路，通过信号处理器来实现矩阵开关的各条通路的导通状态的切换，从而实现其测试过程以及测试项目切换的自动化，通过连接在信号处理器上的输出设备，实时监测被测件的检测状态以及测试结果。
现在，以最基本的TD和NW测试为例，说明本实用新型的优越性：TD测试时间5分钟，NW测试时间3分钟，换装时间0.5分钟。
如图4所示，对5个模块的串行测试，测试耗时42.5分钟；采用并行测试，测试耗时22.5分钟，节约时间为20分钟。
如上所述，便可以很好地实现本实用新型。

Claims (7)

1.基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：包括依次连接的被测件安放装置、信号处理器、矩阵开关、以及测试模块，在信号处理器上连接有输出设备。
2.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：所述的矩阵开关由n个输入模块和n个输出模块构成n*n的矩阵，n为≥2的自然数。
3.根据权利要求2所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：所述输入模块具有n个输入接口和n个输出接口，输出模块具有n个输入接口和一个输出接口，一个输入模块的n个输出接口分别于n个输出模块的输入接口连接。
4.根据权利要求3所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：一个输入模块包括n个单刀双掷开关和2个单刀n掷开关，2个单刀n掷开关的固定端口对接，n个单刀双掷开关与一个单刀n掷开关的输入选择端口分别连接，未与单刀双掷开关连接的单刀n掷开关的输入选择端口作为输入模块的输出口，n个单刀双掷开关作为输入模块的n个输入口。
5.根据权利要求3所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：一个输出模块包括与输入模块的输出口连接的单刀n掷开关、以及与该单刀n掷开关固定端口连接的开关转换器，以开关转换器的输出口作为输出模块的输出口，单刀n掷开关的n个选择端口作为输出模块的输入口。
6.根据权利要求2所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：所述n是4或6。
7.根据权利要求1所述的基于矩阵开关的并行测试系统，其特征在于：所述的信号处理器上设置有用于切换测试线路的拨码开关。
CN2010206878106U 2010-12-30 2010-12-30 基于矩阵开关的并行测试系统 Expired - Lifetime CN201935972U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010206878106U CN201935972U (zh) 2010-12-30 2010-12-30 基于矩阵开关的并行测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010206878106U CN201935972U (zh) 2010-12-30 2010-12-30 基于矩阵开关的并行测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN201935972U true CN201935972U (zh) 2011-08-17

Family

ID=44447490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010206878106U Expired - Lifetime CN201935972U (zh) 2010-12-30 2010-12-30 基于矩阵开关的并行测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN201935972U (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102169150A (zh) * 2010-12-30 2011-08-31 芯通科技（成都）有限公司 基于矩阵开关的并行测试系统
CN103064054A (zh) * 2012-12-19 2013-04-24 云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院 电能计量装置仿真系统及其接线的矩阵控制方法
CN103454508A (zh) * 2012-05-30 2013-12-18 路华科技(深圳)有限公司 四通道过流过压保护测试仪
CN103592542A (zh) * 2013-11-07 2014-02-19 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于开关矩阵的信号分析接口智能化匹配方法
CN110007200A (zh) * 2019-01-11 2019-07-12 华为技术有限公司 一种测试电路、设备及系统

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102169150A (zh) * 2010-12-30 2011-08-31 芯通科技（成都）有限公司 基于矩阵开关的并行测试系统
CN102169150B (zh) * 2010-12-30 2013-01-02 成都芯通科技股份有限公司 基于矩阵开关的并行测试系统
CN103454508A (zh) * 2012-05-30 2013-12-18 路华科技(深圳)有限公司 四通道过流过压保护测试仪
CN103454508B (zh) * 2012-05-30 2016-10-05 路华科技(深圳)有限公司 四通道过流过压保护测试仪
CN103064054A (zh) * 2012-12-19 2013-04-24 云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院 电能计量装置仿真系统及其接线的矩阵控制方法
CN103064054B (zh) * 2012-12-19 2015-09-30 云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院 电能计量装置仿真系统及其接线的矩阵控制方法
CN103592542A (zh) * 2013-11-07 2014-02-19 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于开关矩阵的信号分析接口智能化匹配方法
CN103592542B (zh) * 2013-11-07 2016-04-27 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于开关矩阵的信号分析接口智能化匹配方法
CN110007200A (zh) * 2019-01-11 2019-07-12 华为技术有限公司 一种测试电路、设备及系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102169150B (zh) 基于矩阵开关的并行测试系统
CN201935972U (zh) 基于矩阵开关的并行测试系统
CN110927489B (zh) 配电自动化馈线终端测试系统和方法
CN101871973A (zh) 基于矢量网络分析仪的分时复用测量系统及测量方法
CN1716682B (zh) 矩阵式射频开关智能切换控制系统
CN209692733U (zh) 一种基于射频开关矩阵的射频器件自动调试装置
CN106385287A (zh) 一种多通道t/r组件测试装置及方法
CN101713812A (zh) 一种ic设计电路板的测试系统、方法及一种测试接口板
CN103647120B (zh) 一种组合型射频功放测试用开关矩阵
CN102064050B (zh) 矩阵开关
CN111157804A (zh) 射频开关模块及天线测试系统
CN108267653B (zh) 一种低频接口自动测试开关电路
CN205786886U (zh) 同时检测多个合路器的检测系统
CN202994875U (zh) 一种多通道校准装置
CN104486177B (zh) 一种基于pxi总线的大规模可重构射频开关网络
CN109062099A (zh) Dsp芯片选择电路及相关设备
CN103698631B (zh) 卫星接收机抗干扰天线测试系统
CN205786868U (zh) 同时检测多面多端口基站天线的检测系统
CN203133261U (zh) 用于示波器校准的工装板及示波器校准系统
CN201666924U (zh) 数控衰减器测试系统
CN201845715U (zh) 矩阵开关
CN108089952B (zh) 一种自动化测试设备
CN104898548A (zh) 测试仪器切换装置
CN210323878U (zh) 多路控制信号切换装置
CN207570576U (zh) 计量校准适配装置和系统

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: CHENGDU NTS TECHNOLOGY CO., LTD.

Free format text: FORMER NAME: NTS TECHNOLOGY HENGDU CO. LTD.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: 610000, Sichuan Chengdu hi tech Zone Tianfu road hi tech incubator park information security base 3 and 4 floor

Patentee after: Chengdu NTS Technology Co., Ltd.

Address before: 610000, Sichuan Chengdu hi tech Zone Tianfu road hi tech incubator park information security base 3 and 4 floor

Patentee before: NTS Technology (Chengdu) Co., Ltd.

AV01 Patent right actively abandoned

Granted publication date: 20110817

Effective date of abandoning: 20130227

RGAV Abandon patent right to avoid regrant